本發明涉及ipm生產領域，尤其涉及一種用于ipm模塊測試的老化座及方法。

背景技術：

1、ipm模塊集成有電路或者一些元器件等，在通電使用時，這些元器件容易出現老化，進而影響ipm模塊的壽命，因此，在實際生產中，需要對ipm模塊進行測試。在測試時，需要通入較大的電流，定期觀察ipm模塊的老化情況。

2、現有的老化座往往只能支持一種ipm模塊或者電子元器件的測試，針對不同的ipm模塊或者電子元器件需要特制的老化座，增加了使用成本。

技術實現思路

1、本發明的主要目的在于提供一種用于ipm模塊測試的老化座，用于解決上述技術問題。

2、為達到以上目的，本發明采用的技術方案為：一種用于ipm模塊測試的老化座，包括：

3、底座，俯視觀察時，所述底座呈長方形，在所述底座上沿長度方向的兩側形成有兩腔體；

4、第一活動塊和第二活動塊，分別設置在兩所述腔體內，所述第一活動塊和第二活動塊在對應的腔體內能夠沿著所述長度方向來回移動；

5、多個第一電極夾和多個第二電極夾，多個第一電極夾和多個第二電極夾分別按照預定的布局設置，所述第一電極夾設置在第一活動塊所述的腔體內，所述第二電極夾設置在第二活動塊所在的腔體內，用于夾住待老化的ipm模塊的引腳并與測試機構電連接；

6、蓋體，設置在底座的上側，在其上設置有供引腳插入的多個插入孔，所述插入孔的布局與第一電極夾和第二電極夾的布局一一對應。

7、優選地，每個所述第一電極夾包括導電塊和導電彈片，所述導電塊與導電彈片沿著所述長度方向布置且導電塊與導電彈片之間具有一定的間隙用于放置待檢測的ipm模塊的引腳，并且導電彈片相比于導電塊距離第二電極夾更遠，所述導電彈片和導電塊固定在底座上并從底座的下表面伸出，用于連接測試機構，所述導電塊和導電彈片均可導電，所述導電彈片具有一定的彈性，所述導電彈片的上端插入到對應的插入孔中。

8、優選地，在第一活動塊上對應每個第一電極夾的位置處設置有第一穿孔，在所述第一電極夾的上端穿過所述第一穿孔；當第一活動塊沿著所述長度方向移動時，能夠推動導電彈片向著導電塊移動，進而將引腳夾在導電彈片與導電塊之間。

9、優選地，所述第二電極夾呈倒置的h型，開口朝上，固定在底座上，其下端從底座穿出；在第二活動塊上對應每個第二電極夾的位置處設置有第二穿孔，所述第二電極夾的上端從第二穿孔向上穿出。

10、優選地，俯視觀察時，在底座和蓋體上沿所述長度方向的兩側均設置有安裝缺口，所述老化座還包括兩操作手柄，每個操作手柄的一端位于對應的所述安裝缺口內并通過轉軸與底座旋轉連接，所述操作手柄能夠在第一位置和第二位置之間來回移動；所述操作手柄呈板狀且靠近轉軸一端的厚度大于遠離轉軸一端的厚度，沿著轉軸的軸線方向觀察時，操作手柄的兩端呈圓弧形；在每個腔體內設置有至少一復位彈簧，所述復位彈簧位于相對于對應的第一活動塊或第二活動塊與對應的操作手柄相反的一側，復位彈簧的一端抵靠在腔體的側壁上，另一端抵靠在對應的第一活動塊或第二活動塊上，并且所述復位彈簧始終處于被壓縮的狀態以使第一活動塊或第二活動塊始終抵靠在對應的操作手柄上，當旋轉操作手柄時，操作手柄能夠推抵對應的第一活動塊或第二活動塊向著遠離對應的轉軸的方向移動以使第一活動塊或第二活動塊推動第一電極夾或第二電極夾夾緊引腳。

11、優選地，當操作手柄位于第一位置時，操作手柄呈豎直狀，此時第一電極夾和第二電極夾處于松開的狀態；當操作手柄位于第二位置時，操作手柄呈水平狀態，此時第一電極夾和第二電極夾處于夾緊狀態。

12、優選地，在所述操作手柄的與第一活動塊或者第二活動塊配合的一端設置有定位平面，當所述操作手柄位于第二位置時，定位平面剛好與對應的第一活動塊或者第二活動塊配合，此時操作手柄在未受外力時，操作手柄一直保持在第二位置，第一電極夾和第二電極夾始終保持在夾緊狀態。

