技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開一種利用地面光學(xué)儀器間接估計冠層葉面積指數(shù)的方法，步驟為：一、利用半球照相儀器估計有效葉面積指數(shù)Le；二、利用TRAC儀器估計太陽光線方向上的葉片聚集度指數(shù)ΩE(θs)；三、將太陽光線方向上的葉片聚集度指數(shù)ΩE(θs)校正到太陽天頂角為0°時的葉片聚集度指數(shù)ΩE(0)；四、根據(jù)有效葉面積指數(shù)Le和垂直方向上的葉片聚集度指數(shù)ΩE(0)計算冠層葉面積指數(shù)LAI。本發(fā)明涉及一種冠層參數(shù)估計方法，特別指利用半球照相儀器和TRAC儀器共同估計冠層葉面積指數(shù)的方法。本發(fā)明可以避免由于儀器觀測時太陽天頂角的改變所造成的葉面積指數(shù)被低估問題，即準(zhǔn)確估計垂直方向上的葉面積指數(shù)。采用本方法可以在森林資源管理、林業(yè)調(diào)查和科學(xué)研究方面獲得更加準(zhǔn)確的葉面積指數(shù)估計值。

技術(shù)研發(fā)人員：范渭亮;周國模;杜華強
受保護(hù)的技術(shù)使用者：浙江農(nóng)林大學(xué)
文檔號碼：201611156786
技術(shù)研發(fā)日：2016.12.07
技術(shù)公布日：2017.05.31