示例實施例大體涉及顯示設備。更具體地，本發(fā)明構思的實施例涉及短路缺陷的位置被檢測的顯示設備和檢測短路缺陷的位置的短路測試方法。

背景技術：

當在諸如有機發(fā)光二極管(oled)顯示設備、液晶顯示(lcd)設備等顯示設備中產(chǎn)生導線被不期望地連接的短路缺陷，因此產(chǎn)生電流通過其繞過一電路的意想不到的低阻路徑時，可使用顯微鏡檢測短路缺陷的位置，并且可在檢測到的缺陷位置處修復導線。然而，當在不同層的導線被垂直連接時，不能通過顯微鏡檢測到該短路缺陷的位置。該短路缺陷可被稱為隱藏的短路缺陷，并且需要一種能檢測隱藏的短路缺陷的位置的技術。

技術實現(xiàn)要素：

一些示例實施例提供了一種容易檢測短路缺陷的顯示設備。

一些示例實施例提供了一種容易檢測短路缺陷的短路測試方法。

根據(jù)示例實施例，提供了一種顯示設備，包括：基板，包括顯示圖像的顯示區(qū)域和與顯示區(qū)域相鄰的周圍區(qū)域；在基板上的至少一條線，該至少一條線從周圍區(qū)域延伸穿過顯示區(qū)域；在顯示區(qū)域上的多個像素，像素被連接到該至少一條線；在周圍區(qū)域上的外部線，在檢測短路缺陷的位置的短路測試過程期間，外部線被連接到該至少一條線；在周圍區(qū)域上的靜電保護電阻器，靜電保護電阻器被連接到外部線；在周圍區(qū)域上的焊盤，焊盤通過靜電保護電阻器被連接到外部線，在短路測試過程期間，短路測試信號被施加到焊盤；以及旁路線，在短路測試過程期間，旁路線將焊盤和靜電保護電阻器之間的節(jié)點連接到外部線，使得短路測試信號繞過靜電保護電阻器。

在示例實施例中，在短路測試過程期間，短路測試信號可通過旁路線和外部線被施加到該至少一條線，并且由短路測試信號在該至少一條線處產(chǎn)生的熱能可通過熱檢測器被測量來檢測短路缺陷的位置。

在示例實施例中，該至少一條線可在短路缺陷的位置處被斷開，并且用于連接斷開的線的連接線可使用激光化學氣相沉積工藝被形成。

在示例實施例中，外部線可以是環(huán)形修復線。

在示例實施例中，該至少一條線可在短路缺陷的位置處被斷開為第一部分和第二部分。該至少一條線的第一部分可被連接到驅動電路，并且可直接接收來自驅動電路的電信號。該至少一條線的第二部分可被連接到環(huán)形修復線，并且可從驅動電路通過環(huán)形修復線接收電信號。

在示例實施例中，外部線可以是修復數(shù)據(jù)線。

在示例實施例中，顯示設備可進一步包括在周圍區(qū)域上的至少一個修復像素，修復像素被連接到修復數(shù)據(jù)線。位于短路缺陷的位置處的像素中的至少一個像素的發(fā)光元件可被連接到修復像素而不是像素中的至少一個像素。

在示例實施例中，在短路測試過程之后，旁路線可被斷開。

在示例實施例中，顯示設備可進一步包括在周圍區(qū)域上的密封件，密封件圍繞顯示區(qū)域。旁路線被斷開的位置可被密封件覆蓋。

在示例實施例中，顯示設備可進一步包括在靜電保護電阻器和外部線之間的晶體管，晶體管被配置為響應于測試控制信號選擇性地連接靜電保護電阻器和外部線。

在示例實施例中，旁路線可將焊盤連接到外部線，使得短路測試信號繞過靜電保護電阻器和晶體管。

在示例實施例中，顯示設備可進一步包括：第一二極管，包括連接到在靜電保護電阻器和焊盤之間的節(jié)點的陽極端子和連接到高電壓的陰極端子；以及第二二極管，包括連接到在靜電保護電阻器和焊盤之間的節(jié)點的陰極端子和連接到低電壓的陽極端子。

在示例實施例中，該至少一條線可以是數(shù)據(jù)線。

根據(jù)示例實施例，提供了一種用于顯示設備的短路測試方法。在該方法中，形成在基板的周圍區(qū)域上的外部線可被連接到具有短路缺陷的至少一條線，連接到靜電保護電阻器的焊盤可通過繞過靜電保護電阻器的旁路線被連接到外部線，并且短路測試信號被施加到焊盤使得短路測試信號通過旁路線和外部線被供給到該至少一條線。

