本發明涉及測試領域，具體而言，涉及一種芯片的測試方法和裝置。

背景技術：

在使用傳統的自動化測試設備(Automatic Test Equipment，簡稱ATE)進行測試時，一般都使用時序控制器(Timing Control,簡稱TCON)內嵌的BIST(Built-in Self Test)進行TCON的基本功能驗證。但是，由于TCON內嵌的BIST僅是一些非常簡單的測試圖像，例如純色。因此，對TCON產品內部邏輯來說測試非常有限，并且該測試方法無法覆蓋TCON的DP輸入接口的測試。并且一旦量產過程中發生新的問題，在傳統的測試平臺不改變硬件平臺的前提下，也無法增加新的測試方案，而且如果設計新的硬件平臺，需要花費額外的時間和費用，影響就不可預估。

針對上述的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

技術實現要素：

本發明實施例提供了一種芯片的測試方法和裝置，以至少解決現有技術中對TCON進行測試時，測試功能較單一的技術問題。

根據本發明實施例的一個方面，提供了一種芯片的測試裝置，包括：現場可編程門陣列，生成用于測試待測試芯片的至少一個測試圖像；數據轉換裝置，通過所述現場可編程門陣列的第一數據傳輸接口與所述現場可編程門陣列電連接，用于將所述現場可編程門陣列生成的所述測試圖像的圖像數據轉換成目標信號；所述待測試芯片，通過所述數據轉換裝置的第二數據傳輸接口與所述數據轉換裝置電連接，用于根據所述目標信號生成控制信號，其中，所述控制信號用于控制顯示器顯示所述測試圖像。

進一步地，所述測試裝置還包括：控制器，用于通過所述控制器的第三數據傳輸接口向所述現場可編程門陣列發送配置信號，并通過所述控制器的第四數據傳輸接口獲取所述待測試芯片的運行參數，其中，所述配置信號用于配置所述至少一個測試圖像的分辨率，所述運行參數用于確定所述待測試芯片是否運行正常。

進一步地，所述第一數據傳輸接口為數字RGB接口，所述第二數據傳輸接口為高清音視頻流傳輸接口，所述第三數據傳輸接口為串行外設接口，所述第四數據傳輸接口為兩線式串行總線接口。

進一步地，所述數字RGB接口包括以下任一種：18位數字RGB接口、24位數字RGB接口、30位數字RGB接口。

進一步地，所述測試圖像中包括以下至少一種顯示元素：所述測試圖像的顏色、所述測試圖像的形狀、所述測試圖像的灰階。

進一步地，所述測試圖像的顏色包括以下至少之一：白色、黑色、紅色、藍色、綠色、灰色。

進一步地，所述測試圖像的形狀包括以下任一種：長方形、正方形、圓形、三角形。

進一步地，所述測試圖像的灰階包括以下任一種：0至255灰階、0至63灰階、0至127灰階。

根據本發明實施例的另一方面，還提供了一種芯片的測試方法，包括：生成測試待測試芯片的至少一個測試圖像；將生成的所述測試圖像的圖像數據轉換成目標信號；根據所述目標信號生成控制信號，其中，所述控制信號用于控制顯示器顯示所述測試圖像。

進一步地，在根據所述目標信號生成控制信號之后，所述方法還包括：獲取所述待測試芯片的運行參數，其中，所述運行參數用于確定所述待測試芯片的是否運行正常；根據所述運行參數判斷所述待測試芯片是否發生了故障；如果判斷出所述待測試芯片發生了故障，則生成提示信息，其中，所述提示信息用于提示所述待測試芯片發生了故障。

