本發(fā)明屬于半導體功率器件技術領域，具體涉及一種低壓超結MOSFET自對準工藝方法。

背景技術：

由于功率MOSFET應用的巨大市場，引導其在工藝和設計上都取得了長足的發(fā)展，不斷成熟。但人們對于器件性能提高和成本降低的需求是永不滿足的，促使其市場競爭越來越激烈。傳統(tǒng)的功率MOSFET器件由于受到理論硅極限的限制，長久以來抑制了功率MOSFET器件的發(fā)展，而低壓超結 MOSFET 利用電荷平衡原理，使得N型漂移區(qū)即使在較高摻雜濃度的情況下也能實現(xiàn)器件較高的擊穿電壓，從而獲得較低的導通電阻，打破了傳統(tǒng)功率MOSFET的理論硅極限。導通電阻降低可以使得一片晶圓上制作更多數(shù)量的芯片，從而降低了單顆芯片成本。然而對于低電壓范圍超結器件（40V以下），其pitch需要縮小至0.8um或甚至以下，這增加了接觸孔與溝槽之間對準的難度，而對偏會導致器件性能一致性較差，特別是閾值電壓的波動，嚴重時導致器件參數(shù)異常。

技術實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的是提供一種低壓超結MOSFET自對準工藝方法，克服現(xiàn)有技術中存在的技術問題。

本發(fā)明所采用的技術方案為：

低壓超結MOSFET自對準工藝方法，其特征在于：

包括以下步驟：

步驟一：硅襯底表面淀積一層氧化硅，通過光刻工藝在氧化硅上面定義出溝槽區(qū)，然后以氧化硅為硬掩模，對硅襯底進行刻蝕，形成溝槽并移除表面氧化硅；

步驟二：在溝槽內及硅襯底表面生長場氧化硅；

步驟三：溝槽內填充源極多晶硅并進行回刻；

步驟四：利用濕法腐蝕對硅襯底表面及溝槽側壁氧化層進行移除；

步驟五：利用干法熱氧化工藝生長柵氧化硅；

步驟六：淀積柵極多晶硅并進行回刻；

步驟七：淀積介質氧化硅并利用CMP工藝移除表面的氧化硅；

步驟八：利用干法腐蝕進行硅刻蝕；

步驟九：進行體區(qū)、源區(qū)注入并退火；

步驟十：淀積氮化硅，并利用干法腐蝕刻蝕掉表面的氮化硅；

步驟十一：進行硅刻蝕形成接觸孔；

步驟十二：進行表面金屬工藝。

步驟二中，場氧化硅生成通過氧化工藝或淀積工藝實現(xiàn)。

步驟三中，源極多晶硅回刻掉表面及溝槽上半部多晶硅，保留下半部多晶硅以形成源極。

步驟六中，多晶硅回刻至硅表面以下深度不小于4000A用以填充介質氧化層。

步驟七中，氧化硅移除到表面與硅襯底表面齊平。

步驟十中，氮化硅刻蝕后形成氮化硅側墻。

本發(fā)明具有以下優(yōu)點：

本發(fā)明所述的低壓超結MOSFET自對準工藝方法，可以實現(xiàn)接觸孔與溝槽之間的自對準，避免了常規(guī)工藝中接觸孔對偏的問題，降低了工藝的難度，增加了器件參數(shù)的穩(wěn)定性。

附圖說明

圖1為本發(fā)明步驟一的示意圖；

圖2為本發(fā)明步驟二的示意圖；

圖3為本發(fā)明步驟三的示意圖；

圖4為本發(fā)明步驟四的示意圖；

圖5為本發(fā)明步驟五的示意圖；

圖6為本發(fā)明步驟六的示意圖；

圖7為本發(fā)明步驟七的示意圖；

圖8為本發(fā)明步驟八的示意圖；

圖9為本發(fā)明步驟九的示意圖；

圖10為本發(fā)明步驟十的示意圖；

圖11為本發(fā)明步驟十一的示意圖；

圖12為本發(fā)明步驟十二的示意圖。

具體實施方式

下面結合具體實施方式對本發(fā)明進行詳細的說明。

為了使本發(fā)明的目的、技術方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本發(fā)明進行進一步詳細說明。

本發(fā)明涉及的一種低壓超結MOSFET自對準工藝方法，包括以下步驟：

步驟一：硅襯底1表面淀積一層氧化硅，通過光刻工藝在氧化硅上面定義出溝槽區(qū)，然后以氧化硅為硬掩模，對硅襯底進行刻蝕，形成溝槽2并移除表面氧化硅，如圖1示。

步驟二：在溝槽內及硅襯底表面生長場氧化硅3，如圖2示；氧化硅生成可以通過氧化工藝實現(xiàn)，也可以通過淀積工藝實現(xiàn)。

步驟三：溝槽內填充源極多晶硅4并進行回刻，如圖3示；源極多晶硅回刻掉表面及溝槽上半部多晶硅，保留下半部多晶硅以形成源極。

步驟四：利用濕法腐蝕對硅襯底表面及溝槽側壁氧化層進行移除，如圖4示。

步驟五：利用干法熱氧化工藝生長柵氧化硅5，如圖5示。

步驟六：淀積柵極多晶硅6并進行回刻，如圖6示；多晶硅回刻至硅表面以下深度不小于4000A用以填充介質氧化層。

步驟七：淀積介質氧化硅7并利用CMP工藝移除表面的氧化硅，如圖7示；氧化硅移除到表面與硅襯底表面齊平。

步驟八：利用干法腐蝕進行硅刻蝕，如圖8示。

步驟九：進行體區(qū)、源區(qū)注入并退火，如圖9示。

步驟十：淀積氮化硅8，并利用干法腐蝕刻蝕掉表面的氮化硅，如圖10示；氮化硅刻蝕后形成氮化硅側墻。

步驟十一：進行硅刻蝕形成接觸孔，如圖11示。

步驟十二：進行表面金屬工藝，制作器件電極，如圖12示。

采用本發(fā)明所述的低壓超結MOSFET自對準工藝方法，可以實現(xiàn)接觸孔與溝槽之間的自對準，避免了常規(guī)工藝中接觸孔對偏的問題，降低了工藝的難度，增加了器件參數(shù)的穩(wěn)定性。

本發(fā)明的內容不限于實施例所列舉，本領域普通技術人員通過閱讀本發(fā)明說明書而對本發(fā)明技術方案采取的任何等效的變換，均為本發(fā)明的權利要求所涵蓋。