本發(fā)明屬于儲(chǔ)集層評(píng)價(jià)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種裂縫型儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)定量評(píng)價(jià)方法。

背景技術(shù)：

在自然界中，將具有一定儲(chǔ)集空間并能使儲(chǔ)集在其中的流體在一定壓差下流動(dòng)的巖石稱為儲(chǔ)集巖。由儲(chǔ)集巖所構(gòu)成的地層稱為儲(chǔ)集層，簡(jiǎn)稱儲(chǔ)層。

裂縫型儲(chǔ)集層是按儲(chǔ)集空間性質(zhì)劃分的一種儲(chǔ)集層類型。儲(chǔ)集油氣的空間和滲濾通道是裂縫，或者是以孔隙為主要儲(chǔ)集空間而裂縫為滲濾通道的儲(chǔ)集層。其儲(chǔ)集空間的形成多以次生作用為主。碳酸鹽巖、結(jié)晶巖類、泥質(zhì)巖類多具有此類儲(chǔ)集空間，并往往形成不規(guī)則的儲(chǔ)集體，少部分堅(jiān)硬致密的碎屑巖也可能屬于這一類。

對(duì)于裂縫型儲(chǔ)集層而言，由于儲(chǔ)集層致密，導(dǎo)致基質(zhì)孔隙度和滲透率低、孔隙結(jié)構(gòu)極差，裂縫對(duì)儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)的改造作用至關(guān)重要。裂縫不僅可以作為油氣儲(chǔ)集的空間，而且還能疏導(dǎo)基質(zhì)孔隙，提高儲(chǔ)集層的孔隙連通性。一般含有裂縫的地層，其孔隙連通性將大大提高，儲(chǔ)集層的生產(chǎn)潛力也增大。因此，如果能夠準(zhǔn)確的評(píng)價(jià)裂縫型儲(chǔ)集層的孔隙結(jié)構(gòu)，在此基礎(chǔ)上，劃分儲(chǔ)集層類型，對(duì)于在普遍發(fā)育較差的儲(chǔ)集層中尋找孔隙連通性較好的優(yōu)質(zhì)儲(chǔ)集層、提高儲(chǔ)集層的勘探效率、降低開發(fā)風(fēng)險(xiǎn)將具有重要意義。

對(duì)儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)進(jìn)行定量評(píng)價(jià)最有效的資料是毛管壓力曲線。通過對(duì)毛管壓力曲線進(jìn)行處理，可以獲取反映儲(chǔ)集層孔隙大小及連通性的孔喉半徑分布譜以及計(jì)算儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)評(píng)價(jià)參數(shù)，以利用其劃分儲(chǔ)集層類型，確定優(yōu)質(zhì)儲(chǔ)集層。

然而，通過鉆取巖心開展毛管壓力實(shí)驗(yàn)獲取的毛管壓力曲線資料非常有限，無法實(shí)現(xiàn)連續(xù)定量評(píng)價(jià)儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)的目的。

對(duì)于裂縫型儲(chǔ)集層評(píng)價(jià)而言，最有效的測(cè)井方法是微電阻率掃描成像測(cè)井。一般情況下，利用微電阻率掃描成像測(cè)井儀器測(cè)量并處理得到的是采用變密度形式反映儲(chǔ)集層電導(dǎo)率高低的成像圖，通過觀察成像圖的變密度圖像顏色的深淺，可以反映儲(chǔ)集層的裂縫發(fā)育狀況。采用特殊的方法對(duì)該圖像進(jìn)行處理后，可以提取反映裂縫發(fā)育狀況的裂縫孔隙度、裂縫密度、裂縫寬度等參數(shù)以及反映儲(chǔ)集層基質(zhì)和裂縫孔隙度分布情況的孔隙度頻率譜。通過分析這些參數(shù)，可以了解儲(chǔ)集層裂縫的發(fā)育狀況和判斷儲(chǔ)集層的有效性。一般情況下，裂縫孔隙度越高、裂縫密度越大、裂縫寬度越寬的儲(chǔ)集層，其孔隙度頻率譜往往表現(xiàn)為雙峰分布，且譜的分布較寬，該儲(chǔ)集層往往是優(yōu)質(zhì)儲(chǔ)集層。裂縫孔隙度越低、裂縫密度越小、裂縫寬度越窄的儲(chǔ)集層，其孔隙度頻率譜往往表現(xiàn)為單峰分布，且譜的分布較窄，反映儲(chǔ)集層的有效性較差。