在本發明實施例中，采用現場可編程門陣列，生成用于測試待測試芯片的至少一個測試圖像；數據轉換裝置，通過所述現場可編程門陣列的第一數據傳輸接口與所述現場可編程門陣列電連接，用于將所述現場可編程門陣列生成的所述測試圖像的圖像數據轉換成目標信號；所述待測試芯片，通過所述數據轉換裝置的第二數據傳輸接口與所述數據轉換裝置電連接，用于根據所述目標信號生成控制信號，其中，所述控制信號用于控制顯示器顯示所述測試圖像的方式，通過現場可編程門陣列生成測試圖像，然后，通過數據轉換裝置將測試圖像的圖像數據轉換成目標信號，最后，待測試芯片根據目標信號生成控制信號，以控制顯示器顯示測試圖像，相對于現有技術中的測試方案，本發明采用現場可編程門陣列能夠生成至少一個圖像，達到了對待測是芯片進行測試的目的，從而實現了豐富對TCON進行測試時的測試功能的技術效果，進而解決了現有技術中對TCON進行測試時，測試功能較單一的技術問題。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對本發明的進一步理解，構成本申請的一部分，本發明的示意性實施例及其說明用于解釋本發明，并不構成對本發明的不當限定。在附圖中：

圖1是根據本發明實施例的一種芯片的測試裝置的示意圖；

圖2是根據本發明實施例的一種可選的顯示器的顯示界面的示意圖；

圖3是根據本發明實施例的另一種芯片的測試裝置的示意圖；以及

圖4是根據本發明實施例的一種芯片的測試方法的示意圖。

具體實施方式

為了使本技術領域的人員更好地理解本發明方案，下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分的實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都應當屬于本發明保護的范圍。

需要說明的是，本發明的說明書和權利要求書及上述附圖中的術語“第一”、“第二”等是用于區別類似的對象，而不必用于描述特定的順序或先后次序。應該理解這樣使用的數據在適當情況下可以互換，以便這里描述的本發明的實施例能夠以除了在這里圖示或描述的那些以外的順序實施。此外，術語“包括”和“具有”以及他們的任何變形，意圖在于覆蓋不排他的包含，例如，包含了一系列步驟或單元的過程、方法、系統、產品或設備不必限于清楚地列出的那些步驟或單元，而是可包括沒有清楚地列出的或對于這些過程、方法、產品或設備固有的其它步驟或單元。

根據本發明實施例，提供了一種芯片的測試裝置的實施例。

圖1是根據本發明實施例的一種芯片的測試裝置的示意圖，如圖1所示，該裝置包括：現場可編程門陣列101、數據轉換裝置102和待測試芯片103，其中，

現場可編程門陣列101，生成用于測試待測試芯片的至少一個測試圖像。

在本發明實施例中，使用現場可編程門陣列(Field-Programmable Gate Array，簡稱FPGA)生成用于對待測試芯片進行測試的測試圖像。

具體地，由于FPGA具備高速、并行及靈活的可編程特性，因此，利用FPGA可以產生多種復雜的顯示圖像，并且支持分辨率靈活配置，即可以覆蓋Display Port(簡稱DP)接口的全功能測試，也增強了對TCON產品內部邏輯的測試覆蓋率。進一步地，如果在產品量產過程中有新的問題發生，就能夠在不需要改變硬件平臺的前提下，通過升級FPGA產生的測試圖像，升級測試能力，對項目進度不產生任何影響，不增加任何成本。

數據轉換裝置102，通過現場可編程門陣列的第一數據傳輸接口與現場可編程門陣列電連接，用于將現場可編程門陣列生成的測試圖像的圖像數據轉換成目標信號。

在本發明實施例中，數據轉換裝置又可以稱為DP Transmitter Chip，該數據轉換裝置用于將接收到的測試圖像的圖像數據(例如，RGB圖像數據)轉換為目標信號(例如，DP信號)，然后，再通過DP接口發送給待測試芯片(即，TCON芯片)。

待測試芯片103，通過數據轉換裝置的第二數據傳輸接口與數據轉換裝置電連接，用于根據目標信號生成控制信號，其中，控制信號用于控制顯示器顯示測試圖像。

在本發明實施例中，待測試芯片可以為TCON時序控制芯片，該時序控制芯片通過第二數據接口與數據轉換裝置電連接，其中，第二數據接口可以為高清音視頻流傳輸接口。

待測試芯片在獲取到該目標信號之后，可以根據目標信號生成控制信號，以通過控制信號控制在顯示器中顯示測試圖像。

在本發明實施例中，通過現場可編程門陣列生成測試圖像，然后，通過數據轉換裝置將測試圖像的圖像數據轉換成目標信號，最后，待測試芯片根據目標信號生成控制信號，以控制顯示器顯示測試圖像，相對于現有技術中的測試方案，本發明采用現場可編程門陣列能夠生成至少一個圖像，達到了對待測是芯片進行測試的目的，從而實現了豐富對TCON進行測試時的測試功能的技術效果，進而解決了現有技術中對TCON進行測試時，測試功能較單一的技術問題。