在示例實施例中，短路缺陷的位置可通過測量由短路測試信號在該至少一條線處產(chǎn)生的熱能被檢測。

在示例實施例中，該至少一條線可在短路缺陷的位置處被斷開，并且用于連接斷開的線的連接線可使用激光化學氣相沉積工藝被形成。

在示例實施例中，該至少一條線可在短路缺陷的位置處被斷開為連接到驅動電路的第一部分和未連接到驅動電路的第二部分，并且該至少一條線的第二部分可被連接到外部線。

在示例實施例中，外部線可以是環(huán)形修復線，環(huán)形修復線接收與施加到該至少一條線的第一部分的電信號相同的電信號。

在示例實施例中，位于短路缺陷的位置處的像素中的至少一個像素的發(fā)光元件可被連接到修復像素而不是像素中的至少一個像素。

在示例實施例中，外部線可以是連接到修復像素的修復數(shù)據(jù)線。

因此，在根據(jù)示例實施例的顯示設備和短路測試方法中，通過焊盤施加的短路測試信號可通過繞過靜電保護電阻器經(jīng)由旁路線和外部線被供給到具有短路缺陷的線，并且因此短路缺陷的位置可通過測量熱能容易地被檢測。

附圖說明

通過下面結合附圖進行的具體描述，將更加清楚地理解說明性的、非限制性的示例實施例。

圖1是圖示了根據(jù)示例實施例的顯示設備的圖。

圖2是圖示了根據(jù)示例實施例的用于顯示設備的短路測試方法的流程圖。

圖3、圖4、圖5a和圖5b是用于描述根據(jù)示例實施例的用于顯示設備的短路測試方法的圖。

圖6是圖示了根據(jù)示例實施例的顯示設備的圖。

圖7是圖示了根據(jù)示例實施例的顯示設備的圖。

圖8是圖示了根據(jù)示例實施例的顯示設備的圖。

圖9是圖示了根據(jù)示例實施例的包括顯示設備的電子設備的框圖。

具體實施方式

在下文中，將參照附圖詳細說明本發(fā)明構思的實施例。

圖1是圖示了根據(jù)示例實施例的顯示設備的圖。

參考圖1，顯示設備100包括：基板110，包括顯示區(qū)域120和周圍區(qū)域130；在基板110上的至少一條線dl，該至少一條線dl從周圍區(qū)域130延伸穿過顯示區(qū)域120；連接到該至少一條線dl的多個像素px；在周圍區(qū)域130上的外部線rrl；連接到外部線rrl的靜電保護電阻器resd；焊盤pad1，通過靜電保護電阻器resd連接到外部線rrl；以及旁路線150，用于通過繞過靜電保護電阻器resd將焊盤pad1連接到外部線rrl。

基板110包括顯示圖像的顯示區(qū)域120以及鄰近或圍繞顯示區(qū)域120的周圍區(qū)域130。像素px可被形成在顯示區(qū)域120上，并且像素px可被排列成具有多個行和多個列的矩陣形式。在一些示例實施例中，顯示設備100可以是有機發(fā)光二極管(oled)顯示設備，并且每個像素px可包括oledel。例如，每個像素px可包括：開關晶體管tsw，響應于掃描信號sscan將施加到線dl的數(shù)據(jù)電壓傳輸?shù)酱鎯﹄娙萜鱟st；存儲數(shù)據(jù)電壓的存儲電容器cst；驅動晶體管tdr，基于存儲在存儲電容器cst中的數(shù)據(jù)電壓產(chǎn)生從高電源電壓elvdd到低電源電壓elvss的驅動電流；以及oledel，基于從高電源電壓elvdd到低電源電壓elvss的驅動電流發(fā)光。盡管圖1圖示了包括兩個晶體管tsw和tdr以及一個電容器cst的像素px的示例，但是根據(jù)示例實施例，像素px可具有各種結構。在一些示例實施例中，檢測短路缺陷的位置的短路測試過程可在oledel被形成在像素px中之前被執(zhí)行。

短路測試過程可被執(zhí)行以檢測短路缺陷的準確位置，短路缺陷發(fā)生在從周圍區(qū)域130延伸穿過顯示區(qū)域120的任意數(shù)據(jù)線dl處。在一些示例實施例中，如圖1所示，短路缺陷的位置被檢測到的線可以是數(shù)據(jù)線，但本發(fā)明構思可不限于此。例如，在其它示例實施例中，短路缺陷的位置被檢測到的線可以是任何線，諸如，感測線、掃描線、發(fā)射控制線、初始化控制線等。下文中，將描述短路缺陷的位置被檢測到的線是數(shù)據(jù)線dl的示例。每個數(shù)據(jù)線dl可被連接到數(shù)據(jù)輸出緩沖器db，并可通過顯示區(qū)域120延伸。在顯示區(qū)域120中，每條數(shù)據(jù)線dl可被連接到像素px。在一些示例實施例中，短路測試過程可在驅動電路140被安裝在基板110的周圍區(qū)域130上之前被執(zhí)行。

