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一種SIC芯片定點(diǎn)切割的工具的制作方法

文檔序號(hào):41730543發(fā)布日期:2025-04-25 17:02閱讀:4來(lái)源:國(guó)知局
一種SIC芯片定點(diǎn)切割的工具的制作方法

本發(fā)明涉及芯片加工工具,尤其涉及一種sic芯片定點(diǎn)切割的工具。


背景技術(shù):

1、在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,sic(碳化硅)晶圓因其優(yōu)異的物理和化學(xué)特性,如高電子遷移率、高熱導(dǎo)率、耐高溫和抗輻射等,被廣泛應(yīng)用于高溫、高頻、大功率電子設(shè)備中。然而,sic晶圓的制作過(guò)程存在一些技術(shù)挑戰(zhàn),特別是在晶圓的切割和加工方面。

2、傳統(tǒng)的sic晶圓切割技術(shù),如激光切割、砂輪切割等,對(duì)于特定方向的晶圓(如<100>方向)較為有效。然而,對(duì)于非<100>方向的sic晶圓,尤其是4h-sic晶圓,這些技術(shù)在x和y方向的解離性能上存在顯著差異。特別是對(duì)于尺寸僅為20um左右的微小結(jié)構(gòu),這些傳統(tǒng)切割技術(shù)難以實(shí)現(xiàn)精確的定點(diǎn)解離,而且往往需要后續(xù)的研磨工藝來(lái)進(jìn)一步加工,這在某些應(yīng)用中是不允許的,例如在光刻膠、pim(等離子體刻蝕模擬)等工藝中。

3、為了解決這一問(wèn)題,目前業(yè)界主要采用兩種方法:第一種是肉眼觀察并隨機(jī)切割的方法。然而,這種方法的成功率極低,尤其是在4h-sic晶圓的y方向上,成功率僅為約10%。第二種方法是使用fib(聚焦離子束)技術(shù)來(lái)制樣,fib技術(shù)能夠?qū)崿F(xiàn)高精度的切割,但其設(shè)備成本高昂,且操作復(fù)雜,對(duì)于沒(méi)有fib設(shè)備的半導(dǎo)體工廠來(lái)說(shuō),需要將樣品外送,這不僅增加了成本,而且時(shí)效性較差。

4、因此,為了實(shí)現(xiàn)對(duì)微小結(jié)構(gòu)的定點(diǎn)切割解離以及降低成本,我們提出一種sic芯片定點(diǎn)切割的工具。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的是為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在成功率極低以及加工成本較高等缺點(diǎn),而提出的一種sic芯片定點(diǎn)切割的工具。

2、為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用了如下技術(shù)方案:

3、設(shè)計(jì)一種sic芯片定點(diǎn)切割的工具,包括:

4、底座以及安裝于所述底座上的切割裝置;

5、其中位于所述底座的上方還設(shè)置有在載臺(tái)座,所述載臺(tái)座的上方滑動(dòng)連接有樣品座,所述載臺(tái)座上設(shè)置有用于驅(qū)使所述樣品座移動(dòng)的驅(qū)動(dòng)組件;

6、在所述樣品座的內(nèi)側(cè)轉(zhuǎn)動(dòng)連接有樣品臺(tái),所述樣品座的側(cè)邊設(shè)置有控制所述樣品臺(tái)周向轉(zhuǎn)動(dòng)的調(diào)節(jié)組件,所述樣品臺(tái)位于所述切割裝置的下方。

7、進(jìn)一步的,所述載臺(tái)座呈框架式結(jié)構(gòu)、且與所述底座可拆卸連接,在所述載臺(tái)座的內(nèi)側(cè)間隔安裝有兩個(gè)支撐板,所述樣品座通過(guò)導(dǎo)軌以及滑塊組件滑動(dòng)連接在兩個(gè)支撐板的上方。

8、進(jìn)一步的,所述驅(qū)動(dòng)組件包括貫穿至所述載臺(tái)座兩側(cè)的軸桿,所述軸桿與所述載臺(tái)座轉(zhuǎn)動(dòng)連接;

