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一種五面包封封裝結(jié)構(gòu)、器件及其封裝工藝的制作方法

文檔序號:41772086發(fā)布日期:2025-04-29 18:42閱讀:7來源:國知局
一種五面包封封裝結(jié)構(gòu)、器件及其封裝工藝的制作方法

本發(fā)明屬于芯片封裝,尤其涉及一種五面包封封裝結(jié)構(gòu)、器件及其封裝工藝。


背景技術(shù):

1、集成電路芯片封裝的目的在于保護(hù)芯片不受外界環(huán)境的干擾,使之能穩(wěn)定、可靠、正常的發(fā)揮電路功能,故,安裝半導(dǎo)體集成電路芯片用的封裝外殼,起著安放、固定、密封、保護(hù)芯片和增強電熱性能的作用。

2、隨著電子芯片的集成度微型化的發(fā)展,芯片在工作過程中產(chǎn)生的熱量越來越多,高溫不僅會導(dǎo)致芯片性能下降,還可能引起芯片損壞,因此有效的散熱措施至關(guān)重要,現(xiàn)有的散熱結(jié)構(gòu)一般都是直接將芯片及其電性連接結(jié)構(gòu)層層電鍍、包封、研磨后形成一芯片封裝體,在芯片封裝體的外圍安裝或電鍍五面金屬包圍的散熱屏蔽結(jié)構(gòu),散熱結(jié)構(gòu)與內(nèi)部芯片間隔包封料,散熱屏蔽效果差,工藝復(fù)雜,生產(chǎn)效率低下。


技術(shù)實現(xiàn)思路

1、為解決上述現(xiàn)有技術(shù)中的問題,本發(fā)明提供了一種五面包封封裝結(jié)構(gòu)、器件及其封裝工藝。

2、為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提出的一種五面包封封裝工藝,包括以下步驟:

3、芯片封裝:芯片包封在封裝體a內(nèi),芯片背面膠層a表面與封裝體a齊平并外露,芯片正面電鍍線路層和導(dǎo)電柱,導(dǎo)電柱表面與封裝體a齊平外露;

4、圍墻電鍍:提供一基板,在基板上電鍍金屬框,金屬框頂面與外露的導(dǎo)電柱齊平;

5、貼裝包封:封裝體a通過膠層a貼裝在圍墻中部基板上,在圍墻內(nèi)填充包封料并固化研磨頂面直至導(dǎo)電柱、金屬框與封裝整體頂面齊平外露,形成封裝體b,封裝體a和b構(gòu)成封裝整體;

6、外層電鍍:剝離基板,在封裝整體的背面刷膠層b,并在膠層b上電鍍金屬面,金屬面覆蓋封裝整體表面并與金屬框密封連接。

7、進(jìn)一步的,所述芯片封裝步驟中,封裝體a預(yù)先通過將芯片背面刷膠層a后,在芯片正面依次層層電鍍線路層和導(dǎo)電柱,并包封研磨暴露出導(dǎo)電柱頂面而得到。

8、進(jìn)一步的,所述圍墻電鍍步驟中,在基板上電鍍的金屬框為一層或多層堆疊。

9、更進(jìn)一步的,所述圍墻電鍍步驟中,多層堆疊的金屬框,金屬框從下層到上層寬度逐漸變小。

10、更進(jìn)一步的,所述圍墻電鍍步驟中,每層金屬框?qū)挾炔罘秶?0~25μm之間,形成寬度臺階。

11、更進(jìn)一步的,所述外層電鍍步驟中,在剝離基板之前,于外露的導(dǎo)電柱和金屬框上電鍍焊腳。

12、更進(jìn)一步的,所述外層電鍍步驟中,膠層b覆蓋膠層a,膠層b外擴于膠層a的邊緣距離≥100μm,膠層a和膠層b均為導(dǎo)熱導(dǎo)電膠。

13、一種五面包封封裝結(jié)構(gòu),包括封裝整體,還包括有:

14、封裝體a,所述封裝體a內(nèi)包封有芯片,芯片背面膠層a表面與封裝體a齊平并外露,芯片正面電鍍線路層和導(dǎo)電柱,導(dǎo)電柱表面與封裝體a齊平外露;

15、圍墻,所述圍墻通過電鍍金屬框形成;

16、封裝體b,所述封裝體a通過膠層a貼裝在圍墻中部位置,此時金屬框頂面與外露的導(dǎo)電柱齊平,在圍墻和封裝體a之間填充包封料,并固化為封裝體b,封裝體a和b構(gòu)成封裝整體,研磨頂面直至導(dǎo)電柱、金屬框與封裝整體頂面齊平外露;

17、金屬面,在封裝整體的背面刷膠層b,并在膠層b上電鍍金屬面,金屬面覆蓋封裝整體表面并與金屬框密封連接。

18、進(jìn)一步的,所述封裝體a預(yù)先通過將芯片背面刷膠層a后,在芯片正面依次層層電鍍線路層和導(dǎo)電柱,并包封研磨暴露出導(dǎo)電柱頂面而得到。