外部線rrl可被形成為在基板110的周圍區(qū)域130上圍繞顯示區(qū)域120的至少一部分。例如，外部線rrl可在數(shù)據(jù)線方向上從周圍區(qū)域130的焊盤部分延伸，然后在掃描線方向上延伸。因此，外部線rrl可被形成為鄰近顯示區(qū)域120的兩側。在其它示例中，外部線rrl可被形成為鄰近顯示區(qū)域120的三側或者鄰近顯示區(qū)域120的左側、上側和右側。然而，外部線rrl可具有被連接到至少一個焊盤pad1并且能夠被連接到其中短路缺陷被檢測到的線dl的任何形狀。盡管圖1圖示了外部線rrl在一端處被連接到一個焊盤pad1的示例，在一些示例實施例中，外部線rrl可在一端處被連接到焊盤pad1并可在另一端處進一步被連接到另一焊盤。此外，盡管圖1圖示了數(shù)據(jù)線dl能夠被連接到一條外部線rrl的示例，在一些示例實施例中，在顯示區(qū)域120的左側部分處的數(shù)據(jù)線dl能夠被連接到外部線rrl，并且在顯示區(qū)域120的右側部分處的數(shù)據(jù)線dl能夠被連接到另一外部線(未示出)。在其它示例實施例中，顯示設備100可包括兩條或更多條外部線rrl，每條外部線rrl能夠被連接到各自的所有數(shù)據(jù)線dl。

根據(jù)示例實施例，在短路測試過程期間，外部線rrl可被連接到短路缺陷的位置被檢測到的數(shù)據(jù)線dl。在一些示例實施例中，短路測試過程可被執(zhí)行以檢測不能被顯微鏡檢測到的隱藏的短路缺陷的位置，并且外部線rrl可被連接到具有隱藏的短路缺陷的線dl。例如，通過陣列測試或薄板測試，在數(shù)據(jù)線dl處的短路缺陷的發(fā)生可被檢測。在數(shù)據(jù)線dl被不期望地連接到位于數(shù)據(jù)線dl上面或下面的另一條線的情況下，數(shù)據(jù)線dl是否具有短路缺陷可通過陣列測試或薄板測試被檢查，但短路缺陷的位置不能通過顯微鏡等被檢測。在短路測試過程期間，外部線rrl可被連接到具有該隱藏的短路缺陷的數(shù)據(jù)線dl。

外部線rrl可被連接到形成在周圍區(qū)域130上的靜電保護電阻器resd，并可通過靜電保護電阻器resd被連接到形成在周圍區(qū)域130上的焊盤pad1。在一些示例實施例中，靜電保護電阻器resd可以是多晶硅電阻器，并可防止或減少靜電電荷通過焊盤pad1進入內部電路。在一些示例實施例中，顯示設備100可進一步包括形成在靜電保護電阻器resd和焊盤pad1之間的節(jié)點處的靜電放電二極管d1和d2。例如，顯示設備100可包括：第一二極管d1，包括連接到在靜電保護電阻器resd和焊盤pad1之間的節(jié)點的陽極端子和連接到高電壓(例如，高柵電壓vgh)的陰極端子；以及第二二極管d2，包括連接到在靜電保護電阻器resd和焊盤pad1之間的節(jié)點的陰極端子和連接到低電壓(例如，低柵電壓vgl)的陽極端子。這些靜電放電二極管d1和d2可提供靜電電荷通過其被放電的路徑。

在一些示例實施例中，顯示設備100可進一步包括在靜電保護電阻器resd和外部線rrl之間的晶體管ttg1。晶體管ttg1可響應于通過焊盤pad2施加的測試控制信號stg選擇性地連接靜電保護電阻器resd和外部線rrl。例如，晶體管ttg1可在環(huán)形修復測試或修復像素測試期間將靜電保護電阻器resd連接到外部線rrl，并可在環(huán)形修復測試或修復像素測試之后從外部線rrl斷開靜電保護電阻器resd。

