光學拾波器與光盤裝置制造方法【專利摘要】本發明提供一種在多層式光盤中具有改進的循跡穩定性的光學拾波器以及光盤裝置，所述光學拾波器包括：光源；物鏡，其用于將來自所述光源的光聚焦于光盤的一個信號面上，所述光盤包括兩個以上信號面，每一個所述信號面中均形成有凹槽；光檢測器，其用于接收來自所述光盤的返回光線，所述光檢測器具有光接收面，所述光接收面被基本上平行于所述光盤的磁道方向的分割線以及基本上垂直于所述磁道方向的分割線劃分成四個光接收區域；以及遮光單元，其設置于所述光檢測器的入射側處，并用于阻擋來自所述光盤的除所述一個信號面之外的信號面的返回光線中至少被所述凹槽衍射的衍射光線。【專利說明】光學拾波器與光盤裝置【
技術領域：
】[0001]本發明涉及用于記錄至多層式光盤上并回放所述多層式光盤的一種光學拾波器及一種光盤裝置。【
背景技術：
】[0002]已知一種例如是藍光光盤(Blu-rayDisc；BD)(商標)的光盤裝置，其用于將數據記錄至各種光盤上或用于回放各種光盤上的數據，所述光盤具有螺旋磁道。在此種光盤裝置中，在記錄或回放數據時，用光束照射光盤中的磁道。此時，光盤裝置會基于從光盤反射的反射光而產生循跡誤差信號，所述循跡誤差信號表示相對于欲被光束照射的磁道的中心的偏移量。接著，光盤裝置根據循跡誤差信號執行循跡控制，以使光束持續停留于磁道上。[0003]作為循跡控制方法，已知一種差動推挽(differentialpushpull；DPP)方法。在DPP方法中，利用光柵將來自激光源的激光束分成一束主光束及兩束子光束。接著從子光束推挽(sub-beampushpull；SPP)信號檢測出循跡誤差,并消除發生于主光束推挽(mainbeampushpull；MPP)信號中的直流(DC)偏移。[0004]對增大光盤容量的需求日益增長。其中多個信號面互相層疊的多層式結構是用于增大光盤容量的方法之一。在記錄數據至此種多層式光盤上或回放此種多層式光盤上的數據時，將光束聚焦于所期望的信號面上。[0005]然而，由于光束會穿過除與光束入射于多層式光盤上的表面相距最遠的信號面之外的信號面，因此除在上面執行記錄或回放的期望層(在下文中被稱為記錄/回放層)之外的層(在下文中被稱為其它層)的信號面會反射所述光束。從其它層的信號面反射的反射光(被稱為其它層雜散光)作為串擾光入射于光檢測器上。接著，會由于其它層雜散光疊加至從記錄/回放層的信號面反射的反射光(在下文中被稱為信號光)上而產生噪聲。[0006]其它層雜散光在BD中的影響大于在多層式數字通用光盤(DVD)中的影響。這是因為BD的物鏡的數值孔徑(numericalaperture；NA)較大，因此串擾光的光斑尺寸較大。在DPP方法的情形中，功率較小的SPP更易受串擾光影響。因此，使用單光束系統的推挽方法。在所述推挽方法中，由具有光接收面的光檢測器檢測光接收信號，且所述光接收面沿磁道方向(切線方向)被劃分成兩個區域，從各個區域中的光接收信號的差異檢測循跡誤差。[0007]在推挽方法中，基于由具有不同深度的凹槽所衍射的衍射光線而形成推挽信號。如果凹槽深度與λ/12—樣小，則欲通過計算得出的循跡信號具有小的振幅。因此，存在如下問題:記錄區域與未記錄區域之間的邊界周圍的循跡誤差信號發生偏移。為解決此問題，提出一種被稱為高級推挽(advancedpushpull；APP)的方法來檢測循跡誤差信號。