1.一種確定靜校正量變化與解釋層位產(chǎn)狀變化的方法,其特征在于,包括依次進(jìn)行的以下步驟:
2.如權(quán)利要求1所述的確定靜校正量變化與解釋層位產(chǎn)狀變化的方法,其特征在于,步驟s2中所述空間插值的方式為:
3.如權(quán)利要求2所述的確定靜校正量變化與解釋層位產(chǎn)狀變化的方法,其特征在于,步驟s3中所述解釋層位產(chǎn)狀顯示為:
4.如權(quán)利要求2所述的確定靜校正量變化與解釋層位產(chǎn)狀變化的方法,其特征在于,步驟s3中所述解釋層位產(chǎn)狀顯示為:
5.如權(quán)利要求1所述的確定靜校正量變化與解釋層位產(chǎn)狀變化的方法,其特征在于,選用不同于靜校正方法ⅰ和靜校正方法ⅱ的n種其它靜校正方法,分別替換上述靜校正方法ⅱ,對(duì)所述原始地震數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算,對(duì)應(yīng)得到n個(gè)靜校正量,分別進(jìn)行步驟s2和s3,顯示n個(gè)靜校正量對(duì)應(yīng)的n個(gè)解釋層位產(chǎn)狀;
6.如權(quán)利要求5所述的確定靜校正量變化與解釋層位產(chǎn)狀變化的方法,其特征在于,步驟s4中所述最佳靜校正量,是根據(jù)每一個(gè)靜校正量對(duì)應(yīng)的解釋層位產(chǎn)狀的等值線平面圖與實(shí)鉆井的地層t0時(shí)等值線平面圖比較,吻合度最高的解釋層位產(chǎn)狀對(duì)應(yīng)的靜校正量,選為最佳靜校正量。
7.如權(quán)利要求1~6中任一項(xiàng)所述的確定靜校正量變化與解釋層位產(chǎn)狀變化的方法,其特征在于,靜校正方法包括:折射波靜校正法、廣義線性反演靜校正法和層析靜校正法。
8.一種如權(quán)利要求1~7中任一項(xiàng)所述的確定靜校正量變化與解釋層位產(chǎn)狀變化的裝置,其特征在于,包括: