技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明實(shí)施例提供一種測(cè)試電子卡性能的設(shè)備，用于更高效和準(zhǔn)確地測(cè)試電子卡的性能。該設(shè)備包括供電單元和主控單元；其中，所述供電單元用于在所述電子卡從第一電子設(shè)備接收數(shù)據(jù)的過程中對(duì)所述電子卡供電后斷電再重新供電；所述主控單元用于在所述電子卡接收數(shù)據(jù)完畢且所述供電單元在為所述電子卡重新供電時(shí)從所述電子卡中讀取所述電子卡所接收的數(shù)據(jù)，將讀取的數(shù)據(jù)與預(yù)先存儲(chǔ)的所述第一電子設(shè)備發(fā)送的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，如果所述發(fā)送的數(shù)據(jù)與所述讀取的數(shù)據(jù)一致，則確定所述電子卡在被重新供電之后能夠恢復(fù)因斷電而中斷的接收數(shù)據(jù)的進(jìn)程，否則，則確定所述電子卡在被重新供電之后不能恢復(fù)因斷電而中斷的接收數(shù)據(jù)的進(jìn)程。

技術(shù)研發(fā)人員：齊學(xué)靜;李銀雙;董勝龍;劉蒙蒙;張占霞
受保護(hù)的技術(shù)使用者：新智數(shù)字科技有限公司
文檔號(hào)碼：201611153410
技術(shù)研發(fā)日：2016.12.14
技術(shù)公布日：2017.05.31