此外，提出一種可適用于雙層式光盤的改進APP方法(例如參見KouseiSano等人的“NovelOne-BeamTrackingDetectionMethodforDual-LayerBlu-rayDiscs，，，IEICETechnicalReport,CPM,2005年10月14日，Vol.105，N0.360，pp.31-34)。[0008]在一次寫入型光盤或可重寫型光盤中，為記錄信息，可優選地預先記錄用于表示所述光盤上的位置的地址信息。作為用于記錄此種地址信息的方法，已知一種通過地址信息調制用于形成螺旋凹槽的信號的方法。此處，由凹槽形成的磁道被稱為凹槽磁道。凹槽被定義為在制造光盤時被激光束照射的部分。[0009]這樣，因為光盤具有凹槽，所以所述光盤可用作反射性衍射光柵。因此，聚焦于信號面上的光束被所述信號面衍射，且在與磁道方向交叉的方向(即基本上垂直于所述磁道方向的方向)上產生第O階光線(反射光線)及第±1階光線(衍射光線)。接著，第O階光線及第±I階光線行進返回至物鏡。在循跡誤差信號形成方法(如KouseiSano等人提出的“NovelOne-BeamTrackingDetectionMethodforDual-LayerBlu-rayDiscs^IEICETechnicalR印ort，CPM，2005年10月14日，Vol.105，N0.360，pp.31-34)中不考慮因凹槽而發生的衍射，因此存在如下問題:另一層中的凹槽會產生偽循跡誤差信號(falsetrackingerrorsignal)。【
發明內容】[0010]因此，根據本發明的實施例，期望提供一種在形成有凹槽的多層式光盤中能夠改進循跡穩定性的光學拾波器及光盤裝置。[0011]根據本發明的實施例，提供一種光學拾波器，其包括:光源；物鏡，其用于將來自所述光源的光聚焦于光盤的一個信號面上，所述光盤包括兩個以上信號面，每一個所述信號面中均形成有凹槽；光檢測器，其用于接收來自所述光盤的返回光線，所述光檢測器具有光接收面，所述光接收面被基本上平行于所述光盤的磁道方向的分割線以及基本上垂直于所述磁道方向的分割線劃分成四個光接收區域；以及遮光單元，其設置于所述光檢測器的入射側處，并用于阻擋來自所述光盤的除所述一個信號面之外的信號面的返回光線中的、至少被所述凹槽衍射的衍射光線。[0012]根據本發明的實施例，提供一種光盤裝置，其包括:旋轉驅動單元，其用于旋轉驅動光盤；光源；物鏡，其用于將來自所述光源的光聚焦于多層式光盤上，所述多層式光盤包括兩個以上信號面，每一個所述信號面中均形成有凹槽；致動器，其用于沿基本上垂直于所述光盤的磁道方向的方向移動所述物鏡；光檢測器，其用于接收來自所述光盤的返回光線，所述光檢測器具有光接收面，所述光接收面被基本上平行于所述光盤的磁道方向的分割線以及基本上垂直于所述磁道方向的分割線劃分成四個光接收區域；遮光單元，其設置于所述光檢測器的入射側處，并用于阻擋來自所述光盤的除所述一個信號面之外的信號面的返回光線中的、至少被所述凹槽衍射的衍射光線；以及計算單元，其用于通過計算所述光檢測器的檢測信號來產生循跡誤差信號。所述致動器是通過所述循跡誤差信號而被驅動。[0013]根據本發明的實施例，可提供一種在多層式光盤中具有改進的循跡穩定性的光學拾波器及光盤裝置。