實現command模式的mipi模組測試系統的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種實現COMMAND模式的MIPI模組測試系統，它包括PG圖像發生器、MCU和FPGA，PG圖像發生器分別與MCU和FPGA連接，MCU與FPGA通過EBI接口連接，FPGA通過橋接芯片與MIPI模組連接。本實用新型能夠實現COMMAND模式MIPI模組的點屏測試；本系統通過FPGA生成圖像數據，MCU通過FPGA轉發MIPI模組的寄存器配置參數，可以實現寄存器配置參數和圖像數據在同一個通道進行發送，提高傳輸效率。
【專利說明】實現CO圖AND模式的MIPI模組測試系統

【技術領域】
[0001]本實用新型屬于液晶模組的顯示領域和測試【技術領域】，具體地指一種實現COMMAND模式的MIPI模組測試系統。

【背景技術】
[0002]具有MIPI接口的顯示屏廣泛應用于現代的智能手機、平板等電子設備。在MIPI顯示模組大規模的生產過程中，MIPI模組出廠前的配置測試是很重要的一個環節，需要使用到讀取和設置MIPI模組內部寄存器的技術，來完成點屏測試、Vcom調節、MTP燒錄等生產流程。橋接芯片在VIDEO模式或COMMAND模式下通過內部的轉換機制將輸入的信號發送至VIDEO模式或COMMAND模式的MIPI模組顯示。VIDEO模式是指主機傳輸到液晶模組采用實時像素流，而且是以高速傳輸信號的模式，而COMMAND模式是指采用發送命令和數據到具有顯示緩存的控制器的傳輸信號的模式。
[0003]現階段MIPI模組測試系統僅適用于VIDEO模式的MIPI模組，對橋接芯片進行配置的方案是采用SPI通道和RGB數據通道兩個獨立通道分別傳輸參數配置數據和圖像數據，然而，橋接芯片工作于COMMAND模式時，其用于傳送配置參數的SPI接口處于關閉狀態，因此目前的MIPI模組測試系統不能進行COMMAND模式MIPI模組的點屏測試。


【發明內容】

[0004]針對現有技術中的缺陷，本實用新型提出了能夠完成COMMAND模式MIPI模組的點屏測試，并能夠進行Vcom調節、模組ID設置、MTP信息燒錄等功能的實現COMMAND模式的MIPI模組測試系統。
[0005]為實現上述目的，本實用新型所設計的實現COMMAND模式的MIPI模組測試方法的測試系統，其特殊之處在于，包括PG圖像發生器、MCU和FPGA，所述PG圖像發生器分別與MCU和FPGA連接，所述MCU與FPGA通過EBI接口連接，所述FPGA通過橋接芯片與MIPI模組連接，所述PG圖像發生器用于設置寄存器配置參數和圖像數據；所述MCU用于將從PG圖像發生器接收的寄存器配置參數轉化為DCS指令發送至FPGA ;所述FPGA用于將從PG圖像發生器接收的圖像數據與DCS指令打包后發送至橋接芯片。
[0006]進一步地，所述FPGA包括EBI模塊、數據處理模塊和時序接口電路，所述EBI模塊將從MCU接收的DCS指令發送至時序接口電路，所述數據處理模塊將從PG圖像發生器接收的圖像數據發送至時序接口電路，所述時序接口電路將DCS指令與圖像數據打包后發送至橋接芯片。
[0007]本實用新型的工作原理為:PG圖像發生器發出的圖像信號經過FPGA解碼生成橋接芯片能夠讀取的圖像數據，MCU從上層軟件獲取MIPI模組的內部寄存器配置信息，并將配置信息轉化為DCS指令后，FPGA將DCS指令與圖像數據打包后以轉發的方式傳送至橋接芯片，最終由橋接芯片的MIPI DO通道完成配置參數的傳輸。
[0008]與現有技術相比，本實用新型的有益效果包括:
[0009](I)能夠實現COMMAND模式MIPI模組的點屏測試；
[0010](2)本系統通過FPGA生成圖像數據，MCU通過FPGA轉發MIPI模組的寄存器配置參數，可以實現寄存器配置參數和圖像數據在同一個通道進行發送，提高傳輸效率；
[0011](3)能夠對設置的參數進行記錄，可以很方便地查詢到每個模組設置的參數；
[0012](4)多功能性:除了基本的點屏測試功能，本技術方案提供了 Vcom調節、模組ID讀取和保存、MTP數據編輯和燒錄等多種測試功能，適應了 MIPI生產過程中的多種需求。
[0013](5)通過提供數據比對功能，有效保障了燒錄參數數據的準確性。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0014]圖1為本實用新型實現COMMAND模式的MIPI模組測試系統的結構示意圖。
[0015]圖中:1.?6圖像發生器，2.10，31?64，3-1』81模塊，3-2.數據轉換模塊，3-3.時序接口電路，4.橋接芯片，5.MIPI模組。

