識(shí)別有缺陷的電纜的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種方法，所述方法包括將包括多條電線的電纜耦接至電路系統(tǒng)，所述電路系統(tǒng)包括連接至所述電線的電阻器組。測(cè)量包括所述電纜的所述電路系統(tǒng)的增益。根據(jù)所測(cè)量的增益，識(shí)別所述電纜中所述電線的有缺陷的一條或多條。輸出所述有缺陷的電線的指示。
【專利說(shuō)明】識(shí)別有缺陷的電纜

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明整體涉及電纜，具體地涉及用于識(shí)別有缺陷的電纜的方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 用于測(cè)試電纜的多種方法和系統(tǒng)在本領(lǐng)域中已知的。例如，歐洲專利EP0403547 描述了用于多線電纜的自動(dòng)測(cè)試儀，所述自動(dòng)測(cè)試儀具有遠(yuǎn)程單元和本地單元，所述遠(yuǎn)程 單元連接電纜的一端，以便直接將線串起來(lái)，從而形成成對(duì)的前進(jìn)和返回線，所述本地單元 連接至電纜的另一端，所述專利的公開(kāi)內(nèi)容以引用方式并入本文。
[0003] 美國(guó)專利5, 155, 440描述了用于測(cè)試電纜線束的缺點(diǎn)和性能故障的手持式設(shè)備， 該設(shè)備包括三組電壓基準(zhǔn)，CMOS比較器電路系統(tǒng)、可編程DIP開(kāi)關(guān)、用于錯(cuò)誤檢測(cè)的LED狀 態(tài)顯示器、用于指示整個(gè)系統(tǒng)狀況的LED、以及功率源，所述專利的公開(kāi)內(nèi)容以引用方式并 入本文。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本文所述的本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例提供了一種方法，所述方法包括將包括多條電線 的電纜耦接至電路系統(tǒng)，所述電路系統(tǒng)包括連接至電線的電阻器組。測(cè)量包括電纜的電路 系統(tǒng)的增益。根據(jù)所測(cè)量的增益，識(shí)別電纜中電線的有缺陷的一條或多條。輸出有缺陷的 電線的指示。
[0005]在一些實(shí)施例中，耦接電纜包括將電線的第一末端耦接至相應(yīng)的第一電阻器，將 電線的第二末端耦接至相應(yīng)的第二電阻器。在其他實(shí)施例中，第一電阻器具有為電阻R的 奇數(shù)倍的電阻，第二電阻器具有為R的偶數(shù)倍的電阻。在另外的其他實(shí)施例中，識(shí)別一條或 多條有缺陷的電線包括在檢測(cè)到所測(cè)量的增益小于無(wú)缺陷的電纜的預(yù)期增益時(shí)識(shí)別電線 的一條或多條中的開(kāi)路。
[0006]在一些實(shí)施例中，識(shí)別一條或多條有缺陷的電線包括在檢測(cè)到所測(cè)量的增益大于 無(wú)缺陷的電纜的預(yù)期增益時(shí)識(shí)別電線的兩條或更多條之間的短路。在其他實(shí)施例中，識(shí)別 一條或多條有缺陷的電線包括存儲(chǔ)電纜中相應(yīng)預(yù)期缺陷的預(yù)定義增益列表，以及通過(guò)在列 表上找到與所測(cè)量的增益相匹配的預(yù)期缺陷來(lái)確定一條或多條有缺陷的電線。在另外的其 他實(shí)施例中，測(cè)量增益包括測(cè)量具有反饋電阻和等效輸入電阻的反相運(yùn)算放大器的增益， 所述等效輸入電阻包括電纜中的多條電線。
