1.一種高溫老化試驗設(shè)備二級電源時頻特征深度融合方法,其特征在于,所述方法包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,對所述故障數(shù)據(jù)集進行預(yù)處理,得到訓(xùn)練數(shù)據(jù)集和測試數(shù)據(jù)集的步驟,包括:
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,對所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)集中的各時序數(shù)據(jù)進行短時傅里葉變換,得到時頻圖的步驟,包括:
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述窗函數(shù)為漢寧窗函數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,對各所述時頻圖進行隨機掩碼并輸入預(yù)設(shè)模型進行訓(xùn)練,生成特征提取模型的步驟,包括:
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述器件包括:高溫老化試驗設(shè)備開關(guān)電源、高溫老化試驗設(shè)備高溫試驗箱、高溫老化試驗設(shè)備高溫高濕試驗箱。
7.一種高溫老化試驗設(shè)備二級電源時頻特征深度融合裝置,其特征在于,所述裝置包括:
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置,其特征在于,所述預(yù)處理模塊包括:
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置,其特征在于,所述變換模塊包括:
10.一種電子設(shè)備,其特征在于,包括處理器、通信接口、存儲器和通信總線,其中,處理器,通信接口,存儲器通過通信總線完成相互間的通信;