在短路測試過程期間，短路測試信號可被施加到焊盤pad1。旁路線150可在短路測試過程期間將焊盤pad1連接到外部線rrl，使得短路測試信號繞過靜電保護電阻器resd。此外，在一些示例實施例中，晶體管ttg1被布置在靜電保護電阻器resd和外部線rrl之間，旁路線150可將焊盤pad1連接到外部線rrl，使得短路測試信號繞過靜電保護電阻器resd和晶體管ttg1。相應地，在短路測試過程期間，施加到焊盤pad1的短路測試信號可通過旁路線150和外部線rrl被供給到具有短路缺陷的數(shù)據(jù)線dl。如果短路測試信號被施加到具有短路缺陷的數(shù)據(jù)線dl，則熱能可在線dl處被發(fā)射，并且具體地，高熱能可在數(shù)據(jù)線dl的短路缺陷的位置處被發(fā)射。在一些示例實施例中，短路測試信號可以是高電流信號，使得高熱能在短路缺陷的位置處被發(fā)射。由短路測試信號在具有短路缺陷的數(shù)據(jù)線dl處產(chǎn)生的熱能可通過熱檢測器測量，高熱能被發(fā)射的位置可作為短路缺陷的位置被檢測。

在短路測試信號通過驅動電路140被施加的情況下，由于驅動電路140的數(shù)據(jù)輸出緩沖器db的電流輸出限制，被供給到具有短路缺陷的線dl的電流可能不充分，并且因此可能不在短路缺陷的位置處發(fā)射足夠的熱能。在這種情況下，熱檢測器可能不檢測短路缺陷的位置，或可能需要長時間來檢測短路缺陷的位置。此外，即使短路測試信號通過焊盤pad1被施加，在短路測試信號通過靜電保護電阻器resd和/或晶體管ttg1被施加到具有短路缺陷的數(shù)據(jù)線dl的情況下，由于因靜電保護電阻器resd而電流降低和/或晶體管ttg1的導通電流限制，被供給到具有短路缺陷的線dl的電流可能不充分，并且因此可能不在短路缺陷的位置處發(fā)射足夠的熱能。然而，在根據(jù)示例實施例的顯示設備100中，通過焊盤pad1施加的短路測試信號可通過旁路線150和外部線rrl被供給到具有短路缺陷的數(shù)據(jù)線dl，并且因此足夠的電流可被供給到具有短路缺陷的數(shù)據(jù)線dl。相應地，足夠的熱能可在短路缺陷的位置處被發(fā)射，并且短路缺陷的位置可通過熱能測量容易地被檢測。

在一些示例實施例中，如果短路缺陷的位置被檢測到，則具有短路缺陷的線dl可在檢測到的短路缺陷的位置處(或在其間具有檢測到的位置的兩個位置處)被斷開(或切割)，并且因此短路缺陷發(fā)生的位置可與線dl分離。此外，用于連接斷開的線dl的連接線可使用適合局部沉積的激光化學氣相沉積工藝被形成，并且因此具有短路缺陷的線dl可被修復。

此外，在短路測試過程之后，旁路線150可在預定位置op處被斷開(或切割)。例如，旁路線150可通過激光處理被斷開。在一些示例實施例中，顯示設備100可進一步包括在周圍區(qū)域130上圍繞顯示區(qū)域120的密封件160，并且旁路線150被斷開的位置op可被密封件160覆蓋。例如，密封件160可包括用于防止?jié)駳饣蚩諝鉂B透密封件160的玻璃粉。因此，即使當層處理被執(zhí)行以斷開旁路線150時在絕緣層或無機層處出現(xiàn)裂縫，由于裂縫被密封件160覆蓋，可防止被濕氣腐蝕。

在一些示例實施例中，如圖1所示，在短路測試過程期間，連接到具有短路缺陷的線dl的外部線rrl可以是環(huán)形修復線。在這種情況下，顯示設備100可不包括用于短路測試過程的專用線，并且因此可降低顯示設備100的尺寸和成本。

具有短路缺陷的數(shù)據(jù)線dl可使用作為環(huán)形修復線的外部線rrl被修復。在用于修復數(shù)據(jù)線dl的連接線不能通過激光化學氣相沉積工藝被形成的情況下，具有短路缺陷的數(shù)據(jù)線dl可使用作為環(huán)形修復線的外部線rrl被修復。例如，具有短路缺陷的數(shù)據(jù)線dl可在短路缺陷的位置處被斷開，并且可被分成第一部分和第二部分。數(shù)據(jù)線dl的第一部分可被連接到驅動電路140，并且直接接收來自驅動電路140的數(shù)據(jù)輸出緩沖器db的電信號(例如，數(shù)據(jù)電壓)。數(shù)據(jù)線dl的第二部分可被連接到其為環(huán)形修復線的外部線rrl，并且可從驅動電路140的修復數(shù)據(jù)線輸出緩沖器rdlb，通過作為環(huán)形修復線的外部線rrl接收電信號。因此，位于短路缺陷的位置下方的像素px可通過數(shù)據(jù)線dl的第一部分接收數(shù)據(jù)電壓，并且位于短路缺陷的位置上方的像素px可通過作為環(huán)形修復線的外部線rrl和數(shù)據(jù)線dl的第二部分接收數(shù)據(jù)電壓。

