技術特征：

1.一種利用地面光學儀器間接估計冠層葉面積指數的方法，主要包括以下步驟：

(1)使用半球照相儀器采集半球天空孔隙率，并估計垂直方向上的有效葉面積指數L_e；

(2)使用TRAC儀器觀測冠層的孔隙大小和數量，并計算觀測時刻太陽方向上的葉片聚集度指數Ω_E(θ_s)；

(3)將太陽方向上的葉片聚集度指數Ω_E(θ_s)校正到太陽天頂角為0°時的葉片聚集度指數Ω_E(0)；

(4)根據步驟(1)和步驟(3)的結果計算垂直于水平方向上的葉面積指數。

2.根據權利要求1所述的一種利用地面光學儀器間接估計冠層葉面積指數的方法，其特征在于步驟(3)中包含將觀測時刻太陽方向上葉片聚集度指數Ω_E(θ_s)校正到太陽天頂角為0°時葉片聚集度指數Ω_E(0)的方法。

3.根據權利要求1所述的一種利用地面光學儀器間接估計冠層葉面積指數的方法，其特征在于步驟(4)中計算葉面積指數的方法為LAI＝L_e/Ω_E(0)。