此申請要求2015年6月16日提交到韓國知識產權局的韓國專利申請10-2015-0085456的優先權和權益，其內容通過引用被整體合并于此。

技術領域

本公開的實施例涉及顯示設備。

背景技術：

隨著信息技術的發展，作為用戶和信息之間的通信介質的顯示設備已經變得越來越流行。因此，諸如液晶顯示設備或有機發光顯示設備之類的顯示設備被廣泛使用。

一般情況下，顯示設備的面板形成在母基底上，通過對母基底進行刻線，面板被分成若干個面板。然而，在切割母基底的過程中，面板的周圍可能破裂。因此，期望用于檢測顯示設備的面板的裂紋的方法。此外，柔性面板被安裝在顯示設備中，因此期望用于檢測柔性面板的裂紋的方法。

技術實現要素：

本公開的實施例提供一種能夠檢測面板的裂紋的顯示設備。

根據本公開的一個或多個實施例的顯示設備包括：位于多條掃描線和多條數據線的交叉區域的多個像素；在多條數據線的第一側耦接至多條數據線的端部并被配置為將多個數據信號供應到多條數據線的數據驅動器；在多條數據線的第二側耦接至多條數據線的端部并被配置為將多個檢查信號供應到多個像素的檢查單元；電耦接至檢查單元并將面板的第一側耦接至面板的第二側的至少一條檢測線；以及耦接在檢測線和復位電源之間并被配置為響應于第一控制信號而導通的復位晶體管。

根據一個或多個示例性實施例，復位電源的電壓可以比從數據驅動器供應的數據信號的電壓低。

根據一個或多個示例性實施例，復位電源的電壓可以比白色數據信號的電壓低。

根據一個或多個示例性實施例，顯示設備可以進一步包括被配置為將多個掃描信 號供應到多條掃描線的掃描驅動器。

根據一個或多個示例性實施例，多個像素可以包括：被配置為顯示第一顏色的第一像素；被配置為顯示第二顏色的第二像素；以及被配置為顯示第三顏色的第三像素。

根據一個或多個示例性實施例，第一顏色可以是紅色，第二顏色可以是藍色，并且第三顏色可以是綠色。

根據一個或多個示例性實施例，檢查單元可以包括：耦接在檢測線的第一側的端部與耦接至第三像素的特定數據線之間的第一控制晶體管，并且第一控制晶體管可以被配置為響應于第二控制信號而導通；以及耦接在檢測線的第二側的端部與被配置為將檢查信號供應到第三像素的第三檢查線之間的第二控制晶體管，并且第二控制晶體管可以被配置為響應于第二控制信號而導通。

根據一個或多個示例性實施例，數據驅動器可以被配置為在檢查的第一時段期間當第一控制信號被供應時供應白色數據信號，并且在檢查的第二時段期間，對應于黑色數據信號的電壓可以被供應到第三檢查線，并且掃描驅動器可以將多個掃描信號順序供應到多條掃描線。

根據一個或多個示例性實施例，顯示設備可以進一步包括耦接在數據驅動器與多條數據線之間的多路分配器單元，并且多路分配器單元可以包括：耦接至數據線中與第一像素耦接的相應數據線的第一開關元件；耦接至數據線中與第二像素耦接的相應數據線的第二開關元件；以及耦接至數據線中與第三像素耦接的相應數據線的第三開關元件，并且其中第三開關元件可以在第一時段期間導通。

根據一個或多個示例性實施例，檢查單元可以包括：耦接在數據線中耦接至第一像素的相應數據線與第一檢查線之間并響應于第二控制信號而導通的第一晶體管；耦接在數據線中耦接至第二像素的相應數據線與第二檢查線之間并響應于第二控制信號而導通的第二晶體管；以及耦接在數據線中耦接至第三像素的除了特定數據線之外的相應數據線與第三檢查線之間并響應于第二控制信號而導通的第三晶體管。

附圖說明

在下文中將參考附圖更充分地描述示例實施例；然而，本發明可以以不同的形式體現，且不應當被認為限于本文所提出的實施例。相反，提供這些實施例是為了使得本公開全面且完整，并且向本領域技術人員充分地傳達示例實施例的范圍。