在一些示例實施例中，顯示設備100可進一步包括：形成在周圍區(qū)域130上的修復數(shù)據(jù)線rdl；晶體管ttg2，響應于測試控制信號stg選擇性地連接靜電保護電阻器resd和修復數(shù)據(jù)線rdl；以及連接到修復數(shù)據(jù)線rdl的多個修復像素rpx。在一些示例實施例中，位于短路缺陷的位置處的像素px中的至少一個像素的發(fā)光元件(例如，oled)el可被連接到修復像素rpx而不是像素px中的至少一個像素。也就是說，發(fā)光元件可與像素px中的至少一個像素的驅動晶體管tdr斷開，并可被連接到修復像素rpx。在這種情況下，修復像素rpx可基于來自驅動電路140的修復像素數(shù)據(jù)輸出緩沖器rdb的數(shù)據(jù)電壓輸出產(chǎn)生驅動電流，并且發(fā)光元件el可基于由修復像素rpx產(chǎn)生的驅動電流發(fā)光。

如上所述，在根據(jù)示例實施例的顯示設備100中，在檢測短路缺陷的位置的短路測試過程期間，通過焊盤pad1施加的短路測試信號可經(jīng)由旁路線150和作為環(huán)形修復線的外部線rrl通過繞過靜電保護電阻器resd和/或晶體管ttg1被供給到具有短路缺陷的數(shù)據(jù)線dl。相應地，具有足夠電流的短路測試信號可被供給到具有短路缺陷的數(shù)據(jù)線dl，并且因此短路缺陷的位置可通過熱能測量容易地被檢測。此外，在根據(jù)示例實施例的顯示設備100中，作為環(huán)形修復線的外部線rrl可被用作用于施加短路測試信號的線，并且用于短路缺陷的位置檢測的專用線可不需要，從而降低了顯示設備100的尺寸和成本。此外，由于旁路線150可在短路測試過程之后在由密封件160覆蓋的位置op處被斷開，旁路線150可在短路測試過程之后不影響作為環(huán)形修復線的外部線rrl，并且即使因用于斷開旁路線150的激光處理而出現(xiàn)裂縫，也可防止被濕氣腐蝕。

圖2是圖示了根據(jù)示例實施例的用于顯示設備的短路測試方法的流程圖，并且圖3至圖5b是用于描述根據(jù)示例實施例的用于顯示設備100、100a和100b的短路測試方法的圖。

參考圖2和圖3，形成在基板的周圍區(qū)域上的外部線rrl(例如，環(huán)形修復線)可被連接到具有短路缺陷sd的線dl(例如，數(shù)據(jù)線dl)(s210)。例如，在陣列測試或薄板測試期間，具有短路缺陷sd的數(shù)據(jù)線dl中的至少一條可被檢測到，并且作為環(huán)形修復線的外部線rrl和數(shù)據(jù)線dl可通過激光處理在連接點cp處被連接。

連接到靜電保護電阻器resd的焊盤pad1可通過繞過靜電保護電阻器resd的旁路線150被連接到外部線rrl(s230)。在一些示例實施例中，旁路線150可在短路測試過程之前預先連接到外部線rrl。在其它示例實施例中，旁路線150可通過激光處理被連接到外部線rrl。

短路測試信號sts可被施加到焊盤pad1，使得短路測試信號sts通過旁路線150和外部線rrl被施加到具有短路缺陷sd的線dl(s250)。相應地，熱能可由短路測試信號sts在具有短路缺陷sd的線dl處被發(fā)射，并且具體地，高熱能可在短路缺陷sd的位置處被發(fā)射。

參考圖2和圖4，短路缺陷sd的位置可通過使用熱檢測器300測量由短路測試信號sts在具有短路缺陷sd的線dl處發(fā)射的熱能被檢測(s270)。例如，熱檢測器300可通過使用光接收元件測量熱能，光接收元件接收光子或熱能并將所接收的熱能轉化為電流，諸如，光電二極管。由于短路測試信號sts經(jīng)由旁路線150通過繞過靜電保護電阻器resd和/或晶體管ttg1被施加到具有短路缺陷sd的線dl，具有足夠電流的短路測試信號sts可被施加到具有短路缺陷sd的線dl，并且因此短路缺陷sd的位置可迅速且精確地被檢測。

