光路處理方法和裝置制造方法
【專利摘要】本發明提供一種光路處理方法和裝置，該裝置包括：FA、LA、非球面透鏡、濾波片和反射鏡；FA包括測試光通道；其中，測試光通道，用于接收測試光，并通過LA和非球面透鏡入射到濾波片的表面；濾波片，位于非球面透鏡和反射鏡之間，用于將測試光進行透射；反射鏡，與非球面透鏡透射光焦點的距離小于或等于第一預設值，用于以預設角度對通過濾波片透射到反射鏡鏡面的測試光進行反射，以使測試光對應的反射光經過濾波片、非球面透鏡和LA，并從特定通道輸出。
【專利說明】光路處理方法和裝置

【技術領域】
[0001]本發明涉及光纖網絡技術，尤其涉及一種光路處理方法和裝置。

【背景技術】
[0002]隨著接入網涉及到數量龐大的終端用戶，分布繁雜的光鏈路分支，且整個網絡采用全光纖的無源網絡，如何實現對光鏈路進行合理地監測和維護成為運營商亟需要解決的技術問題。目前，運營商的監測系統主要采用光時域反射儀(Optical Time DomainReflectometer ;簡稱:0TDR)來對鏈路進行測試，其較為主流的方式為:利用利用I XN光開關和密集波分復用(Dense Wavelength Divis1n Multiplexing ;簡稱:WDM)接入N個接入端。具體的，圖1為現有技術中的監測系統的原理示意圖，如圖1所示，該監測系統可以放置在局端光纖配線架(Optical Distribut1n Frame ;簡稱:0DF),并對多個無源光纖網絡(Passive Optical Network ;簡稱:Ρ0Ν)進行監測,其中，該PON包括光線路終端(OpticalLine Terminal ;簡稱:0LT)，該監測系統包括:0TDR11、I XN光開關12和N個WDM13。其工作原理為:0TDR11與I XN光開關12的輸入端相連接，當0TDR11將OTDR測試光通過I XN光開關12的輸入端輸入到I XN光開關12后，可以通過控制系統，將該OTDR測試光切換至特定的輸出通道，再通過該特定輸出通道對應的WDM13，將該OTDR測試光耦合至對應的Ρ0Ν,下行至ONU產生背向散射，耦合至PON的背向散射光上行至WDM13，返回至0TDR11。
[0003]但是，由于I XN光開關的每個輸出端都需要一個WDM，因此，當使用大分光比光開關時，可能會導致監測系統成本的增加以及光開關與WDM之間的跳纖管理的難度，另外，對于原本空間資源緊張的機房也會增加空間壓力。


【發明內容】

[0004]本發明提供一種光路處理方法和裝置，用以消除了現有技術中光開關與WDM間的光跳纖管理，還降低了裝配成本并提高了空間利用率。
[0005]本發明的第一方面是提供一種光路處理裝置，包括:
[0006]FA、LA、非球面透鏡、濾波片和反射鏡；所述FA包括測試光通道；其中，
[0007]所述測試光通道，用于接收測試光，并通過所述LA和非球面透鏡入射到所述濾波片的表面；
[0008]所述濾波片，位于所述非球面透鏡和所述反射鏡之間，用于將所述測試光進行透射；
[0009]所述反射鏡，與所述非球面透鏡透射光焦點的距離小于或等于第一預設值，用于以預設角度對通過所述濾波片透射到所述反射鏡鏡面的所述測試光進行反射，以使所述測試光對應的反射光經過所述濾波片、非球面透鏡和LA，并從特定通道輸出。
[0010]在第一方面的第一種可能實現方式中，所述FA還包括:業務光通道；所述業務光通道包括第一段業務光通道和第二段業務光通道；