圖1是根據本公開的一個或多個示例性實施例的顯示設備的示意圖。

圖2是圖1所示的顯示設備的顯示區域和檢查單元的一個或多個示例性實施 例的示意圖。

圖3是示出了根據本公開的一個或多個實施例的用于檢查裂紋的方法的圖。

圖4A至圖4C是示出了根據用于檢查裂紋的方法的像素的顯示亮度的示意圖。

圖5是圖1所示的顯示設備的顯示區域和檢查單元的一個或多個示例性實施例的示意圖。

圖6是圖1所示的顯示設備的顯示區域和檢查單元的一個或多個示例性實施例的示意圖。

圖7是示出了根據本公開的一個或多個示例性實施例的顯示設備的示意圖。

圖8是圖7所示的顯示設備的多路分配器單元的一個或多個示例性實施例的示意圖。

圖9是示出了根據本公開的一個或多個示例性實施例的用于檢查裂紋的方法的圖。

具體實施方式

在下文中，參考附圖更詳細地描述示例實施例，其中在整個附圖中，相同的附圖標記指代相同的元件。然而，本發明可以以各種不同的形式體現，且不應當被認為僅限于本文示出的實施例。相反，提供這些實施例作為示例是為了使得本公開全面且完整，并且向本領域技術人員充分地傳達本發明的方面和特征。因此，對于本領域普通技術人員來說對于完整理解本發明的方面和特征不是必須的過程、元件和技術可能不會描述。除非另有說明，否則在整個附圖和書面描述中，相同的附圖標記表示相同的元件，因而其描述可能不會重復。在圖中，為了清楚，元件、層和區域的相對尺寸可能被夸大了。

將理解的是，雖然詞語“第一”、“第二”、“第三”等可在本文中用來描述各種元件、組件、區域、層和/或部分，但是這些元件、組件、區域、層和/或部分不應該受這些詞語的限制。這些詞語僅用來區分一個元件、組件、區域、層或部分與另一個元件、組件、區域、層或部分。因此，下面描述的第一元件、組件、區域、層或部分可以被稱為第二元件、組件、區域、層或部分，而不脫離本發明的精神和范圍。

將理解的是，當元件或層被稱為在另一元件或層“上”、“連接到”或“耦接到”另一元件或層時，它可以直接在另一元件或層上，直接連接到或直接耦接到另一元件或層，或者可以存在一個或多個中間元件或中間層。另外，還將理解的是，當元件或層被稱為在兩個元件或兩個層“之間”時，它可以是這兩個元件 或兩個層之間的唯一元件或唯一層，或者也可以存在一個或多個中間元件或中間層。

本文使用的術語僅用于描述特定實施例的目的，并不旨在限制本發明。如本文所用，單數形式的“一”旨在也包括復數形式，除非上下文另有明確說明。將進一步理解的是，當在說明書中使用時，詞語“包括”和“包含”指明存在所陳述的特征、整數、步驟、操作、元件和/或組件，但不排除存在或添加一個或多個其它特征、整數、步驟、操作、元件、組件和/或它們的組。如本文所用，詞語“和/或”包括相關聯的所列項目中的任意項目或一個或多個項目的所有組合。當放在一列元件之前時，諸如“至少一個”的表述修飾的是整列元件，而不是修飾該列中的單獨元件。

如本文所用，詞語“基本上”、“大約”和類似詞語被用作近似的詞語，而不是作為程度的詞語，并且旨在說明本領域普通技術人員公認的測量值或計算值的固有偏差。此外，當描述本發明的實施例時，使用“可以”指的是“本發明的一個或多個實施例”。如本文所用，詞語“使用”和“被用來”可以被認為分別與詞語“利用”和“被利用來”同義。另外，詞語“示例性”意指示例或例示。

如本文所用，短語“供應信號”是指用于導通接收該信號的晶體管的電壓被供應。另外，停止供應信號是指用于截止接收該信號的晶體管的電壓被供應。

根據在本文中描述的本發明實施例的電子或電氣設備和/或任何其它相關設備或組件可以利用任何合適的硬件、固件(例如專用集成電路)、軟件、或者軟件、固件和硬件的組合來實現。例如，這些設備的各種組件可以形成在一個集成電路(IC)芯片上或分離的IC芯片上。此外，這些設備的各種組件可以在柔性印刷電路膜、帶載封裝(TCP)、印刷電路板(PCB)上實現，或者形成在一個基底上。此外，這些設備的各種組件可以是在一個或多個計算設備中用于執行計算機程序指令并與其它系統組件交互以完成本文描述的各種功能的一個或多個處理器上運行的進程或線程。計算機程序指令被存儲于在計算設備中可用標準存儲器設備實現的存儲器中，諸如例如隨機存取存儲器(RAM)。計算機程序指令也可以被存儲在其它的非臨時性計算機可讀介質中，諸如例如CD-ROM或閃存驅動器等。此外，本領域技術人員應認識到各種計算設備的功能可以被組合或集成到單個計算設備，或特定計算設備的功能可以跨一個或多個其它計算設備分布，而不脫離本發明的示例性實施例的精神和范圍。

