專利名稱：一種取向調試基板的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及液晶顯示裝置的取向技術，尤其涉及一種取向調試基板。
背景技術：
近年來，液晶顯示技術快速發展并應用到許多領域，液晶顯示的原理為通過改變施加在液晶上的電壓改變液晶分子的旋轉角度，來控制偏振光旋轉方向，進而控制偏振光能否透過偏振片，從而實現液晶顯示裝置的顯示狀態的改變。為了使液晶分子在初始階段能更好的沿同一方向整齊的排列并具有最佳的傾角，需要在彩膜基板和陣列基板上涂覆一層取向膜，并對取向膜進行取向處理；目前取向技術主要有摩擦取向法、光控取向法、傾斜蒸鍍取向法等，其中應用最廣的是摩擦取向法。傳統的調試基板制作工藝為先在基板上鍍一層厚度為800i±200i的氧化銦錫 (ITO, Indium Tin Oxides)膜層，然后再涂敷一層厚度為600i± 150i的取向膜層。使用調試基板后，會對基板上的取向膜進行清洗，然后再在下次調試時涂敷取向膜，因此調試基板是循環使用的。這樣，在取向膜的反復涂敷和清洗過程中，會在基板上產生殘留物質，這將影響調試基板的表面平坦度，所以對于傳統的調試基板，使用一段時間后，調試基板的表面通常是不平整的，表面具有一定的高度差，因此取向布的毛發不能與調試基板充分接觸，從而影響調試基板的調試效果。

實用新型內容有鑒于此，本實用新型的主要目的在于提供一種取向調試基板，增加取向布中毛發與基板的接觸面積，提高取向工藝的均一性。為達到上述目的，本實用新型的技術方案是這樣實現的本實用新型提供一種取向調試基板，包括基板、平行的多個條狀凸起、取向膜；所述平行的多個條狀凸起位于所述基板上；所述取向膜位于所述基板和所述平行的多個條狀凸起上。上述取向調試基板中，所述平行的多個條狀凸起為金屬材料或感光材料。上述取向調試基板中，所述平行的多個條狀凸起中，最靠近基板邊緣的條狀凸起與基板的邊緣的距離為15cm土 Icm0上述取向調試基板中，所述平行的多個條狀凸起均勻分布在基板上，且所述平行的多個條狀凸起之間的距離為3cm 4cm。上述取向調試基板中，每個條狀凸起的截面形狀為梯形、或三角形、或矩形。上述取向調試基板中，所述凸起的條狀塊的厚度為2. 0mm±0. 2mm ;[0018]所述凸起的條狀塊的截面的最寬處的寬度為3. 4mm±0. 2mm。[0019]上述取向調試基板中，根據取向布的取向方向確定所述條狀凸起與所述基板中短邊的夾角以及所述條狀凸起的長度。[0020]上述取向調試基板中，所述條狀凸起與所述基板中短邊的夾角為O 90°。[0021]上述取向調試基板中，利用光刻工藝形成所述平行的多個條狀凸起。[0022]本實用新型提供的取向調試基板，包括基板、平行的多個條狀凸起、取向膜；所述平行的多個條狀凸起位于所述基板上；所述取向膜位于所述基板和所述平行的多個條狀凸起上，如此，在進行取向調試時，取向布上的毛發將有效的朝向同一方向，使毛發更加順直； 此外，相對于傳統工藝，利用本實用新型提供的取向調試基板，能夠增加取向布中毛發與基板的接觸面積，提高取向工藝的均一性，使液晶顯示裝置得到更好的均一性，進而實現更好的顯示特性。


圖I是本實用新型取向調試基板的截面示意圖；[0024]圖2是本實用新型中基板上形成平行的多個條狀凸起后的平面示意圖；[0025]附圖標記說明[0026]10 :基板11 :條狀凸起[0027]12:取向膜13:取向布[0028]H :條狀凸起的厚度[0029]M :條狀凸起的截面的最寬處的寬度具體實施方式