[0011]所述第一段業務光通道，用于接收業務光，并通過所述LA和非球面透鏡入射到所述濾波片的表面；
[0012]所述濾波片，還用于將所述業務光進行反射，以使所述業務光對應的反射光經過所述非球面透鏡和LA從所述第二段業務光通道輸出；
[0013]其中，所述第一段業務光通道位于所述FA的第一部分，所述第二段業務光通道位于所述FA的第二部分，所述第一部分和所述第二部分為所述FA被劃分為以所述測試光通道為中心的上下左右對稱的兩部分。
[0014]結合第一方面的第一種可能實現方式，在第一方面的第二種可能實現方式中，所述特定通道為所述第二段業務光通道。
[0015]結合第一方面的第一種可能實現方式，在第一方面的第三種可能實現方式中，所述濾波片位于以所述非球面透鏡的所述業務光的焦點為中心左右的第二預設值之間。
[0016]結合第一方面至第一方面的第三種中的任一種可能實現方式，在第一方面的第四種可能實現方式中，所述測試光通道與所述LA和非球面透鏡共軸。
[0017]本發明的第二方面是提供一種光路處理方法，包括:
[0018]通過測試光通道接收測試光；
[0019]將所述測試光通過LA和非球面透鏡入射到濾波片的表面，并通過所述濾波片將所述測試光進行透射；
[0020]調節所述反射鏡，以使所述反射鏡以預設角度對通過所述濾波片透射到所述反射鏡鏡面的所述測試光進行反射；
[0021]將所述測試光對應的反射光經過所述濾波片、非球面透鏡和LA，并從特定通道輸出；
[0022]其中，所述反射鏡與所述非球面透鏡透射光焦點的距離小于或等于第一預設值。
[0023]在第二方面的第一種可能實現方式中，還包括:
[0024]將所述FA進行劃分，獲取第一部分、第二部分和所述測試光通道；所述第一部分和第二部分為在所述FA中以所述測試光通道為中心上下左右對稱的兩部分；
[0025]其中，所述第一部分和所述第二部分一一對應的通道形成業務光通道。
[0026]結合第二方面的第一種可能實現方式，在第二方面的第二種可能實現方式中，還包括:
[0027]通過所述第一段業務光通道于接收業務光；
[0028]通過所述LA和非球面透鏡將所述業務光入射到所述濾波片的表面，并通過所述濾波片對所述業務光進行反射；
[0029]將經過所述非球面透鏡和LA的所述業務光對應的反射光從所述第二段業務光通道輸出；
[0030]其中，所述業務光通道包括第一段業務光通道和第二段業務光通道；所述第一段業務光通道位于所述第一部分，所述第二段業務光通道位于所述第二部分。
[0031]結合第二方面的第二種可能實現方式，在第二方面的第三種可能實現方式中，所述將所述測試光對應的反射光經過所述濾波片、非球面透鏡和LA從特定通道輸出，包括:
[0032]將所述測試光對應的反射光經過所述濾波片、非球面透鏡和LA從所述第二段業務光通道輸出。
[0033]結合第二方面的第二種可能實現方式，在第二方面的第四種可能實現方式中，所述濾波片位于以所述非球面透鏡的所述業務光的焦點為中心左右的第二預設值之間。
[0034]結合第二方面至第二方面的第四種中的任一種可能實現方式，在第二方面的第五種可能實現方式中，所述調節所述反射鏡，以使所述反射鏡以預設角度對通過所述濾波片透射到所述反射鏡鏡面的所述測試光進行反射，包括:
[0035]通過MEMS方式、機械方式或者波導方式控制所述反射鏡面在三維空間位置或者角度，以使所述反射鏡以預設角度對通過所述濾波片透射到所述反射鏡鏡面的所述測試光進行反射。