【專利附圖】【附圖說明】[0014]圖1是圖示根據本發明第一實施例的一種光盤裝置的構造的框圖；[0015]圖2是圖示可應用本發明的實施例的光盤示例的示意圖；[0016]圖3是圖示本發明第一實施例中的光學拾波器的構造的示意圖；[0017]圖4是圖示用于產生循跡誤差信號的構造的框圖；[0018]圖5是圖示用于循跡誤差校正的驅動單元的構造示例的框圖；[0019]圖6是圖示不包括遮光單元的光學拾波器的示意圖；[0020]圖7A及圖7B是用于描述光盤中的記錄層與鄰近層之間的位置關系的示意圖；[0021]圖8是用于描述循跡誤差信號及偽循跡誤差信號的示意圖；[0022]圖9A及圖9B是用于描述來自記錄/回放層及另一層的反射光線及衍射光線的示意圖；[0023]圖10是用于描述通過另一層上的衍射而產生的雜散光的光斑位置的示意圖；[0024]圖11是圖示雜散光的光斑位置的計算結果的圖；[0025]圖12A及圖12B是圖示本發明第一實施例中的遮罩示例的示意圖；[0026]圖13是圖示信號光在光檢測器的光接收面上的分布的計算結果的示意圖；[0027]圖14是圖示其它層雜散光在光檢測器的光接收面上的分布的計算結果的示意圖；[0028]圖15是圖示其它層雜散光的第±1階光線在光檢測器的光接收面上的分布的計算結果的示意圖；[0029]圖16是圖示其它層雜散光的第O階光線在光檢測器的光接收面上的分布的計算結果的不意圖；[0030]圖17是圖示信號光及其它層雜散光在光檢測器的光接收面上的分布的計算結果的不意圖；[0031]圖18是圖示在光檢測器的光接收面上的其它層雜散光的第±1階光線以及信號光的分布的計算結果的示意圖；[0032]圖19是用于描述本發明第一實施例的有利效果的圖；[0033]圖20是用于描述本發明第二實施例中的循跡誤差檢測的示意圖；[0034]圖21是圖示欲用于循跡誤差檢測的全息光學元件(holographicopticalelement；Η0Ε)的圖案的示意圖；[0035]圖22是圖示光檢測器與其它層雜散光之間的位置關系的示意圖；以及[0036]圖23是圖示本發明第二實施例中的遮光單元的示意圖。【具體實施方式】[0037]在下文中，將參照附圖詳細闡述本發明的優選實施例。應注意，在本說明書及附圖中，具有基本上相同的功能及結構的結構元件被標示以相同的附圖標記，且不再對這些結構元件進行重復說明。[0038]下文中所述的實施例是本發明的優選特定示例，且包括技術上優選的各種限制。然而，本發明的范圍并非僅限于下文中所述的實施例，除非指出此種限制。[0039]將按以下順序闡述本發明的實施例。[0040]〈1.本發明的第一實施例〉[0041]〈2.本發明的第二實施例〉[0042]<3.變化例>[0043]〈1.本發明的第一實施例〉[0044]“光盤裝置及光盤的構造”[0045]如圖1所示，應用本發明第一實施例的光盤裝置101包括光學拾波器103及主軸電動機104。光學拾波器103記錄信息至光盤100上并回放光盤100上的信息，光盤100用作光學記錄媒介，且主軸電動機104使光盤100旋轉。還設置有進給電動機105以沿光盤100的徑向移動光學拾波器103。[0046]以下將參照圖2闡述光盤100的示例。光盤100基本上為在中心處開孔具有中心孔的圓盤形狀(圖未示出)。例如，光盤100的圓盤直徑為120mm,中心孔直徑為15mm,且圓盤厚度為1.2mm。光盤100具有其中LO層、中間層122、LI層及覆蓋層123依次層疊于基板121上的多層式結構。基板121由例如低吸附性樹脂(例如聚碳酸酯(polycarbonate；PC)及環烯烴聚合物(cycloolefinpolymer))形成。[0047]作為信息記錄層(信號面)的LO層與LI層中的每一者均為沉積于基板121的凹凸面上的反射膜、記錄膜等。在只讀光盤中，LO層及LI層是由例如金(Au)、銀(Ag)、銀合金、鋁(Al)、鋁合金等形成的反射膜。