[0030]下面通過附圖及具體實施例對本實用新型再做進一步的詳細說明。[0031]本實用新型提供一種取向調試基板，圖I是本實用新型取向調試基板的截面示意圖，如圖I所示，該取向調試基板包括基板10、平行的多個條狀凸起11、取向膜12 ;其中， 所述平行的多個條狀凸起11位于基板10上，所述取向膜12位于所述基板10和平行的多個條狀凸起11上。[0032]其中，平行的多個條狀凸起11可以為金屬材料或感光材料；如果平行的多個條狀凸起11為金屬材料，可以使用鋁、鑰等金屬；如果平行的多個條狀凸起11為感光材料，可以使用光刻膠、銦錫金屬氧化物(ITO, Indium Tin Oxides)等。[0033]其中，所述平行的多個條狀凸起11中，最靠近基板10邊緣的條狀凸起11與基板 10的邊緣的距離為15cm±lcm，平行的多個條狀凸起11均勻分布在基板10上，且平行的多個條狀凸起11之間的距離為3cm 4cm ;所述條狀凸起11的截面形狀可以為梯形、三角形、 矩形等；以圖I中所示的條狀凸起11為梯形為例，所述條狀凸起的厚度H為2. 0mm±0. 2mm, 條狀凸起11的截面的最寬處的寬度M為3. 4mm±0. 2mm。[0034]圖2是本實用新型中基板上形成平行的多個條狀凸起后的平面示意圖，需要根據取向布13的取向方向確定條狀凸起11與基板10中短邊的夾角以及條狀凸起11的長度， 即要求平行的多個條狀凸起11與取向布13的取向方向平行，所述條狀凸起11與基板10 中短邊的夾角可以為O 90°，如圖2所示，對于常用的1300mm*IIOOmm尺寸的基板10，取向布13的取向方向為0°時，條狀凸起11與基板10中長度為IlOOmm的短邊的夾角為0°，與基板10中長度為1300_的長邊垂直，條狀凸起11的長度等于短邊的長度，即為IlOOmm ;取向布13的取向方向為45°時，條狀凸起11與基板10中長度為1300mm的長邊的夾角為45°，與基板10中長度為IlOOmm的短邊的夾角也為45°，條狀凸起11的長度為-Jl χ短邊長度，即為X 1100mm，約為1555_。本實用新型中，可以利用光刻工藝形成所述平行的多個條狀凸起11。本實用新型中，在涂覆取向膜12之前，在基板10上形成多個條狀凸起11，如此，在進行取向調試時，取向布13上的毛發將有效的朝向同一方向，使毛發更加順直；此外，相對于傳統工藝，利用本實用新型提供的取向調試基板，能夠增加取向布13中毛發與基板10的接觸面積，提高取向工藝的均一性，使液晶顯示裝置得到更好的均一性，進而實現更好的顯示特性。以上所述，僅為本實用新型的較佳實施例而已，并非用于限定本實用新型的保護 范圍，凡在本實用新型的精神和原則之內所作的任何修改、等同替換和改進等，均應包含在本實用新型的保護范圍之內。
權利要求1.一種取向調試基板，其特征在于，該取向調試基板包括基板、平行的多個條狀凸起、取向膜；所述平行的多個條狀凸起位于所述基板上；所述取向膜位于所述基板和所述平行的多個條狀凸起上。
2.根據權利要求I所述的取向調試基板，其特征在于，所述平行的多個條狀凸起為金屬材料或感光材料。
3.根據權利要求I所述的取向調試基板，其特征在于，所述平行的多個條狀凸起中，最靠近基板邊緣的條狀凸起與基板的邊緣的距離為 15cm土 Icm0
4.根據權利要求3所述的取向調試基板，其特征在于，所述平行的多個條狀凸起均勻分布在基板上，且所述平行的多個條狀凸起之間的距離為 3cm 4cm。
5.根據權利要求4所述的取向調試基板，其特征在于，每個條狀凸起的截面形狀為梯形、或三角形、或矩形。
6.根據權利要求4所述的取向調試基板，其特征在于，所述凸起的條狀塊的厚度為2. 0mm±0. 2mm ；所述凸起的條狀塊的截面的最寬處的寬度為3. 4mm±0. 2mm。
7.根據權利要求I所述的取向調試基板，其特征在于，根據取向布的取向方向確定所述條狀凸起與所述基板中短邊的夾角以及所述條狀凸起的長度。
8.根據權利要求7所述的取向調試基板，其特征在于，所述條狀凸起與所述基板中短邊的夾角為O 90°。
9.根據權利要求I至8任一項所述的取向調試基板，其特征在于，利用光刻工藝形成所述平行的多個條狀凸起。
專利摘要本實用新型公開一種取向調試基板，該取向調試基板包括基板、平行的多個條狀凸起、取向膜；所述平行的多個條狀凸起位于所述基板上；所述取向膜位于所述基板和所述平行的多個條狀凸起上。根據本實用新型的技術方案，增加取向布中毛發與基板的接觸面積，提高取向工藝的均一性。
文檔編號G02F1/1337GK202661755SQ20122022195
公開日2013年1月9日 申請日期2012年5月16日 優先權日2012年5月16日
發明者李輝, 趙承潭, 邵勇 申請人:北京京東方光電科技有限公司