一旦短路缺陷sd的位置被檢測到，具有短路缺陷sd的線dl可被修復，并且位于短路缺陷sd的位置處的像素px可被修復(s280、s290和s295)。在一些示例實施例中，如圖5a所示，具有短路缺陷sd的數(shù)據(jù)線dl可在短路缺陷sd的位置處被斷開(s280)。例如，具有短路缺陷sd的數(shù)據(jù)線dl可通過激光處理在其間具有短路缺陷sd的位置的兩個位置op1和op2處被斷開。此外，作為環(huán)形修復線的外部線rrl和數(shù)據(jù)線dl可在預定位置op4處彼此斷開，并且用于連接斷開的數(shù)據(jù)線dl的連接線170可在檢測到的短路缺陷sd的位置處被形成(s290)。相應地，短路缺陷sd發(fā)生的部分可與數(shù)據(jù)線dl分離，并且因此數(shù)據(jù)線dl可被修復。旁路線150可在由密封件160覆蓋的預定位置op處被斷開，并且因此可在短路測試過程之后不影響環(huán)形修復線。此外，通過將像素px的發(fā)光元件(例如，oled)el連接到修復像素rpx而不是像素px，位于檢測到的短路缺陷sd的位置處的像素px可被修復(s295)。例如，發(fā)光元件el和像素可通過斷開預定位置op3彼此斷開，并且發(fā)光元件el和修復線rl可在預定連接點cp處彼此連接。驅動電路140可將用于具有短路缺陷sd的像素px的數(shù)據(jù)電壓sdata通過修復數(shù)據(jù)線rdl施加到修復像素rpx。相應地，發(fā)光元件el可通過修復像素rpx而不是具有短路缺陷sd的像素px被驅動，并且因此具有短路缺陷sd的像素px可被修復。

在其它示例實施例中，如圖5b所示，具有短路缺陷sd的數(shù)據(jù)線dl可在檢測到的短路缺陷sd的位置處被斷開，并且因此可被分成連接到驅動電路140的第一部分dlp1和未連接到驅動電路140的第二部分dlp2(s280)。例如，具有短路缺陷sd的數(shù)據(jù)線dl可通過激光處理在其間具有檢測到的短路缺陷sd的位置的兩個位置op1和op2處被斷開。因此，連接到數(shù)據(jù)線dl的第一部分dlp1的像素px可通過數(shù)據(jù)線dl的第一部分dlp1接收來自驅動電路140的數(shù)據(jù)電壓sdata，并且連接到數(shù)據(jù)線dl的第二部分dlp2的像素px可通過環(huán)形修復線和數(shù)據(jù)線dl的第二部分dlp2接收來自驅動電路140的數(shù)據(jù)電壓sdata(s290)。相應地，短路缺陷sd發(fā)生的部分可與數(shù)據(jù)線dl分離，并且因此數(shù)據(jù)線dl可被修復。旁路線150可在密封件160內部的預定位置op處被斷開，并且因此在短路測試過程之后可不影響環(huán)形修復線。此外，通過將像素px的發(fā)光元件el連接到修復像素rpx而不是像素px，位于檢測到的短路缺陷sd的位置處的像素px可被修復(s295)。相應地，發(fā)光元件el可通過修復像素rpx而不是具有短路缺陷sd的像素px被驅動，并且因此具有短路缺陷sd的像素px可被修復。

如上所述，在根據(jù)示例實施例的用于顯示設備100的短路測試方法中，短路測試信號sts可經(jīng)由旁路線150和作為環(huán)形修復線的外部線rrl通過繞過靜電保護電阻器resd和/或晶體管ttg1被供給到具有短路缺陷sd的數(shù)據(jù)線dl。相應地，具有足夠電流的短路測試信號sts可被供給到具有短路缺陷sd的數(shù)據(jù)線dl，并且因此短路缺陷sd的位置通過熱能測量可容易地被檢測。

圖6是圖示了根據(jù)示例實施例的顯示設備的圖。

參考圖6，顯示設備400包括：基板410，包括顯示區(qū)域420和周圍區(qū)域430；在基板410上的至少一條數(shù)據(jù)線dl，該至少一條數(shù)據(jù)線dl從周圍區(qū)域430延伸穿過顯示區(qū)域420；連接到該至少一條數(shù)據(jù)線dl的多個像素px；在周圍區(qū)域430上的外部線rrl；連接到外部線rrl的靜電保護電阻器resd；焊盤pad1，通過靜電保護電阻器resd連接到外部線rrl；以及旁路線450，用于通過繞過靜電保護電阻器resd將焊盤pad1連接到外部線rrl。在一些示例實施例中，顯示設備400可進一步包括驅動電路440、密封件460、測試控制信號stg被施加至其的焊盤pad2、連接在靜電保護電阻器resd和外部線rrl之間的晶體管ttg1、以及形成在靜電保護電阻器resd和焊盤pad1之間的節(jié)點處的靜電放電二極管d1和d2。除了顯示設備400不包括修復像素rpx、修復數(shù)據(jù)線rdl和連接到修復數(shù)據(jù)線rdl的晶體管ttg2之外，圖6的顯示設備400可具有與圖1的顯示設備100類似的配置。

