本說明書涉及執(zhí)行安全檢驗(yàn)操作，并且更具體地涉及用于通過對(duì)安全數(shù)據(jù)執(zhí)行質(zhì)量檢查并且通過統(tǒng)一地驗(yàn)證安全檢驗(yàn)系統(tǒng)的安全數(shù)據(jù)的質(zhì)量來執(zhí)行安全檢驗(yàn)操作的系統(tǒng)和方法，而不管給定安全檢驗(yàn)系統(tǒng)的專有格式如何。

背景技術(shù)：

1、貿(mào)易的全球化為貨物的交換打開了國(guó)際邊界，但也為非法運(yùn)輸違禁品(諸如爆炸物、麻醉品、假冒商品、未披露的貨幣、化學(xué)品和核武器)鋪平了道路。為了確定給定貨物裝運(yùn)的合法性和適用進(jìn)口法律，貨物容器通常與對(duì)應(yīng)的貨單文檔相關(guān)聯(lián)，貨單文檔是具有關(guān)于貨物容器的描述性信息的電子或物理文檔，諸如賬單、裝運(yùn)托運(yùn)人、收貨人、貨物描述、數(shù)量、價(jià)值、原產(chǎn)地和/或目的地。貨單使得在進(jìn)口或出口檢查站的個(gè)人能夠確定是否允許運(yùn)輸貨物，并且如果允許的話，可以確定與之相關(guān)聯(lián)的關(guān)稅、成本或費(fèi)用。

2、在諸如港口或機(jī)場(chǎng)的運(yùn)輸中心，貨物必須經(jīng)常被物理地檢驗(yàn)，以確定貨物內(nèi)容是否與貨單相對(duì)應(yīng)。更頻繁地，這種檢驗(yàn)是使用基于輻射的系統(tǒng)來完成的，該基于輻射的系統(tǒng)使得能夠?qū)ω浳飪?nèi)容進(jìn)行快速成像而沒有通常由物理檢驗(yàn)引起的延遲。然而，運(yùn)輸中心處的安全系統(tǒng)在其準(zhǔn)確地檢測(cè)違禁品或其他危險(xiǎn)物體的能力方面受到限制，這些物品通常很好地隱藏在貨物容器中。特別地，違禁品的檢測(cè)是困難的，因?yàn)閷?duì)應(yīng)的圖像被疊加，使得被許可的貨物與違禁品混雜，從而導(dǎo)致難以確定與對(duì)應(yīng)的圖像相關(guān)聯(lián)的威脅級(jí)別的解釋。此外，操作者必須始終分析圖像以檢測(cè)與圖像中的對(duì)應(yīng)的對(duì)象相關(guān)聯(lián)的威脅級(jí)別，因此，使其易于出現(xiàn)人為錯(cuò)誤并在過程中增加過多的時(shí)間。因此，自動(dòng)化系統(tǒng)在它們可以準(zhǔn)確地確定貨物內(nèi)容物是否與貨單匹配和/或包含違禁品的程度上將優(yōu)于手動(dòng)檢驗(yàn)操作。

3、均轉(zhuǎn)讓給本說明書的申請(qǐng)人的美國(guó)專利號(hào)9,111,331b2和10,509,142b2公開了x射線檢驗(yàn)系統(tǒng)，該x射線檢驗(yàn)系統(tǒng)將貨物和輕型車輛的貨單數(shù)據(jù)與掃描期間生成的x射線圖像集成。此外，美國(guó)專利號(hào)9,111,331b2和號(hào)10,509,142b2中公開的x射線檢驗(yàn)系統(tǒng)描述了在貨單數(shù)據(jù)所示的貨物內(nèi)容與掃描期間生成的x射線圖像之間不匹配的情況下，可以扣留貨物以進(jìn)行進(jìn)一步檢驗(yàn)。美國(guó)專利號(hào)9,111,331b2和10,509,142b2通過引用整體并入本文。

