1.一種用于芯片的測試插座，其特征在于：包括芯片測試基座，所述芯片測試基座的中心處開設有一凹槽，所述凹槽的中心處開設有一通孔，所述通孔內設置有接地銅塊，圍繞所述接地銅塊的四周并在凹槽內開設有若干個信號探針孔，信號傳輸探針的一端插接在所述信號探針孔上，呈豎直布置，所述接地銅塊上開設有若干個接地探針孔，接地測試探針的一端插接在所述接地探針孔上，也呈豎直布置，與所述信號傳輸探針平行設置，所述信號傳輸探針將接地測試探針包圍布置，所述信號傳輸探針的另一端的高度與所述接地測試探針的另一端的高度相持平布置。
2.根據權利要求1所述的用于芯片的測試插座，其特征在于：所述凹槽內還設置有芯片導向板，所述芯片導向板的中心處開設有一芯片通孔，信號傳輸探針和接地測試探針均設置在所述芯片通孔內。
3.根據權利要求1所述的用于芯片的測試插座，其特征在于：所述芯片測試基座上還設置有探針保持板，所述探針保持板的中心處開設有一探針通孔，在探針通孔的四周設置有探針孔，所述信號探針孔與探針孔呈上下一一對應布置。
4.根據權利要求3所述的用于芯片的測試插座，其特征在于：所述探針通孔的口徑與通孔的口徑相匹配布置。
5.根據權利要求3所述的用于芯片的測試插座，其特征在于：所述探針保持板通過螺栓固定在芯片測試基座的底部。
6.根據權利要求1所述的用于芯片的測試插座，其特征在于：所述信號傳輸探針和接地測試探針均為彈簧探針。
7.根據權利要求1所述的用于芯片的測試插座，其特征在于：所述接地銅塊上的接地探針孔設有32個孔，呈方形網格分布。
8.根據權利要求2所述的用于芯片的測試插座，其特征在于：所述芯片導向板的頂面與芯片測試基座的頂面相持平布置。