在根據(jù)示例實施例的顯示設備400中，在檢測短路缺陷的位置的短路測試過程期間，通過焊盤pad1施加的短路測試信號sts可經(jīng)由旁路線450和作為環(huán)形修復線的外部線rrl通過繞過靜電保護電阻器resd和/或晶體管ttg1被供給到具有短路缺陷的數(shù)據(jù)線dl。相應地，具有足夠電流的短路測試信號sts可被供給到具有短路缺陷的數(shù)據(jù)線dl，并且因此短路缺陷的位置可通過熱能測量容易地被檢測。此外，在根據(jù)示例實施例的顯示設備400中，作為環(huán)形修復線的外部線rrl可被用作用于施加短路測試信號sts的線，并且用于短路缺陷的位置檢測的專用線可不需要，從而降低了顯示設備400的尺寸和成本。此外，由于旁路線450在短路測試過程之后在由密封件460覆蓋的位置op處可被斷開，旁路線450在短路測試過程之后可不影響作為環(huán)形修復線的外部線rrl，并且即使因用于斷開旁路線450的激光處理而出現(xiàn)裂縫，也可防止被濕氣腐蝕。

圖7是圖示了根據(jù)示例實施例的顯示設備的圖。

參考圖7，顯示設備500包括：基板510，包括顯示區(qū)域520和周圍區(qū)域530；在基板510上的至少一條數(shù)據(jù)線dl，該至少一條數(shù)據(jù)線dl從周圍區(qū)域530延伸穿過顯示區(qū)域520；連接到該至少一條數(shù)據(jù)線dl的多個像素px；在周圍區(qū)域530上的外部線rdl；連接到外部線rdl的靜電保護電阻器resd；焊盤pad1，通過靜電保護電阻器resd連接到外部線rdl；以及旁路線550，用于通過繞過靜電保護電阻器resd將焊盤pad1連接到外部線rdl。在一些示例實施例中，顯示設備500可進一步包括驅動電路540、密封件560、測試控制信號stg被施加至其的焊盤pad2、連接在靜電保護電阻器resd和外部線rdl之間的晶體管ttg2、以及形成在靜電保護電阻器resd和焊盤pad1之間的節(jié)點處的靜電放電二極管d1和d2。除了顯示設備500不包括環(huán)形修復線和連接到環(huán)形修復線的晶體管ttg1之外，圖7的顯示設備500可具有與圖1的顯示設備100類似的配置。在圖7的顯示設備500中，修復數(shù)據(jù)線rdl(和在掃描線方向上從修復數(shù)據(jù)線rdl延伸的線)可被用作用于施加短路測試信號sts的外部線rdl。在一些示例實施例中，在短路測試過程之后，修復數(shù)據(jù)線rdl在預定位置op4處可被斷開，并且因此修復數(shù)據(jù)線rdl的負載可被減少。

在根據(jù)示例實施例的顯示設備500中，在檢測短路缺陷的位置的短路測試過程期間，通過焊盤pad1施加的短路測試信號sts可經(jīng)由旁路線550和修復數(shù)據(jù)線rdl通過繞過靜電保護電阻器resd和/或晶體管ttg2被供給到具有短路缺陷的數(shù)據(jù)線dl。相應地，具有足夠電流的短路測試信號sts可被供給到具有短路缺陷的數(shù)據(jù)線dl，并且因此短路缺陷的位置可通過熱能測量容易地被檢測。此外，在根據(jù)示例實施例的顯示設備500中，修復數(shù)據(jù)線rdl可被用作用于施加短路測試信號sts的線，并且用于短路缺陷的位置檢測的專用線可不需要，從而降低了顯示設備500的尺寸和成本。此外，由于旁路線550在短路測試過程之后在由密封件560覆蓋的位置op處可被斷開，旁路線550在短路測試過程之后可不影響修復數(shù)據(jù)線rdl，并且即使因用于斷開旁路線550的激光處理而出現(xiàn)裂縫，也可防止被濕氣腐蝕。

