本發明涉及一種光學儀器用玻璃配件的拋光設備。

背景技術：

目前市面上的光學玻璃拋光儀器一般包括物理拋光與化學拋光兩組設備，設備間缺乏聯動，且每次只能拋光一枚玻璃片或玻璃塊，需要專人逐一操作，生產過程較為不便。

技術實現要素：

本發明的目的是為克服上述問題，提出一種拋光設備，通過轉盤整合了曲面拋光、異型面拋光以及化學拋光設備，同時整合了檢測機，使生產過程自動化，節約了人力物力。

本發明的技術方案一種拋光設備，包括上方帶有隔離罩的機架，機架內設置驅動設備，所述機架上固化轉盤，轉盤外緣開設等間距的4個工件位，其上方沿轉盤的旋轉方向依次對應有：

用于進入的進料組件，包括一固定在機架上的軸座、設置在軸座上可轉動及升降的抓臂，抓手設置在抓臂端部；通過抓臂將待拋光原料裝入工位；

用于曲面拋光的曲面拋光組件，包括一組x軸、z軸氣缸，其中x軸氣缸的推動端連接C形的拋光模以及可伸縮的打磨板，以及固定在機架上的轉座，拋光模一側設置一噴涂裝置；裝料時，打磨板收縮，與拋光模之間的空間增大，待物料裝入后，打磨板伸展，使物料緊貼拋光模，打磨板兩側可以設置兩個位置傳感器，以探測是否到達工位；之后，將物料插入底部的轉座模具內，打磨板調節至合適位置，噴涂口噴霧，同時轉座轉動進行拋光過程。

用于異性反射面拋光的異形面拋光組件，包括一組x軸、z軸氣缸以及托架組成的推動裝置，電機固定在托架上，其輸出軸連接拋光頭，通過拋光頭拋光指定位置；

用于出料及檢測的出料組件，包括一固定在機架上的軸座、設置在軸座上可轉動及升降的抓臂，抓手設置在抓臂端部；一拋光檢測設備，包括一檢測倉，具有兩個檢測位以及一個卸料口；其中，檢測位底部設置具有內部空間及光源的濾光座，其側部開設有與外部連通的探測孔，檢測位一端設有與其配合的光學探測器，所述探測器固定在氣缸座上，其上方設置可橫向、縱向移動的夾具，利用夾具轉移至卸料口，如果不合格則移入不合格區；卸料口底部與外部連通。檢測時，抓手將物料裝入檢測位，裝入后，抓臂覆蓋檢測位頂部遮光，濾光座內光源點亮，探頭自開孔進入探測反射率，通過不同光源發射的波長不同的光測試是否合格。

進一步的，為了進行內部拋光，異形面拋光組件的拋光頭為分為內徑不同的若干段，以深入原料內部。

進一步的，為了不影響異形拋光過程，曲面拋光組件與曲面拋光組件之間還設置風口，用于風干霧化的拋光液，其中風口指向曲面拋光組件工位。

進一步的，為了便于拋光液噴涂，使噴涂均勻，曲面拋光組件的噴涂裝置為柱狀，噴涂面呈凹弧形，表面均勻分布霧化噴涂口。

進一步的，為了減少粉塵污染，曲面拋光組件與異形面拋光組件設置在隔離罩內，所述隔離罩一側開設連通門。

附圖說明

圖1是本發明內的結構示意圖。

圖2是本發明的側視圖。

具體實施方式

為了使本發明實現的技術手段、創作特征、達成目的與功效易于明白了解，下面結合圖示，進一步闡述上述技術方案。

一拋光設備，包括上方帶有隔離罩4的機架1，機架1內設置驅動設備，所述機架1上固化轉盤2，轉盤2外緣開設等間距的四個工件位3，其上方沿轉盤2的旋轉方向依次對應

進料組件，包括一固定在機架上的軸座11、設置在軸座11上可轉動及升降的抓臂12，抓手設置在抓臂端部；

曲面拋光組件，包括一組x軸、z軸氣缸，其中x軸氣缸21的推動端連接C形的拋光模22以及打磨板23，以及固定在機架1上的轉座24，拋光模22一側設置一噴涂裝置25；

異形面拋光組件，包括一組x軸、z軸氣缸35以及托架36組成的推動裝置，電機37固定在托架36上，其輸出軸連接拋光頭38；

出料組件，包括一固定在機架上的軸座41、設置在軸座41上可轉動及升降的抓臂42，抓手設置在抓臂端部；一拋光檢測設備，包括一檢測倉43，具有兩個檢測位44以及一個卸料口45；其中，檢測位44底部設置具有內部空間及光源的濾光座，其側部開設有兩個與外部連通的探測孔，檢測位一端設有與其配合的光學探測器46，所述探測器固定在氣缸座47上，取出位上方設置可橫向、縱向移動的夾具48；卸料口45底部與外部連通。

異形面拋光組件的拋光頭38為分為內徑不同的若干段。

曲面拋光組件與曲面拋光組件之間還設置風口26，風口26指向曲面拋光組件工位。

曲面拋光組件的噴涂裝置25為柱狀，噴涂面呈凹弧形，表面均勻分布霧化噴涂口。

曲面拋光組件與異形面拋光組件設置在隔離罩4內，所述隔離罩4一側開設連通門。

以上顯示和描述了本發明的基本原理、主要特征和本發明的優點。本行業的技術人員應該了解，本發明不受上述實施例的限制，上述實施例和說明書中描述的只是說明本發明的原理，在不脫離本發明精神和范圍的前提下本發明還會有各種變化和改進，這些變化和改進都落入要求保護的本發明范圍內。本發明要求保護范圍由所附的權利要求書及其等同物界定。