上述分析表明，通過分析儲(chǔ)集層裂縫孔隙度等參數(shù)的大小及其孔隙度頻率譜的形態(tài)，可以判斷儲(chǔ)集層的基質(zhì)和裂縫發(fā)育狀況，以識(shí)別優(yōu)質(zhì)儲(chǔ)集層和研究?jī)?chǔ)集層的有效性。然而，這只能算是一種定性或半定量的評(píng)價(jià)儲(chǔ)集層有效性的方法。

對(duì)于如何利用孔隙度頻率譜來定量評(píng)價(jià)裂縫型儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)，進(jìn)而評(píng)價(jià)儲(chǔ)集層的有效性，目前尚未有相關(guān)文獻(xiàn)報(bào)道。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

為了克服現(xiàn)有技術(shù)只能定性或半定量地評(píng)價(jià)儲(chǔ)集層有效性的缺陷，本發(fā)明提供一種裂縫型儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)定量評(píng)價(jià)方法，本發(fā)明利用微電阻率掃描成像測(cè)井孔隙度頻率譜獲取儲(chǔ)集層孔喉半徑分布譜、連續(xù)構(gòu)造偽毛管壓力曲線并計(jì)算儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)參數(shù)，實(shí)現(xiàn)根據(jù)實(shí)際測(cè)量的微電阻率掃描成像測(cè)井資料、連續(xù)定量評(píng)價(jià)裂縫型儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)的目的。

本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：

本發(fā)明一種裂縫型儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)定量評(píng)價(jià)方法，所述定量評(píng)價(jià)方法包括以下步驟：

1)利用微電阻率掃描成像測(cè)井儀器采集數(shù)據(jù)，并對(duì)采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，得到反映儲(chǔ)集層基質(zhì)和裂縫孔隙度發(fā)育情況的孔隙度頻率譜；

2)通過對(duì)常規(guī)的孔隙度測(cè)井資料進(jìn)行處理，計(jì)算儲(chǔ)集層孔隙度曲線，并利用計(jì)算得到的孔隙度曲線將儲(chǔ)集層劃分為三種不同類型；

3)針對(duì)三種不同類型的儲(chǔ)集層，在大孔隙部分和小孔隙部分，分別采用分段冪函數(shù)刻度方法，將孔隙度頻率譜轉(zhuǎn)化為儲(chǔ)集層孔喉半徑分布譜；

4)根據(jù)毛管壓力與孔喉半徑之間的關(guān)系，將孔喉半徑分布譜轉(zhuǎn)化為偽毛管壓力曲線；

5)根據(jù)構(gòu)造的偽毛管壓力曲線和孔喉半徑分布譜，計(jì)算儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)評(píng)價(jià)參數(shù)，實(shí)現(xiàn)定量評(píng)價(jià)裂縫型儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)。

步驟1)中按照如下公式對(duì)微電阻率掃描成像測(cè)井資料進(jìn)行處理，得到儲(chǔ)集層孔隙度頻率譜：

式中：Φ為孔隙度，小數(shù)；m為膠結(jié)指數(shù)；n為飽和度指數(shù)；a和b為與巖性有關(guān)的常數(shù)；R_mf為泥漿電阻率，單位為Ω.m；R_xo為沖洗帶電阻率，在微電阻率掃描成像測(cè)井資料中即為測(cè)量的電阻率結(jié)果，單位為Ω.m；S_xo為沖洗帶含水飽和度，微電阻率掃描成像測(cè)井的探測(cè)深度較淺，主要反映泥漿侵入帶的信息，S_xo等于1。