圖8是圖示了根據(jù)示例實施例的顯示設備的圖。

參考圖8，顯示設備600包括：基板610，包括顯示區(qū)域620和周圍區(qū)域630；在基板610上的至少一條數(shù)據(jù)線dl，該至少一條數(shù)據(jù)線dl從周圍區(qū)域630延伸穿過顯示區(qū)域620；連接到該至少一條數(shù)據(jù)線dl的多個像素px；在周圍區(qū)域630上的外部線690；連接到外部線690的靜電保護電阻器resd；焊盤pad1，通過靜電保護電阻器resd連接到外部線690；以及旁路線650，用于通過繞過靜電保護電阻器resd將焊盤pad1連接到外部線690。在一些示例實施例中，顯示設備600可進一步包括驅動電路640、密封件660以及形成在靜電保護電阻器resd和焊盤pad1之間的節(jié)點處的靜電放電二極管d1和d2。在圖8的顯示設備600中，環(huán)形修復線、修復數(shù)據(jù)線rdl和修復像素rpx可不被形成。此外，在圖8的顯示設備600中，在周圍區(qū)域630上的任意線690可被用作用于施加短路測試信號sts的外部線690。

在根據(jù)示例實施例的顯示設備600中，在檢測短路缺陷的位置的短路測試過程期間，通過焊盤pad1施加的短路測試信號sts可經(jīng)由旁路線650和外部線690通過繞過靜電保護電阻器resd被供給到具有短路缺陷的數(shù)據(jù)線dl。相應地，具有足夠電流的短路測試信號sts可被供給到具有短路缺陷的數(shù)據(jù)線dl，并且因此短路缺陷的位置可通過熱能測量容易地被檢測。

圖9是圖示了根據(jù)示例實施例的包括顯示設備的電子設備的框圖。

參考圖9，電子設備800可包括：處理器810、內存設備820、存儲設備830、輸入/輸出(i/o)設備840、電源850和顯示設備860。這里，顯示設備860可與圖1的顯示設備100、圖6的顯示設備400、圖7的顯示設備500或圖8的顯示設備600對應。此外，電子設備800可進一步包括用于與視頻卡、聲卡、存儲卡、通用串行總線(usb)設備、其它電子設備等通信的多個端口。

處理器810可執(zhí)行各種計算功能。處理器810可以是微處理器、中央處理單元(cpu)、應用處理器(ap)等。處理器810可經(jīng)由地址總線、控制總線、數(shù)據(jù)總線等被聯(lián)接到其它組件。此外，處理器810可被聯(lián)接到擴展總線，諸如，外設部件互連(pci)總線。

內存設備820可存儲用于電子設備800的操作的數(shù)據(jù)。例如，內存設備820可包括諸如可擦除可編程只讀存儲器(eprom)設備、電可擦除可編程只讀存儲器(eeprom)設備、快閃存儲器設備、相變隨機存取存儲器(pram)設備、電阻式隨機存取存儲器(rram)設備、納米浮柵存儲器(nfgm)設備、聚合物隨機存取存儲器(poram)設備、磁隨機存取存儲器(mram)設備、鐵電隨機存取存儲器(fram)設備等的至少一種非易失性內存設備，和/或諸如動態(tài)隨機存取存儲器(dram)設備、靜態(tài)隨機存取存儲器(sram)設備、移動dram設備等的至少一種易失性內存設備。

存儲設備830可以是固態(tài)驅動器(ssd)設備、硬盤驅動器(hdd)設備、cd-rom設備等。i/o設備840可以是諸如鍵盤、小鍵盤、鼠標設備、觸摸板、觸摸屏、遠程控制器等的輸入設備以及諸如打印機、揚聲器等的輸出設備。電源850可提供用于電子設備800的操作的電力。

顯示設備860可以是有機發(fā)光二極管(oled)顯示設備、液晶顯示(lcd)設備，等等。在根據(jù)示例實施例的顯示設備860中，通過焊盤施加的短路測試信號可經(jīng)由旁路線和外部線通過繞過靜電保護電阻器被提供到具有短路缺陷的線，并且因此短路缺陷的位置可通過熱能測量容易地被檢測。

根據(jù)示例實施例，電子設備800可以是包括顯示設備860的任何電子設備，諸如，蜂窩電話、智能電話、平板計算機、可穿戴設備、個人數(shù)字助理(pda)、便攜式多媒體播放器(pmp)、數(shù)字相機、音樂播放器、便攜式游戲機、導航系統(tǒng)、數(shù)字電視、3d電視、個人計算機(pc)、家用電器、膝上型計算機等。

以上是示例實施例的說明，不應被解釋為其限制。盡管描述了一些示例實施例，但本領域技術人員將容易理解，在示例實施例中能夠進行許多修改，而在本質上不脫離本發(fā)明構思的新穎教義和優(yōu)點。從而，所有這種修改旨在包括于權利要求中所限定的本發(fā)明構思的范圍內。因此，應當理解，以上是不同示例實施例的例示，不應被解釋為限制于所公開的具體示例實施例，而且，對所公開的示例實施例以及其它示例實施例的修改旨在包括于所附權利要求的范圍內。