本發明涉及顯示面板測試技術領域，特別涉及一種觸摸筆、觸摸測試裝置和觸摸測試方法。

背景技術：

在觸摸屏出產前，需要對觸摸屏進行觸摸性能測試。該觸摸性能測試是在觸摸屏自動測試機臺上完成，其中該觸摸屏自動測試機臺包括一觸摸筆連接部，在進行測試前，需要將測試用的觸摸筆(一般為銅柱)與觸摸筆連接部固定；在進行測試時，觸摸筆連接部帶動觸摸筆在觸摸屏的表面進行運動，以對觸摸屏的觸摸性能進行測試。

在實際測試過程中，為保證測試的全面性和完備性，往往需要使用多個直徑不同的觸摸筆以對觸摸屏分別進行性能測試。在此過程中，當某一個觸摸筆完成測試后，需要測試人員手動將該觸摸筆從觸摸筆連接部上卸下來，并在觸摸筆連接部上固定安裝另一個觸摸筆，以繼續后面的測試。

由上述內容可見，由于現有的觸摸性能測試過程需要準備多支觸摸筆，則會導致成本的上升。更重要的是，現有技術在進行觸摸性能測試時，需要測試人員不斷的手動切換觸摸筆連接部上的觸摸筆，則會消耗較多的時間和人力。

技術實現要素：

本發明旨在至少解決現有技術中存在的技術問題之一，提出了一種觸摸筆、觸摸測試裝置和觸摸測試方法。

為實現上述目的，本發明提供了一種觸摸筆，包括：觸摸柱和套置于所述觸摸柱之外且層層依次套置的若干個輔助觸摸結構，所述觸摸柱具有一用于與觸摸屏接觸的第一接觸底面，所述輔助觸摸結構包括：圍壁，所述圍壁具有一用于與觸摸屏接觸的第二接觸底面；

所述觸摸柱的側面與位于最內側的所述輔助觸摸結構的所述圍壁貼合，任意相鄰的兩個所述輔助觸摸結構的所述圍壁貼合；

所述輔助觸摸結構能夠沿所述觸摸柱的中心軸所指向的方向進行運動，且使得對應的所述圍壁的所述第二接觸底面運動至與所述觸摸柱的所述第一接觸底面齊平的位置。

可選地，所述輔助觸摸結構還包括：連接板，所述連接板與所述圍壁上背向所述第二接觸底面的面連接，所述圍壁沿對應的所述連接板的邊緣設置；

對于任一所述輔助觸摸結構，其圍壁的高度大于位于其內側的其他各輔助觸摸結構以及所述觸摸柱的高度。

可選地，在任意相鄰的兩個所述連接板之間以及位于最內側的所述連接板與所述觸摸柱之間，均設置有彈力結構；

當全部所述圍壁的所述第二接觸底面運動至與所述觸摸柱的第一接觸底面齊平的位置時，各所述彈力結構均處于壓縮狀態。

可選地，對于任一所述輔助觸摸結構，位于其內側的所述彈力結構的彈性模量小于位于其外側的所述彈力結構的彈性模塊。

可選地，所述彈力結構為彈簧。

可選地，位于最外側的所述輔助觸摸結構中的所述連接板的外側設置有對接結構；

所述對接結構用于與觸摸屏自動測試機臺的觸摸筆連接部進行對接。

可選地，各所述輔助觸摸結構中的所述圍壁的厚度均相同。

可選地，各所述輔助觸摸結構中的所述圍壁的形狀均為圓環形。

可選地，所述觸摸柱和所述輔助觸摸結構的材料均為銅。

為實現上述目的，本發明還提供了一種觸摸測試裝置，包括：觸摸筆，所述觸摸筆采用上述的觸摸筆。

為實現上述目的，本發明還提供了一種觸摸測試方法，所述觸摸測試方法基于觸摸測試裝置，所述觸摸測試裝置包括：觸摸屏自動測試機臺和上述的觸摸筆，所述觸摸測試方法包括：

將所述觸摸筆與所述觸摸屏自動測試機臺的觸摸筆連接部固定，所述觸摸筆與所述觸摸屏垂直；

根據測試需求調節，按照由內至外的順序，依次將相應數量的所述輔助觸摸結構中的所述圍壁的第二接觸底面與所述第一接觸底面齊平，所述第一接觸底面以及與所述第一接觸底面齊平的全部所述第二接觸底面構成測試底面；