除非另有定義，本文使用的所有詞語(包括技術和科學術語)具有本發明所屬領域的普通技術人員所通常理解的相同含義。將進一步理解，例如那些在常用 字典中定義的詞語應該被解釋為具有與它們在相關領域和/或本說明書的背景中的含義一致的含義，并且將不以理想化或過于正式的意義來解釋，除非在本文中明確地如此定義。

圖1是根據本公開的一個或多個示例性實施例的顯示設備的示意圖。

參考圖1，根據本公開的一個或多個示例性實施例的顯示設備100包括面板102、掃描驅動器110、數據驅動器120、檢查單元130、像素部分(也就是顯示區域)140和焊盤部分160。

顯示區域140包括位于被多條數據線D1至Dm和多條掃描線S1至Sn分割的區域處的多個像素。多個像素包括發射彼此不同顏色的光的第一像素、第二像素和第三像素。多條數據線D1至Dm以第一方向形成，且多條掃描線S1至Sn以第二方向形成。

掃描驅動器110經由焊盤部分160從外部設備接收掃描驅動電源電壓VDD和VSS以及掃描控制信號SCS。掃描驅動器110接收掃描驅動電源電壓VDD和VSS以及掃描控制信號SCS，并將多個掃描信號供應到多條掃描線S1至Sn。例如，掃描驅動器110可以順序地將多個掃描信號供應到多條掃描線S1至Sn。在一些實施例中，如圖1所示，掃描驅動器110可以耦接到一個焊盤P，但是本公開不限于此。例如，在一些實施例中，掃描驅動器110可以耦接到與掃描驅動電源電壓VDD和VSS以及掃描控制信號SCS對應的多個焊盤P。

數據驅動器120在數據線D1至Dm的一側(例如第一側)耦接至多條數據線D1至Dm的端部。數據驅動器120經由焊盤部分160從外部設備接收數據Data和數據控制信號DCS。數據驅動器120接收數據Data和數據控制信號DCS，生成與多個掃描信號同步的多個數據信號，并且將生成的數據信號供應到多條數據線D1至Dm。數據驅動器120可形成在面板102中，或者可以被制成集成電路并嵌入面板102中。

檢查單元130在數據線D1至Dm的對側(例如第二側)耦接至多條數據線D1至Dm的端部。在面板102的檢查期間，檢查單元130經由焊盤部分160從外部設備接收檢查信號。檢查單元130接收檢查信號，并進行各種類型的檢查，包括多個像素的點亮檢查。另外，檢查單元130可以使用檢測線180a和180b檢測面板102的裂紋。

焊盤部分160可包括將從外部設備供應的電源電壓和/或信號傳送到面板102的多個焊盤P。

面板102的非顯示區域包括被供應來自焊盤部分160的電源電壓和/或信號的 第一導線組150、第二導線組170與檢測線180a和180b。

第一導線組150包括第一導線150a、第二導線150b、第三導線150c和第四導線150d。第一導線150a從外部設備接收第一電源電壓ELVDD，并且將所接收的第一電源電壓ELVDD傳送到顯示區域140。第二導線150b從外部設備接收第二電源電壓ELVSS，并且將所接收的第二電源電壓ELVSS傳送到顯示區域140。

被供應到顯示區域140的第一電源電壓ELVDD和第二電源電壓ELVSS被供應到像素中的每一個。像素中的每一個對應于數據信號而控制從第一電源電壓ELVDD供應到第二電源電壓ELVSS的電流的量，并且發射光(例如具有預定亮度的光)。這樣，第一電源電壓ELVDD被設置為比第二電源電壓ELVSS的電壓值高的電壓值。

第三導線150c從外部設備接收數據Data和數據控制信號DCS，并將所接收的數據Data和數據控制信號DCS傳送到數據驅動器120。這樣，第三導線150c可以包括多條導線。第四導線150d從外部設備接收掃描驅動電源電壓VDD和VSS及掃描控制信號SCS，并將所接收的掃描驅動電源電壓和掃描控制信號傳送到掃描驅動器110。掃描驅動電源電壓VDD可被設置為高電壓，且掃描驅動電源電壓VSS可被設置為低電壓。

