技術特征：

1.一種圖像傳感器件低頻傳遞函數測試裝置，其特征在于，包括順序設置的積分球(1)、光學靶標(3)、平行光管(4)和光學透射鏡頭(5)，光學透射鏡頭(5)處設置有控制驅動板(7)，控制驅動板(7)與圖像采集處理模塊(8)連接；

所述光學靶標(3)上設置有若干互相平行的靶標條紋(12)，靶標條紋(12)的寬度為其中f₀為低頻靶標的頻率。

2.根據權利要求1所述的圖像傳感器件低頻傳遞函數測試裝置，其特征在于，所述積分球(1)與低頻靶標(3)之間設置有濾光片(2)。

3.一種圖像傳感器件低頻傳遞函數的測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1，將低頻靶標的像透射待測傳感器件上，其中低頻靶標上的像為若干互相平行的靶標條紋，靶標條紋的寬度為其中f₀為低頻靶標的頻率；

步驟2，通過圖像采集模塊和常規極限頻率傳遞函數測試方法計算出第一調制傳遞函數值MTF_SEN；

步驟3，通過轉換算法得到第二調制傳遞函數值MTF_{SEN_L}，其中P_max為低頻靶標接近奈奎斯特空間頻率的最高奇次諧波數；MTF_ilens為待測傳感器在該特定奇次諧波上的調制傳遞函數值。

4.根據權利要求3所述的圖像傳感器件低頻傳遞函數的測試方法，其特征在于，所述步驟1中低頻靶標的頻率其中p為像元尺寸；P_max為接近奈奎斯特空間頻率的最高奇次諧波數；F2為光學透射鏡頭的焦距；F1為平行光管焦距。

5.根據權利要求3所述的圖像傳感器件低頻傳遞函數的測試方法，其特征在于，所述步驟1中低頻靶標光柵對焦成像在待測傳感器件的光敏面上。

6.根據權利要求3所述的圖像傳感器件低頻傳遞函數的測試方法，其特征在于，所述步驟1中待測傳感器件成像的明條紋的輸出為待測傳感器件最大相應輸出值的50％。

7.根據權利要求3所述的圖像傳感器件低頻傳遞函數的測試方法，其特征在于，所述步驟1中待測傳感器件成像的暗條紋的輸出為待測傳感器件最大相應輸出值的15％。