在一次寫入型光盤中，通過例如依次層疊反射膜及由有機著色材料形成的記錄層來構成LO層與LI層中的每一者。在可重寫型光盤中，通過例如依次層疊反射膜、下部介電層、相變記錄層及上部介電層來構成LO層與LI層中的每一者。應注意，在本發明的第一實施例中，螺旋凹槽形成于LO層與LI層中的每一者中。當例如所述凹槽顫動時，表示光盤100上的位置的地址被預先記錄下來。[0048]中間層122形成于在基板121上形成的LO層上。LI層形成于中間層122上。覆蓋層123形成于在中間層122上形成的LI層上。形成覆蓋層123以保護光盤。在記錄及回放信息信號時，激光束例如在穿過覆蓋層123后被物鏡6聚焦至信息記錄層上。[0049]可使用UV樹脂形成中間層122及覆蓋層123。在適當情況下，潤滑層(圖未示出)(例如硬涂層(hardcoat))例如可形成于覆蓋層123的表面上。潤滑層用于保護覆蓋層123的表面并使其平滑。中間層122的厚度可為例如25μm，且覆蓋層123的厚度可為例如75μm。中間層122與覆蓋層123中的每一者可優選地具有均勻的厚度。[0050]激光束穿過光盤100的覆蓋層123而照射信息記錄層(L0層或LI層)，從而記錄或回放信息信號。例如，波長為400nm?410nm的激光束穿過覆蓋層123后被數值孔徑為0.84?0.86的物鏡6聚焦至LO層或LI層上，從而記錄或回放信息信號。應注意，也可采用其他多層式光盤(例如適用于發射波長約為655nm的半導體激光的多層式DVD)作為光盤100。[0051]再參照圖1，在光盤裝置101中，受系統控制器106的指令控制的伺服控制單元107控制主軸電動機104及進給電動機105的驅動。[0052]光學拾波器103利用光束照射光盤100的記錄面，并檢測該光束的由所述記錄面反射的反射光束。光學拾波器103將與從光盤100的記錄面反射的反射光束中的各個光線相對應的信號提供至前置放大器108。[0053]前置放大器108基于光檢測器的輸出通過像散(astigmatic)法等產生聚焦誤差信號，并產生循跡誤差信號，此將于下文中闡述。此外，前置放大器108產生RF信號，并將RF信號輸出至信號調制/解調及ECC塊109。前置放大器108輸出聚焦誤差信號及循跡誤差信號至伺服控制單元107。[0054]當想要將數據記錄至光盤100上時，信號調制/解調及ECC塊109對從接口110或D/AA/D轉換器111輸入的數字信號執行記錄處理。例如，信號調制/解調及ECC塊109執行糾錯編碼，以執行1-7PP系統等的調制處理。[0055]應注意，在欲記錄壓縮數據時，可在信號調制/解調及ECC塊109與接口110之間、或在信號調制/解調及ECC塊109與D/AA/D轉換器111之間設置壓縮擴展單元。在此種情形中，數據被壓縮成MPEG2(MovingPictureExpertsGroupPhase2,運動圖像專家組第2階段)格式、MPEG4格式等。[0056]伺服控制單元107從前置放大器108接收聚焦誤差信號及循跡誤差信號。伺服控制單元107產生聚焦伺服信號及循跡伺服信號，以使得所述聚焦誤差信號及所述循跡誤差信號變為0，并基于這些伺服信號控制用于驅動物鏡的物鏡驅動單元(例如雙軸致動器)的驅動。此外，伺服控制單元107從前置放大器108的輸出檢測同步信號等，并通過恒定線速度(constantlinearvelocity;CLV)方法等控制主軸電動機104。激光控制單元112控制光學拾波器103的激光源。激光控制單元112控制所述激光源，以使其輸出功率在記錄模式及回放模式中分別不同。