盡管在圖1中第四導線150d被示出為一條導線，但本發明不限于此，且第四導線150d可以包括多條導線。例如，第四導線150d可以包括與第一掃描驅動電源電壓VDD、第二掃描驅動電源電壓VSS、掃描控制信號SCS的起始脈沖和時鐘信號對應的四條或更多條導線。

第二導線組170接收控制信號和檢查信號，并且為了檢查面板102而將控制信號和檢查信號供應到檢查單元130。這樣，第二導線組170可以包括多條導線。例如，第二導線組170可包括與控制信號、紅色檢查信號、綠色檢查信號和藍色檢查信號對應的四條或更多條導線。

檢測線180a和180b被用于檢測面板102的裂紋，并被配置為一條或更多條導線。為了便于描述，圖1示出了兩條檢測線180a和180b。檢測線180a和180b形成在面板102的外圍區域中，并且將面板102的一側(例如第一側)耦接至另一側(例如第二側)。檢測線180a和180b的第一側的端部和第二側的端部電耦接至檢查單元130。

因為檢測線180a和180b將面板102的第一側耦接至面板102的第二側，所以檢測線180a和180b具有預定的電容和電阻。另外，檢測線180a和180b的電阻對應于面板102的裂紋而增大。

換句話說，當在面板102中產生(或形成)裂紋時，裂紋產生(或形成)在形成檢測線180a和180b的例如源極/漏極金屬的金屬中。如果裂紋產生(或形成)在檢測線180a和180b中，則檢測線180a和180b的電阻增大，因此檢測線180a和180b的RC延遲增加。

在根據本公開的一個或多個示例性實施例的顯示設備中，如下面進一步描述的，面板102的裂紋可以通過使用檢測線180a和180b的電阻的增大來檢測。

另外，為了控制多個像素的發光時間，面板102可以進一步包括供應發光控制信號的發光控制驅動器。

圖2是圖1所示的顯示區域140和檢查單元130的一個或多個示例性實施例的示意圖。

參考圖2，顯示區域140包括顯示第一顏色的第一像素R、顯示第二顏色的第二像素B、以及顯示第三顏色的第三像素G。例如，第一像素R可以顯示紅色，第二像素B可以顯示藍色，并且第三像素G可以顯示綠色。換句話說，第一顏色可以是紅色，第二顏色可以是藍色，并且第三顏色可以是綠色。

第一像素R、第二像素B和第三像素G分別以列(或以垂直線為單位)布置在顯示區域140中。因此，也以列布置的多條數據線D1至Dm中的每一條耦接至第一像素R、第二像素B和第三像素G中的一種像素。在一些實施例中，如圖2所示，顯示區域140可包括用于顯示紅色的像素、用于顯示綠色的像素和用于顯示藍色的像素。然而，在一些實施例中，顯示區域140可以進一步包括用于顯示除了紅色、綠色和藍色之外的顏色的像素。

檢查單元130包括第一檢查線170a、第二檢查線170b和第三檢查線170c。第一檢查線170a、第二檢查線170b和第三檢查線170c包括在第二導線組170中，并在檢查期間分別接收是DC型信號的紅色檢查信號DC_R、藍色檢查信號DC_B和綠色檢查信號DC_G。

第一晶體管M1形成在第一數據線D1、D4、……、Dm-2中的相應數據線和第一檢查線170a之間。當接收到第二控制信號CS2時，第一晶體管M1被導通，由此將第一檢查線170a電耦接至第一數據線D1、D4、……、Dm-2。第一數據線D1、D4、……、Dm-2是耦接至第一像素R的數據線。

第二晶體管M2形成在第二數據線D3、D6、……、Dm中的相應數據線和第二檢查線170b之間。當接收到第二控制信號CS2時，第二晶體管M2被導通，由此將第二檢查線170b電耦接至第二數據線D3、D6、……、Dm。第二數據線D3、D6、……、Dm是耦接至第二像素B的數據線。

第三晶體管M3形成在第三數據線D5、……中的相應數據線和第三檢查線170c之間。當接收到第二控制信號CS2時，第三晶體管M3被導通，由此將第三檢查線170c電耦接至第三數據線D5、……。第三數據線D5、……是耦接至第三像素G的數據線。然而，第三數據線D5、……不包括分別被電耦接至檢測線180a和180b的特定數據線D2和Dm-1。

第一控制晶體管MC1a和MC1b被分別耦接在檢測線180a和180b的第一側的端部與特定數據線D2和Dm-1之間。例如，第一控制晶體管中的一個MC1a可以耦接在第一檢測線180a和第二數據線D2之間，并且當第一控制晶體管中的一個MC1a接收到(或響應于)第二控制信號CS2時被導通。第一控制晶體管中的另一個MC1b可耦接在第二檢測線180b和第m-1數據線Dm-1之間，并響應于第二控制信號CS2被導通。