步驟2)中計(jì)算儲(chǔ)集層孔隙度曲線的方法為利用巖石體積物理模型或地區(qū)的經(jīng)驗(yàn)性公式，三種不同類型的儲(chǔ)集層按照如下標(biāo)準(zhǔn)劃分：I類儲(chǔ)集層：孔隙度≥6.0％；II類儲(chǔ)集層：2.0％≤孔隙度<6.0％；III類儲(chǔ)集層：孔隙度<2.0％。

步驟3)中對(duì)于三種不同類型的儲(chǔ)集層，采用如下方法將孔隙度頻率譜轉(zhuǎn)化為儲(chǔ)集層孔喉半徑分布譜：

a、對(duì)于I類儲(chǔ)集層，在大孔隙部分和小孔隙部分，分別采用如下式所述的冪函數(shù)將孔隙度頻率譜轉(zhuǎn)化為儲(chǔ)集層孔喉半徑分布譜：

大孔隙部分：

小孔隙部分：

式中：R_c為儲(chǔ)集層孔喉半徑分布譜；POR_dist為儲(chǔ)集層孔隙度頻率分布譜；m₁₁為待定的系數(shù)，由巖心分析得到；n₁₁為待定的系數(shù)，由巖心分析得到；m₁₂為待定的系數(shù)，由巖心分析得到；n₁₂為待定的系數(shù)，由巖心分析得到；

b、對(duì)于II類儲(chǔ)集層，在大孔隙部分和小孔隙部分，分別采用如下式所述的冪函數(shù)將孔隙度頻率譜轉(zhuǎn)化為儲(chǔ)集層孔喉半徑分布譜：

大孔隙部分：

小孔隙部分：

式中：R_c為儲(chǔ)集層孔喉半徑分布譜；POR_dist為儲(chǔ)集層孔隙度頻率分布譜；m₂₁為待定的系數(shù)，由巖心分析得到；n₂₁為待定的系數(shù)，由巖心分析得到；m₂₂為待定的系數(shù)，由巖心分析得到；n₂₂為待定的系數(shù)，由巖心分析得到；

c、對(duì)于III類儲(chǔ)集層，在大孔隙部分和小孔隙部分，分別采用如下式所述的冪函數(shù)將孔隙度頻率譜轉(zhuǎn)化為儲(chǔ)集層孔喉半徑分布譜：

大孔隙部分：

小孔隙部分：

式中：R_c為儲(chǔ)集層孔喉半徑分布譜；POR_dist為儲(chǔ)集層孔隙度頻率分布譜；m₃₁為待定的系數(shù)，由巖心分析得到；n₃₁為待定的系數(shù)，由巖心分析得到；m₃₂為待定的系數(shù)，由巖心分析得到；n₃₂為待定的系數(shù)，由巖心分析得到。

步驟4)中按照如下式所述的關(guān)系將孔喉半徑分布譜轉(zhuǎn)化為毛管壓力曲線：

式中：P_c(i)為第i個(gè)毛管壓力，MPa；R_c(i)為第i個(gè)毛管壓力所對(duì)應(yīng)的孔喉半徑，μm。

步驟4)中獲取偽毛管壓力曲線的步驟為：

a、將孔隙度頻率譜的幅度按照儲(chǔ)集層孔隙度頻率從大到小的順序進(jìn)行反向累加，并進(jìn)行歸一化，得到一條在物理意義上與毛管壓力曲線上非潤(rùn)濕相飽和度相似的孔隙度頻率譜幅度反向累加曲線；

b、以歸一化后的孔隙度頻率譜幅度反向累加曲線為線性橫坐標(biāo)，以轉(zhuǎn)化的毛管壓力為對(duì)數(shù)縱坐標(biāo)作圖，得到儲(chǔ)集層偽毛管壓力曲線。