[0057]系統控制器106控制整個光盤裝置。系統控制器106根據由用戶輸入的操作并基于光盤的最內側圓周的預制的凹陷或凹槽中所記錄的地址信息或目錄(tableofcontents；T0C)控制光盤裝置101。此處，系統控制器106在光盤上指定欲進行記錄或回放的記錄位置或回放位置，并基于所指定的位置控制每一單元。[0058]以上述方式構造的光盤裝置101利用主軸電動機104使光盤100旋轉，并根據來自伺服控制單元107的控制信號控制進給電動機105的驅動。光盤裝置101將光學拾波器103移動至與光盤100的期望記錄磁道相對應的位置，以記錄信息至光盤100上或回放光盤100上的信息。[0059]更具體而言，在利用光盤裝置101進行記錄或回放時，伺服控制單元107使光盤100旋轉，且光學拾波器103利用來自光源的光束照射光盤100。接著，光學拾波器103利用光檢測器檢測從光盤100返回的返回光束，并產生聚焦誤差信號或循跡誤差信號。基于所述聚焦誤差信號或所述循跡誤差信號，光學拾波器103利用物鏡驅動機構來驅動物鏡，以執行聚焦伺服或循跡伺服。[0060]此外，在利用光盤裝置101進行記錄時，來自外部計算機113的信號經過接口110而被輸入至信號調制/解調及ECC塊109。信號調制/解調及ECC塊109對從接口110或D/AA/D轉換器111輸入的數字數據執行糾錯編碼，并在對所述數字數據執行調制處理之后接著產生記錄信號。激光控制單元112基于由信號調制/解調及ECC塊109產生的記錄信號來控制光學拾波器103的激光源，以將數據記錄至光盤100上。[0061]在利用光盤裝置101回放記錄于光盤100上的信息時，信號調制/解調及ECC塊109對光檢測器所檢測到的信號執行解調處理。如果經信號調制/解調及ECC塊109解調的記錄信號是用于計算機中的數據存儲，則經解調的記錄信號經過接口110而被輸出至外部計算機113。由此，外部計算機113可根據記錄于光盤100上的信號進行工作。[0062]如果經信號調制/解調及ECC塊109解調的記錄信號是用于視聽用途，則經解調的記錄信號在D/AA/D轉換器111中進行數字-模擬轉換并被提供至視聽處理單元114。接著，視聽處理單元114對所述記錄信號執行視聽處理，并通過視聽信號輸入/輸出單元115將所述記錄信號輸出至外部揚聲器或顯示器(圖未示出)。[0063]“光學拾波器”[0064]隨后，將參照圖3詳細闡述上文中所述的光盤裝置中所包括的光學拾波器103。光學拾波器103例如利用波長λ為405nm的激光束LS記錄信息至光盤100上或回放光盤100上的信息。記錄層LO及LI形成于光盤100中。記錄層LI在激光束LS入射于光盤100上的方向上位于記錄層LO的前方。激光二極管(laserdiode;LD)2發出激光束LS。[0065]激光束LS穿過偏振光束分束器(polarizingbeamsplitter;PBS)3、準直透鏡4及作為偏振元件的示例的四分之一波片(quarter-waveplate;QWP)5,并通過物鏡6而聚焦至光盤100上。激光束LS聚焦至例如記錄層LO上。偏振光束分束器3具有分光表面，所述分光表面例如被構造成以基本上100%的透射率透射P偏振分量并以基本上100%的反射率反射S偏振分量。[0066]因此，從激光二極管2發出的激光束LS基本上100%地作為P偏振分量透射穿過偏振光束分束器3。透射穿過偏振光束分束器3的激光束LS被準直透鏡4準直。從準直透鏡4發出的準直激光束通過四分之一波片5從線性偏振激光束轉換成圓偏振激光束。