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本申請涉及硬盤噪音處理，具體涉及一種硬盤組件降噪裝置、方法、設備及存儲介質。、硬盤在服務器中扮演著數據存儲與保障服務穩定性的核心角色，隨著服務器性能的不斷提升以及硬盤存儲密度和讀寫速度的增加，硬盤運行時產生的噪音問題日益突出，對硬盤的影響也越來越大，噪音會對硬盤的讀寫性能造成極大的損傷。、...

本發明涉及測試，尤其涉及一種存儲器測試裝置及測試方法。、隨著電子產品的普及和各種數據云的發展，電子產品中使用到的集成電路種類也逐漸增多，使得在對電子產品的開發過程中，經常會需要對電子產品中涉及的多種集成電路進行適配、驗證。、對于比較簡單的集成電路封裝，基本都可以用風槍或者烙鐵自行焊接以進行...

本發明涉及存儲介質的重讀糾錯領域，特別涉及一種存儲介質異步重讀糾錯方法。、相關技術中，隨著閃存密度的逐漸提升，閃存的可靠性有所下降，最關鍵的可靠性就是用戶數據的完整性和正確性。閃存讀操作的最小單位是page，目前主流的ldpc引擎的編解碼最小單位是碼字，個碼字占用的空間大小是k字節，所以個...

本發明屬于光盤刻錄打印，具體涉及一種光盤取放裝置。、智能光盤庫和全自動刻錄打印機的結構越來越緊湊，同時數據安全和響應時間要求也越來越高，要求快速、安全、可靠地抓取目標光盤，并移載放入到下一個操作位置。目前，常規的光盤取放裝置采用機械手形式，這種機械手為單爪式，包括單個爪齒和機械手導頭，并采...

、半導體存儲器器件可以取決于其在與電源斷開時是否保留所存儲數據而被劃分為兩個類別。這些類別包括當從電力斷開時丟失所存儲的數據的易失性存儲器器件，以及當從電力斷開時保留所存儲的數據的非易失性存儲器器件。雖然易失性存儲器器件可以以高速執行讀取和寫入操作，但是存儲在其中的內容可能在斷電時丟失。由...

本公開涉及半導體存儲器裝置。更具體地，本公開涉及具有其中存儲器單元陣列和位線讀出放大器(blsa；下文中也被稱為讀出放大器)位于不同晶圓上并豎直重疊的結構的半導體存儲器裝置。、半導體存儲器裝置可以被分類為易失性存儲器裝置和非易失性存儲器裝置。易失性存儲器裝置在電源被切斷時丟失存儲的數據，而...

本技術屬于芯片測試，具體地說，本技術涉及一種芯片測試設備。、現有技術中的閃存芯片測試有兩種常規方式：一種為常溫測試，優點是成本低，搭建難度低，操作簡單，缺點是僅僅依賴芯片自發熱，溫度低于℃無法篩選出溫度特性敏感的不良；無法加速老化，測試時間長。、另一種為高溫測試，優點是精確測試溫度，可加速...

本申請涉及存儲設備，尤其涉及一種用于內存條的散熱殼體及存儲設備。、內存條對于電腦的性能至關重要，它不僅提供了必要的數據存儲空間，還影響著電腦的處理速度和多任務處理能力。由于內存條在工作過程中會產生一定的熱量，所以內存條的散熱性能的好壞會直接影響內存條的性能。、在相關技術中，會在內存條的外部...

本發明屬于非易失性存儲器，由于涉及一種用于非易失性存儲器的寫入功耗降低的方法。、隨著技術的進步，對于非易失性存儲器(nor?flash)性能要求也不斷提高。然而，新的發展也帶來了新的技術挑戰，特別是在數據寫入過程中，nor?flash根據地址解碼將電壓加在選中的字線和位線上，然后通過寫入脈...

本發明是有關于用于讀取一位元信息的感測電路及時序方法(timing?scheme)，該位元信息儲存于四晶體管的靜態隨機存取存儲器(four-transistor?static?randomaccess?memory，t?sram)單元(cell)中。特別地，本發明感測電路連同感測方法能夠降低微小差...

