本技術涉及光學透鏡檢測，具體涉及一種光學透鏡自動檢測設備。

背景技術：

1、液態硅膠光學透鏡，產品透明，材質直徑小且結構復雜，在現有的光學鏡頭檢測過程中，通常由人工進行全檢，對透鏡的缺陷和外觀進行逐一檢查，檢測無缺陷的產品在進行下一步的操作，將透鏡與邊料進行拆分，作業人員在進行操作時，容易拆邊殘留的物料留在透鏡上，造成透鏡的污染和損壞，不僅需要耗費巨大的人力進行檢測和剔除，還容易造成透鏡的損壞。

2、因此，現如今急需提供一種光學透鏡自動檢測設備，以此來解決上述問題。

技術實現思路

1、本實用新型的目的是克服現有技術的不足和缺陷，提供一種光學透鏡自動檢測設備，完成了對產品的自動上料、檢測和剔除，提高了檢測效率和檢測精度。

2、本實用新型的目的是通過以下技術方案來實現的：

3、一種光學透鏡自動檢測設備，其特征在于，包括：

4、機架，依次設有分料工位、上料工位、檢測剔除工位和下料工位；

5、分料機構，設于所述分料工位上，所述分料機構包括支架、振動盤和振動輸送軌道，所述振動盤和所述振動輸送軌道均設于所述支架上端，所述振動盤的輸出端與所述振動輸送軌道連接；

6、上料機構，設于所述上料工位，所述上料機構與所述振動輸送軌道連接；

7、轉盤檢測機構，設于所述機架上端，所述轉盤檢測機構包括轉盤機構、檢測機構和剔除機構，所述轉盤機構與所述上料機構相切設置；所述檢測機構和所述剔除機構均設于所述檢測剔除工位上，且所述檢測機構和所述剔除機構均設于所述轉盤機構上端；所述檢測機構和剔除機構均設有多組，一組所述剔除機構對應一組所述檢測機構設置，所述檢測機構用以對產品進行缺陷檢測，所述剔除機構用以對存在缺陷的產品進行剔除；

8、下料機構，設于所述下料工位，所述下料機構用以對完成全部檢測后的產品進行下料。

9、可選地，所述上料機構包括固定架、驅動電機和皮帶輪組件，所述固定架設于所述分料機構和轉盤機構之間，所述皮帶輪組件連接于所述固定架，所述驅動電機驅動連接于所述皮帶輪組件。

10、可選地，所述上料機構還包括阻擋組件，所述阻擋組件設于所述皮帶輪組件上方，用以對產品進行位置進行調整。

11、可選地，所述檢測機構包括連接架、驅動組件和檢測組件，所述連接架設于所述轉盤機構的上方，所述驅動組件連接于所述連接架，所述檢測組件連接于所述驅動組件，所述驅動組件用以驅動所述檢測組件沿靠近或遠離所述轉盤機構的方向進行移動；所述剔除機構鄰近所述檢測組件設置。

12、可選地，所述檢測組件配置為ccd相機。

13、可選地，所述檢測機構還包括照明組件，所述照明組件連接于所述檢測組件，且所述照明組件和所述檢測組件均與所述驅動組件連接，所述照明組件用以照射位于所述轉盤機構上的產品。