通過四分之一波片5轉換的圓偏振激光束被物鏡6聚焦至光盤100的記錄層LO或記錄層LI上。接著，從被激光束LS照射的記錄層LO或記錄層LI產生反射光束。[0067]從光盤100的記錄層LO或記錄層LI反射的反射光束行進穿過同一光學路徑并被物鏡6準直。從物鏡6發出的準直反射光束接著通過四分之一波片5從圓偏振激光束轉換成線性偏振激光束(S偏振分量)。所述線性偏振激光束再次穿過準直透鏡4，并作為S偏振分量入射于偏振光束分束器3上。作為S偏振分量入射于偏振光束分束器3上的激光束被偏振光束分束器3以基本上100%的反射率反射。[0068]激光束的由偏振光束分束器3反射的部分被用作遮光單元的遮罩7阻擋。下文中將詳細闡述遮罩7。穿過遮罩7的激光束通過柱面透鏡8發生預定像散(astigmatism)。發生像散的激光束被聚焦至光檢測器9的光接收面上。光檢測器9包括對入射于光接收面上的激光束執行光電轉換的光接收單元。所述光接收單元被對應于光盤100的切線方向(磁道方向)的分割線以及對應于光盤100的徑向的分割線劃分成四個區域A?D。光檢測器9根據在光接收單元的各個區域A?D中所接收的光量而輸出電信號。[0069]圖4中圖示了光檢測器9的各個區域A?D的輸出信號，以及循跡誤差檢測電路10的示例。通過對輸出的電信號執行運算來計算主數據信號、循跡誤差信號及聚焦誤差信號。[0070]以下將闡述一種用于計算循跡誤差信號的方法。在光接收單元的區域A中輸出電信號Al。類似地，在光接收單元的區域B中輸出電信號BI，在光接收單元的區域C中輸出電信號Cl，以及在光接收單元的區域D中輸出電信號Dl。循跡誤差檢測電路10包括加法器11、12以及減法器13。通過推挽方法利用以下公式(I)計算循跡誤差信號PPl(主推挽信號)。應注意，所述主信號是通過將整個區域A?D的信號相加而得出。[0071]PPl=(A1+B1)-(C1+D1)...(I)[0072]圖5圖示循跡誤差校正電路的示例。循跡誤差檢測電路10將循跡誤差信號PPl提供至相位補償電路14。來自相位補償電路14的輸出信號被輸入至電壓反饋型驅動電路15。驅動電路15輸出用于物鏡驅動致動器的驅動信號K。驅動信號K被輸入至循跡線圈16，循跡線圈16用作物鏡驅動致動器且被包括于光學拾波器103中。已接收驅動信號K的循跡線圈16沿光盤100的徑向產生驅動力。這樣，基于循跡誤差信號PPl來執行循跡控制。應注意，循跡伺服的構造可不同于圖5中所示的構造。[0073]“遮罩的效果”[0074]本發明第一實施例的光學拾波器103包括遮罩7。遮罩7設置用于抑制由除記錄/回放層之外的信號面反射的光線(其它層雜散光)作為串擾光入射于光檢測器9上。遮罩7設置用于抑制由另一層中的凹槽所產生的衍射光線的影響。具體而言，遮罩7例如由涂覆有帶狀遮光材料的透明板構成。或者，可使光學拾波器103中的部分光學組件增加遮光功能。也可采用將帶狀遮光單元加裝至框架的構造。此外，遮罩的形狀并非僅限于矩形，且可為圓形、橢圓形等形狀，以圍繞其它層雜散光的第I階光線所基本上聚集的位置。[0075]以下將闡述本發明的第一實施例的遮罩7。為便于理解，將闡述在不包括遮罩7的光學拾波器中所產生的偽循跡誤差信號。圖6圖示本發明第一實施例的光學拾波器103的光學系統不包括遮罩7時的構造。換言之，所圖示的光學拾波器21沒有針對偽循跡誤差信號的產生提供對策。應注意，除光學拾波器21不包括遮罩7之外，圖6所示的光學拾波器21具有與圖3所示的光學拾波器103相同的構造。