4、然而，盡管使用前述發(fā)明的檢驗(yàn)系統(tǒng)的速度和準(zhǔn)確性取得了成功和改進(jìn)，但仍然需要改進(jìn)安全檢驗(yàn)過程。海關(guān)和安全檢驗(yàn)需要來自掃描硬件和處理算法的可靠和一致的數(shù)據(jù)。基于掃描儀型號(hào)或掃描技術(shù)，采集的數(shù)據(jù)變化很大。審查掃描數(shù)據(jù)并做出決定的檢驗(yàn)官員被訓(xùn)練以標(biāo)識(shí)高質(zhì)量數(shù)據(jù)中的威脅，但不一定是掃描儀設(shè)計(jì)和被配置用于數(shù)據(jù)準(zhǔn)備的算法方面的專家。它們的焦點(diǎn)是即使數(shù)據(jù)質(zhì)量劣化也執(zhí)行檢驗(yàn)。然而，掃描儀數(shù)據(jù)可能具有瞬態(tài)問題和緩慢的質(zhì)量劣化，這可能長(zhǎng)時(shí)間未報(bào)告，因此在不了解檢驗(yàn)管理或硬件供應(yīng)商的情況下影響任務(wù)。由于潛在的數(shù)據(jù)質(zhì)量(例如，x射線圖像劣化)，檢驗(yàn)官員可能錯(cuò)誤地判定掃描。自動(dòng)檢驗(yàn)算法也受到數(shù)據(jù)質(zhì)量下降的影響，并且即使小的缺陷也會(huì)改變算法結(jié)果。特別地，由于數(shù)據(jù)質(zhì)量問題導(dǎo)致的假陰性結(jié)果(包括讓非法項(xiàng)目通過)不太可能被注意到。在極少數(shù)情況下，硬件供應(yīng)商監(jiān)測(cè)其系統(tǒng)的健康狀況，并在出現(xiàn)問題的情況下警告操作者。在沒有錯(cuò)誤的情況下實(shí)現(xiàn)高操作時(shí)間的系統(tǒng)的開發(fā)是昂貴的，并且需要每個(gè)硬件供應(yīng)商的合作。此外，在沒有錯(cuò)誤的情況下實(shí)現(xiàn)高操作時(shí)間的商業(yè)壓力可能導(dǎo)致問題的低估。

5、因此，需要一種改進(jìn)的系統(tǒng)，其獨(dú)立于硬件供應(yīng)商、掃描儀型號(hào)、掃描技術(shù)或掃描儀數(shù)據(jù)格式或供應(yīng)商是否提供系統(tǒng)健康信息而對(duì)掃描儀數(shù)據(jù)實(shí)施質(zhì)量檢查。還需要在人工和算法檢驗(yàn)之前驗(yàn)證掃描數(shù)據(jù)質(zhì)量。

6、部分中討論的主題不應(yīng)僅僅由于其在背景技術(shù)部分中被提及而被假定為現(xiàn)有技術(shù)。類似地，背景技術(shù)部分中提到的或與背景技術(shù)部分的主題相關(guān)聯(lián)的問題不應(yīng)被假定為先前已經(jīng)在現(xiàn)有技術(shù)中被認(rèn)識(shí)到。部分中的主題僅表示不同的方法，這些方法本身也可以對(duì)應(yīng)于所要求保護(hù)的技術(shù)的實(shí)現(xiàn)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、結(jié)合系統(tǒng)、工具和方法描述和說明了以下實(shí)施例及其方面，這些系統(tǒng)、工具和方法旨在是示例性和說明性的，而不是限制范圍。本技術(shù)公開了許多實(shí)施例。

2、在一些實(shí)施例中，本說明書公開了一種用于對(duì)從兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)接收的數(shù)據(jù)執(zhí)行質(zhì)量和完整性檢查的方法，每個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)適于掃描對(duì)象，包括：從兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)中的第一非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)接收第一格式的第一數(shù)據(jù)并且從兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)中的第二非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)接收第二格式的第二數(shù)據(jù)，其中，第一格式不同于第二格式，并且其中，兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)中的第一非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)是與兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)中的第二非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)相同類型的非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)；從第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)提取多個(gè)變量；處理多個(gè)變量以確定與第一數(shù)據(jù)或第二數(shù)據(jù)相關(guān)聯(lián)的掃描的質(zhì)量的驗(yàn)證或者第一數(shù)據(jù)或第二數(shù)據(jù)的質(zhì)量是否在下降中的至少一者；以及生成表示圖形用戶界面的數(shù)據(jù)，圖形用戶界面適于呈現(xiàn)指示第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)的質(zhì)量或完整性的信息。

3、可選地，多個(gè)變量包括指示掃描儀類型的數(shù)據(jù)、指示算法類型的數(shù)據(jù)和/或指示訂單的數(shù)據(jù)。

4、可選地，第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)包括與每個(gè)掃描圖像相關(guān)聯(lián)的唯一掃描標(biāo)識(shí)符。可選地，第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)包括指示掃描類型的數(shù)據(jù)。

5、可選地，確定掃描的質(zhì)量的驗(yàn)證包括以下中的至少一個(gè)：確定與兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)中的第一非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)或兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)中的第二非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)相關(guān)聯(lián)的硬件的狀態(tài)，評(píng)估掃描數(shù)據(jù)質(zhì)量，將第一數(shù)據(jù)或第二數(shù)據(jù)與裝運(yùn)文件進(jìn)行比較，或確定與第一數(shù)據(jù)或第二數(shù)據(jù)相關(guān)聯(lián)的元數(shù)據(jù)的質(zhì)量。