在本發明的一個可選實施方式中，如圖1所示，該測試裝置還包括：控制器104，用于通過控制器的第三數據傳輸接口向現場可編程門陣列發送配置信號，并通過控制器的第四數據傳輸接口獲取待測試芯片的運行參數，其中，配置信號用于配置至少一個測試圖像的分辨率，運行參數用于確定待測試芯片是否運行正常。

在本發明實施例中，第三數據傳輸接口可以為SPI接口，第四數據傳輸接口可以為I2C接口。具體地，控制器(MicroController Unit，簡稱MCU)通過SPI接口與FPGA電連接，并通過I2C接口與待測試芯片電連接。

上述控制器MCU用于使用SPI接口用訪問FPGA，并使用I2C接口訪問TCON內部寄存器。控制器MCU使用SPI接口用訪問FPGA可以實現對FPGA寄存器進行配置，例如，實現對FPGA輸出的RGB數據的分辨率進行配置等。控制器MCU使用I2C接口訪問TCON寄存器，可以讀取TCON寄存器值，進而，根據寄存器值來判斷TCON的工作狀態是否正常。

需要說明的是，在本發明上述實施例中，上述第一數據傳輸接口FPGA中的數字RGB接口，第二數據傳輸接口可以為高清音視頻流傳輸接口，第三數據傳輸接口可以為串行外設接口(即，SPI接口)，第四數據傳輸接口可以為兩線式串行總線接口(即，I2C接口)。

具體地，上述數字RGB接口包括以下任一種：18位數字RGB接口、24位數字RGB接口、30位數字RGB接口。

在本發明的一個可選實施方式中，FPGA生成的至少一個測試圖像中包括以下至少一種顯示元素：測試圖像的顏色、測試圖像的形狀、測試圖像的灰階。

其中，測試圖像的顏色包括以下至少之一：白色、黑色、紅色、藍色、綠色、灰色；測試圖像的形狀包括以下任一種：長方形、正方形、圓形、三角形；測試圖像的灰階包括以下任一種：0至255灰階、0至63灰階、0至127灰階。

如圖2所示，可以實現多種顏色的圖像的輸出，例如，紅色、綠色、藍色、白色、黑色、灰色顏色等。如圖2中所示的區域1至區域4所示的即為不同顏色，在本發明實施例中，使用不同的陰影表示不同的顏色。

如圖2所示，在本發明實施例中，還可以實現不同的灰階顯示。例如，0～255灰階、0～127灰階、0～63灰階等，以分別滿足不同色深的需求。如圖2所示，圖2中區域1至區域4分別是紅色、綠色、藍色和白色的0～255灰階顯示。

進一步地，在本發明實施例中，還可以實現多種形狀圖像的輸出。例如，長方形(如圖2中區域7所示的形狀)、正方形(如圖2中的區域8所示的形狀)、三角形(如圖2中的區域5或6所示的形狀)、圓形、以及圖形與灰階的組合(如圖2中的區域8所示的形狀)。需要說明的是，在本發明實施例中，如圖2中顯示的測試圖像在水平方向按照2n個(其中n＝0,1,2,3…)pixel黑白交替(如圖2中的9、10、11)，在垂直方向按照2m(其中m＝0,1,2,3…)行進行黑白交替。在本發明實施例中，還可以根據測試需求，對于測試圖像的顏色、形狀、位置及灰階進行靈活組合與調整。

需要說明的是，在本發明實施例中，該FPGA支持多種主流圖片大小，包括：640x480,800x600,1024x768,1366x768,1920x1080,3840x2160,4096x2160。因此，在本發明實施例中，采用FPGA生成測試圖像，可以很好地支持不同TCON產品的測試需求。