[0076]圖7A與圖7B中的每一者均圖示光盤100中記錄/回放層與另一層之間的位置關系。如圖7A所示，當LO層為記錄/回放層時，經物鏡6聚焦的激光束LS在LO層上形成焦斑。因此，在激光束LS入射方向上位于前方的LI層被視為另一層,且被LI層反射的激光束為其它層雜散光。[0077]當LO層為記錄/回放層時，激光束LS聚焦至形成于LO層中的螺旋凹槽上，且如箭頭23所示，激光束的光斑沿光盤100的徑向(與凹槽交叉的方向)移動。此時，激光束的光斑也在作為另一層的LI層上沿箭頭24所示的方向移動。[0078]另一方面，如圖7B所示，當LI層為記錄/回放層時，激光束LS聚焦至形成于LI層中的螺旋凹槽上，且如箭頭27所示，激光束的光斑沿光盤100的徑向(與凹槽交叉的方向)移動。此時，激光束的光斑也在作為另一層的LO層上沿箭頭26所示的方向移動。[0079]圖8圖示當激光束的光斑如上所述沿光盤100的徑向移動時所產生的循跡誤差信號28及偽循跡誤差信號29的示例。循跡誤差信號28是因循跡誤差而產生，而偽循跡誤差信號29是因另一層上的磁道偏差而產生。[0080]更具體而言，當對LO層進行記錄或回放時(圖7A)，會從LO層獲得循跡誤差信號28，并從另一層的LI層產生偽循跡誤差信號29。當對LI層進行記錄或回放時(圖7B)，會從LI層獲得循跡誤差信號28，并從作為另一層的LO層產生偽循跡誤差信號29。循跡誤差信號28具有峰-峰值Da。偽循跡誤差信號29具有峰-峰值Db。通常，其它層雜散光的強度低于信號光，因此所獲得的偽循跡誤差信號的振幅小于循跡誤差信號的振幅。[0081]此外，將參照圖9A及圖9B闡述來自另一層的反射光線及衍射光線。圖9A圖示其中記錄/回放層是LO層的情形。如圖9A所示，激光束LS通過物鏡6而聚焦至LO層上。作為另一層的LI層用作反射性衍射光柵，且返回光線在被凹槽衍射時沿與所述凹槽交叉的方向被分成第O階光線及第±1階光線。第O階光線聚集于點31周圍，第+1階光線聚集于點30周圍，且第-1階光線聚集于點32周圍。結果，來自LO層的信號光與來自LI層的第土I階光線的干涉光線沿箭頭33及34所示的方向行進。[0082]還圖示了從正面觀察時來自LI層的返回光線的光學分布。在此種分布中，信號光的第O階光線35具有圓形分布，且第+1階光線36a及第-1階光線36b被分布成與第O階光線35部分重疊。在前述假定位置中，返回光線分別聚集于點30、點31及點32處。[0083]圖9B圖示其中記錄/回放層是LI層的情形。如圖9B所示，激光束LS通過物鏡6而聚焦至LI層上。作為另一層的LO層用作反射性衍射光柵，且返回光線在被凹槽衍射時沿與所述凹槽交叉的方向被分成第O階光線及第±1階光線。第O階光線聚集于點41周圍，第+1階光線聚集于點40周圍，且第-1階光線聚集于點42周圍。因此，來自LI層的信號光與來自LO層的第±I階光線的干涉光線沿箭頭43及44所示的方向行進。[0084]還圖示了從正面觀察時來自LO層的返回光線的光學分布。在此種分布中，信號光的第O階光線45具有圓形分布，且第+1階光線46a及第-1階光線46b被分布成與第O階光線45部分重疊。在前述假定位置中，返回光線分別聚集于點40、點41及點42處。[0085]以下將參照圖10闡述用于計算雜散光的光斑位置的方法的示例。將闡述其中LO層是記錄/回放層的示例。將對雜散光沿位置51的光斑位置進行計算，位置51在激光束LS入射于光盤上的一側上與光盤相距預定距離。入射于另一層(即LI層)上的激光束的反射光線(即虛線所示的第O階光線)被以反射角Θ反射并進入位置51上的點52。