6、可選地，確定數(shù)據(jù)質(zhì)量是否在下降包括以下中的至少一個(gè)：預(yù)測(cè)故障、分析由兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)的操作者提供的反饋或監(jiān)測(cè)與兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)中的每一個(gè)相關(guān)聯(lián)的趨勢(shì)。

7、可選地，該方法還包括處理多個(gè)變量以確定指示圖像增強(qiáng)過濾器、不同數(shù)據(jù)源的融合、去噪或改善成像結(jié)果的數(shù)據(jù)。

8、在一些實(shí)施例中，本說明書公開了一種包括多個(gè)可執(zhí)行程序指令的計(jì)算機(jī)可讀非暫時(shí)性介質(zhì)，其中，當(dāng)多個(gè)可執(zhí)行程序指令由處理器執(zhí)行時(shí)，一種用于對(duì)從兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)接收的數(shù)據(jù)執(zhí)行質(zhì)量和完整性檢查的過程，每個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)適于掃描對(duì)象，多個(gè)可執(zhí)行程序指令包括：存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)可讀非暫時(shí)性介質(zhì)中的程序指令，用于從兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)中的第一非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)接收第一格式的第一數(shù)據(jù)，并從兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)中的第二非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)接收第二格式的第二數(shù)據(jù)，其中，第一格式與第二格式不同，并且其中，兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)中的第一非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)是與兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)中的第二非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)相同類型的非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)；存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)可讀非暫時(shí)性介質(zhì)中的程序指令，程序指令用于從第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)提取多個(gè)變量；存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)可讀非暫時(shí)性介質(zhì)中的程序指令，程序指令用于處理多個(gè)變量以確定與第一數(shù)據(jù)或第二數(shù)據(jù)相關(guān)聯(lián)的掃描的質(zhì)量的驗(yàn)證或者第一數(shù)據(jù)或第二數(shù)據(jù)的質(zhì)量是否在下降中的至少一者；以及存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)可讀非暫時(shí)性介質(zhì)中的程序指令，用于生成表示圖形用戶界面的數(shù)據(jù)，圖形用戶界面適于呈現(xiàn)指示第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)的質(zhì)量或完整性的信息。

9、可選地，多個(gè)變量包括指示掃描儀類型的數(shù)據(jù)、指示算法類型的數(shù)據(jù)和/或指示訂單的數(shù)據(jù)。

10、可選地，第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)包括與每個(gè)掃描圖像相關(guān)聯(lián)的唯一掃描標(biāo)識(shí)符。可選地，第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)包括指示掃描類型的數(shù)據(jù)。

11、可選地，用于確定掃描的質(zhì)量的驗(yàn)證的程序指令包括以下中的至少一個(gè)：確定與兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)中的第一非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)或兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)中的第二非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)相關(guān)聯(lián)的硬件的狀態(tài)，評(píng)估掃描數(shù)據(jù)質(zhì)量，將第一數(shù)據(jù)或第二數(shù)據(jù)與裝運(yùn)文件進(jìn)行比較，或確定與第一數(shù)據(jù)或第二數(shù)據(jù)相關(guān)聯(lián)的元數(shù)據(jù)的質(zhì)量。

12、可選地，用于確定數(shù)據(jù)質(zhì)量是否在下降的程序指令包括以下中的至少一個(gè)：預(yù)測(cè)故障、分析由兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)的操作者提供的反饋或監(jiān)測(cè)與兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)中的每一個(gè)相關(guān)聯(lián)的趨勢(shì)。

13、在一些實(shí)施例中，本說明書公開了一種用于對(duì)從兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)接收的數(shù)據(jù)執(zhí)行質(zhì)量和完整性檢查的系統(tǒng)，每個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)適于掃描對(duì)象，該系統(tǒng)包括：處理器，其被配置為：從兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)中的第一非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)接收第一格式的第一數(shù)據(jù)，并從兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)中的第二非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)接收第二格式的第二數(shù)據(jù)，其中，第一格式不同于第二格式，并且其中，兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)中的第一非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)是與兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)中的第二非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)相同類型的非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)；從第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)提取多個(gè)變量；處理多個(gè)變量以確定與第一數(shù)據(jù)或第二數(shù)據(jù)相關(guān)聯(lián)的掃描的質(zhì)量的驗(yàn)證或者第一數(shù)據(jù)或第二數(shù)據(jù)的質(zhì)量是否在下降中的至少一者；以及生成表示圖形用戶界面的數(shù)據(jù)，該圖形用戶界面適于呈現(xiàn)指示第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)的質(zhì)量或完整性的信息。