圖3是根據本發明實施例的另一種芯片的測試裝置的示意圖，如圖3所示，該裝置包括：MCU(即，控制器104)、FPGA(即，現場可編程門陣列101)、DP Transmitter Chip(即，數據轉換裝置102)和時序控制芯片TCON(即，待測試芯片)。

在本發明實施例中，微控制單元MCU(即，上述控制器)，用于訪問FPGA和TCON內部寄存器。其中，MCU可以通過SPI接口進行FPGA寄存器的配置，以實現FPGA輸出的RGB數據的分辨率可配置；同時可以通過I2C接口讀取TCON寄存器，進而，根據寄存器值來判斷TCON的工作狀態是否正常。

FPGA(即，現場可編程門陣列Field-Programmable Gate Array)用于使用rtl代碼實現復雜的測試圖像，通過并行的數字RGB接口傳輸給DP Transmitter Chip模塊(即，數據轉換裝置)。

同時，為滿足不同色深的需求，FPGA輸出的并行的RGB數據位寬支持18bit，24bit或者30bit可配置。進一步地，為了提高數據接收采樣的可靠性，FPGA輸出的并行的RGB數據支持采用pixel clock的上升沿或者下降沿輸出可配置。

DP Transmitter Chip(即，數據轉換裝置)用于將從現場可編程門陣列接收到的RGB圖像數據轉換為DP信號(即，目標信號)并通過DP接口(即，第二數據傳輸接口)發送給TCON芯片。

時序控制器TCON(Timing Control)用于為液晶屏上的驅動電路提供時序控制信號及顯示數據，即，根據DP信號生成時序控制信號(即，控制信號)。

根據本發明實施例，提供了一種芯片的測試方法的實施例。

圖4是根據本發明實施例的一種芯片的測試方法的示意圖，如圖4所示，該方法包括如下步驟:

步驟S401，生成測試待測試芯片的至少一個測試圖像。

在本發明實施例中，使用現場可編程門陣列(Field-Programmable Gate Array，簡稱FPGA)生成用于對待測試芯片進行測試的測試圖像。

具體地，由于FPGA具備高速、并行及靈活的可編程特性，因此，利用FPGA可以產生多種復雜的顯示圖像，并且支持分辨率靈活配置，即可以覆蓋Display Port(簡稱DP)接口的全功能測試，也增強了對TCON產品內部邏輯的測試覆蓋率。進一步地，如果在產品量產過程中有新的問題發生后，就能夠在不需要改變硬件平臺的前提下，可以通過升級FPGA產生的測試圖像，升級測試能力，對項目進度不產生任何影響，不增加任何成本。

步驟S403，將生成的測試圖像的圖像數據轉換成目標信號。

在本發明實施例中，可以通過數據轉換裝置(即，DP Transmitter Chip)將接收到的測試圖像的圖像數據(例如，RGB圖像數據)轉換為目標信號(例如，DP信號)，然后，再通過DP接口發送給待測試芯片(即，TCON芯片)。

步驟S405，根據目標信號生成控制信號，其中，控制信號用于控制顯示器顯示測試圖像。

在本發明實施例中，可以使用待測試芯片(例如，TCON時序控制芯片)根據目標信號生成控制信號，其中，該時序控制芯片通過第二數據接口與數據轉換裝置電連接，第二數據接口可以為高清音視頻流傳輸接口。

具體地，待測試芯片在獲取到該目標信號之后，可以根據目標信號生成控制信號，以通過控制信號控制在顯示器中顯示測試圖像。

在本發明實施例中，通過現場可編程門陣列生成測試圖像，然后，通過數據轉換裝置將測試圖像的圖像數據轉換成目標信號，最后，待測試芯片根據目標信號生成控制信號，以控制顯示器顯示測試圖像，相對于現有技術中的測試方案，本發明采用現場可編程門陣列能夠生成至少一個圖像，達到了對待測是芯片進行的目的，從而實現了豐富對TCON進行測試時的測試功能的技術效果，進而解決了現有技術中對TCON進行測試時，測試功能較單一的技術問題。