利用所述測試底面對所述觸摸屏進行觸摸性能測試。

可選地，當所述輔助觸摸結構包括連接板，且在任意相鄰的兩個所述連接板之間以及位于最內側的所述連接板與所述觸摸柱之間，均設置有彈力結構，對于任一所述輔助觸摸結構，位于其內側的所述彈力結構的彈性模量小于位于其外側的所述彈力結構的彈性模塊時；

所述根據測試需求調節，按照由內至外的順序，依次將相應數量的所述輔助觸摸結構中的所述圍壁的第二接觸底面與所述第一接觸底面齊平的步驟包括：

根據測試需求從預先設置的對應關系表查詢出對應的操作距離，所述操作距離為所述觸摸筆的頂部與所述觸摸屏之間的距離；

根據查詢出的結果，驅動所述觸摸筆運動至對應位置，所述觸摸柱與所述觸摸屏接觸，所述觸摸筆中按照由內至外的順序，相應數量的所述輔助觸摸結構的所述圍壁的第二接觸底面依次與所述觸摸屏接觸。

本發明具有以下有益效果：

本發明提供了一種觸摸筆、觸摸測試裝置和觸摸測試方法，其中該觸摸筆包括：觸摸柱和套置于觸摸柱之外且層層依次套置的若干個輔助觸摸結構，觸摸柱具有一用于與觸摸屏接觸的第一接觸底面，輔助觸摸結構包括：圍壁，圍壁具有一用于與觸摸屏接觸的第二接觸底面；觸摸柱的側面與位于最內側的輔助觸摸結構的圍壁貼合，任意相鄰的兩個輔助觸摸結構的圍壁貼合；輔助觸摸結構能夠沿觸摸柱的中心軸所指向的方向進行運動，且使得對應的圍壁的第二接觸底面運動至與觸摸柱的第一接觸底面齊平的位置。當該觸摸筆與觸摸屏自動測試機臺上的觸摸筆連接部連接時，可在無需切換觸摸筆連接部上的觸摸筆的情況下，通過調整與第一接觸底面齊平的第二接觸底面的數量，從而實現對觸摸筆的測試底面的尺寸的變換，以滿足不同的測試需求。由于本發明的技術方案可使得觸摸測試中所需要的觸摸筆數量減小，因而可有效降低測試成本；與此同時，由于換觸摸筆連接部上的觸摸筆無需進行切換，因而可有效縮短測試周期。

附圖說明

圖1為本發明實施例一提供的一種觸摸筆的結構示意圖；

圖2為圖1所述觸摸筆的仰視圖；

圖3為本發明實施例二提供的一種觸摸筆的結構示意圖；

圖4為本發明實施例四提供的一種觸摸測試方法的流程圖；

圖5為本發明實施例五提供的一種觸摸測試方法的流程圖。

具體實施方式

為使本領域的技術人員更好地理解本發明的技術方案，下面結合附圖對本發明提供的一種觸摸筆、觸摸測試裝置和觸摸測試方法進行詳細描述。

圖1為本發明實施例一提供的一種觸摸筆的結構示意圖，圖2為圖1所述觸摸筆的仰視圖，如圖1和圖2所示，該觸摸筆包括：觸摸柱1和套置于觸摸柱之外且層層依次套置的若干個輔助觸摸結構，該觸摸柱1具有一用于與觸摸屏接觸的第一接觸底面3，輔助觸摸結構包括：圍壁2，圍壁2具有一用于與觸摸屏接觸的第二接觸底面4；其中，觸摸柱1的側面與位于最內側的輔助觸摸結構的圍壁2貼合，任意相鄰的兩個輔助觸摸結構的圍壁2貼合；輔助觸摸結構能夠沿觸摸柱的中心軸所指向的方向Y進行運動，且使得對應的圍壁2的第二接觸底面4運動至與觸摸柱1的第一接觸底面3齊平的位置。

