技術總結
本發明公開了一種利用光干涉法測量光學平板玻璃剪切模量的方法，具體按照以下步驟實施：步驟1：通過螺絲施加應力于光學平板玻璃，并通過測量儀器顯示應力傳感器測量的應力，記錄下應力的大小；步驟2：保持步驟1中的應力不變，通過讀數顯微鏡讀取在該應力下牛頓環干涉圖像中心黑斑的直徑Q，然后計算出黑斑的半徑r；步驟3：通過螺絲改變應力的值，重復步驟1和步驟2，得到光學平板玻璃的不同應力及對應不同應力情況下牛頓環干涉圖像中心黑斑的直徑Q及半徑r；步驟4：計算光學平板玻璃的剪切模量G。本發明測量方法簡單，且測量周期相比傳統縮短，測量應用范圍擴大，沒有大量的材料耗損，測量性重復好，且可用于測量小樣品光學平板玻璃。

技術研發人員：郭長立;馮小強
受保護的技術使用者：西安科技大學
文檔號碼：201611148049
技術研發日：2016.12.13
技術公布日：2017.05.10