被分別耦接至檢測線180a和180b的特定數據線D2和Dm-1可以被用來檢測裂紋，并且可以耦接至具有高可視性的第三像素G。在一些實施例中，如圖2所示，特定數據線可以是第二數據線D2和第m-1數據線Dm-1，但本公開不限于此。例如，在一些實施例中，特定數據線可以被選擇為耦接至第三像素G的數據線D2、D5、……、Dm-1中的任意一條。另外，在一些實施例中，特定數據線可耦接至第三像素G，但特定數據線可被選擇為耦接至第一像素R或第二像素B的數據線D1、D3、D4、D6、……、Dm-2、Dm中的任意一條。

第二控制晶體管MC2a和MC2b耦接在檢測線180a和180b的第二側(例如和第一側相對的第二側)的端部與第三檢查線170c之間。例如，第二控制晶體管中的一個MC2a可以耦接在第一檢測線180a和第三檢查線170c之間，并且當它接收到第二控制信號CS2時被導通。第二控制晶體管中的另一個MC2b可耦接在第二檢測線180b和第三檢查線170c之間，并且當它接收到第二控制信號CS2時被導通。

第一復位晶體管MR1和第二復位晶體管MR2分別耦接在檢測線180a和180b與復位電源VR之間。例如，第一復位晶體管MR1可以耦接在第一檢測線180a和復位電源VR之間，并且當它接收到第一控制信號CS1時被導通。另外，第二復位晶體管MR2可以耦接在第二檢測線180b和復位電源VR之間，并且當它接收到第一控制信號CS1時被導通。

這里，復位電源VR的電壓被設置為比數據信號的電壓低的電壓，例如，比白色數據信號低的電壓。例如，復位電源VR的電壓可以被設置為第二電源電壓ELVSS或第二掃描驅動電源電壓VSS。

另外，第一控制信號CS1不與第二控制信號CS2重疊。因此，第一復位晶體管MR1和第二復位晶體管MR2的導通時段與控制晶體管MC1a、MC1b、MC2a和MC2b的導通時段不重疊。

下面描述點亮檢查過程。首先，第二控制信號CS2被供應，由此晶體管M1、M2和M3以及控制晶體管MC1a、MC1b、MC2a和MC2b被導通。如果晶體管M1、M2和M3以及控制晶體管MC1a、MC1b、MC2a和MC2b被導通，則檢查線170a、170b和170c被分別耦接至多條數據線D1至Dm。

例如，第一檢查線170a耦接至第一數據線D1、D4、……、Dm-2，因此，紅色檢查信號DC_R被供應到第一數據線D1、D4、……、Dm-2。第二檢查線170b耦接至第二數據線D3、D6、……、Dm，因此，藍色檢查信號DC_B被供應到第二數據線D3、D6、……、Dm。第三檢查線170c耦接至第三數據線D5、……及特定數據線D2和Dm-1。因此，綠色檢查信號DC_G被供應到第三數據線D5、……及特定數據線D2和Dm-1。

接下來，響應于來自掃描驅動器110的掃描信號，檢查信號DC_R、DC_B和DC_G被供應到像素R、G和B。因此，像素R、G和B發射與檢查信號DC_R、DC_B和DC_G對應的光。點亮檢查是通用的，并且可以通過本領域已知的各種方法來進行。

圖3是示出了根據本公開的一個或多個示例性實施例的用于檢查裂紋的方法的圖。

參考圖3，在裂紋檢查時段期間，面板102的裂紋可以被檢測到。在裂紋檢查時段的第一時段T1期間，白色數據信號DS(W)從數據驅動器120被供應到多條數據線D1至Dm。如果白色數據信號DS(W)從數據驅動器120被供應到多條數據線D1至Dm，則多條數據線D1至Dm的電壓被初始化為白色數據信號DS(W)的電壓。在一些實施例中，當像素R、G和B的晶體管是PMOS晶體管時，白色數據信號DS(W)被設置為從數據驅動器120供應的數據信號的電壓中的最低電壓。另外，在第一時段T1期間，數據驅動器120可以僅向耦接至第三像素G的數據線，也就是第三數據線D5、……及特定數據線D2和Dm-1，供應白色數據信號。

