技術(shù)特征：

1.一種擴(kuò)散板缺陷檢測(cè)模型的訓(xùn)練方法，其特征在于，包括以下步驟：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的擴(kuò)散板缺陷檢測(cè)模型的訓(xùn)練方法，其特征在于，步驟s1包括以下步驟：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的擴(kuò)散板缺陷檢測(cè)模型的訓(xùn)練方法，其特征在于，步驟s2中所述根據(jù)缺陷類型數(shù)據(jù)進(jìn)行光譜波長(zhǎng)設(shè)置包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的擴(kuò)散板缺陷檢測(cè)模型的訓(xùn)練方法，其特征在于，步驟s2中所述通過設(shè)置的光譜參數(shù)對(duì)擴(kuò)散板監(jiān)測(cè)圖像進(jìn)行透射率差異分析包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的擴(kuò)散板缺陷檢測(cè)模型的訓(xùn)練方法，其特征在于，步驟s2中所述定位擴(kuò)散板監(jiān)測(cè)圖像的內(nèi)部缺陷區(qū)域包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的擴(kuò)散板缺陷檢測(cè)模型的訓(xùn)練方法，其特征在于，步驟s2中所述對(duì)內(nèi)部缺陷區(qū)域進(jìn)行三維缺陷形貌分析包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的擴(kuò)散板缺陷檢測(cè)模型的訓(xùn)練方法，其特征在于，步驟s3包括以下步驟：

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的擴(kuò)散板缺陷檢測(cè)模型的訓(xùn)練方法，其特征在于，步驟s35包括以下步驟：

9.一種擴(kuò)散板缺陷檢測(cè)模型的訓(xùn)練系統(tǒng)，其特征在于，用于執(zhí)行如權(quán)利要求1所述的擴(kuò)散板缺陷檢測(cè)模型的訓(xùn)練方法，該擴(kuò)散板缺陷檢測(cè)模型的訓(xùn)練系統(tǒng)包括：

10.一種存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至8中任一所述的擴(kuò)散板缺陷檢測(cè)模型的訓(xùn)練方法。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及圖像識(shí)別技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種擴(kuò)散板缺陷檢測(cè)模型的訓(xùn)練方法、系統(tǒng)及介質(zhì)。所述方法包括以下步驟：獲取擴(kuò)散板監(jiān)測(cè)圖像，并進(jìn)行表面缺陷特征提取，得到表面缺陷數(shù)據(jù)；基于表面缺陷數(shù)據(jù)進(jìn)行缺陷類型分析，得到缺陷類型數(shù)據(jù)；根據(jù)缺陷類型數(shù)據(jù)進(jìn)行光譜參數(shù)設(shè)置，并通過設(shè)置的光譜參數(shù)對(duì)擴(kuò)散板監(jiān)測(cè)圖像進(jìn)行透射率差異分析，生成透射特征圖譜；基于透射特征圖譜定位擴(kuò)散板監(jiān)測(cè)圖像的內(nèi)部缺陷區(qū)域，得到內(nèi)部缺陷區(qū)域坐標(biāo)；基于內(nèi)部缺陷區(qū)域坐標(biāo)對(duì)內(nèi)部缺陷區(qū)域進(jìn)行三維缺陷形貌分析，生成內(nèi)部缺陷數(shù)據(jù)。本發(fā)明通過結(jié)合表面和內(nèi)部缺陷分析、缺陷耦合關(guān)系、風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估及區(qū)域分割，提高了缺陷檢測(cè)模型的檢測(cè)全面性和準(zhǔn)確性。

技術(shù)研發(fā)人員：吳鴻哲,呂忠,金波
受保護(hù)的技術(shù)使用者：深圳市誠(chéng)譽(yù)興光電有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/4/28