[0036]結合第二方面至第二方面的第四種中的任一種可能實現方式，在第二方面的第六種可能實現方式中，所述測試光通道與所述LA和非球面透鏡共軸。
[0037]本發明的技術效果是:通過測試光通道接收測試光，并通過LA和非球面透鏡入射到該濾波片的表面，濾波片再將該測試光透射到該濾波片后的反射鏡上，反射鏡再以預設角度對透射到該反射鏡鏡面的該測試光進行反射，以使該測試光對應的反射光經過該濾波片、非球面透鏡和LA從特定通道輸出，其中，該反射鏡與非球面透鏡透射光焦點的距離小于或等于第一預設值，相對于現有技術中光開關需要大量的分立的WDM,即光開關的每個輸出端需要一個WDM而言，本發明實現了光開關內置WDM，不僅消除了現有技術中光開關與WDM間的光跳纖管理，還降低了裝配成本并提高了空間利用率。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0038]圖1為現有技術中的監測系統的原理示意圖；
[0039]圖2為本發明光路處理裝置的一個實施例的結構示意圖；
[0040]圖3為測試光通道的原理示意圖；
[0041]圖4為本發明光路處理裝置的另一個實施例的結構示意圖；
[0042]圖5為業務光通道的原理不意圖；
[0043]圖6為本發明光路處理方法的一個實施例的流程圖；
[0044]圖7為本發明光路處理方法的另一個實施例的流程圖。

【具體實施方式】
[0045]圖2為本發明光路處理裝置的一個實施例的結構示意圖，如圖2所示，本實施例的光路處理裝置可以為光開關，其包括:光纖陣列(Fiber Array ;簡稱:FA) 21、透鏡陣列(Lens Array ;簡稱:LA) 22、非球面透鏡23、濾波片24和反射鏡25 ;該FA21包括測試光通道211 ;其中，該測試光通道211，用于接收測試光，并通過該LA22和非球面透鏡23入射到該濾波片24的表面；該濾波片24位于該非球面透鏡23和該反射鏡25之間，用于將該測試光進行透射；該反射鏡25與該非球面透鏡23透射光焦點的距離小于或等于第一預設值，用于以預設角度對通過濾波片24透射到該反射鏡25鏡面的該測試光進行反射，以使該測試光對應的反射光經過該濾波片24、非球面透鏡23和LA22，并從特定通道輸出。
[0046]在本實施例中，舉例來說，該測試光可以具體為OTDR測試光，該OTDR測試光處于其透射波段，其范圍為(1610nm?1675nm)。該第一預設值可以具體為1mm。
[0047]在本實施例中，舉例來說，圖3為測試光通道的原理示意圖，如圖3所示，從測試光通道211輸入測試光，測試光經過該LA22和非球面透鏡23入射到該濾波片24的表面，并透射過濾波片24。在測試光波長對應焦點f2后小于或等于Imm的位置放置反射鏡25，該測試光入射到反射鏡25鏡面后，反射鏡25以預定角度對該測試光進行反射，該測試光對應的反射光經過濾波片24、非球面透鏡23和LA22從FA的特定通道輸出。需要說明的是，對于同一個透鏡(透鏡包括球面透鏡和非球面透鏡)，不同波段入射后，會產生焦移，短波長光焦點位于長波長光焦點之前。