另外，在第一時段T1期間，第一控制信號CS1被供應，由此復位晶體管MR1和MR2被導通。當復位晶體管MR1和MR2被導通時，復位電源VR的電壓被供應到檢測線180a和180b。也就是說，在第一時段T1期間，檢測線180a和180b的電壓被初始化為復位電源VR的電壓。

在裂紋檢查時段的第二時段T2期間，第二控制信號CS2被供應。因此，控制 晶體管MC1a、MC1b、MC2a和MC2b、第一晶體管M1、第二晶體管M2和第三晶體管M3被導通。

當第一晶體管M1被導通時，第一檢查線170a耦接到第一數據線D1、D4、……、Dm-2，因此檢查信號DC_R被供應到第一數據線D1、D4、……、Dm-2。當第二晶體管M2被導通時，第二檢查線170b耦接至第二數據線D3、D6、……、Dm，因此檢查信號DC_B被供應到第二數據線D3、D6、……、Dm。當第三晶體管M3被導通時，第三檢查線170c耦接至第三數據線D5、……，因此檢查信號DC_G被供應到第三數據線D5、……。這里，在第二時段T2期間，與黑色數據信號對應的電壓作為檢查信號DC_R、DC_B和DC_G被供應。

當第一控制晶體管中的一個MC1a和第二控制晶體管中的一個MC2a被導通時，來自第三檢查線170c的檢查信號DC_G經由第一檢測線180a被供應到第二數據線D2。因此，第一檢測線180a的電壓從復位電源VR的電壓增大到檢查信號DC_G的電壓，也就是黑色數據信號的電壓。

當第一控制晶體管中的另一個MC1b和第二控制晶體管中的另一個MC2b被導通時，來自第三檢查線170c的檢查信號DC_G經由第二檢測線180b被供應到第m-1數據線Dm-1。因此，第二檢測線180b的電壓從復位電源VR的電壓增大到檢查信號DC_G的電壓，也就是黑色數據信號的電壓。

同時，在第二時段T2期間，掃描驅動器110將掃描信號順序供應到多條掃描線S1至Sn。因此，來自多條數據線D1至Dm的黑色數據信號以水平線為單位供應到像素R、G和B(例如以行供應)，因此，像素R、G和B顯示黑色的灰度級。另外，在第二時段T2期間，黑色數據信號的電壓可以僅被供應到第三檢查線170c。

如果面板102中尚未形成裂紋，則在第二時段T2期間，像素R、G和B顯示黑色的灰度級，如圖4A所示。

然而，如果面板102中已形成裂紋，則耦接至特定數據線D2和/或Dm-1的像素G發射預定灰度級的光，如圖4B和/或圖4C所示。更具體地說，如果面板102中產生裂紋，則檢測線180a和/或180b的電阻增大。如果檢測線180a和/或180b的電阻增大，則檢測線的電壓從復位電源VR的電壓增大到黑色數據信號的電壓的時間量也增加。

也就是說，當(或如果)面板102中形成裂紋時，檢測線180a或180b的電壓不會在第二時段T2期間增大到黑色數據信號的電壓，因此，耦接至特定數據線D2或Dm-1的像素G不顯示黑色的灰度級。因而，根據本公開的一個或多個實施例的顯示設備中，在裂紋檢查時段期間，面板102的裂紋可以通過利用耦接至特 定數據線D2和Dm-1的像素G的發光狀態來檢測。

另外，在根據本公開的一個或多個示例性實施例的顯示設備中，檢測線180a和180b的電壓通過復位晶體管MR1和MR2下降到復位電源VR的電壓，因而可以保證或提高操作的可靠性。例如，如果復位電源VR的電壓在第一時段T1期間沒有被供應到檢測線180a和180b，則即使面板102中形成裂紋，檢測線180a和180b的電壓也可以增大到黑色數據信號的電壓。

圖5是圖1所示的顯示區域和檢查單元的一個或多個示例性實施例的示意圖。在圖5中，相同的符號或附圖標記表示和圖2中的元件相同的元件，其附加描述可被省略。

參考圖5，在本公開的一些實施例中，檢查單元130的第三晶體管M3'可以被配置為雙柵晶體管。

更具體地說，被用來檢測面板102的裂紋的特定數據線D2和Dm-1中的每一條耦接至兩個晶體管MC1a和MC2a，或者MC1b和MC2b。這樣，當耦接至第三像素G的、不包括特定數據線D2和Dm-1的第三數據線D5、……中的每一條耦接至第三晶體管M3'中的一個時，點亮檢查的可靠性可能降低。換句話說，在點亮檢查時，耦接至特定數據線D2和Dm-1的第三像素G可以發射具有與耦接至第三數據線D5、……的像素G發射的光的亮度不同亮度的光。因而，在本公開的一些實施例中，通過將第三晶體管M3'配置為雙柵晶體管，耦接至特定數據線D2和Dm-1的第三像素G可以相對于耦接至第三數據線D5、……的像素G具有均勻亮度特性。