[0007]本文中根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例另外提供了一種設(shè)備，所述設(shè)備包括用于耦接至 包括多條電線的電纜的電路系統(tǒng)和接口。所述電路系統(tǒng)包括連接至電線的電阻器組并被配 置成測(cè)量包括電纜的電路系統(tǒng)的增益，并根據(jù)所測(cè)量的增益來(lái)識(shí)別電纜中電線的有缺陷的 一條或多條，并輸出有缺陷的電線的指示。
[0008]結(jié)合附圖，通過(guò)以下對(duì)實(shí)施例的詳細(xì)說(shuō)明，將更全面地理解本發(fā)明，其中：

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0009] 圖1為根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例示意性地示出電纜測(cè)試儀的框圖；
[0010] 圖2為根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例示意性地示出電纜測(cè)試電路的圖示；并且
[0011] 圖3為根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例示意性地示出用于識(shí)別電纜中有缺陷的電線的方法 的流程圖。

【具體實(shí)施方式】
[0012] 鐘述
[0013] 本文所述的本發(fā)明實(shí)施例提供了用于識(shí)別有缺陷的電纜的改進(jìn)的方法和系統(tǒng)。在 本發(fā)明所公開(kāi)的實(shí)施例中，將具有多條電線的電纜耦接至電纜測(cè)試儀，所述電纜測(cè)試儀測(cè) 量包括電纜的測(cè)試電路的增益。測(cè)試電路包括電阻器組，即耦接至待測(cè)電纜的各條電線的 多個(gè)電阻。如果電纜中的一條或多條電線是有缺陷的，那么所測(cè)量的測(cè)試電路的增益將與 無(wú)缺陷電路的預(yù)期增益不同。
[0014] 此外，對(duì)于正確設(shè)計(jì)的測(cè)試電路而言，所測(cè)量的增益是實(shí)際缺陷的明確指示。所測(cè) 量的增益可以指示（例如）哪條電線損壞或哪對(duì)電線短路。因此，測(cè)試儀僅用單一增益測(cè) 量就能夠檢測(cè)到多線電纜中的開(kāi)路和短路缺陷。
[0015] 系統(tǒng)【具體實(shí)施方式】
[0016] 圖1為根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例示意性地示出電纜測(cè)試儀（CTS)IO的框圖。包括N條 電線（其中N為整數(shù)）的待測(cè)電纜20通過(guò)電纜-測(cè)試電路接口 23耦接至CTS10。在一些 實(shí)施例中，電纜20包括N條電線，所述N條電線通過(guò)電纜20第一末端處的第一連接器13 和電纜20第二末端處的第二連接器16耦接至CTSlO。第一和第二連接器將多條電線耦接 至接口 23。
[0017] 接口 23被配置成將電纜20中的N條電線從第一連接器13路由至CTSlO中的第 一組互連線25,并從第二連接器16路由至CTSlO中的第二組互連線30。第一組互連線和 第二組互連線可以用任何合適的導(dǎo)體在任何合適的基底上形成，或者可以是CTSlO中的內(nèi) 部電線。將第一組互連線和第二組互連線耦接至電纜測(cè)試電路35中。隨后將CTSlO的輸 出耦接至模數(shù)轉(zhuǎn)換器（A/D) 40和處理器45。