【具體實施方式】
[0016]以下結合附圖和具體實施例對本實用新型作進一步的詳細描述。
[0017]如圖1所示，本實用新型一種實現COMMAND模式的MIPI模組測試系統，包括PG圖像發生器1、MCU2和FPGA3，PG圖像發生器I分別與MCU2和FPGA3連接，MCU2與FPGA3通過EBI接口連接，FPGA3通過橋接芯片4與MIPI模組5連接，
[0018]PG圖像發生器I用于設置寄存器配置參數和圖像數據；
[0019]MCU2用于將從PG圖像發生器I接收的寄存器配置參數轉化為DCS指令發送至FPGA3 ；
[0020]FPGA3用于將從PG圖像發生器I接收的圖像數據與DCS指令打包后發送至橋接芯片4。FPGA3包括EBI模塊3_1、數據處理模塊3_2和時序接口電路3_3。EBI模塊3_1將從MCU2的EBI接口接收的DCS指令發送至時序接口電路3_2，數據處理模塊3_2將從PG圖像發生器I的LVDS接口接收的圖像數據發送至時序接口電路3-3，時序接口電路3-3將DCS指令與圖像數據打包后發送至橋接芯片4。橋接芯片4根據DCS指令完成配置并顯示圖像數據實現點屏。
[0021]信號源與本測試系統的PG圖像發生器I之間通過電纜連接傳輸圖像信號、數據信號和電源。PG圖像發生器I接收圖像信號后發送至FPGA3，FPGA3將圖像信號解碼為橋接芯片4能夠識別的圖像數據，MCU2通過PG圖像發生器I從上層軟件獲取MIPI模組5的內部寄存器配置信息，并將配置信息轉化為DCS指令，FPGA3將DCS指令與圖像數據打包并轉發的方式傳輸到橋接芯片4，最終由橋接芯片4的MIPI DO通道完成配置參數的傳輸，MIPI模組5顯示圖像數據。
[0022]利用上述測試系統實現COMMAND模式的MIPI模組測試的具體步驟包括:
[0023]1)PG圖像發生器I根據MIPI模組5的類型設置寄存器配置參數和圖像數據，并將寄存器配置參數通過485接口發送至MCU2，將圖像數據通過LVDS數據總線接口發送至FPGA 3 ；
[0024]2)MCU2根據寄存器配置參數產生DCS指令并發送至FPGA3 ；
[0025]3) FPGA3從PG圖像發生器I的LVDS數據總線接口接收圖像信號，將圖像信號轉化為橋接芯片4能夠識別的圖像數據，再將DCS指令與圖像數據打包后發送至橋接芯片4 ；
[0026]4)橋接芯片4發送DCS指令配置MIPI模組5，并將圖像數據轉化為MIPI信號后傳送至MIPI模組5，MIPI模組5顯示MIPI信號的圖像數據，點屏測試完成。
[0027]Vcom調節測試步驟:MCU2通過FPGA3向橋接芯片4轉發DCS指令調節MIPI模組5的Vcom寄存器參數，使屏幕閃爍度最小。Vcom寄存器屬于MIPI模組5的內部寄存器，用來MIPI模組5的畫面閃爍效果，通過讀取命令可以先讀取Vcom參數，在上層軟件通過+/-調節Vcom數值，使畫面的閃爍程度最小。
[0028]MTP燒錄步驟:MCU2將MIPI模組5的模組ID、Gamma參數、Vcom參數和Power參數轉化為DCS指令并通過FPGA3發送至橋接芯片4，橋接芯片4根據DCS指令將所接收的模組ID、Gamma參數、Vcom參數和Power參數發送至MIPI模組5,并按模組燒錄流程燒錄至MIPI模組5的OTP區域。MIPI模組5提供了一塊OTP區域可以用來保存模組ID、Gamma參數、Vcom參數、Power參數，通過在上層軟件設置相應的參數，并下發至MIPI模組5，然后按特定的順序設置模組寄存器，可以將參數燒錄到OTP區域，在掉電重啟以后，相應的參數可以自動從OTP區域讀取到MIPI模組5的相應寄存器。
[0029]讀取模組ID步驟:MCU2通過FPGA3向橋接芯片4轉發DCS指令讀取MIPI模組5
的OTP區域的模組ID、Gamma參數、Vcom參數和Power參數并--與設定值相比較，如果相同，測試結束；如果不同，重復MTP燒錄步驟。在上位機通過DCS指令讀取模組ID，可以實現每塊MIPI模組5燒錄參數的保存記錄，便于分析統計模組信息。在上位機提供數據比對窗口，MCU2在讀取到MIPI模組5的內部參數以后返回到上層，確保所需參數已正確燒錄，避免出現該燒而未燒，并及時檢測燒錄錯誤的情況。
[0030]以上所述僅是本實用新型的優選實施方式，應當指出，對于本【技術領域】的普通技術人員來說，在不脫離本實用新型原理的前提下，還可以設計出若干改進，這些改進也應視為本實用新型的保護范圍。
【權利要求】
1.一種實現COMMAND模式的MIPI模組測試系統，其特征在于:包括PG圖像發生器(I)、MCU (2)和FPGA (3)，所述PG圖像發生器(I)分別與MCU (2)和FPGA (3)連接，所述MCU (2)與FPGA(3)通過EBI接口連接，所述FPGA(3)通過橋接芯片(4)與MIPI模組(5)連接， 所述PG圖像發生器(I)用于設置寄存器配置參數和圖像數據； 所述MCU(2)用于將從PG圖像發生器(I)接收的寄存器配置參數轉化為DCS指令發送M FPGA (3)； 所述FPGA (3)用于將從PG圖像發生器(I)接收的圖像數據與DCS指令打包后發送至橋接芯片⑷。
2.根據權利要求1所述的實現COMMAND模式的MIPI模組測試系統，其特征在于:所述FPGA (3)包括EBI模塊(3-1)、數據處理模塊(3-2)和時序接口電路(3-3)，所述EBI模塊(3-1)將從MCU(2)接收的DCS指令發送至時序接口電路(3-2)，所述數據處理模塊(3_2)將從PG圖像發生器(I)接收的圖像數據發送至時序接口電路(3-3)，所述時序接口電路(3-3)將DCS指令與圖像數據打包后發送至橋接芯片(4)。
【文檔編號】G09G3/00GK204066680SQ201420512473
【公開日】2014年12月31日 申請日期:2014年9月5日 優先權日:2014年9月5日
【發明者】彭騫, 鄒峰, 雷程程, 陳凱, 沈亞非 申請人:武漢精測電子技術股份有限公司