圖6是圖1所示的顯示區域和檢查單元的一個或多個示例性實施例的示意圖。在圖6中，相同的符號或附圖標記表示和圖2中的元件相同的元件，其附加描述可被省略。

參考圖6，在本公開的一些示例性實施例中，檢查單元130的第一晶體管M1'、第二晶體管M2'和第三晶體管M3'被配置為雙柵晶體管。

更具體地說，被用于檢測面板102的裂紋的特定數據線D2和Dm-1中的每一條耦接至兩個晶體管MC1a和MC2a，或者MC1b和MC2b，除了特定數據線D2和Dm-1之外的數據線耦接至第一晶體管M1、第二晶體管M2或第三晶體管M3。因此，在點亮檢查期間，在耦接至特定數據線D2和Dm-1的像素G與耦接至除了特定數據線D2和Dm-1之外的數據線的像素R、G和B之間可能產生亮度偏差。因此，在本公開的一些實施例中，通過將第一晶體管M1'、第二晶體管M2'和第三晶體管M3'配置為雙柵晶體管，像素R、G和B可具有均勻亮度特性。

圖7是根據本公開的一個或多個示例性實施例的顯示設備的示意圖。在圖7中，相同的符號或附圖標記表示和圖1中的元件相同的元件，其附加描述可被省略。

參考圖7，在一些實施例中，顯示設備可以進一步包括耦接在多條數據線D1至Dm和數據驅動器120之間的多路分配器單元190。

多路分配器單元190將由數據驅動器120供應到多條輸出線O1至Oi中的各條輸出線的多個數據信號供應到多條數據線。例如，多路分配器單元190可單獨地將被供應到第一輸出線O1的三個數據信號供應到第一數據線D1、第二數據線D2和第三數據線D3。

第一導線組150可進一步包括第五導線150e。第五導線150e可以將來自外部設備的多路復用器控制信號MCS供應到多路分配器單元190。在一些實施例中，第五導線150e可被配置為多條導線。

圖8是示出了圖7中所示的多路分配器單元的一個或多個實施例的圖。如圖8所示，在一些實施例中，多路分配器單元190可以包括三個開關元件SW1至SW3，但是本公開不限于此。例如，多路分配器單元190的開關元件可以被配置為兩個或更多個開關元件。

參考圖8，在一些實施例中，多路分配器單元190可包括第一開關元件SW1、第二開關元件SW2和第三開關元件SW3。

第一開關元件SW1耦接在第一數據線D1、D4、……、Dm-2中的相應數據線和數據驅動器120之間。第一開關元件SW1在它們接收到(或響應于)第一多路復用器控制信號MCS1時被導通。

第二開關元件SW2耦接在第二數據線D3、D6、……、Dm中的相應數據線和數據驅動器120之間。第二開關元件SW2在它們接收到第二多路復用器控制信號MCS2時被導通。

第三開關元件SW3耦接在第四數據線D2、D5、……、Dm-1中的每一條和數據驅動器120之間。第三開關元件SW3在它們接收到第三多路復用器控制信號MCS3時被導通。第四數據線D2、D5、……、Dm-1是指耦接至第三像素G的數據線(也就是第三數據線D5、……及特定數據線D2和Dm-1)。

在一個水平時段期間，第一至第三開關元件SW1至SW3依次或無順序地導通，并將供應到多條輸出線O1至Oi中的每條輸出線的三個數據信號供應到三條數據線(例如第一數據線、第二數據線和第四數據線)。

圖9是示出了根據本公開的一個或多個示例性實施例的用于檢查裂紋的方法 的圖。

參考圖9，在裂紋檢查時段的第一時段T1'期間，第三多路復用器控制信號MCS3由第三開關元件SW3接收，由此導通第三開關元件SW3。這樣，在第一時段T1'期間，來自數據驅動器120的白色數據信號DS(W)被供應到第三像素G。另外，在第一時段T1'期間，第一多路復用器控制信號MCS1和第二多路復用器控制信號MCS2可被順序地供應，從而不與第三多路復用器控制信號MCS3重疊。因此，來自數據驅動器120的白色數據信號被供應到第一像素R、第二像素B和第三像素G。