在本實施例中，可根據測試需求，由內至外依次將相應數量的輔助觸摸結構的位置進行調整，并使得被調整的輔助觸摸結構的圍壁2的第二接觸底面4與第一接觸底面3齊平，此時該第一接觸底面3以及與第一接觸底面3齊平的全部第二接觸底面4構成測試底面，以供進行觸摸性能測試。

在實際應用中，將本實施例提供的觸摸筆與觸摸屏自動測試機臺上的觸摸筆連接部連接，可在無需切換觸摸筆連接部上的觸摸筆的情況下，通過調整與第一接觸底面3齊平的第二接觸底面4的數量，從而實現對觸摸筆的測試底面的尺寸的變換，以滿足不同的測試需求。

需要說明的是，附圖中輔助觸摸結構的數量為三個的情況僅起到示例性作用，本領域技術人員應該知曉的是，本發明中的輔助觸摸結構的數量可以為1個、2個或多個。在實際應用中，可根據實際需要對輔助觸摸結構的數量進行相應調整。

可選地，各輔助觸摸結構中的圍壁2的厚度d均相同。

可選地，各輔助觸摸結構中的圍壁2的形狀均為圓環形。作為本實施例中的一種具體方案，觸摸柱1的直徑設置為1mm，各圍壁2的厚度d設置為0.5mm，在由內至外依次將圍壁2的第二接觸底面4調整至與第一接觸底面3齊平的過程中，測試底面的直徑依次增大1mm。

需要說明的是，附圖中觸摸柱1的形狀為圓柱形，圍壁2的形狀均為圓環形的情況僅起到示例性作用，本發明中的觸摸柱1和圍壁2的形狀還可以為其他形狀，此處不再一一列舉。

可選地，觸摸柱1和輔助觸摸結構的材料均為銅。

本發明實施例一提供了一種觸摸筆，當該觸摸筆與觸摸屏自動測試機臺上的觸摸筆連接部連接時，可在無需切換觸摸筆連接部上的觸摸筆的情況下，通過調整與第一接觸底面齊平的第二接觸底面的數量，從而實現對觸摸筆的測試底面的尺寸的變換，以滿足不同的測試需求。由于本發明的技術方案可使得觸摸測試中所需要的觸摸筆數量減小，因而可有效降低測試成本；與此同時，由于換觸摸筆連接部上的觸摸筆無需進行切換，因而可有效縮短測試周期。

實施例二

圖3為本發明實施例二提供的一種觸摸筆的結構示意圖，如圖3所示，與上述實施例一中的觸摸筆相比，本實施例中的觸摸筆的輔助觸摸結構不僅包括圍壁2，還包括連接板5，其中，連接板5與圍壁2上背向第二接觸底面4的面連接，圍壁2沿對應的連接板5的邊緣設置；對于任一輔助觸摸結構，其圍壁2的高度大于位于其內側的其他各輔助觸摸結構以及觸摸柱1的高度。

在本實施例中，每個輔助觸摸結構均包括一圍壁2和一連接板5，圍壁2和連接板5形成一容納槽，以容納位于其內側的輔助觸摸結構，為保證各輔助觸摸結構中的圍壁2的第二接觸底面4能運動至與觸摸柱1的第一接觸底面3齊平的位置，則需要使得圍壁2的高度大于位于其內側的其他各輔助觸摸結構以及觸摸柱1的高度，位于最內側的輔助觸摸結構中的圍壁2的高度大于觸摸柱1的高度，即觸摸柱1和各輔助觸摸結構均能夠完全置于對應的容納槽內。

可選地，輔助觸摸結構中的圍壁2和連接板5一體成型，以方便于輔助觸摸結構的制備。

可選地，在任意相鄰的兩個連接板5之間以及位于最內側的連接板5與觸摸柱1之間，均設置有彈力結構7；當全部圍壁2的第二接觸底面4運動至與觸摸柱1的第一接觸底面3齊平的位置時，各彈力結構7均處于壓縮狀態。在本實施例中，通過在相鄰的連接板5之間以及位于最內側的連接板5與觸摸柱1之間設置彈力結構7，以便于在觸摸性能測試結束后，觸摸柱1以及各輔助觸摸結構能從對應的容納槽中彈出，以達到自動復位的目的。其中，彈力結構7可選為彈簧。