19、進(jìn)一步的,所述金屬框為電鍍的一層或多層堆疊。

20、更進(jìn)一步的,所述金屬框多層堆疊時金屬框從下層到上層寬度逐漸變小。

21、更進(jìn)一步的,每層金屬框?qū)挾炔罘秶?0~25μm之間,形成寬度臺階。

22、更進(jìn)一步的,外露的導(dǎo)電柱和金屬框上電鍍焊腳。

23、更進(jìn)一步的,所述膠層b覆蓋膠層a,膠層b外擴于膠層a的邊緣距離≥100μm,膠層a和膠層b均為導(dǎo)熱導(dǎo)電膠。

24、一種封裝器件,包括上述的五面包封封裝結(jié)構(gòu)。

25、本發(fā)明:1.通過先形成封裝半成品結(jié)構(gòu),產(chǎn)品各部分可分開進(jìn)行預(yù)處理,大幅提高生產(chǎn)效率,簡化工藝;在膠層a上直接設(shè)置更大尺寸覆蓋的膠層b,可有效緩沖金屬面的應(yīng)力,保護(hù)芯片背面,整個封裝結(jié)構(gòu)更穩(wěn)定可靠;

26、2.芯片熱量直接通過導(dǎo)熱的膠層a和膠層b傳遞至封裝整體外部的金屬面散發(fā),散熱性能更好,圍墻和金屬面形成封裝整體的五面包封結(jié)構(gòu),加強電磁屏蔽作用,密封性良好。



技術(shù)特征:

1.一種五面包封封裝工藝,其特征在于,包括以下步驟:

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的五面包封封裝工藝,其特征在于,所述芯片封裝步驟中,封裝體a預(yù)先通過將芯片背面刷膠層a后,在芯片正面依次層層電鍍線路層和導(dǎo)電柱,并包封研磨暴露出導(dǎo)電柱頂面而得到。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的五面包封封裝工藝,其特征在于,所述圍墻電鍍步驟中,在基板上電鍍的金屬框為一層或多層堆疊。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的五面包封封裝工藝,其特征在于,所述圍墻電鍍步驟中,多層堆疊的金屬框,金屬框從下層到上層寬度逐漸變小。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的五面包封封裝工藝,其特征在于,所述圍墻電鍍步驟中,每層金屬框?qū)挾炔罘秶?0~25μm之間,形成寬度臺階。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的五面包封封裝工藝,其特征在于,所述外層電鍍步驟中,在剝離基板之前,于外露的導(dǎo)電柱和金屬框上電鍍焊腳。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的五面包封封裝工藝,其特征在于,所述外層電鍍步驟中,膠層b覆蓋膠層a,膠層b外擴于膠層a的邊緣距離≥100μm,膠層a和膠層b均為導(dǎo)熱導(dǎo)電膠。

8.一種五面包封封裝結(jié)構(gòu),包括封裝整體,其特征在于,還包括有:

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的五面包封封裝結(jié)構(gòu),其特征在于,所述封裝體a預(yù)先通過將芯片背面刷膠層a后,在芯片正面依次層層電鍍線路層和導(dǎo)電柱,并包封研磨暴露出導(dǎo)電柱頂面而得到。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的五面包封封裝結(jié)構(gòu),其特征在于,所述金屬框為電鍍的一層或多層堆疊。

11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的五面包封封裝結(jié)構(gòu),其特征在于,所述金屬框多層堆疊時金屬框從下層到上層寬度逐漸變小。

12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的五面包封封裝結(jié)構(gòu),其特征在于,每層金屬框?qū)挾炔罘秶?0~25μm之間,形成寬度臺階。

13.根據(jù)權(quán)利要求8所述的五面包封封裝結(jié)構(gòu),其特征在于,外露的導(dǎo)電柱和金屬框上電鍍焊腳。

14.根據(jù)權(quán)利要求8所述的五面包封封裝結(jié)構(gòu),其特征在于,所述膠層b覆蓋膠層a,膠層b外擴于膠層a的邊緣距離≥100μm,膠層a和膠層b均為導(dǎo)熱導(dǎo)電膠。

15.一種封裝器件,其特征在于,包括權(quán)利要求8-14任意一項所述的五面包封封裝結(jié)構(gòu)。


技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種五面包封封裝結(jié)構(gòu)、器件及其封裝工藝,該工藝包括以下步驟:芯片封裝:芯片包封在封裝體A內(nèi),芯片背面膠層A表面與封裝體A齊平并外露,芯片正面電鍍線路層和導(dǎo)電柱,導(dǎo)電柱表面與封裝體A齊平外露;圍墻電鍍:提供一基板,在基板上電鍍金屬框,金屬框頂面與外露的導(dǎo)電柱齊平;貼裝包封:封裝體A通過膠層A貼裝在圍墻中部基板上,在圍墻內(nèi)填充包封料并固化研磨頂面直至導(dǎo)電柱、金屬框與封裝整體頂面齊平外露,形成封裝體B,封裝體A和B構(gòu)成封裝整體;本發(fā)明通過先形成封裝半成品結(jié)構(gòu),大幅提高生產(chǎn)效率,簡化工藝;圍墻和金屬面形成封裝整體的五面包封結(jié)構(gòu),加強電磁屏蔽作用,密封性良好。

技術(shù)研發(fā)人員:張光耀,譚小春
受保護(hù)的技術(shù)使用者:合肥矽邁微電子科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2025/4/28
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