[0048]在本實施例中，通過測試光通道接收測試光，并通過LA和非球面透鏡入射到該濾波片的表面，濾波片再將該測試光透射到該濾波片后的反射鏡上，反射鏡再以預設角度對透射到該反射鏡鏡面的該測試光進行反射，以使該測試光對應的反射光經過該濾波片、非球面透鏡和LA從特定通道輸出，其中，該反射鏡與非球面透鏡透射光焦點的距離小于或等于第一預設值，相對于現有技術中光開關需要大量的分立的WDM，即光開關的每個輸出端需要一個WDM而言，本發明實現了光開關內置WDM，不僅消除了現有技術中光開關與WDM間的光跳纖管理，還降低了裝配成本并提高了空間利用率。
[0049]圖4為本發明光路處理裝置的另一個實施例的結構示意圖，在上述圖2所示實施例的基礎上，如圖4所示，該FA21還包括:業務光通道(圖中未畫出)，所述業務光通道包括第一段業務光通道2121和第二段業務光通道2122。具體的，該第一段業務光通道2121用于接收業務光，并通過該LA22和非球面透鏡23入射到該濾波片24的表面；濾波片24還用于將該業務光進行反射，以使該業務光對應的反射光經過該非球面透鏡23和LA22從第二段業務光通道2122輸出。其中，該第一段業務光通道2121位于FA21的第一部分；第二段業務光通道位于該FA21的第二部分，該第一部分和第二部分為該FA21被劃分為以該測試光通道211為中心的上下左右對稱的兩部分。
[0050]在本實施例中，該FA21可以具體為一個NXN陣列，其中，N為整數。當N為奇數時，可以將該FA21劃分為關于中心通道(即測試光通道211)上下左右對稱的兩部分，分別為第一部分和第二部分。
[0051]當N為偶數時，可以將FA21劃分為關于中心通道上下左右對稱的兩部分，分別為第一部分和第二部分。其中，該中心通道為兩個，可以將其中一個作為測試光通道，一個作為備用的測試光通道。
[0052]在本實施例中，舉例來說，圖5為業務光通道的原理示意圖，如圖5所示，業務光從第一部分的第一段業務光通道2121或者第二部分的第二段業務光通道2122輸入，經過LA22、非球面透鏡23后匯聚到焦點Π處，濾波片24放置在Π處，業務光處于其反射波段，其范圍為(1260nm?1587nm)，因此，業務光對應的反射光從第二部分的第二段業務光通道2122或者第一部分的第一段業務光通道2121輸出。
[0053]另外，可選地，當業務光通道的端口為128時，則FA具體可以為17X17陣列。
[0054]進一步的，當業務光從第一部分的第一段業務光通道2121輸入，經過LA22、非球面透鏡23后匯聚到焦點Π處，并通過濾波片24將業務光對應的反射光從第二部分的第二段業務光通道2122輸出時，該特定通道為該第二段業務光通道，即與業務光對應的反射光從同一通道輸出。
[0055]當業務光從第二部分的第二段業務光通道2122輸入，經過LA22、非球面透鏡23后匯聚到焦點Π處，并通過濾波片24將業務光對應的反射光從第一部分的第一段業務光通道2121輸出時，該特定通道為該第一段業務光通道，即與業務光對應的反射光從同一通道輸出。
[0056]更進一步的，該濾波片24位于以非球面透鏡23的業務光的焦點為中心左右的第二預設值之間。
[0057]在本實施例中，舉例來說，該第二預設值可以為0.5毫米。
[0058]更進一步的，測試光通道211與該LA22和非球面透鏡23共軸。
[0059]圖6為本發明光路處理方法的一個實施例的流程圖，本實施例的方法的執行主體為光路處理裝置，其可以具體為上述圖2所示的光路處理裝置，則該方法包括:
[0060]步驟101、通過測試光通道接收測試光。
[0061]步驟102、將該測試光通過LA和非球面透鏡入射到濾波片的表面，并通過該濾波片將該測試光進行透射。.