步驟5)中利用構(gòu)造的偽毛管壓力曲線和孔喉半徑分布譜計(jì)算儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)評(píng)價(jià)參數(shù)方法，按照楊勝來等著作的普通高等學(xué)校“十五”規(guī)劃教材《油層物理學(xué)》中209-233頁所述的方法進(jìn)行。

本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是：在根據(jù)孔隙度曲線對(duì)儲(chǔ)集層進(jìn)行分類的基礎(chǔ)上，利用微電阻率掃描成像測(cè)井孔隙度頻率譜轉(zhuǎn)換得到儲(chǔ)集層孔喉半徑分布譜，依據(jù)儲(chǔ)集層孔喉半徑分布譜構(gòu)造出儲(chǔ)集層偽毛管壓力曲線，并計(jì)算儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)評(píng)價(jià)參數(shù)，可以實(shí)現(xiàn)利用微電阻率掃描成像測(cè)井資料連續(xù)定量評(píng)價(jià)裂縫型儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)的目的。

附圖說明

圖1是本發(fā)明提供的一種裂縫型儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)定量評(píng)價(jià)方法流程圖；

圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的裂縫發(fā)育儲(chǔ)集層的微電阻率掃描成像測(cè)井孔隙度頻率譜示意圖；

圖3是本發(fā)明實(shí)施例提供的裂縫不發(fā)育儲(chǔ)集層的微電阻率掃描成像測(cè)井孔隙度頻率譜示意圖；

圖4是本發(fā)明實(shí)施例提供的裂縫發(fā)育儲(chǔ)集層的巖心孔喉半徑分布譜示意圖；

圖5是本發(fā)明實(shí)施例提供的裂縫不發(fā)育儲(chǔ)集層的巖心孔喉半徑分布譜示意圖；

圖6是本發(fā)明實(shí)施例提供的第I類儲(chǔ)集層典型巖心利用孔隙度頻率譜構(gòu)造的偽毛管壓力曲線與巖心實(shí)驗(yàn)的毛管壓力曲線對(duì)比示意圖；

圖7是本發(fā)明實(shí)施例提供的第II類儲(chǔ)集層典型巖心利用孔隙度頻率譜構(gòu)造的偽毛管壓力曲線與巖心實(shí)驗(yàn)的毛管壓力曲線對(duì)比示意圖；

圖8是本發(fā)明實(shí)施例提供的第III類儲(chǔ)集層典型巖心利用孔隙度頻率譜構(gòu)造的偽毛管壓力曲線與巖心實(shí)驗(yàn)的毛管壓力曲線對(duì)比示意圖；

圖9所示為根據(jù)本發(fā)明所述方法，利用孔隙度頻率譜構(gòu)造的偽毛管壓力曲線及計(jì)算的儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)評(píng)價(jià)參數(shù)與巖心壓汞實(shí)驗(yàn)獲取的毛管壓力曲線和孔隙結(jié)構(gòu)評(píng)價(jià)參數(shù)的對(duì)比圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的說明：

通過對(duì)微電阻率掃描成像測(cè)井資料進(jìn)行處理，獲取儲(chǔ)集層孔隙度頻率譜。利用Alphalog軟件上開發(fā)的微電阻率掃描成像測(cè)井處理模塊，對(duì)微電阻率掃描成像測(cè)井資料進(jìn)行處理，可以獲取反映儲(chǔ)集層基質(zhì)和裂縫孔隙度發(fā)育情況的孔隙度頻率譜。

通過對(duì)比圖2和圖3可以看到，在裂縫發(fā)育井段，其孔隙度頻率譜的分布較寬，且表現(xiàn)為雙峰分布，其中，左邊的峰為基質(zhì)孔隙度響應(yīng)，而右邊的峰則是孔喉半徑較寬的裂縫孔隙度響應(yīng)；在裂縫不發(fā)育井段，其孔隙度頻率譜的分布較窄，且表現(xiàn)為單峰分布，主要反映的是儲(chǔ)集層基質(zhì)孔隙度特征。