9、其中位于所述軸桿的外側(cè)固定安裝有至少一個(gè)齒輪,所述樣品座的底部固定有與所述齒輪嚙合的齒條。

10、進(jìn)一步的,所述軸桿的端部套設(shè)有一握套,所述握套與軸桿活動(dòng)插接且周向鎖止;

11、所述握套的內(nèi)側(cè)與所述軸桿的端部之間固定連接有彈簧,所述握套的端部以及所述載臺(tái)座的端面上均具有摩擦件。

12、進(jìn)一步的,所述樣品臺(tái)的端面上具有容納芯片的容納槽;

13、所述樣品座呈框架式結(jié)構(gòu),在所述樣品座的內(nèi)側(cè)固定安裝有一固定板,所述樣品座通過(guò)軸桿與所述固定板轉(zhuǎn)動(dòng)連接。

14、進(jìn)一步的,所述調(diào)節(jié)組件包括螺紋連接在所述樣品座兩側(cè)的兩個(gè)螺桿,兩個(gè)所述螺桿分別分布在所述樣品座兩側(cè)的上側(cè)以及下側(cè),所述螺桿的端部抵觸所述樣品臺(tái)的側(cè)邊,其中所述樣品臺(tái)的兩側(cè)還設(shè)置有彈性結(jié)構(gòu)。

15、進(jìn)一步的,所述彈性結(jié)構(gòu)包括固定安裝在所述樣品臺(tái)側(cè)邊的套管,在所述套管的內(nèi)側(cè)活動(dòng)插接有頂桿,所述頂桿的內(nèi)端與所述套管的內(nèi)壁之間固定連接有壓簧,所述頂桿的端部抵觸所述樣品座的內(nèi)壁。

16、進(jìn)一步的,所述切割裝置包括上支撐座以及下支撐座,所述上支撐座與所述下支撐座的兩側(cè)之間分別連接有支腳,所述支腳的底端與所述底座相連接,其中在所述上支撐座和所述下支撐座之間穿設(shè)有刀具,所述上支撐座上設(shè)置有用于驅(qū)使所述刀具上下移動(dòng)的調(diào)整部件。

17、進(jìn)一步的,所述調(diào)整部件包括固定在所述上支撐座頂部的若干連接臂,若干所述連接臂的頂部之間固定連接有安裝板;

18、其中所述安裝板的中部螺紋連接有調(diào)節(jié)螺桿,所述調(diào)節(jié)螺桿的底端轉(zhuǎn)動(dòng)連接有連接套,所述連接套通過(guò)緊固件與所述刀具的頂部套設(shè)并鎖止。

19、進(jìn)一步的,所述底座的頂部四角分布有若干連接桿,所述載臺(tái)座的端面上開(kāi)設(shè)有定位孔,所述連接桿與所述定位孔插接適配,并通過(guò)螺母鎖止固定。

20、本發(fā)明提出的一種sic芯片定點(diǎn)切割的工具,有益效果在于:本發(fā)明中的工具可適用于解離面垂直的邊是平的方形和不規(guī)則的sic殘片的定點(diǎn)切割,可解決傳統(tǒng)sic晶圓切割中,um左右結(jié)構(gòu)的定點(diǎn)切割成功率低的問(wèn)題,整體結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單成本低,只需將晶圓樣品放置在容納槽中,通過(guò)調(diào)整刀具的高度以及控制樣品臺(tái)的行進(jìn)即可,便于對(duì)晶圓的切割操作控制。



技術(shù)特征:

1.一種sic芯片定點(diǎn)切割的工具,其特征在于,包括:

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種sic芯片定點(diǎn)切割的工具,其特征在于:所述載臺(tái)座(3)呈框架式結(jié)構(gòu)、且與所述底座(1)可拆卸連接,在所述載臺(tái)座(3)的內(nèi)側(cè)間隔安裝有兩個(gè)支撐板(31),所述樣品座(4)通過(guò)導(dǎo)軌以及滑塊組件滑動(dòng)連接在兩個(gè)支撐板(31)的上方。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種sic芯片定點(diǎn)切割的工具,其特征在于:所述驅(qū)動(dòng)組件(5)包括貫穿至所述載臺(tái)座(3)兩側(cè)的軸桿(51),所述軸桿(51)與所述載臺(tái)座(3)轉(zhuǎn)動(dòng)連接;

