本申請涉及現代電子制造領域，具體涉及一種基于poe的微系統模塊通用測試系統及方法。

背景技術：

1、在現代電子制造領域，隨著集成電路技術的飛速進步，高度集成的微系統模塊，如sip（system?in?package，系統級封裝）和pop（package?on?package，堆疊封裝）存儲器，已成為實現高性能、小型化和低功耗電子產品的核心。這些技術的發展不僅推動了電子設備向更復雜、更緊湊的方向發展，而且對測試和驗證這些復雜系統的能力提出了新的挑戰。特別是在不同環境條件下，包括高溫、常溫和低溫環境，即所謂的三溫環境，電子設備的性能和可靠性必須得到充分的測試和驗證，以確保其在實際應用中的穩定性和持久性。三溫環境測試對于評估產品在極端溫度變化下的適應性和可靠性至關重要，但傳統的測試方法往往難以全面覆蓋這些溫度條件，導致測試結果的局限性。

2、目前，微系統模塊的測試主要依賴于傳統的ate（automatic?test?equipment，自動測試設備）機臺進行。這種測試手段雖然在一定程度上能夠滿足基本的測試需求，但存在諸多問題，如測試覆蓋性不足、功能測試不充分、應用驗證不深入，尤其是在面對多芯片集成和電氣連接復雜的微系統模塊時，這些問題更加突出。此外，隨著國產芯片的廣泛應用，對測試覆蓋性和驗證充分性的要求也越來越高，而現有的測試手段難以滿足這些要求，導致產品成熟度與進口芯片相比存在較大差距。特別是在三溫環境下，傳統測試方法往往無法提供足夠的測試覆蓋性和準確性。

3、因此，為了克服現有測試手段的局限性，提高微系統模塊的測試效率和覆蓋性，降低測試成本，并適應不同測試需求，特別是三溫環境（高溫環境、常溫環境、低溫環境）下的測試需求，亟需開發一種新的測試手段或裝置，包括提高測試覆蓋性、增強功能測試的充分性以及深化應用驗證，從而確保微系統模塊在各種環境條件下的性能和可靠性，提升整體測試效率并降低成本。