在調整觸摸筆的測試底面尺寸的過程中，為保證各圍壁2的第二接觸底面4是按照由內至外的順序依次運動至與第一接觸底面3平齊的位置，本實施例中可選地，對于任一輔助觸摸結構，位于其內側的彈力結構7的彈性模量小于位于其外側的彈力結構7的彈性模量。此時，對于同一作用力，由內至外，各彈力結構7的形變量逐漸減小(位于最內側的彈力結構7的形變量最大，位于最外側的彈力結構7的形變量最小)。

為便于本領域技術人員更好的理解本發明的技術方案，下面將對圖3所示的觸摸筆進行觸摸性能測試的過程進行詳細描述。

首先，將該觸摸筆的頂部與觸摸屏自動測試機臺的觸摸筆連接部固定，此時觸摸筆與觸摸屏垂直。

然后，根據測試需求從預先設置的對應關系表查詢出對應的操作距離，操作距離為觸摸筆的頂部與觸摸屏之間的距離。

接著，根據查詢出的結果，驅動觸摸筆沿垂直于觸摸屏的方向進行運動，直至觸摸筆的頂部與觸摸屏之間的距離等于查詢出的操作距離，此時觸摸筆上與觸摸屏接觸的部分為測試底面。其中，測試底面至少包括觸摸柱1的第一接觸底面3，該測試底面的尺寸是根據用戶的測試需求所決定。

需要說明的是，在觸摸筆沿垂直于觸摸屏的方向朝觸摸屏進行運動的過程中，觸摸柱1最先接觸觸摸屏。在后續觸摸筆繼續朝觸摸屏運動的過程中，各彈力結構7均會產生壓縮形變，其中位于最內側的彈力結構7的形變量最大，位于最內側的圍壁2的第二接觸底面4最先與觸摸屏接觸并與觸摸屏之間不再產生相對移動；在后續運動過程中，與位于最內側的圍壁2相鄰的輔助觸摸結構的圍壁2與觸摸屏接觸并與觸摸屏之間不再產生相對移動。依次類推，各圍壁2的第二接觸底面4是按照由內至外的順序依次與觸摸屏接觸。

在本實施例中，可以通過預先實驗以獲得觸摸筆的測試底面的尺寸與操作距離之間的對應關系，以供在實際操作過程中作為參考。

在完成相應測試需求的觸摸性能測試后，需要將觸摸筆切換至另一尺寸的測試底面，以滿足后續的觸摸性能測試需求。此時，需要先對觸摸筆進行復位，具體地，控制觸摸筆沿垂直于觸摸屏的方向且背向觸摸屏進行運動，在該運動過程中，在處于壓縮狀態的彈力結構7的作用下，各圍壁2的第二接觸底面4會同時與觸摸屏分離，當觸摸柱1與觸摸屏分離后，觸筆完成復位。此后，可根據新的測試需求進行查表、調節觸摸筆操作距離、進行觸摸性能測試的步驟。

本實施例中可選地，位于最外側的輔助觸摸結構中的連接板5的外側設置有對接結構6，對接結構6用于與觸摸屏自動測試機臺的觸摸筆連接部進行對接。

本發明實施例二提供了一種觸摸筆，當該觸摸筆與觸摸屏自動測試機臺上的觸摸筆連接部連接時，可在無需切換觸摸筆連接部上的觸摸筆的情況下，通過調整與第一接觸底面齊平的第二接觸底面的數量，從而實現對觸摸筆的測試底面的尺寸的變換，以滿足不同的測試需求。由于本發明的技術方案可使得觸摸測試中所需要的觸摸筆數量減小，因而可有效降低測試成本；與此同時，由于換觸摸筆連接部上的觸摸筆無需進行切換，因而可有效縮短測試周期。

實施例三

本發明實施例三提供了一種觸摸測試裝置，該觸摸測試裝置包括：觸摸屏自動測試機臺和觸摸筆，其中該觸摸筆采用上述實施例一或實施例二中的觸摸筆，具體描述可上述實施例一和實施例二中的內容，此處不再贅述。

