本技術涉及產品測試，尤其涉及一種測試系統及方法。

背景技術：

1、在電子產品生產制造過程中，測試工裝作為必不可少的一部分，用于檢查生產組裝的產品是否存在缺陷。在現有技術中，一般是一臺測試電腦連接一個測試工裝，測試工裝再與待測試主板以及測量儀器連接，測試電腦先將產生的運行信號通過測試工裝傳輸至待測試主板，待測試主板進行運行，接著測量儀器通過測試工裝采集待測試主板上的主板信號完成測量。

2、現有的由于一臺測試電腦僅可搭配一臺測試工裝，因此如何使一臺測試電腦可搭配多臺測試工裝進行測量，是一個亟待解決的技術問題。

技術實現思路

1、本技術的主要目的在于提供一種測試系統及方法，旨在解決現有的在對待測試主板進行測試時，如何使一臺電腦可搭配多個測試工裝進行測試的技術問題。

2、為實現上述目的，本技術提供一種測試系統，所述測試系統包括：測試電腦、測量儀器以及若干測試工裝，所述測試工裝包括：轉接模塊、選通模塊以及輸出模塊；

3、所述轉接模塊與所述測試電腦以及對應的待測試主板連接，所述選通模塊分別與所述測試電腦、對應的所述轉接模塊以及各所述輸出模塊連接；

4、所述轉接模塊，用于將所述測試電腦產生的運行信號傳輸至對應的目標待測試主板，以使所述目標待測試主板產生主板信號；

5、所述選通模塊，用于根據所述測試電腦產生的測試信號導通所述目標待測主板與對應的所述輸出模塊之間的目標通道，所述測試信號通過所述測試電腦根據對應的所述目標待測主板生成；

6、所述選通模塊，還用于將所述主板信號按照所述目標通道傳輸至所述測量儀器，以使所述測量儀器按照所述主板信號對對應的所述目標待測主板進行測量。

7、在一實施例中，所述轉接模塊，還用于在所述運行信號與所連接的所述待測試主板匹配時，將所連接的所述待測試主板作為所述目標待測試主板，并將所述運行信號傳輸至所述目標待測試主板。

8、在一實施例中，所述轉接模塊，還用于在所述運行信號與所連接的所述待測試主板不匹配時，將所述運行信號傳輸至所述輸出模塊；

9、所述輸出模塊，用于將所述運行信號傳輸至所述運行信號所對應的所述測試工裝中的轉接模塊，以使所述運行信號所對應的所述測試工裝中的轉接模塊將所連接的所述待測試主板作為所述目標待測試主板，并將所述運行信號傳輸至所述目標待測試主板。

10、在一實施例中，所述選通模塊，還用于將所述主板信號按照所述目標通道傳輸至所述輸出模塊；

11、所述輸出模塊，還用于在接收到的所述主板信號為對應的所述待測試主板所生成時，將所述主板信號傳輸至所述測量儀器。

12、在一實施例中，所述輸出模塊，還用于在接收到的所述主板信號不為對應的所述待測試主板所生成時，將所述主板信號通過所述轉接模塊傳輸至所述選通模塊；

13、所述選通模塊，還用于將所述主板信號按照所述目標通道傳輸至所述輸出模塊；

14、所述輸出模塊，還用于將所述主板信號傳輸至所述測量儀器。

15、在一實施例中，所述選通模塊包括：處理單元以及復用單元；

16、所述處理單元與所述復用單元以及對應的所述輸出模塊連接，所述復用單元與對應的所述轉接模塊以及對應的所述輸出模塊連接；

17、所述處理模塊，用于根據所述測試信號生成對應的導通信號傳輸至所述復用單元；

18、所述復用單元，用于根據所述導通信號控制對應的所述轉接模塊與對應的所述輸出模塊之間的通道通斷，以使所述目標待測主板與對應的輸出模塊之間的目標通道導通；

19、所述復用單元，還用于將所述主板信號按照所述目標通道傳輸至所述測量儀器。

20、在一實施例中，所述復用單元包括：第一復用子單元以及第二復用子單元；

21、所述第一復用子單元分別與所述第二復用子單元、對應的所述轉接模塊以及對應的所述處理單元連接，所述第二復用子單元分別與對應的所述處理模塊以及對應的所述輸出模塊連接；