14、可選地，多個(gè)變量包括指示掃描儀類型的數(shù)據(jù)、指示算法類型的數(shù)據(jù)和/或指示訂單的數(shù)據(jù)。

15、可選地，第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)包括與每個(gè)掃描圖像相關(guān)聯(lián)的唯一掃描標(biāo)識(shí)符。可選地，第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)包括指示掃描類型的數(shù)據(jù)。

16、可選地，處理器被配置為確定掃描的質(zhì)量的驗(yàn)證包括以下中的至少一個(gè)：確定與兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)中的第一非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)或兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)中的第二非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)相關(guān)聯(lián)的硬件的狀態(tài)，評(píng)估掃描數(shù)據(jù)質(zhì)量，將第一數(shù)據(jù)或第二數(shù)據(jù)與裝運(yùn)文件進(jìn)行比較，或確定與第一數(shù)據(jù)或第二數(shù)據(jù)相關(guān)聯(lián)的元數(shù)據(jù)的質(zhì)量。

17、可選地，被配置為確定數(shù)據(jù)質(zhì)量是否在下降的處理器包括以下中的至少一個(gè)：預(yù)測(cè)故障、分析由兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)的操作者提供的反饋或監(jiān)測(cè)與兩個(gè)或更多個(gè)非侵入式檢驗(yàn)系統(tǒng)中的每一個(gè)相關(guān)聯(lián)的趨勢(shì)。

18、在一些實(shí)施例中，本說明書公開了一種用于檢驗(yàn)貨物和車輛的方法，包括：使用x射線成像系統(tǒng)在服務(wù)站掃描貨物容器或車輛；導(dǎo)入與貨物或車輛的掃描相關(guān)聯(lián)的掃描圖像和數(shù)據(jù)；以及分析掃描圖像和相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)以確定掃描的質(zhì)量。

19、可選地，分析包括使用與掃描相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)和掃描圖像來執(zhí)行一系列檢查。

20、可選地，該方法還包括驗(yàn)證與掃描和掃描圖像相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)的完整性。

21、可選地，該方法還包括檢查與掃描相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)和掃描圖像，以標(biāo)識(shí)x射線成像系統(tǒng)的一個(gè)或多個(gè)問題。

22、可選地，該方法還包括驗(yàn)證與掃描和掃描圖像相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)的處理。

23、可選地，該方法還包括針對(duì)由x射線成像系統(tǒng)執(zhí)行的掃描過程的質(zhì)量，檢查與掃描相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)和掃描圖像。

24、可選地，該方法還包括驗(yàn)證與其他成像系統(tǒng)的干擾的存在。

25、可選地，該方法還包括分析與掃描和掃描圖像相關(guān)聯(lián)的多個(gè)數(shù)據(jù)以檢測(cè)數(shù)據(jù)質(zhì)量趨勢(shì)。可選地，該方法包括使用檢測(cè)到的數(shù)據(jù)質(zhì)量趨勢(shì)來改進(jìn)用于檢驗(yàn)的方法。可選地，該方法包括使用圖形用戶界面向至少一個(gè)檢驗(yàn)操作者提供檢測(cè)到的數(shù)據(jù)質(zhì)量趨勢(shì)。可選地，該方法包括向至少一個(gè)維護(hù)人員提供檢測(cè)到的數(shù)據(jù)質(zhì)量趨勢(shì)。

26、可選地，該方法還包括對(duì)用于檢驗(yàn)貨物和車輛的一個(gè)或多個(gè)算法的質(zhì)量進(jìn)行基準(zhǔn)測(cè)試，該基準(zhǔn)測(cè)試包括使用于檢驗(yàn)的兩個(gè)或更多個(gè)算法的輸出相關(guān)。可選地，該方法包括使用卷積矩陣來檢測(cè)相關(guān)的輸出的變化。

27、可選地，該方法還包括對(duì)用于檢驗(yàn)貨物和車輛的一個(gè)或多個(gè)檢驗(yàn)算法的質(zhì)量進(jìn)行基準(zhǔn)測(cè)試，該基準(zhǔn)測(cè)試包括分析與一個(gè)或多個(gè)檢驗(yàn)算法相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)樣本并檢測(cè)樣本內(nèi)的一個(gè)或多個(gè)參數(shù)的變化。

28、可選地，該方法還包括自動(dòng)生成分析的結(jié)果的至少一個(gè)報(bào)告。

29、可選地，該方法是針對(duì)x射線成像系統(tǒng)定制的。

30、在下面提供的附圖和詳細(xì)描述中將更深入地描述本說明書的前述和其他實(shí)施例。