本公開技術方案涉及產(chǎn)品測試，尤其涉及一種產(chǎn)品測試方法、裝置、存儲介質和電子設備。

背景技術：

1、現(xiàn)有技術中，在生產(chǎn)完一個批次的產(chǎn)品之后，會對這個批次產(chǎn)品的質量進行出廠測試(例如抽樣檢測)。如果測試參數(shù)符合出廠參數(shù)要求，則認定整個批次的產(chǎn)品質量合格，然后對合格的產(chǎn)品進行銷售。

2、通常來說，出廠測試的測試會存在錯檢、漏檢的情況，因此出廠測試質量合格的產(chǎn)品仍然會出現(xiàn)質量問題，這會降低用戶的使用體驗。

3、因此，需要一種能夠解決出廠測試的測試結果不夠精準的問題。

技術實現(xiàn)思路

1、有鑒于此，本公開提供一種產(chǎn)品測試方法、裝置、存儲介質和電子設備，以解決出廠測試的測試結果不夠精準的問題。

2、根據(jù)本公開實施例的第一方面，提供了一種產(chǎn)品測試方法，所述方法包括：

3、獲取待測試產(chǎn)品的信息；所述待測試產(chǎn)品是經(jīng)過出廠測試得到的滿足出廠參數(shù)要求的產(chǎn)品；

4、獲取對所述待測試產(chǎn)品進行質量測試的測試參數(shù)，所述質量測試與所述出廠測試存在至少部分區(qū)別；

5、若基于所述測試參數(shù)與所述出廠參數(shù)要求的比較結果確定所述待測試產(chǎn)品的質量滿足所述出廠參數(shù)要求，則確定出所述測試參數(shù)相較于出廠參數(shù)要求超出的幅度。

6、根據(jù)本公開實施例的第二方面提供一種產(chǎn)品測試裝置，所述裝置包括：

7、第一獲取模塊，用于獲取待測試產(chǎn)品的信息；所述待測試產(chǎn)品是經(jīng)過出廠測試得到的滿足出廠參數(shù)要求的產(chǎn)品；

8、第二獲取模塊，用于獲取對所述待測試產(chǎn)品進行質量測試的測試參數(shù)，所述質量測試與所述出廠測試存在至少部分區(qū)別；

9、幅度確定模塊，用于若基于所述測試參數(shù)與所述出廠參數(shù)要求的比較結果確定所述待測試產(chǎn)品的質量滿足所述出廠參數(shù)要求，則確定出所述測試參數(shù)相較于出廠參數(shù)要求超出的幅度。

10、根據(jù)本公開實施例的第三方面，提供了一種電子設備，包括：

11、處理器；

12、用于存儲處理器可執(zhí)行指令的存儲器；

13、其中，所述處理器被配置為通過運行所述可執(zhí)行指令以實現(xiàn)第一方面任一所述產(chǎn)品測試方法的步驟。

14、根據(jù)本公開實施例的第四方面，提供了一種非臨時性計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，該程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)上述第一方面任一所述產(chǎn)品測試方法的步驟。

15、本公開實施例提供的技術方案可以包括以下有益效果：

16、對于已經(jīng)滿足出廠參數(shù)要求的待測試產(chǎn)品(質量合格的產(chǎn)品)進行質量測試，從而得到測試參數(shù)。

17、由于質量測試與出廠測試存在至少部分區(qū)別，因此可以采用不同的測試方案重新驗證一下待測試產(chǎn)品是否滿足出廠參數(shù)要求。

18、這樣，通過對相同批次相同規(guī)格的待測試產(chǎn)品重新進行質量測試，有助于減少出廠測試中的漏檢、錯檢問題。尤其是當出廠測試是抽樣檢測時，重新進行質量測試的方案有助于提高測試的產(chǎn)品的覆蓋率，減少將質量不合格的產(chǎn)品銷售給消費者的情況。

19、進一步的，在確定質量測試的測試參數(shù)滿足出廠參數(shù)要求的情況下，還能夠通過測試參數(shù)與出廠參數(shù)要求的比較結果得到測試參數(shù)相較于出廠參數(shù)要求超出的幅度，從而通過超出的幅度直觀的了解到此規(guī)格的待測試產(chǎn)品在質量上的優(yōu)異表現(xiàn)。

20、應當理解的是，以上的一般描述和后文的細節(jié)描述僅是示例性和解釋性的，并不能限制本公開。

技術特征：

1.一種產(chǎn)品測試方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述待測試產(chǎn)品為充電設備，針對每個所述待測試產(chǎn)品進行質量測試的測試項目，包括以下至少一項：

3.根據(jù)權利要求2所述的方法，其特征在于，所述獲取對所述待測試產(chǎn)品進行質量測試的測試參數(shù)，包括：

4.根據(jù)權利要求2所述的方法，其特征在于，所述測試項目至少包括高溫暴露測試；

5.根據(jù)權利要求4所述的方法，其特征在于，所述控制所述目標裝置對所述充電設備進行放電測試，得到高溫放電測試參數(shù)，包括：

6.根據(jù)權利要求2所述的方法，其特征在于，所述測試項目至少包括有效輸出電量測試，所述獲取對所述待測試產(chǎn)品進行質量測試的測試參數(shù)，包括：

7.根據(jù)權利要求6所述的方法，其特征在于，所述控制所述目標裝置內的溫度在四個溫度之間切換，包括：

8.根據(jù)權利要求6或7所述的方法，其特征在于，所述控制所述目標裝置在每個所述溫度下對所述充電設備進行放電，包括：

9.根據(jù)權利要求6或7所述的方法，其特征在于，所述測試項目還包括轉換效率測試，所述獲取對所述待測試產(chǎn)品進行質量測試的測試參數(shù)，包括：

10.一種產(chǎn)品測試裝置，其特征在于，所述裝置包括：

11.一種電子設備，其特征在于，包括：

12.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)權利要求1～9任一所述方法的步驟。

技術總結
本公開提供一種產(chǎn)品測試方法、裝置、存儲介質和電子設備，其中，所述方法包括：獲取待測試產(chǎn)品的信息；獲取對所述待測試產(chǎn)品進行質量測試的測試參數(shù)；若基于所述測試參數(shù)與所述出廠參數(shù)要求的比較結果確定所述待測試產(chǎn)品的質量滿足所述出廠參數(shù)要求，則確定出所述測試參數(shù)相較于出廠參數(shù)要求超出的幅度。本公開實施例提供的方法，有助于解決出廠測試的測試結果不夠精準的問題。

技術研發(fā)人員：高思佳
受保護的技術使用者：北京小米移動軟件有限公司
技術研發(fā)日：
技術公布日：2025/4/28