22、所述處理模塊，用于根據所述測試信號生成對應的第一導通信號傳輸至所述第一復用子單元，并根據所述測試信號生成對應的第二導通信號傳輸至所述第二復用子單元；

23、所述第一復用子單元，用于根據所述第一導通信號控制對應的所述轉接模塊與所述第二復用子單元之間的通道通斷；

24、所述第二復用子單元，用于根據所述第二導通信號控制所述第一復用子單元與對應的所述輸出模塊之間的通道通斷，以使所述目標待測主板與對應的輸出模塊之間的目標通道導通。

25、在一實施例中，所述測試工裝還包括：第一緩沖模塊；

26、所述第一緩沖模塊分別與對應的所述轉接模塊、對應的所述選通模塊以及對應的所述輸出模塊連接；

27、所述第一緩沖模塊，用于在所述目標待測試主板為對應的所述待測試主板時，對所述轉接模塊所輸出的所述主板信號進行一次緩沖，并將一次緩沖后的主板信號傳輸至所述輸出模塊，以使所述輸出模塊將所述一次緩沖后的主板信號傳輸至所述測量儀器；

28、所述第一緩沖模塊，還用于在所述目標待測試主板不為對應的所述待測試主板時，將所述轉接模塊所輸出的所述主板信號進行一次緩沖，并將一次緩沖后的主板信號傳輸至所述選通模塊，以使所述選通模塊將所述一次緩沖后的主板信號按照所述目標通道傳輸至所述測量儀器。

29、在一實施例中，所述測試工裝還包括：第二緩沖模塊；

30、所述第二緩沖模塊分別與對應的所述選通模塊以及對應的所述輸出模塊連接；

31、所述第二緩沖模塊，還用于對所述選通模塊輸出的所述一次緩沖后的主板信號進行二次緩沖，并將二次緩沖后的主板信號傳輸至所述輸出模塊，以使所述輸出模塊將所述二次緩沖后的主板信號傳輸至所述測量儀器。

32、此外，為實現上述目的，本技術提供一種測試方法，所述方法應用于測試系統中的測試工裝；所述測試系統還包括：測試電腦以及測量儀器，所述測試工裝分別與所述測試電腦以及所述測量儀器連接；

33、所述方法包括以下步驟：

34、將所述測試電腦產生的運行信號傳輸至對應的目標待測試主板，以使所述目標待測試主板產生主板信號；

35、根據所述測試電腦產生的測試信號導通與所述目標待測試主板之間的目標通道，所述測試信號通過所述測試電腦根據對應的所述目標待測試主板生成；

36、將所述主板信號按照所述目標通道傳輸至所述測量儀器，以使所述測量儀器按照所述主板信號對對應的所述目標待測主板進行測量。

37、本技術提供一種測試系統及方法，該測試系統包括：測試電腦、測量儀器以及若干測試工裝，所述測試工裝包括：轉接模塊、選通模塊以及輸出模塊；所述轉接模塊與所述測試電腦以及對應的待測試主板連接，所述選通模塊分別與所述測試電腦、對應的所述轉接模塊以及各所述輸出模塊連接；所述轉接模塊，用于將所述測試電腦產生的運行信號傳輸至對應的目標待測試主板，以使所述目標待測試主板產生主板信號；所述選通模塊，用于根據所述測試電腦產生的測試信號導通所述目標待測主板與對應的所述輸出模塊之間的目標通道，所述測試信號通過所述測試電腦根據對應的所述目標待測主板生成；所述選通模塊，還用于將所述主板信號按照所述目標通道傳輸至所述測量儀器，以使所述測量儀器按照所述主板信號對對應的所述目標待測主板進行測量。

38、由于本技術中的測試工裝可設置有轉接模塊、選通模塊以及輸出模塊，轉接模塊可將測試電腦產生的運行信號傳輸至對應的目標待測主板，目標待測主板則可按照該運行信號運行并產生對應的主板信號，選通模塊可導通目標待測試主板與對應的輸出模塊之間的目標通道，使選通模塊可將該主板信號通過該目標通道傳輸至測量儀器進行測量。相比于現有的一臺測試電腦僅可搭配一臺測試工裝，本技術中一臺測試電腦可搭配多臺測試工裝進行測量。