本技術(shù)涉及電子制造，具體涉及一種可靠性試驗(yàn)箱用老化置物架。

背景技術(shù)：

1、環(huán)氧樹脂組合物在生產(chǎn)過程中需要將樣品放置在可靠性試驗(yàn)箱中進(jìn)行老化試驗(yàn)，以驗(yàn)證其耐久性與穩(wěn)定性，并判斷其可靠性。在老化試驗(yàn)過程中，通常將多個樣品排列在試驗(yàn)框架中，并將試驗(yàn)框架放置在托盤內(nèi)，將托盤擺放在試驗(yàn)箱中進(jìn)行試驗(yàn)。

2、由于托盤尺寸有限，使用托盤放置試驗(yàn)框架時(shí)，由于試驗(yàn)框架不可以堆疊，則每個托盤內(nèi)僅可以平鋪一層試驗(yàn)框架，一層五片，一個標(biāo)準(zhǔn)尺寸的試驗(yàn)箱中至多可以擺放三個托盤，總共15片試驗(yàn)框架進(jìn)行試驗(yàn)。這種放置方式使得試驗(yàn)箱的單次試驗(yàn)量較少，每批次樣品需要進(jìn)行多次老化試驗(yàn)，延長了實(shí)驗(yàn)整體周期，且使試驗(yàn)箱的電力能源損耗較大。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本實(shí)用新型的目的在于提供一種可靠性試驗(yàn)箱用老化置物架，以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案：一種可靠性試驗(yàn)箱用老化置物架，適用于試驗(yàn)框架，包括：底座，所述底座兩側(cè)各設(shè)置一支架，所述支架開設(shè)若干豎槽，兩個所述支架上對稱設(shè)置的兩個所述豎槽配合形成一承托結(jié)構(gòu)，所述承托結(jié)構(gòu)用于豎立擺放所述試驗(yàn)框架。

3、優(yōu)選的，所述支架為板狀結(jié)構(gòu)，并設(shè)置于所述底座兩側(cè)作為側(cè)板。

4、優(yōu)選的，所述底座為板狀結(jié)構(gòu)，并與所述側(cè)板通過螺絲相連。

5、優(yōu)選的，兩個所述支架之間設(shè)置把手，所述把手為橫桿。

6、優(yōu)選的，所述橫桿位于所述支架的側(cè)邊處，并與所述支架通過螺絲相連。

7、優(yōu)選的，所述底座的長、寬、厚度分別為134mm、50mm、8mm。

8、優(yōu)選的，所述支架的長、寬、高分別為250mm、8mm、100mm。

9、優(yōu)選的，所述豎槽的槽寬為5mm、槽深為92mm。

10、優(yōu)選的，相鄰兩個豎槽之間的間距為10mm。

11、優(yōu)選的，所述橫桿的長、寬、高分別為134mm、8mm、8mm。

12、該可靠性試驗(yàn)箱用老化置物架具備以下有益效果：

13、該可靠性試驗(yàn)箱用老化置物架，將試驗(yàn)框架豎立擺放在豎槽中，使得若干試驗(yàn)框架可以集中放置并相互獨(dú)立，相較于在托盤上平鋪試驗(yàn)框架的方式，單個置物架在不堆疊試驗(yàn)框架的情況下可以容納更多的試驗(yàn)框架，使得試驗(yàn)箱的單次試驗(yàn)量增加，可以明顯縮短實(shí)驗(yàn)整體周期，并節(jié)省電力能源。

技術(shù)特征：

1.一種可靠性試驗(yàn)箱用老化置物架，適用于試驗(yàn)框架，其特征在于：包括：底座(1)，所述底座(1)兩側(cè)各設(shè)置一支架(2)，所述支架(2)開設(shè)若干豎槽(3)，兩個所述支架(2)上對稱設(shè)置的兩個所述豎槽(3)配合形成一承托結(jié)構(gòu)，所述承托結(jié)構(gòu)用于豎立擺放所述試驗(yàn)框架。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種可靠性試驗(yàn)箱用老化置物架，其特征在于：所述支架(2)為板狀結(jié)構(gòu)，并設(shè)置于所述底座(1)兩側(cè)作為側(cè)板。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種可靠性試驗(yàn)箱用老化置物架，其特征在于：所述底座(1)為板狀結(jié)構(gòu)，并與所述側(cè)板通過螺絲相連。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種可靠性試驗(yàn)箱用老化置物架，其特征在于：兩個所述支架(2)之間設(shè)置把手(4)，所述把手(4)為橫桿。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種可靠性試驗(yàn)箱用老化置物架，其特征在于：所述橫桿位于所述支架(2)的側(cè)邊處，并與所述支架(2)通過螺絲相連。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種可靠性試驗(yàn)箱用老化置物架，其特征在于：所述底座(1)的長、寬、厚度分別為134mm、50mm、8mm。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種可靠性試驗(yàn)箱用老化置物架，其特征在于：所述支架(2)的長、寬、高分別為250mm、8mm、100mm。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種可靠性試驗(yàn)箱用老化置物架，其特征在于：所述豎槽(3)的槽寬為5mm、槽深為92mm。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種可靠性試驗(yàn)箱用老化置物架，其特征在于：相鄰兩個豎槽(3)之間的間距為10mm。

10.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種可靠性試驗(yàn)箱用老化置物架，其特征在于：所述橫桿的長、寬、高分別為134mm、8mm、8mm。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)涉及電子制造技術(shù)領(lǐng)域，且公開了一種可靠性試驗(yàn)箱用老化置物架，適用于試驗(yàn)框架，包括：底座，底座兩側(cè)各設(shè)置一支架，支架開設(shè)若干豎槽，兩個支架上對稱設(shè)置的兩個豎槽配合形成一承托結(jié)構(gòu)，承托結(jié)構(gòu)用于豎立擺放試驗(yàn)框架，支架為板狀結(jié)構(gòu)，并設(shè)置于底座兩側(cè)作為側(cè)板，底座為板狀結(jié)構(gòu)，并與側(cè)板通過螺絲相連。該可靠性試驗(yàn)箱用老化置物架，將試驗(yàn)框架豎立擺放在豎槽中，使得若干試驗(yàn)框架可以集中放置并相互獨(dú)立，相較于在托盤上平鋪試驗(yàn)框架的方式，單個置物架在不堆疊試驗(yàn)框架的情況下可以容納更多的試驗(yàn)框架，使得試驗(yàn)箱的單次試驗(yàn)量增加，可以明顯縮短實(shí)驗(yàn)整體周期，并節(jié)省電力能源。

技術(shù)研發(fā)人員：顧海勇,蘇劍,陸海平,周凱,謝廣超
受保護(hù)的技術(shù)使用者：上海道宜半導(dǎo)體材料有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240617
技術(shù)公布日：2025/4/28