本技術涉及ssd測試設備，具體涉及一種pcie?gen?rdt步進式測試房。、傳統的rdt測試設備，主要是升溫，補償溫度，讓ssd的芯片核心溫度在℃-℃之間，僅僅可以用于sata?ssd、pcie?gen?ssd和pcie?gen?ssd，無法應用于pcie?genxssd。而pcie?g...

本申請涉及集成電路設計領域，具體而言，涉及一種多路并聯半動態寄存器電路、芯片及電子設備。、目前，在使用多個寄存器的電路中，會將多路寄存器并聯，并使用相同的時鐘進行控制，以減少控制各寄存器的時鐘電路占用的芯片面積。、然而，在多個寄存器并聯的電路中，寄存器也會占用較大的面積或存在數據穩定性較低...

本申請涉及光盤存儲，尤其涉及一種光盤庫。、隨著技術的發展，社會信息化程度越來越高，信息數據呈爆炸式增長。當今，信息技術高速發展，我們已經進入大數據時代。、目前，光盤庫一般包括光盤存儲區域和光驅存儲區域，且光驅配置數量在個左右。現有技術中可以利用新一代存儲技術-藍光存儲，對光盤庫中的大量數據...

所屬的技術人員能夠理解，本公開的各個方面可以實現為系統、方法或程序產品。因此，本公開的各個方面可以具體實現為以下形式，即：完全的硬件實施方式、完全的軟件實施方式(包括固件、微代碼等)，或硬件和軟件方面結合的實施方式，這里可以統稱為“電路”、“模塊”或“系統”。下面參見圖，圖是本公開實施例提供的一種...

本技術涉及硬盤，尤其涉及一種基于pcle.高速通道固態硬盤存儲模塊。、固態硬盤是一種用于數據存儲的非易失性存儲設備。與傳統的機械硬盤驅動器不同，固態硬盤采用了無活動部件的存儲技術，這使得其在性能、速度和耐用性方面相對更為優越。、在使用過程，將硬盤由接口插入電腦的電路板之上，隨著其插槽口與接...

本發明涉及固態硬盤測試，特別是涉及一種基于linux的固態硬盤量產掉電測試方法和裝置。、固態硬盤(solid?state?drives，簡稱ssd)是采用固態電子存儲芯片陣列而制成的硬盤，其由控制單元和存儲單元(如flash芯片和dram芯片)組成。固態硬盤在接口的規范和定義、功能及使用方...

本發明的一個方式涉及一種半導體裝置等。注意，本發明的一個方式不限定于上述。本說明書等所公開的發明的涉及一種物體、方法或制造方法。另外，本發明的一個方式涉及一種工序(process)、機器(machine)、產品(manufacture)或者組合物(composition?of?matter)。因此...

本發明涉及存儲檢測，具體涉及一種存儲裝置的自檢測方法、自檢測電路、存儲裝置及系統。、動態隨機存取存儲器（dynamic?random?access?memory，簡稱dram）是計算機中常用的半導體存儲器件。dram由多個子存儲模塊（bank）組成，每個bank由多個存儲單元（cell）以...

本技術涉及硬盤擴容系統，尤其涉及一種無線移動硬盤擴容系統。、隨著手機、平板等無線終端的發展，然而由于自身存儲容數據量的限制，對于一些數據量的增長，手機、平板等無線終端往往需要進行一些數據量的刪除才能保障手機、平板等無線終端的正常運行，目前雖然有移動硬盤進行擴容，但是其主要是依靠數據線與手機...

本申請涉及芯片，尤其是涉及一種線路檢測方法、裝置及設備。、隨著存儲芯片工藝的快速發展，其封裝技術日益復雜，但在封裝過程中，線路的完整性受多種因素影響(如材料缺陷、加工誤差、工藝不穩定等)，這可能導致短路、斷路、信號衰減等問題。這些問題在大批量生產時更容易放大，進而導致產品良率下降和可靠性降...