[0018] 處理器45被配置成通過(guò)由電纜測(cè)試電路35進(jìn)行的增益測(cè)量識(shí)別電纜20中的N條 電線中的哪一些是有缺陷的。隨后在A/D40中將增益測(cè)量值數(shù)字化并轉(zhuǎn)發(fā)至處理器45。在 一些實(shí)施例中，處理器45使用存儲(chǔ)在查找表（LUT) 50中的數(shù)據(jù)，所述處理器將預(yù)定義的有 缺陷的電線構(gòu)造與所測(cè)量的增益關(guān)聯(lián)以便識(shí)別電纜20中的一條或多條有缺陷的電線。然 后CTSlO將指示輸出至使用者，從而識(shí)別電纜20中的N條電線中的哪些電線是有缺陷的。 可以將輸出提供至（例如）輸出顯示器55。
[0019] 圖1所示的系統(tǒng)構(gòu)造為示例性構(gòu)造，其僅是為了使概念清晰而示出。或者，可以用 任何其他合適的系統(tǒng)構(gòu)造執(zhí)行本文所述的功能。電纜測(cè)試儀30的一些元件可在硬件中實(shí) 現(xiàn)，例如在一個(gè)或多個(gè)專用集成電路（ASIC)或現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列（FPGA)中。除此之外或 作為另外一種選擇，電纜測(cè)試儀10的一些元件可使用軟件或使用硬件和軟件元件的組合 實(shí)現(xiàn)。在一些實(shí)施例中，處理器45包括通用計(jì)算機(jī)，其通過(guò)軟件編程以執(zhí)行本文所述的功 能。軟件可以電子形式通過(guò)網(wǎng)絡(luò)下載到計(jì)算機(jī)，例如作為另外一種選擇或除此之外，軟件可 以被提供和/或存儲(chǔ)在非臨時(shí)性有形介質(zhì)上，例如磁性、光學(xué)或電子存儲(chǔ)器上。
[0020] 識(shí)別電纜中有缺陷的電線
[0021] 圖2為根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例示意性地示出電纜測(cè)試電路35的圖示。電纜測(cè)試電 路35包括放大器110和電阻器組，所述電阻器組包括具有N個(gè)電阻器的第一組100和具有 N個(gè)電阻器的第二組105。在圖2的實(shí)施例中，電纜20中的N條電線將第一組100中的N 個(gè)電阻器連接至第二組105中相應(yīng)的N個(gè)電阻器。
[0022] 在一些實(shí)施例中，第一電阻器組100包括具有為一些基線電阻R(如R、3R、5R、...、 [2N-3]R和[2N-1]R)的奇數(shù)倍的相應(yīng)值的電阻器。相似地，第二電阻器組105包括具有為 電阻R(如2R、4R、6R、. . .、[2N-2]R和2NR)的偶數(shù)倍的相應(yīng)值的電阻器，如圖2所示。電 纜20中的N條電線在本文中被表示為電線（1)、電線（2)、電線（3)、...電線（N-I)和電線 (N)，它們分別具有線標(biāo)1、2、3、. . .N-1、N。在其他實(shí)施例中，任何其他合適的電阻器值可用 于第一電阻器組和第二電阻器組。
[0023] 連接器13將電纜20第一末端處的N多條電線路由至離開(kāi)接口 23的第一組N條 互連線25,所述互連線將N條電線耦接至第一電阻器組100中所示的N個(gè)電阻器。相似地， 連接器16將電纜20第二末端處的N條電線路由至離開(kāi)接口 23的第二組N條互連線30,所 述互連線將N條電線耦接至第二電阻器組105中所示的相應(yīng)的N個(gè)電阻器。這樣，具有連 接器13和連接器15的電纜20電耦接至圖2所示的電路35,并被包括在電路35的增益測(cè) 量中。
[0024] 在圖2所示的示例性構(gòu)造中，電纜測(cè)試電路35包括反相運(yùn)算放大器。放大器110 的偏置電壓為+VB和-VB。反相運(yùn)算放大器電路的增益G的量值由以下公式給出：
[0025] ⑴Rf=-G.Req
[0026] 其中反饋電阻器115具有電阻值RF。對(duì)于無(wú)缺陷電纜而言，包括N條電線的反相 放大器的電阻器組的等效輸入電阻Req由以下公式給出：
[0027] 1二'!