技術實現思路

1、本發明的目的在于提供一種基于poe的微系統模塊通用測試系統及方法，以克服現有微系統模塊測試方案測試完整性低、通用性差的技術問題。

2、為了實現上述目的，本發明采用如下技術方案：

3、一種基于poe的微系統模塊通用測試系統，包括：

4、上位機，用于發送測試命令以及接收測試數據；

5、poe交換機，用于在上位機和測試硬件之間傳輸數據；

6、測試硬件，用于接收poe交換機發送的測試指令并對待測設備施加對應激勵。

7、poe交換機一方面與上位機連接，另一方面連接有若干測試硬件。

8、測試硬件包括：

9、核心板tbc，用于接收poe交換機發來的測試指令并驅動拓展版tbe；

10、擴展板tbe，用于根據核心板tbc的指令對待測設備施加對應激勵。

11、每個核心板tbc連接有一個擴展板tbe。

12、每個擴展板tbe上布置有若干用于連接待測設備的測試插座。

13、測試系統在更換測試對象時，僅需更換擴展板tbe。

14、測試系統可在三溫環境下進行微系統測試。

15、poe交換機還可為測試系統進行供電。

16、一種基于poe的微系統模塊通用測試方法，包括：

17、接收上位機發送的測試命令；

18、施加對應測試激勵至待測設備；

19、獲取待測設備響應數據；

20、通過以太網反饋測試數據至上位機。

21、該測試方法可在三溫環境下進行。

22、與現有技術相比，本發明具有以下有益的技術效果：

23、一種基于poe的微系統模塊通用測試系統，采用poe交換機連接上位機與測試硬件，實現了數據的高效傳輸，同時poe交換機還可為測試系統供電，減少了額外供電設備的需求，簡化了系統結構。在更換測試對象時僅需更換擴展板tbe，而核心板tbc可保持不變，這大大提高了系統的靈活性和適應性，降低了硬件成本和更換成本。在對不同型號的微系統模塊進行測試時，只需更換適配不同模塊接口的tbe擴展板，tbc核心板的通用設計使得系統能夠快速切換測試對象，無需重新構建整個測試硬件，測試系統的通用性高，能夠有效降低測試成本。每個核心板tbc連接一個擴展板tbe，且擴展板tbe上布置有若干測試插座，可同時對多個待測設備進行測試，提高了測試的并行性和批量處理能力。這在大規模微系統產品測試中，能夠顯著縮短測試周期，提高生產效率。測試系統可在三溫環境（高溫、常溫、低溫）下進行微系統測試，能夠全面模擬微系統在實際應用中可能遇到的各種溫度環境，有效檢測待測設備在不同溫度條件下的性能和可靠性。與僅能在常溫下進行測試的系統相比，本系統能夠更深入地發現潛在問題，提高測試的完整性和準確性，確保微系統產品在不同溫度環境下的穩定運行。

24、一種基于poe的微系統模塊通用測試方法，通過執行上位機發送的測試命令，能夠精確控制測試過程，確保測試的一致性和規范性。在施加對應測試激勵至待測設備后，及時獲取待測設備響應數據并反饋至上位機，實現了測試數據的快速采集和實時傳輸。這使得測試人員能夠及時了解待測設備的性能狀況，快速判斷測試結果，提高了測試效率。自動化的測試流程可以減少人為操作失誤，提高測試的準確性和可靠性。測試方法可在三溫環境下進行，能夠全面評估微系統在不同溫度條件下的性能。在高溫環境下，可以檢測待測設備的耐熱性能和在高溫工作狀態下的穩定性；在低溫環境下，可發現冷啟動問題和低溫對設備功能的影響；常溫環境下的測試則作為基準參考。通過在三溫環境下的測試，能夠更全面地發現微系統在不同溫度環境下可能出現的問題，提高了微系統產品的環境適應性和可靠性，有助于產品在各種實際應用場景中的穩定運行。

技術特征：

1.一種基于poe的微系統模塊通用測試系統，其特征在于，包括：

2.根據權利要求1所述的一種基于poe的微系統模塊通用測試系統，其特征在于，所述poe交換機一方面與上位機連接，另一方面連接有若干測試硬件。

3.根據權利要求1所述的一種基于poe的微系統測試系統，其特征在于，所述測試硬件包括：

4.根據權利要求2所述的一種基于poe的微系統模塊通用測試系統，其特征在于，每個所述核心板tbc連接有一個擴展板tbe。

5.根據權利要求2所述的一種基于poe的微系統模塊通用測試系統，其特征在于，每個所述擴展板tbe上布置有若干用于連接待測設備的測試插座。

6.根據權利要求2所述的一種基于poe的微系統模塊通用測試系統，其特征在于，所述測試系統在更換測試對象時，僅需更換擴展板tbe。

7.根據權利要求1所述的一種基于poe的微系統模塊通用測試系統，其特征在于，所述測試系統可在三溫環境下進行微系統測試。

8.根據權利要求1所述的一種基于poe的微系統模塊通用測試系統，其特征在于，所述poe交換機還可為測試系統進行供電。

9.一種基于poe的微系統模塊通用測試方法，其特征在于，包括：

10.根據權利要求6所述的一種基于poe的微系統模塊通用測試方法，其特征在于，所述測試方法可在三溫環境下進行。

技術總結
本發明公開了一種基于POE的微系統模塊通用測試系統及方法，旨在克服現有技術進行微系統測試時測試完整性不足的技術問題。該測試系統包括上位機、POE交換機和測試硬件。上位機用于發送測試命令與接收測試數據；POE交換機連接上位機和測試硬件，實現數據傳輸并可為系統供電；測試硬件由核心板TBC和擴展板TBE組成，接收測試指令并對待測設備施加激勵。該系統可在三溫環境下工作。測試方法包括執行上位機命令、施加激勵、獲取響應數據并反饋至上位機，同樣可在三溫環境下進行。本發明通過獨特的系統架構和測試方法，提升了測試方案的通用性，大幅降低了測試成本，增強了微系統產品在不同環境下的測試覆蓋性和可靠性。

技術研發人員：方超,徐栗,段飛宇,安偉澤,田衛,王超
受保護的技術使用者：西安微電子技術研究所
技術研發日：
技術公布日：2025/4/28