另外，在第一時段T1'期間，第一控制信號CS1被供應，由此復位晶體管MR1和MR2被導通。當復位晶體管MR1和MR2被導通時，復位電源VR的電壓被供應到檢測線180a和180b。也就是說，在第一時段T1'期間，檢測線180a和180b的電壓被初始化為復位電源VR的電壓。

在裂紋檢查時段的第二時段T2'期間，第二控制信號CS2被供應。當第二控制信號CS2被供應時，控制晶體管MC1a、MC1b、MC2a和MC2b、第一晶體管M1、第二晶體管M2、第三晶體管M3被導通。

當第一晶體管M1被導通時，第一檢查線170a耦接至第一數據線D1、D4、……、Dm-2，因此檢查信號DC_R被供應到第一數據線D1、D4、……、Dm-2。當第二晶體管M2被導通時，第二檢查線170b耦接至第二數據線D3、D6、……、Dm，因此檢查信號DC_B被供應到第二數據線D3、D6、……、Dm。當第三晶體管M3被導通時，第三檢查線170c耦接至第三數據線D5、……，因此檢查信號DC_G被供應到第三數據線D5、……。這里，在第二時段T2'期間，與黑色數據信號對應的電壓作為檢查信號DC_R、DC_B和DC_G被供應。另外，在第二時段T2'期間，黑色數據信號的電壓可以僅被供應到第三檢查線170c。

當第一控制晶體管中的一個MC1a和第二控制晶體管中的一個MC2a被導通時，來自第三檢查線170c的檢查信號DC_G經由第一檢測線180a被供應到第二數據線D2。因此，第一檢測線180a的電壓從復位電源VR的電壓增大到檢查信號DC_G的電壓，也就是黑色數據信號的電壓。

當第一控制晶體管中的另一個MC1b和第二控制晶體管中的另一個MC2b被導通時，來自第三檢查線170c的檢查信號DC_G經由第二檢測線180b被供應到第m-1數據線Dm-1。因此，第二檢測線180b的電壓從復位電源VR的電壓增大到檢查信號DC_G的電壓，也就是黑色數據信號的電壓。

同時，在第二時段T2'期間，掃描驅動器110將掃描信號順序供應到多條掃描 線S1至Sn。因此，來自多條數據線D1至Dm的黑色數據信號以水平線為單位供應到像素R、G和B(例如以行被供應到像素R、G和B)，因此，像素R、G和B顯示黑色的灰度級。

當(如果)面板102中尚未形成裂紋，則在第二時段T2'期間，像素R、G和B顯示黑色的灰度級，如圖4A所示。

然而，當(如果)面板102中已形成裂紋，則耦接至特定數據線D2和/或Dm-1的像素G發射一灰度級(例如預定灰度級)的光，如圖4B和/或圖4C所示。更具體地說，如果面板102中形成裂紋，則檢測線180a和/或180b的電阻增大。如果檢測線180a和/或180b的電阻增大，則檢測線的電壓從復位電源VR的電壓增大到黑色數據信號的電壓的時間段也增加。

也就是說，當面板102中產生裂紋時，檢測線180a或180b的電壓不會在第二時段T2'期間增大到黑色數據信號的電壓，因此，耦接至特定數據線D2或Dm-1的像素G不顯示黑色的灰度級。因而，根據本公開的一個或多個示例實施例，在裂紋檢查時段期間，面板102的裂紋可以通過利用耦接至特定數據線D2和Dm-1的像素G的發光狀態來檢測。

在一些實施例中，如上所述，晶體管可以被配置為PMOS晶體管，但是本公開不限于此。例如，在一些實施例中，晶體管可被配置為NMOS晶體管。

根據依照本公開的一個或多個實施例的顯示設備和檢查顯示設備的方法，面板的裂紋可以通過使用從面板的一側到面板的另一側形成的檢測線來檢測。特別是，在本公開的一些實施例中，復位電壓通過使用耦接至檢測線的復位晶體管被供應到檢測線，由此可以保證裂紋檢測的可靠性。

在本文中已經公開了示例實施例，并且盡管使用了特定的術語，但它們僅以一般和描述性的意思被使用和解釋，而不是為了限制的目的。在某些情況下，對本領域普通技術人員來說顯而易見的是，結合特定實施例描述的特征、特性和/或元件可以單獨使用，也可以和結合其它實施例描述的特征、特性和/或元件組合使用，除非另有明確說明。因此，本領域技術人員將理解，可以在不脫離所附權利要求及其等同方案中提出的本發明的精神和范圍的情況下，進行形式和細節上的各種改變。