【權(quán)利要求】
1. 一種方法，包括： 將包括多條電線的電纜禪接至電路系統(tǒng)，所述電路系統(tǒng)包括連接至所述電線的電阻器 組； 測(cè)量包括所述電纜的所述電路系統(tǒng)的增益； 根據(jù)所測(cè)量的增益，識(shí)別所述電纜中所述電線的有缺陷的一條或多條；W及 輸出所述有缺陷的電線的指示。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中禪接所述電纜包括將所述電線的第一末端禪接至 相應(yīng)的第一電阻器，W及將所述電線的第二末端禪接至相應(yīng)的第二電阻器。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中所述第一電阻器具有為電阻R的奇數(shù)倍的電阻，并 且其中所述第二電阻器具有為R的偶數(shù)倍的電阻。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中識(shí)別所述一條或多條有缺陷的電線包括在檢測(cè)到 所測(cè)量的增益小于無(wú)缺陷的電纜的預(yù)期增益時(shí)識(shí)別所述電線的一條或多條中的開(kāi)路。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中識(shí)別所述一條或多條有缺陷的電線包括在檢測(cè)到 所測(cè)量的增益大于無(wú)缺陷的電纜的預(yù)期增益時(shí)識(shí)別所述電線的兩條或更多條之間的短路。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中識(shí)別所述一條或多條有缺陷的電線包括存儲(chǔ)所述 電纜中相應(yīng)預(yù)期缺陷的預(yù)定義增益列表，并通過(guò)在所述列表上找到與所測(cè)量的增益相匹配 的預(yù)期缺陷來(lái)確定所述一條或多條有缺陷的電線。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中測(cè)量所述增益包括測(cè)量具有反饋電阻和等效輸入 電阻的反相運(yùn)算放大器的增益，所述等效輸入電阻包括所述電纜中的所述多條電線。
8. -種設(shè)備，包括： 接口，所述接口用于禪接至包括多條電線的電纜；和 電路系統(tǒng)，所述電路系統(tǒng)包括連接至所述電線的電阻器組并被配置成測(cè)量包括所述電 纜的所述電路系統(tǒng)的增益，并根據(jù)所測(cè)量的增益識(shí)別所述電纜中所述電線的有缺陷的一條 或多條，并輸出所述有缺陷的電線的指示。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的設(shè)備，其中所述電路系統(tǒng)包括禪接至所述電線的相應(yīng)的第一 末端的第一電阻器和禪接至所述電線的相應(yīng)的第二末端的第二電阻器。
10. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的設(shè)備，其中所述第一電阻器具有為電阻R的奇數(shù)倍的電阻， 并且其中所述第二電阻器具有為R的偶數(shù)倍的電阻。
11. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的設(shè)備，其中所述電路系統(tǒng)被配置成在檢測(cè)到所測(cè)量的增益 小于無(wú)缺陷的電纜的預(yù)期增益時(shí)識(shí)別所述電線的一條或多條中的開(kāi)路。
12. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的設(shè)備，其中所述電路系統(tǒng)被配置成在檢測(cè)到所測(cè)量的增益 大于無(wú)缺陷的電纜的預(yù)期增益時(shí)識(shí)別所述電線的兩條或更多條之間的短路。
13. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的設(shè)備，其中所述電路系統(tǒng)被配置成存儲(chǔ)所述電纜中相應(yīng)預(yù) 期缺陷的預(yù)定義增益列表，并通過(guò)在所述列表上找到與所測(cè)量的增益相匹配的預(yù)期缺陷來(lái) 識(shí)別所述一條或多條有缺陷的電線。
14. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的設(shè)備，其中所述電路系統(tǒng)包括具有反饋電阻和等效輸入電 阻的反相運(yùn)算放大器，所述等效輸入電阻包括所述電纜中的所述多條電線，并且其中所述 電路系統(tǒng)被配置成通過(guò)測(cè)量反相運(yùn)算放大器的增益來(lái)測(cè)量所述增益。
【文檔編號(hào)】G01R31/08GK104345248SQ201410366713
【公開(kāi)日】2015年2月11日 申請(qǐng)日期:2014年7月29日 優(yōu)先權(quán)日:2013年7月29日
【發(fā)明者】O.杜格 申請(qǐng)人:韋伯斯特生物官能(以色列)有限公司