14、可選地，所述轉盤檢測機構還包括收集箱，所述收集箱鄰近于所述剔除機構設置，所述收集箱用以儲存剔除后的產品。

15、可選地，所述轉盤機構包括分割器和轉盤；所述分割器與所述轉盤連接，用以驅動所述轉盤轉動，所述轉盤上間隔設有多個放置位。

16、可選地，所述光學透鏡自動檢測設備還包括觸發光柵，所述觸發光柵設于所述上料機構末端，所述轉盤檢測機構與所述觸發光柵電連接。

17、與現有技術相比，本實用新型具有如下的有益效果：

18、本實用新型中，該光學透鏡自動檢測設備包括機架、分料機構、上料機構、轉盤檢測機構和下料機構；該機架上依次設有分料工位、上料工位、檢測剔除工位和下料工位；分料機構設于分料工位上，且分料機構包括支架、振動盤和振動輸送軌道，振動盤能夠實現自動分料以及有序地上料，完成產品的分料和輸料；上料機構設于上料工位，且上料機構與振動輸送軌道連接，上料機構用以運送產品；轉盤檢測機構包括轉盤機構、檢測機構和剔除機構，其中轉盤機構與上料機構相切設置，檢測機構和剔除機構均設于檢測剔除工位上，且檢測機構和剔除機構均設于轉盤機構上端，檢測機構用以對產品進行缺陷檢測，剔除機構用以對存在缺陷的產品進行剔除處理；檢測機構和剔除機構均設有多組，且一組檢測機構對應一組剔除機構設置，多組檢測機構對產品進行不同缺陷的檢測，存在其中某一處缺陷的產品被該組檢測機構旁的剔除機構剔除；通過上述組件和機構的設置，完成了對產品的自動上料、檢測和剔除，提高了檢測效率和檢測精度。

技術特征：

1.一種光學透鏡自動檢測設備，其特征在于，包括：

2.根據權利要求1所述的一種光學透鏡自動檢測設備，其特征在于，所述上料機構包括固定架、驅動電機和皮帶輪組件，所述固定架設于所述分料機構和轉盤機構之間，所述皮帶輪組件連接于所述固定架，所述驅動電機驅動連接于所述皮帶輪組件。

3.根據權利要求2所述的一種光學透鏡自動檢測設備，其特征在于，所述上料機構還包括阻擋組件，所述阻擋組件設于所述皮帶輪組件上方，用以對產品進行位置進行調整。

4.根據權利要求1所述的一種光學透鏡自動檢測設備，其特征在于，所述檢測機構包括連接架、驅動組件和檢測組件，所述連接架設于所述轉盤機構的上方，所述驅動組件連接于所述連接架，所述檢測組件連接于所述驅動組件，所述驅動組件用以驅動所述檢測組件沿靠近或遠離所述轉盤機構的方向進行移動；所述剔除機構鄰近所述檢測組件設置。

5.根據權利要求4所述的一種光學透鏡自動檢測設備，其特征在于，所述檢測組件配置為ccd相機。

6.根據權利要求5所述的一種光學透鏡自動檢測設備，其特征在于，所述檢測機構還包括照明組件，所述照明組件連接于所述檢測組件，且所述照明組件和所述檢測組件均與所述驅動組件連接，所述照明組件用以照射位于所述轉盤機構上的產品。

7.根據權利要求6所述的一種光學透鏡自動檢測設備，其特征在于，所述轉盤檢測機構還包括收集箱，所述收集箱鄰近于所述剔除機構設置，所述收集箱用以儲存剔除后的產品。

8.根據權利要求1所述的一種光學透鏡自動檢測設備，其特征在于，所述轉盤機構包括分割器和轉盤；所述分割器與所述轉盤連接，用以驅動所述轉盤轉動，所述轉盤上間隔設有多個放置位。

9.根據權利要求1所述的一種光學透鏡自動檢測設備，其特征在于，所述光學透鏡自動檢測設備還包括觸發光柵，所述觸發光柵設于所述上料機構末端，所述轉盤檢測機構與所述觸發光柵電連接。

技術總結
本技術涉及一種光學透鏡自動檢測設備，包括：機架，依次設有分料工位、上料工位、檢測剔除工位和下料工位；分料機構，設于分料工位上，分料機構包括支架、振動盤和振動輸送軌道，振動盤和振動輸送軌道均設于支架上端，振動盤的輸出端與振動輸送軌道連接；上料機構，設于上料工位，上料機構與振動輸送軌道連接；轉盤檢測機構，設于機架上端，轉盤檢測機構包括轉盤機構、檢測機構和剔除機構；檢測機構和剔除機構均設于檢測剔除工位上；檢測機構和剔除機構均設有多組，一組剔除機構對應一組檢測機構設置，檢測機構用以對產品進行缺陷檢測，剔除機構用以對存在缺陷的產品進行剔除；下料機構，設于下料工位，下料機構用以對完成全部檢測后的產品進行下料。通過采用這種結構，完成了對產品的自動上料、檢測和剔除，提高了檢測效率和檢測精度。

技術研發人員：韋春雨,程光泳,關帥濤
受保護的技術使用者：東江精創注塑（深圳）有限公司
技術研發日：20240628
技術公布日：2025/4/28