實施例四

圖4為本發明實施例四提供的一種觸摸測試方法的流程圖，如圖4所示，該觸摸測試方法基于觸摸測試裝置，該觸摸測試裝置包括：觸摸屏自動測試機臺和觸摸筆，該觸摸筆采用上述實施例一或實施例二中的觸摸筆，該觸摸測試方法包括：

步驟101、將觸摸筆與觸摸屏自動測試機臺的觸摸筆連接部固定，觸摸筆與觸摸屏垂直。

步驟102、根據測試需求調節，按照由內至外的順序，依次將相應數量的輔助觸摸結構中的圍壁的第二接觸底面與第一接觸底面齊平。

在步驟102中，可根據測試需求，由內至外依次將相應數量的輔助觸摸結構的位置進行調整，并使得被調整的輔助觸摸結構的圍壁的第二接觸底面與第一接觸底面齊平，此時該第一接觸底面以及與第一接觸底面齊平的全部第二接觸底面構成測試底面，以供進行觸摸性能測試。

步驟103、利用測試底面對觸摸屏進行觸摸性能測試。

本發明實施例四提供了一種觸摸測試方法，可在無需切換觸摸筆連接部上的觸摸筆的情況下，通過調整與第一接觸底面齊平的第二接觸底面的數量，從而實現對觸摸筆的測試底面的尺寸的變換，以滿足不同的測試需求。由于本發明的技術方案可使得觸摸測試中所需要的觸摸筆數量減小，因而可有效降低測試成本；與此同時，由于換觸摸筆連接部上的觸摸筆無需進行切換，因而可有效縮短測試周期。

實施例五

圖5為本發明實施例五提供的一種觸摸測試方法的流程圖，如圖5所示，該觸摸測試方法基于觸摸測試裝置，該觸摸測試裝置包括：觸摸屏自動測試機臺和觸摸筆，該觸摸筆采用上述實施例二中的觸摸筆，且任意兩個連接板之間以及位于最內側的連接板與觸摸柱之間，均設置有彈力結構；當全部圍壁的第二接觸底面運動至與觸摸柱的第一接觸底面齊平的位置時，各彈力結構均處于壓縮狀態；對于任一輔助觸摸結構，位于其內側的彈力結構的彈性模量小于位于其外側的彈力結構的彈性模塊。該觸摸測試方法包括：

步驟101、將觸摸筆與觸摸屏自動測試機臺的觸摸筆連接部固定，觸摸筆與觸摸屏垂直。

步驟102a、根據測試需求從預先設置的對應關系表查詢出對應的操作距離，操作距離為觸摸筆的頂部與觸摸屏之間的距離。

其中，該記載有觸摸筆的測試底面的尺寸與操作距離之間的對應關系的對應關系表，可以通過預先實驗獲得。

步驟102b、根據查詢出的結果，驅動觸摸筆運動至對應位置，觸摸柱與觸摸屏接觸，觸摸筆中按照由內至外的順序，相應數量的輔助觸摸結構的圍壁的第二接觸底面依次與觸摸屏接觸。

其中，第一接觸底面以及與觸摸屏接觸的全部第二接觸底面構成測試底面。需要說明的是，對于本實施例中利用操作距離以調節測試底面尺寸的原理可參見前述實施例二中的相應內容，此處不再贅述。

步驟103、利用測試底面對觸摸屏進行觸摸性能測試。

本發明實施例五提供了一種觸摸測試方法，可在無需切換觸摸筆連接部上的觸摸筆的情況下，通過調整與觸摸屏接觸的第二接觸底面的數量，從而實現對觸摸筆的測試底面的尺寸的變換，以滿足不同的測試需求。由于本發明的技術方案可使得觸摸測試中所需要的觸摸筆數量減小，因而可有效降低測試成本；與此同時，由于換觸摸筆連接部上的觸摸筆無需進行切換，因而可有效縮短測試周期

可以理解的是，以上實施方式僅僅是為了說明本發明的原理而采用的示例性實施方式，然而本發明并不局限于此。對于本領域內的普通技術人員而言，在不脫離本發明的精神和實質的情況下，可以做出各種變型和改進，這些變型和改進也視為本發明的保護范圍。