在本發明的一個可選實施方式中，在根據目標信號生成控制信號之后，該方法還包括如下步驟：

步驟S1，獲取待測試芯片的運行參數，其中，運行參數用于確定待測試芯片的是否運行正常。

步驟S2，根據運行參數判斷待測試芯片是否發生了故障。

步驟S3，如果判斷出待測試芯片發生了故障，則生成提示信息，其中，提示信息用于提示待測試芯片發生了故障。

在本發明實施例中，可以使用控制器的第三數據傳輸接口向現場可編程門陣列發送配置信號，并通過控制器的第四數據傳輸接口獲取待測試芯片的運行參數，其中，配置信號用于配置至少一個測試圖像的分辨率，運行參數用于確定待測試芯片是否運行正常。

在本發明實施例中，第三數據傳輸接口可以為SPI接口，第四數據傳輸接口可以為I2C接口。具體地，控制器(Microcontroller Unit，簡稱MCU)通過SPI接口與FPGA電連接，并通過I2C接口與待測試芯片電連接。

上述控制器MCU用于使用SPI接口訪問FPGA，并使用I2C接口訪問TCON內部寄存器。控制器MCU使用SPI接口訪問FPGA可以實現對FPGA寄存器進行配置，實例如，實現對FPGA輸出的RGB數據的分辨率進行配置等。控制器MCU使用I2C接口訪問TCON寄存器，可以讀取TCON寄存器值(即，運行參數)，進而，根據寄存器值(即，運行參數)來判斷TCON的工作狀態是否正常。如果通過運行參數判斷出待測試芯片發生了故障，則生成提示信息，以提示待測試芯片發生了故障。

需要說明的是，在本發明上述實施例中，上述第一數據傳輸接口FPGA中的數字RGB接口，第二數據傳輸接口可以為高清音視頻流傳輸接口，第三數據傳輸接口可以為串行外設接口(即，SPI接口)，第四數據傳輸接口可以為兩線式串行總線接口(即，I2C接口)。

上述本發明實施例序號僅僅為了描述，不代表實施例的優劣。

在本發明的上述實施例中，對各個實施例的描述都各有側重，某個實施例中沒有詳述的部分，可以參見其他實施例的相關描述。

在本申請所提供的幾個實施例中，應該理解到，所揭露的技術內容，可通過其它的方式實現。其中，以上所描述的裝置實施例僅僅是示意性的，例如所述單元的劃分，可以為一種邏輯功能劃分，實際實現時可以有另外的劃分方式，例如多個單元或組件可以結合或者可以集成到另一個系統，或一些特征可以忽略，或不執行。另一點，所顯示或討論的相互之間的耦合或直接耦合或通信連接可以是通過一些接口，單元或模塊的間接耦合或通信連接，可以是電性或其它的形式。

所述作為分離部件說明的單元可以是或者也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元，即可以位于一個地方，或者也可以分布到多個單元上。可以根據實際的需要選擇其中的部分或者全部單元來實現本實施例方案的目的。

另外，在本發明各個實施例中的各功能單元可以集成在一個處理單元中，也可以是各個單元單獨物理存在，也可以兩個或兩個以上單元集成在一個單元中。上述集成的單元既可以采用硬件的形式實現，也可以采用軟件功能單元的形式實現。

所述集成的單元如果以軟件功能單元的形式實現并作為獨立的產品銷售或使用時，可以存儲在一個計算機可讀取存儲介質中。基于這樣的理解，本發明的技術方案本質上或者說對現有技術做出貢獻的部分或者該技術方案的全部或部分可以以軟件產品的形式體現出來，該計算機軟件產品存儲在一個存儲介質中，包括若干指令用以使得一臺計算機設備(可為個人計算機、服務器或者網絡設備等)執行本發明各個實施例所述方法的全部或部分步驟。而前述的存儲介質包括：U盤、只讀存儲器(ROM，Read-Only Memory)、隨機存取存儲器(RAM，Random Access Memory)、移動硬盤、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質。

以上所述僅是本發明的優選實施方式，應當指出，對于本技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本發明原理的前提下，還可以做出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應視為本發明的保護范圍。