圖4和圖5則分別為與圖2和圖3相同層段上，根據(jù)壓汞毛管壓力曲線獲取的孔喉半徑分布譜。從圖2與圖4以及圖3與圖5的對(duì)比可以看到，孔隙度頻率譜的形態(tài)與相應(yīng)深度上孔喉半徑分布譜的形態(tài)非常的類似，裂縫較發(fā)育的層段，相應(yīng)的孔喉半徑分布譜也較寬，且也表現(xiàn)為雙峰分布。而裂縫不發(fā)育的層段，其孔喉半徑分布譜也較窄，為單峰分布。

因此，從上述對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果的分析可以看到，儲(chǔ)集層孔喉半徑分布譜與孔隙度頻率譜在形態(tài)上具有很好地相似性，但二者所反映的物理意義存在差異，利用孔隙度頻率譜只能定性的反映儲(chǔ)集層的孔隙分布特征，而不能定量表征儲(chǔ)集層的孔隙結(jié)構(gòu)。為了實(shí)現(xiàn)利用孔隙度頻率譜定量表征裂縫型儲(chǔ)集層的孔隙結(jié)構(gòu)，最直接有效的方法就是建立適當(dāng)?shù)哪Ｐ停瑢⒖紫抖阮l率譜轉(zhuǎn)化為孔喉半徑分布譜，再利用轉(zhuǎn)化得到的孔喉半徑分布譜，得到儲(chǔ)集層的偽毛管壓力曲線，并計(jì)算出評(píng)價(jià)儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)的平均孔喉半徑、最大孔喉半徑、排驅(qū)壓力等參數(shù)。

本發(fā)明在上述實(shí)驗(yàn)結(jié)果分析的基礎(chǔ)上，利用實(shí)際測(cè)量的從巖心壓汞毛管壓力實(shí)驗(yàn)中得到的孔喉半徑分布譜和通過對(duì)微電阻率掃描成像測(cè)井進(jìn)行處理得到的孔隙度頻率譜，提出一種利用孔隙度頻率譜構(gòu)造偽毛管壓力曲線，以定量評(píng)價(jià)裂縫型儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)的方法。

如圖1所示，一種裂縫型儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)定量評(píng)價(jià)方法，所述定量評(píng)價(jià)方法包括以下步驟：

1)利用微電阻率掃描成像測(cè)井儀器采集數(shù)據(jù)，并對(duì)采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，得到反映儲(chǔ)集層基質(zhì)和裂縫孔隙度發(fā)育情況的孔隙度頻率譜；

2)通過對(duì)常規(guī)的孔隙度測(cè)井資料進(jìn)行處理，計(jì)算儲(chǔ)集層孔隙度曲線，并利用計(jì)算得到的孔隙度曲線將儲(chǔ)集層劃分為三種不同類型；

3)針對(duì)三種不同類型的儲(chǔ)集層，在大孔隙部分和小孔隙部分，分別采用分段冪函數(shù)刻度方法，將孔隙度頻率譜轉(zhuǎn)化為儲(chǔ)集層孔喉半徑分布譜；

4)根據(jù)毛管壓力與孔喉半徑之間的關(guān)系，將孔喉半徑分布譜轉(zhuǎn)化為偽毛管壓力曲線；

5)根據(jù)構(gòu)造的偽毛管壓力曲線和孔喉半徑分布譜，計(jì)算儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)評(píng)價(jià)參數(shù)，實(shí)現(xiàn)定量評(píng)價(jià)裂縫型儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)。

