本發(fā)明涉及半導(dǎo)體，尤其一種led器件的空間光色評價方法及電子設(shè)備、存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、國內(nèi)外白光led器件實現(xiàn)方法主要是“藍(lán)光led芯片+熒光粉層”的方案實現(xiàn)，其中，熒光粉層由“黃/綠/紅熒光粉+硅膠”混合獲得，通過一定工藝技術(shù)手段“包覆”在藍(lán)光芯片的發(fā)光表面，該種方式制作的白光led器件能夠滿足大部分白光照明應(yīng)用場景需求。但是，對于“空間光色均勻性”有更高要求攝像、拍照、機器視覺等電子數(shù)字成像應(yīng)用場景，還是存在不足。例如：中國專利cn201611083244（一種led封裝結(jié)構(gòu)及其制備方法）、cn201922429405（一種白光led芯片）等中均提及了白光led器件存在的“光斑光色不均勻異常”。

2、目前，實驗室中衡量“光斑光色不均勻異常”的方法主要是：將白光led器件的出射光透射在白色背景板上，觀察其圓形光斑是否呈現(xiàn)“中間藍(lán)外圈黃”、“中間白外圈黃”等光色不均異常。這種人工方式雖然能夠一定程度上辨別異常，但是在對光色均勻性要求更為嚴(yán)格的領(lǐng)域，一種更為精確的光色均勻性確定方法成為一種需求。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、為了克服以上不足，本發(fā)明提供了一種led器件的空間光色評價方法及電子設(shè)備、存儲介質(zhì)，有效解決現(xiàn)有l(wèi)ed器件的光色均勻性無法準(zhǔn)確定量計算的問題。

2、本發(fā)明提供的技術(shù)方案為：

3、一方面，本發(fā)明提供一種led器件的空間光色評價方法，包括：

4、提供led器件并點亮；

5、基于預(yù)設(shè)的至少一條探測軌跡對led器件出光表面上方不同探測點的光學(xué)特性參數(shù)進(jìn)行探測，所述光學(xué)特性參數(shù)包括色溫和光強；所述探測軌跡中包含的探測點位于以所述led器件為圓心的半圓形軌跡上；

6、對探測軌跡上不同探測點的光學(xué)特性參數(shù)進(jìn)行加權(quán)平均得到加權(quán)平均色溫；

7、根據(jù)所述加權(quán)平均色溫和中心色溫計算得到空間色溫差，所述中心色溫為探測軌跡中位于所述led器件正上方的探測點探測得到的色溫值；

8、根據(jù)所述空間色溫差對led器件的空間光色進(jìn)行評價。

9、另一方面，本發(fā)明提供一種電子設(shè)備，包括存儲器及處理器，所述存儲器用于存儲計算機程序，所述處理器運行所述計算機程序以使所述電子設(shè)備執(zhí)行如上述的空間光色評價方法。

10、再一方面，本發(fā)明提供一種存儲介質(zhì)，所述存儲介質(zhì)中存儲有至少一條指令，所述指令由處理器加載并執(zhí)行以實現(xiàn)上述的空間光色評價方法。

11、本發(fā)明提供的led器件的空間光色評價方法及電子設(shè)備、存儲介質(zhì)，通過立體化的探測方式，收集以led器件為球心的半球面上不同方向的多條探測軌跡上的光學(xué)參數(shù)，探測范圍能全面覆蓋led器件的各發(fā)光方向；并進(jìn)一步結(jié)合光強采用加權(quán)平均法得到加權(quán)平均色溫，準(zhǔn)確地反映人眼所感受到的整體色溫差，最終計算得到的空間色溫差值能有效體現(xiàn)光色均勻性；如，當(dāng)空間色溫差值小于預(yù)設(shè)閾值時，說明led器件的光色均勻性較好，各個區(qū)域的光色表現(xiàn)較為一致；反之，當(dāng)空間色溫差值大于預(yù)設(shè)閾值時，則表明led器件在某些區(qū)域的光色可能存在較大的偏差，需要進(jìn)一步優(yōu)化和改進(jìn)。實現(xiàn)光色均勻性的定量計算，能準(zhǔn)確、客觀地反映出led器件在整個空間的光色一致性程度；避免人眼主觀評價可能帶來的誤差。

技術(shù)特征：

1.一種led器件的空間光色評價方法，其特征在于，包括：

2.如權(quán)利要求1所述的空間光色評價方法，其特征在于，所述基于預(yù)設(shè)的至少一條探測軌跡對led器件出光表面上方不同探測點的光學(xué)特性參數(shù)進(jìn)行探測中，基于多條探測軌跡對led器件出光表面上方不同探測點的光學(xué)特性參數(shù)進(jìn)行探測，且所述多條探測軌跡中至少有兩條探測軌跡于led器件所在平面的投影軌跡相互垂直。

3.如權(quán)利要求1所述的空間光色評價方法，其特征在于，

4.如權(quán)利要求1所述的空間光色評價方法，其特征在于，所述半圓形軌跡的半徑大于led器件最長尺寸的十倍。

5.如權(quán)利要求1所述的空間光色評價方法，其特征在于，所述探測點在各探測軌跡中均勻分布，單條探測軌跡中的探測點至少有37個。

6.如權(quán)利要求1-5任意一項所述的空間光色評價方法，其特征在于，根據(jù)所述空間色溫差對led器件的空間光色進(jìn)行評價中包括：

7.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括存儲器及處理器，所述存儲器用于存儲計算機程序，所述處理器運行所述計算機程序以使所述電子設(shè)備執(zhí)行如權(quán)利要求1至6中任意一項所述的空間光色評價方法。

8.一種存儲介質(zhì)，其特征在于，所述存儲介質(zhì)中存儲有至少一條指令，所述指令由處理器加載并執(zhí)行以實現(xiàn)如權(quán)利要求1至6中任意一項所述的空間光色評價方法。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供的空間光色評價方法及電子設(shè)備、存儲介質(zhì)，通過立體化的探測方式，收集以LED器件為球心的半球面上不同方向的多條探測軌跡上的光學(xué)參數(shù)，探測范圍能全面覆蓋LED器件的各發(fā)光方向；并進(jìn)一步結(jié)合光強采用加權(quán)平均法得到加權(quán)平均色溫，準(zhǔn)確地反映人眼所感受到的整體色溫差，最終計算得到的空間色溫差值能有效體現(xiàn)光色均勻性。

技術(shù)研發(fā)人員：魏水林,余泓穎,萬晨陽,楊陽,張效良,江柳楊,尹江濤
受保護的技術(shù)使用者：江西省晶能半導(dǎo)體有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/4/28