點52是LO層所反射的第O階光線的光斑的中心位置。[0086]在被LI層中的凹槽衍射時所產生的衍射光線中，第I階光線(例如第-1階光線)被以角度φ反射并到達位置51上的點53。[0087]當將LO層與LI層之間的距離取為d時，LI層所反射光線的第O階光線的焦點沿位置51而定位，且與LI層的距離為d。從光軸到入射于光盤上的任意光線穿過位置51的點的距離被取為a，且從光軸到由LI層衍射的第I階衍射光線返回至位置51的點的距離被取為b。此外，從光軸到位置51上具有最大角度的入射光線的距離被取為amax。此外，t匕率KK為(b/amax)。在此種情形中，可通過以下公式得到比率KK。N為折射率。【權利要求】1.一種光學拾波器，其包括:光源；物鏡，其用于將來自所述光源的光聚焦于光盤的一個信號面上，所述光盤包括兩個以上信號面，每一個所述信號面中均形成有凹槽；光檢測器，其用于接收來自所述光盤的返回光線，所述光檢測器具有光接收面，所述光接收面被基本上平行于所述光盤的磁道方向的分割線以及基本上垂直于所述磁道方向的分割線劃分成四個光接收區域；以及遮光單元，其設置于所述光檢測器的入射側處，并用于阻擋來自所述光盤的除所述一個信號面之外的信號面的返回光線中的、至少被所述凹槽衍射的衍射光線。2.如權利要求1所述的光學拾波器，其中，所述遮光單元設置于所述衍射光線基本上聚集的位置處。3.如權利要求2所述的光學拾波器，其中，假設amax是來自所述一個信號面的返回光線的第O階光線的半徑最大值，且b是所述第O階光線的中心與來自除所述一個信號面之外的信號面的返回光線的第I階光線的光斑位置之間的距離，所述遮光單元沿從除所述一個信號面之外的信號面反射的第O階反射光線所聚焦的平面、設置于比率KK相對于所述第O階光線的所述半徑基本上恒定的位置處，其中，所述比率KK=b/amax。4.如權利要求1所述的光學拾波器，其中，所述遮光單元阻擋所述衍射光線以及從除所述一個信號面之外的信號面反射的反射光線。5.如權利要求1所述的光學拾波器，其中，所述遮光單元是由沿基本上垂直于所述磁道方向的方向延伸的帶狀遮光體構成。6.如權利要求1所述的光學拾波器，其中，來自所述光盤的所述返回光線經由全息光學元件及所述遮光單元而被所述光檢測器接收。7.如權利要求6所述的光學拾波器，其中，通過所述全息光學元件防止來自除所述一個信號面之外的信號面的所述返回光線照射所述光檢測器。8.一種光盤裝置，其包括:旋轉驅動單元，其用于旋轉驅動光盤；光源；物鏡，其用于將來自所述光源的光聚焦于多層式光盤上，所述多層式光盤包括兩個以上信號面，每一個所述信號面中均形成有凹槽；致動器，其用于沿基本上垂直于所述光盤的磁道方向的方向移動所述物鏡；光檢測器，其用于接收來自所述光盤的返回光線，所述光檢測器具有光接收面，所述光接收面被基本上平行于所述光盤的磁道方向的分割線以及基本上垂直于所述磁道方向的分割線劃分成四個光接收區域；遮光單元，其設置于所述光檢測器的入射側處，并用于阻擋來自所述光盤的除所述一個信號面之外的信號面的返回光線中的、至少被所述凹槽衍射的衍射光線；以及計算單元，其用于通過計算所述光檢測器的檢測信號來產生循跡誤差信號，其中，所述致動器是通過所述循跡誤差信號而被驅動。【文檔編號】G11B7/1374GK103680532SQ201310367346【公開日】2014年3月26日申請日期:2013年8月21日優先權日:2012年8月29日【發明者】齊藤公博,中尾敬,天宅豐申請人:索尼公司