步驟1)中按照如下公式對(duì)微電阻率掃描成像測(cè)井資料進(jìn)行處理，得到儲(chǔ)集層孔隙度頻率譜：

式中：Φ為孔隙度，小數(shù)；m為膠結(jié)指數(shù)；n為飽和度指數(shù)；a和b為與巖性有關(guān)的常數(shù)；R_mf為泥漿電阻率，單位為Ω.m；R_xo為沖洗帶電阻率，在微電阻率掃描成像測(cè)井資料中即為測(cè)量的電阻率結(jié)果，單位為Ω.m；S_xo為沖洗帶含水飽和度，微電阻率掃描成像測(cè)井的探測(cè)深度較淺，主要反映泥漿侵入帶的信息，S_xo等于1。

步驟2)中計(jì)算儲(chǔ)集層孔隙度曲線的方法為利用巖石體積物理模型或地區(qū)的經(jīng)驗(yàn)性公式，三種不同類型的儲(chǔ)集層按照如下標(biāo)準(zhǔn)劃分：I類儲(chǔ)集層：孔隙度≥6.0％；II類儲(chǔ)集層：2.0％≤孔隙度<6.0％；III類儲(chǔ)集層：孔隙度<2.0％。

步驟3)中對(duì)于三種不同類型的儲(chǔ)集層，采用如下方法將孔隙度頻率譜轉(zhuǎn)化為儲(chǔ)集層孔喉半徑分布譜：

a、對(duì)于I類儲(chǔ)集層，在大孔隙部分和小孔隙部分，分別采用如下式所述的冪函數(shù)將孔隙度頻率譜轉(zhuǎn)化為儲(chǔ)集層孔喉半徑分布譜：

大孔隙部分：

小孔隙部分：

式中：R_c為儲(chǔ)集層孔喉半徑分布譜；POR_dist為儲(chǔ)集層孔隙度頻率分布譜；m₁₁為待定的系數(shù)，由巖心分析得到；n₁₁為待定的系數(shù)，由巖心分析得到；m₁₂為待定的系數(shù)，由巖心分析得到；n₁₂為待定的系數(shù)，由巖心分析得到；

b、對(duì)于II類儲(chǔ)集層，在大孔隙部分和小孔隙部分，分別采用如下式所述的冪函數(shù)將孔隙度頻率譜轉(zhuǎn)化為儲(chǔ)集層孔喉半徑分布譜：

大孔隙部分：

小孔隙部分：

式中：R_c為儲(chǔ)集層孔喉半徑分布譜；POR_dist為儲(chǔ)集層孔隙度頻率分布譜；m₂₁為待定的系數(shù)，由巖心分析得到；n₂₁為待定的系數(shù)，由巖心分析得到；m₂₂為待定的系數(shù)，由巖心分析得到；n₂₂為待定的系數(shù)，由巖心分析得到；

c、對(duì)于III類儲(chǔ)集層，在大孔隙部分和小孔隙部分，分別采用如下式所述的冪函數(shù)將孔隙度頻率譜轉(zhuǎn)化為儲(chǔ)集層孔喉半徑分布譜：

大孔隙部分：

小孔隙部分：

式中：R_c為儲(chǔ)集層孔喉半徑分布譜；POR_dist為儲(chǔ)集層孔隙度頻率分布譜；m₃₁為待定的系數(shù)，由巖心分析得到；n₃₁為待定的系數(shù)，由巖心分析得到；m₃₂為待定的系數(shù)，由巖心分析得到；n₃₂為待定的系數(shù)，由巖心分析得到。

步驟4)中按照如下式所述的關(guān)系將孔喉半徑分布譜轉(zhuǎn)化為毛管壓力曲線：

式中：P_c(i)為第i個(gè)毛管壓力，MPa；R_c(i)為第i個(gè)毛管壓力所對(duì)應(yīng)的孔喉半徑，μm。

步驟4)中獲取偽毛管壓力曲線的步驟為：

a、將孔隙度頻率譜的幅度按照儲(chǔ)集層孔隙度頻率從大到小的順序進(jìn)行反向累加，并進(jìn)行歸一化，得到一條在物理意義上與毛管壓力曲線上非潤(rùn)濕相飽和度相似的孔隙度頻率譜幅度反向累加曲線；

b、以歸一化后的孔隙度頻率譜幅度反向累加曲線為線性橫坐標(biāo)，以轉(zhuǎn)化的毛管壓力為對(duì)數(shù)縱坐標(biāo)作圖，得到儲(chǔ)集層偽毛管壓力曲線。