[0062]步驟103、調節該反射鏡，以使該反射鏡以預設角度對通過該濾波片透射到該反射鏡鏡面的該測試光進行反射。
[0063]步驟104、將該測試光對應的反射光經過該濾波片、非球面透鏡和LA，并從特定通道輸出。
[0064]其中，該反射鏡與該濾波片透射光焦點的距離小于或等于第一預設值。
[0065]在本實施例中，通過測試光通道接收測試光，并通過LA和非球面透鏡入射到該濾波片的表面，濾波片再將該測試光透射到該濾波片后的反射鏡上，反射鏡再以預設角度對透射到該反射鏡鏡面的該測試光進行反射，以使該測試光對應的反射光經過該濾波片、非球面透鏡和LA從特定通道輸出，其中，該反射鏡與非球面透鏡透射光焦點的距離小于或等于第一預設值，相對于現有技術中光開關需要大量的分立的WDM，即光開關的每個輸出端需要一個WDM而言，本發明實現了光開關內置WDM，不僅消除了現有技術中光開關與WDM間的光跳纖管理，還降低了裝配成本并提高了空間利用率。
[0066]圖7為本發明光路處理方法的另一個實施例的流程圖，如圖7所示，本實施例的執行主體可以為光路處理裝置，并可以具體為上述圖4所示的光路處理裝置，則該方法包括:
[0067]步驟201、將FA進行劃分，獲取第一部分、第二部分和測試光通道；該第一部分和第二部分為在該FA中以該測試光通道為中心上下左右對稱的兩部分。
[0068]其中，該第一部分和該第二部分一一對應的通道形成業務光通道。
[0069]步驟202、通過該第一段業務光通道于接收業務光。其中，該業務光通道包括第一段業務光通道和第二段業務光通道；該第一段業務光通道位于該第一部分，該第二段業務光通道位于該第二部分。
[0070]步驟203、通過LA和非球面透鏡將該業務光入射到濾波片的表面，并通過該濾波片對該業務光進行反射。
[0071 ] 可選地，濾波片位于以非球面透鏡的業務光的焦點為中心左右的第二預設值之間。
[0072]步驟204、將經過該非球面透鏡和LA的該業務光對應的反射光從該第二段業務光通道輸出。
[0073]步驟205、通過測試光通道接收測試光；
[0074]步驟206、將該測試光通過LA和非球面透鏡入射到濾波片的表面，并將該測試光進行透射。
[0075]步驟207、調節該反射鏡，以使該反射鏡以預設角度對通過該濾波片透射到該反射鏡鏡面的該測試光進行反射。
[0076]步驟208、將該測試光對應的反射光經過所述濾波片、非球面透鏡和LA，并從第二段業務光通道輸出。
[0077]其中，該反射鏡與該非球面鏡透鏡透射光焦點的距離小于或等于第一預設值。
[0078]進一步的，在本發明的又一個實施例中，在上述圖6或圖7所示實施例的基礎上，步驟103或步驟207的一種具體實現方式為:
[0079]通過微機電系統(MicroElectrical Mechanical System, MEMS)方式、機械方式或者波導方式控制該反射鏡面在三維空間位置或者角度，以使該反射鏡以預設角度對通過該濾波片透射到該反射鏡鏡面的所述測試光進行反射。
[0080]可選地，測試光通道還可以與該LA和非球面透鏡共軸。
[0081]本領域普通技術人員可以理解:實現上述各方法實施例的全部或部分步驟可以通過程序指令相關的硬件來完成。前述的程序可以存儲于一計算機可讀取存儲介質中。該程序在執行時，執行包括上述各方法實施例的步驟；而前述的存儲介質包括:R0M、RAM、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質。
[0082]最后應說明的是:以上各實施例僅用以說明本發明的技術方案，而非對其限制；盡管參照前述各實施例對本發明進行了詳細的說明，本領域的普通技術人員應當理解:其依然可以對前述各實施例所記載的技術方案進行修改，或者對其中部分或者全部技術特征進行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應技術方案的本質脫離本發明各實施例技術方案的范圍。
【權利要求】