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種sic芯片定點(diǎn)切割的工具,其特征在于:所述軸桿(51)的端部套設(shè)有一握套(54),所述握套(54)與軸桿(51)活動(dòng)插接且周向鎖止;

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種sic芯片定點(diǎn)切割的工具,其特征在于:所述樣品臺(tái)(6)的端面上具有容納芯片的容納槽(61);

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種sic芯片定點(diǎn)切割的工具,其特征在于:所述調(diào)節(jié)組件(7)包括螺紋連接在所述樣品座(4)兩側(cè)的兩個(gè)螺桿(71),兩個(gè)所述螺桿(71)分別分布在所述樣品座(4)兩側(cè)的上側(cè)以及下側(cè),所述螺桿(71)的端部抵觸所述樣品臺(tái)(6)的側(cè)邊,其中所述樣品臺(tái)(6)的兩側(cè)還設(shè)置有彈性結(jié)構(gòu)。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種sic芯片定點(diǎn)切割的工具,其特征在于:所述彈性結(jié)構(gòu)包括固定安裝在所述樣品臺(tái)(6)側(cè)邊的套管(72),在所述套管(72)的內(nèi)側(cè)活動(dòng)插接有頂桿(73),所述頂桿(73)的內(nèi)端與所述套管(72)的內(nèi)壁之間固定連接有壓簧(74),所述頂桿(73)的端部抵觸所述樣品座(4)的內(nèi)壁。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種sic芯片定點(diǎn)切割的工具,其特征在于:所述切割裝置(2)包括上支撐座(21)以及下支撐座(22),所述上支撐座(21)與所述下支撐座(22)的兩側(cè)之間分別連接有支腳(23),所述支腳(23)的底端與所述底座(1)相連接,其中在所述上支撐座(21)和所述下支撐座(22)之間穿設(shè)有刀具(24),所述上支撐座(21)上設(shè)置有用于驅(qū)使所述刀具(24)上下移動(dòng)的調(diào)整部件。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種sic芯片定點(diǎn)切割的工具,其特征在于:所述調(diào)整部件包括固定在所述上支撐座(21)頂部的若干連接臂(25),若干所述連接臂(25)的頂部之間固定連接有安裝板(26);

10.根據(jù)權(quán)利要求1-9中任一項(xiàng)所述的一種sic芯片定點(diǎn)切割的工具,其特征在于:所述底座(1)的頂部四角分布有若干連接桿(11),所述載臺(tái)座(3)的端面上開(kāi)設(shè)有定位孔,所述連接桿(11)與所述定位孔插接適配,并通過(guò)螺母鎖止固定。


技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及芯片加工工具技術(shù)領(lǐng)域,尤其是一種SIC芯片定點(diǎn)切割的工具,包括:底座以及安裝于所述底座上的切割裝置;其中位于所述底座的上方還設(shè)置有在載臺(tái)座,所述載臺(tái)座的上方滑動(dòng)連接有樣品座,所述載臺(tái)座上設(shè)置有用于驅(qū)使所述樣品座移動(dòng)的驅(qū)動(dòng)組件;在所述樣品座的內(nèi)側(cè)轉(zhuǎn)動(dòng)連接有樣品臺(tái),所述樣品座的側(cè)邊設(shè)置有控制所述樣品臺(tái)周向轉(zhuǎn)動(dòng)的調(diào)節(jié)組件,本發(fā)明中的工具可適用于解離面垂直的邊是平的方形和不規(guī)則的SiC殘片的定點(diǎn)切割,可解決傳統(tǒng)SiC晶圓切割中,um左右結(jié)構(gòu)的定點(diǎn)切割成功率低的問(wèn)題,整體結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單成本低,只需將晶圓樣品放置在容納槽中,通過(guò)調(diào)整刀具的高度以及控制樣品臺(tái)的行進(jìn)即可,便于對(duì)晶圓的切割操作控制。

技術(shù)研發(fā)人員:徐科偉,楊浩,高前程
受保護(hù)的技術(shù)使用者:江蘇昕感科技有限責(zé)任公司
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2025/4/24
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