步驟5)中利用構(gòu)造的偽毛管壓力曲線和孔喉半徑分布譜計(jì)算儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)評(píng)價(jià)參數(shù)方法，按照楊勝來等著作的普通高等學(xué)校“十五”規(guī)劃教材《油層物理學(xué)》中209-233頁所述的方法進(jìn)行。

根據(jù)本發(fā)明所述的一種裂縫型儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)定量評(píng)價(jià)方法，對(duì)國(guó)內(nèi)東部地區(qū)某油田29塊巖心毛管壓力資料和實(shí)際測(cè)量的微電阻率掃描成像測(cè)井資料進(jìn)行了處理，分別標(biāo)定了三類儲(chǔ)集層利用孔隙度頻率譜轉(zhuǎn)換孔喉半徑分布譜的模型參數(shù)，獲取了利用孔隙度頻率譜連續(xù)構(gòu)造孔喉半徑分布譜的模型。通過孔喉半徑與毛管壓力之間的關(guān)系，得到了連續(xù)分布的偽毛管壓力曲線并計(jì)算出平均孔喉半徑、最大孔喉半徑、排驅(qū)壓力等孔隙結(jié)構(gòu)評(píng)價(jià)參數(shù)。

為了定量表征本發(fā)明所述方法的可靠性，選取了3塊代表性巖心樣品，將利用本發(fā)明所述方法，從微電阻率掃描成像測(cè)井孔隙度頻率譜中獲取的偽毛管壓力曲線與相應(yīng)深度上的巖心壓汞毛管壓力曲線進(jìn)行了對(duì)比。

圖6至圖8列舉了3塊代表性巖心壓汞毛管壓力曲線與構(gòu)造的偽毛管壓力曲線對(duì)比圖。其中，圖6所示為第I類儲(chǔ)集層代表性巖心利用孔隙度頻率譜構(gòu)造的偽毛管壓力曲線與巖心壓汞毛管壓力曲線的對(duì)比結(jié)果；圖7所示為第II類儲(chǔ)集層代表性巖心利用孔隙度頻率譜構(gòu)造的偽毛管壓力曲線與巖心壓汞毛管壓力曲線的對(duì)比結(jié)果；圖8所示為第III類儲(chǔ)集層代表性巖心利用孔隙度頻率譜構(gòu)造的偽毛管壓力曲線與巖心壓汞毛管壓力曲線的對(duì)比結(jié)果。從圖中所示的對(duì)比結(jié)果可以明顯看到，對(duì)于3類不同孔隙結(jié)構(gòu)儲(chǔ)集層的巖石而言，利用本發(fā)明所述方法，從微電阻率掃描成像測(cè)井中獲取的偽毛管壓力曲線與巖心實(shí)驗(yàn)得到的壓汞毛管壓力曲線之間吻合較好，充分證明了本發(fā)明所述的利用孔隙度頻率譜構(gòu)造偽毛管壓力曲線，以評(píng)價(jià)裂縫型儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)方法的可靠性。

