1.一種密封的電磁繼電器的故障排查方法,其特征在于,包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述多張第二故障圖像包括多張第一子故障圖像和多張第二子故障圖像,所述多條第三故障數(shù)據(jù)包括多條第一子故障數(shù)據(jù)和第二子故障數(shù)據(jù);
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述多種第二測(cè)試試驗(yàn)包括第一電壓試驗(yàn),受力試驗(yàn)和超程試驗(yàn),所述多條第一子故障數(shù)據(jù)包括第一數(shù)據(jù),第二數(shù)據(jù)和第三數(shù)據(jù);
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述預(yù)定電壓范圍包括第一預(yù)定電壓集合和第二預(yù)定電壓集合;
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述多種第一測(cè)試試驗(yàn)包括第二電壓試驗(yàn),噪聲試驗(yàn)和密封試驗(yàn),所述多條第二故障數(shù)據(jù)包括第四數(shù)據(jù),第五數(shù)據(jù)和第六數(shù)據(jù);
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述多條第一故障數(shù)據(jù),所述多張第一故障圖像,所述多條第二故障數(shù)據(jù),所述多張第二故障圖像和所述多條第三故障數(shù)據(jù),對(duì)所述電磁繼電器進(jìn)行故障排查,包括:
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述多種預(yù)定非拆開檢測(cè)包括:外觀檢測(cè),電阻檢測(cè)和射線檢測(cè)。
8.一種密封的電磁繼電器的故障排查裝置,其特征在于,包括:
9.一種電子設(shè)備,包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序,其特征在于,所述處理器執(zhí)行所述程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7任意一項(xiàng)所述的方法。
10.一種非暫態(tài)計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),所述非暫態(tài)計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)指令,其特征在于,所述計(jì)算機(jī)指令用于使計(jì)算機(jī)執(zhí)行權(quán)利要求1至7任一所述的方法。