13、本發明還提供了一種用于ipm模塊測試的方法，采用上述老化座，具體包括如下步驟：

14、步驟一、將待測試的ipm模塊的引腳插入到對應的插入孔中；

15、步驟二、操作操作手柄，使其從第一位置移動到第二位置，操作手柄推動第一活動塊或者第二活動塊向著使第一電極夾或者第二電極夾夾緊的方向移動以夾緊引腳；

16、步驟三、將第一電極夾和第二電極夾的下端連接到測試機構；

17、步驟四、測試機構對ipm模塊進行測試。

18、與現有技術相比，本發明具有以下有益效果：

19、1)本發明的老化座上具有多個插入孔，插入孔可以根據需求，預先進行設計，以滿足多個ipm模塊的檢測需求；

20、2)本發明的第一電極夾采用導電塊和導電彈片分體的設計，這樣導電塊設計成較大的尺寸，能夠適用于更大電流的場景。

技術特征：

1.一種用于ipm模塊測試的老化座，其特征在于，包括：

2.根據權利要求1所述的一種用于ipm模塊測試的老化座，其特征在于，每個所述第一電極夾包括導電塊和導電彈片，所述導電塊與導電彈片沿著所述長度方向布置且導電塊與導電彈片之間具有一定的間隙用于放置待檢測的ipm模塊的引腳，并且導電彈片相比于導電塊距離第二電極夾更遠，所述導電彈片和導電塊固定在底座上并從底座的下表面伸出，用于連接測試機構，所述導電塊和導電彈片均可導電，所述導電彈片具有一定的彈性，所述導電彈片的上端插入到對應的插入孔中。

3.根據權利要求2所述的一種用于ipm模塊測試的老化座，其特征在于，在第一活動塊上對應每個第一電極夾的位置處設置有第一穿孔，在所述第一電極夾的上端穿過所述第一穿孔；當第一活動塊沿著所述長度方向移動時，能夠推動導電彈片向著導電塊移動，進而將引腳夾在導電彈片與導電塊之間。

4.根據權利要求3所述的一種用于ipm模塊測試的老化座，其特征在于，所述第二電極夾呈倒置的h型，開口朝上，固定在底座上，其下端從底座穿出；在第二活動塊上對應每個第二電極夾的位置處設置有第二穿孔，所述第二電極夾的上端從第二穿孔向上穿出。

5.根據權利要求4所述的一種用于ipm模塊測試的老化座，其特征在于，俯視觀察時，在底座和蓋體上沿所述長度方向的兩側均設置有安裝缺口，所述老化座還包括兩操作手柄，每個操作手柄的一端位于對應的所述安裝缺口內并通過轉軸與底座旋轉連接，所述操作手柄能夠在第一位置和第二位置之間來回移動；所述操作手柄呈板狀且靠近轉軸一端的厚度大于遠離轉軸一端的厚度，沿著轉軸的軸線方向觀察時，操作手柄的兩端呈圓弧形；在每個腔體內設置有至少一復位彈簧，所述復位彈簧位于相對于對應的第一活動塊或第二活動塊與對應的操作手柄相反的一側，復位彈簧的一端抵靠在腔體的側壁上，另一端抵靠在對應的第一活動塊或第二活動塊上，并且所述復位彈簧始終處于被壓縮的狀態以使第一活動塊或第二活動塊始終抵靠在對應的操作手柄上，當旋轉操作手柄時，操作手柄能夠推抵對應的第一活動塊或第二活動塊向著遠離對應的轉軸的方向移動以使第一活動塊或第二活動塊推動第一電極夾或第二電極夾夾緊引腳。

6.根據權利要求5所述的一種用于ipm模塊測試的老化座，其特征在于，當操作手柄位于第一位置時，操作手柄呈豎直狀，此時第一電極夾和第二電極夾處于松開的狀態；當操作手柄位于第二位置時，操作手柄呈水平狀態，此時第一電極夾和第二電極夾處于夾緊狀態。

7.根據權利要求6所述的一種用于ipm模塊測試的老化座，其特征在于，在所述操作手柄的與第一活動塊或者第二活動塊配合的一端設置有定位平面，當所述操作手柄位于第二位置時，定位平面剛好與對應的第一活動塊或者第二活動塊配合，此時操作手柄在未受外力時，操作手柄一直保持在第二位置，第一電極夾和第二電極夾始終保持在夾緊狀態。

8.一種用于ipm模塊測試的方法，采用權利要求7所述的一種用于ipm模塊測試的老化座，其特征在于，具體包括如下步驟：

技術總結
本發明提供了一種用于IPM模塊測試的老化座，包括：底座，俯視觀察時，所述底座呈長方形，在所述底座上沿長度方向的兩側形成有兩腔體；第一活動塊和第二活動塊，分別設置在兩所述腔體內，所述第一活動塊和第二活動塊在對應的腔體內能夠沿著所述長度方向來回移動；多個第一電極夾和多個第二電極夾，多個第一電極夾和多個第二電極夾分別按照預定的布局設置，所述第一電極夾設置在第一活動塊所述的腔體內，所述第二電極夾設置在第二活動塊所在的腔體內，用于夾住待老化的IPM模塊的引腳并與測試機構電連接；蓋體，設置在底座的上側，在其上設置有供引腳插入的多個插入孔，所述插入孔的布局與第一電極夾和第二電極夾的布局一一對應。

技術研發人員：郭雄,龔秀友,王猛,楊牡丹,韋賢
受保護的技術使用者：廣東巨風半導體有限公司
技術研發日：
技術公布日：2025/4/28