1.一種光路處理裝置，其特征在于，包括:光纖陣列FA、透鏡陣列LA、非球面透鏡、濾波片和反射鏡；所述FA包括測試光通道；其中， 所述測試光通道，用于接收測試光，并通過所述LA和非球面透鏡入射到所述濾波片的表面； 所述濾波片，位于所述非球面透鏡和所述反射鏡之間，用于將所述測試光進行透射；所述反射鏡，與所述非球面透鏡透射光焦點的距離小于或等于第一預設值，用于以預設角度對通過所述濾波片透射到所述反射鏡鏡面的所述測試光進行反射，以使所述測試光對應的反射光經過所述濾波片、非球面透鏡和LA，并從特定通道輸出。
2.根據權利要求1所述的光路處理裝置，其特征在于，所述FA還包括:業務光通道；所述業務光通道包括第一段業務光通道和第二段業務光通道； 所述第一段業務光通道，用于接收業務光，并通過所述LA和非球面透鏡入射到所述濾波片的表面； 所述濾波片，還用于將所述業務光進行反射，以使所述業務光對應的反射光經過所述非球面透鏡和LA從所述第二段業務光通道輸出； 其中，所述第一段業務光通道位于所述FA的第一部分，所述第二段業務光通道位于所述FA的第二部分，所述第一部分和所述第二部分為所述FA被劃分為以所述測試光通道為中心的上下左右對稱的兩部分。
3.根據權利要求2所述的光路處理裝置，所述特定通道為所述第二段業務光通道。
4.根據權利要求2所述的光路處理裝置，其特征在于，所述濾波片位于以所述非球面透鏡的所述業務光的焦點為中心左右的第二預設值之間。
5.根據權利要求1至4任一所述的光路處理裝置，其特征在于，所述測試光通道與所述LA和非球面透鏡共軸。
6.一種光路處理方法，其特征在于，包括: 通過測試光通道接收測試光，其中所述測試光通道設在光纖陣列FA中； 將所述測試光通過透鏡陣列LA和非球面透鏡入射到濾波片的表面，并通過所述濾波片將所述測試光進行透射； 調節所述反射鏡，以使所述反射鏡以預設角度對通過所述濾波片透射到所述反射鏡鏡面的所述測試光進行反射； 將所述測試光對應的反射光經過所述濾波片、非球面透鏡和所述LA，并從特定通道輸出； 其中，所述反射鏡與所述非球面透鏡透射光焦點的距離小于或等于第一預設值。
7.根據權利要求6所述的光路處理方法，其特征在于，還包括: 將所述FA進行劃分，獲取第一部分、第二部分和所述測試光通道；所述第一部分和第二部分為在所述FA中以所述測試光通道為中心上下左右對稱的兩部分； 其中，所述第一部分和所述第二部分一一對應的通道形成業務光通道。
8.根據權利要求7所述的光路處理方法，其特征在于，還包括: 通過所述第一段業務光通道于接收業務光； 通過所述LA和非球面透鏡將所述業務光入射到所述濾波片的表面，并通過所述濾波片對所述業務光進行反射；將經過所述非球面透鏡和LA的所述業務光對應的反射光從所述第二段業務光通道輸出； 其中，所述業務光通道包括第一段業務光通道和第二段業務光通道；所述第一段業務光通道位于所述第一部分，所述第二段業務光通道位于所述第二部分。
9.根據權利要求8所述的光路處理方法，其特征在于，所述將所述測試光對應的反射光經過所述濾波片、非球面透鏡和LA從特定通道輸出，包括: 將所述測試光對應的反射光經過所述濾波片、非球面透鏡和LA從所述第二段業務光通道輸出。
10.根據權利要求8所述的光路處理方法，其特征在于，所述濾波片位于以所述非球面透鏡的所述業務光的焦點為中心左右的第二預設值之間。
11.根據權利要求6至10任一所述的光路處理方法，其特征在于，所述調節所述反射鏡，以使所述反射鏡以預設角度對通過所述濾波片透射到所述反射鏡鏡面的所述測試光進行反射，包括: 通過微機電系統MEMS方式、機械方式或者波導方式控制所述反射鏡面在三維空間位置或者角度，以使所述反射鏡以預設角度對通過所述濾波片透射到所述反射鏡鏡面的所述測試光進行反射。
12.根據權利要求6至10任一所述的光路處理方法，其特征在于，所述測試光通道與所述LA和非球面透鏡共軸。
【文檔編號】G02B6/35GK104238025SQ201310250628
【公開日】2014年12月24日 申請日期:2013年6月21日 優先權日:2013年6月21日
【發明者】劉西社, 王世軍, 劉和元, 肖志勇 申請人:華為技術有限公司