圖9所示的效果圖共分為十道，圖中第一道包括自然伽馬(GR)、自然電位(SP)和井徑曲線(CAL)，主要用于識(shí)別有效儲(chǔ)集層；第二道包括密度測(cè)井(DEN)曲線、中子測(cè)井(CNL)曲線和聲波時(shí)差測(cè)井(DT)曲線，主要用于計(jì)算儲(chǔ)集層的孔隙度；第三道為深側(cè)向電阻率曲線(RT)和淺側(cè)向電阻率曲線(RXO)；第四道為深度道，單位m；第五道為根據(jù)常規(guī)孔隙度測(cè)井曲線，利用體積物理模型計(jì)算的儲(chǔ)集層孔隙度(PHIT)；第六道列舉了實(shí)際測(cè)量的微電阻率掃描成像測(cè)井變密度圖像；第七道列舉了通過對(duì)微電阻率掃描成像測(cè)井變密度圖進(jìn)行處理獲取的儲(chǔ)集層孔隙度頻率譜圖像；第八道為根據(jù)本發(fā)明所述方法利用孔隙度頻率譜連續(xù)構(gòu)造的偽毛管壓力曲線與巖心壓汞毛管壓力曲線的對(duì)比，圖9中黑色細(xì)線為利用孔隙度頻率譜連續(xù)構(gòu)造的偽毛管壓力曲線，為了曲線顯示的方便，本發(fā)明中將構(gòu)造的偽毛管壓力曲線累加到最大進(jìn)汞壓力29.70MPa的狀態(tài)，而離散的黑色粗線為巖心壓汞毛管壓力曲線；從圖9中所示的對(duì)比結(jié)果可以看出，利用本發(fā)明所述方法構(gòu)造的偽毛管壓力曲線與巖心壓汞實(shí)驗(yàn)結(jié)果具有較好的一致性。這說明，利用本發(fā)明所述方法可以將孔隙度頻率譜連續(xù)地轉(zhuǎn)化成偽毛管壓力曲線。圖9中第九道至第十三道列舉了根據(jù)構(gòu)造的偽毛管壓力曲線計(jì)算的儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)評(píng)價(jià)參數(shù)與巖心實(shí)驗(yàn)結(jié)果的對(duì)比。第九道中RMAX為利用本發(fā)明實(shí)施例提供的方法連續(xù)構(gòu)造的偽毛管壓力曲線計(jì)算的最大孔喉半徑，CRMAX為巖心壓汞實(shí)驗(yàn)得到的最大孔喉半徑；第十道中R50為利用本發(fā)明實(shí)施例提供的方法連續(xù)構(gòu)造的偽毛管壓力曲線計(jì)算的中值半徑，CR50為巖心壓汞實(shí)驗(yàn)得到的中值半徑；第十一道中RM為利用本發(fā)明實(shí)施例提供的方法連續(xù)構(gòu)造的偽毛管壓力曲線計(jì)算的平均孔喉半徑，CRM為巖心壓汞實(shí)驗(yàn)得到的平均孔喉半徑；第十二道中PC50為利用本發(fā)明實(shí)施例提供的方法連續(xù)構(gòu)造的偽毛管壓力曲線計(jì)算的中值壓力，CP50為巖心壓汞實(shí)驗(yàn)得到的中值壓力；第十三道中PD為利用本發(fā)明實(shí)施例提供的方法連續(xù)構(gòu)造的偽毛管壓力曲線計(jì)算的排驅(qū)壓力，CPD為巖心壓汞實(shí)驗(yàn)得到的排驅(qū)壓力。

從圖9上可以看出，利用本發(fā)明所述方法連續(xù)構(gòu)造的偽毛管壓力曲線計(jì)算的儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)評(píng)價(jià)參數(shù)與巖心壓汞實(shí)驗(yàn)結(jié)果非常吻合，這說明，利用本發(fā)明所述方法可以將孔隙度頻率譜連續(xù)地轉(zhuǎn)化成偽毛管壓力曲線，以計(jì)算出準(zhǔn)確的儲(chǔ)集層孔隙結(jié)構(gòu)評(píng)價(jià)參數(shù)。

最后應(yīng)說明的是：顯然，上述實(shí)施例僅僅是為清楚地說明本發(fā)明所作的舉例，而并非對(duì)實(shí)施方式的限定。對(duì)于所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在上述說明的基礎(chǔ)上還可以做出其它不同形式的變化或變動(dòng)。這里無需也無法對(duì)所有的實(shí)施方式予以窮舉。而由此所引申出的顯而易見的變化或變動(dòng)仍處于本發(fā)明的保護(hù)范圍之中。