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一種精密薄膜電容器制造加工方法、裝置、設(shè)備以及介質(zhì)與流程

文檔序號:41750794發(fā)布日期:2025-04-25 17:42閱讀:7來源:國知局
一種精密薄膜電容器制造加工方法、裝置、設(shè)備以及介質(zhì)與流程

本發(fā)明涉及電容制造領(lǐng)域,尤其涉及一種精密薄膜電容器制造加工方法、裝置、設(shè)備以及介質(zhì)。


背景技術(shù):

1、薄膜電容器主要應(yīng)用于電子、家電、通訊、電力、電氣化鐵路、混合動力汽車、風(fēng)力發(fā)電、太陽能發(fā)電等多個行業(yè),這些行業(yè)的穩(wěn)定發(fā)展,推動了薄膜電容器市場的增長。隨著技術(shù)水平的發(fā)展,電子、家電、通訊等多個行業(yè)更新?lián)Q代周期越來越短,而薄膜電容器憑借其良好的電工性能和高可靠性,成為推動上述行業(yè)更新?lián)Q代不可缺少的電子元件。

2、但薄膜電容器在應(yīng)用過程中,會出現(xiàn)電容噪音大、電容發(fā)熱鼓包開路失效等問題,對電容器的壽命和可靠性形成挑戰(zhàn)。因此,如何制造出噪音小且耐溫性好的電容是亟待解決的問題。


技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本發(fā)明通過提供一種精密薄膜電容器制造加工方法、裝置、設(shè)備以及介質(zhì),解決了現(xiàn)有技術(shù)中電容噪音大,耐溫性不強的技術(shù)問題,實現(xiàn)了制造出噪音小且耐溫性好的電容的技術(shù)效果。

2、第一方面,本發(fā)明提供了一種精密薄膜電容器制造加工方法,方法包括:

3、基于等離子放電,對基膜的蒸鍍面進行等離子處理,得到金屬化膜;

4、確定金屬化膜的寬度以及金屬串?dāng)?shù)量,以及在金屬化膜的寬度和金屬串?dāng)?shù)量下對應(yīng)的邊鍍層寬度偏差以及對應(yīng)的中鍍層寬度偏差,并進行蒸鍍,得到覆蓋金屬層的金屬化膜;

5、按照預(yù)設(shè)切割方式,對金屬化膜進行切割,其中,預(yù)設(shè)切割方式包括直切、單邊波浪切割以及雙邊波浪切割;

6、按照預(yù)設(shè)步驟對金屬化膜處理,得到精密薄膜電容器,其中,預(yù)設(shè)步驟包括:卷繞、熱壓、噴金、焊接以及封裝。

7、進一步地,確定金屬化膜的寬度以及金屬串?dāng)?shù)量,以及在金屬化膜的寬度和金屬串?dāng)?shù)量下對應(yīng)的邊鍍層寬度偏差以及對應(yīng)的中鍍層寬度偏差,包括:

8、當(dāng)金屬化膜的寬度≤14.5mm,且金屬串?dāng)?shù)量的數(shù)量為奇數(shù)時,邊鍍層寬度偏差以及中鍍層寬度偏差均為±0.15mm;

9、當(dāng)金屬化膜的寬度≤14.5mm,且金屬串?dāng)?shù)量的數(shù)量為偶數(shù)時,邊鍍層寬度偏差為±0.30mm,中鍍層寬度偏差為±0.15mm;

10、當(dāng)金屬化膜的寬度>14.5mm且≤38mm時,金屬串?dāng)?shù)量的數(shù)量為奇數(shù)時,邊鍍層寬度偏差以及中鍍層寬度偏差均為±0.20mm;

11、當(dāng)金屬化膜的寬度>14.5mm且≤38mm時,金屬串?dāng)?shù)量的數(shù)量為偶數(shù)時,邊鍍層寬度偏差為±0.40mm,中鍍層寬度偏差為±0.20mm;

12、當(dāng)金屬化膜的寬度>38mm時,且金屬串?dāng)?shù)量的數(shù)量為奇數(shù)時,邊鍍層寬度偏差為±0.30mm,中鍍層寬度偏差為±0.20mm;

13、當(dāng)金屬化膜的寬度>38mm時,且金屬串?dāng)?shù)量的數(shù)量為偶數(shù)時,邊鍍層寬度偏差為±0.60mm,中鍍層寬度偏差為±0.20mm。

14、進一步地,按照預(yù)設(shè)切割方式,對金屬化膜進行切割,包括:

15、按照各預(yù)設(shè)切割方式的形狀要求以及尺寸偏差,對金屬化膜進行切割。

16、進一步地,在卷繞步驟中,包括:

17、當(dāng)預(yù)設(shè)切割方式為直切,卷繞芯子的腳距≤27.5mm時,控制卷繞芯子的錯邊范圍在0.5mm±0.2mm之內(nèi);

18、當(dāng)預(yù)設(shè)切割方式為波浪切,卷繞芯子的腳距≤27.5mm時,控制卷繞芯子的錯邊范圍在0.55mm±0.2mm之內(nèi);

19、當(dāng)預(yù)設(shè)切割方式為直切,卷繞芯子的腳距>27.5mm時,控制卷繞芯子的錯邊范圍在0.5mm±0.2mm之內(nèi);

20、當(dāng)預(yù)設(shè)切割方式為波浪切,卷繞芯子的腳距>27.5mm時,控制卷繞芯子的錯邊范圍在0.65mm±0.2mm之內(nèi)。

21、進一步地,在熱壓步驟中,包括:

22、熱壓溫度在125℃±5℃內(nèi);

23、熱壓時間在360s±30s內(nèi);

24、熱壓機的類型為大熱壓機,其中,芯子的支數(shù)為1247支,大熱壓機提供的壓強在6.3mpa±0.1mpa。

25、進一步地,在噴金步驟中,包括:

26、采用的合金中錫含量>60%。

27、進一步地,在焊接步驟中,包括:

28、焊接電源采用數(shù)字逆變電源,并采用無阻氣缸提供壓力。

29、第二方面,本發(fā)明提供了一種精密薄膜電容器制造加工裝置,裝置包括:

30、放電處理模塊,用于基于等離子放電,對基膜的蒸鍍面進行等離子處理,得到金屬化膜;

31、蒸鍍模塊,用于確定金屬化膜的寬度以及金屬串?dāng)?shù)量,以及在金屬化膜的寬度和金屬串?dāng)?shù)量下對應(yīng)的邊鍍層寬度偏差以及對應(yīng)的中鍍層寬度偏差,并進行蒸鍍,得到覆蓋金屬層的金屬化膜;

32、切割模塊,用于按照預(yù)設(shè)切割方式,對金屬化膜進行切割,其中,預(yù)設(shè)切割方式包括直切、單邊波浪切割以及雙邊波浪切割;

33、容器獲取模塊,用于按照預(yù)設(shè)步驟對金屬化膜處理,得到精密薄膜電容器,其中,預(yù)設(shè)步驟包括:卷繞、熱壓、噴金、焊接以及封裝。

34、第三方面,本發(fā)明提供了一種電子設(shè)備,包括:

35、處理器;

36、用于存儲處理器可執(zhí)行指令的存儲器;

37、其中,處理器被配置為執(zhí)行以實現(xiàn)如第一方面提供的一種精密薄膜電容器制造加工方法。

38、第四方面,本發(fā)明提供了一種非臨時性計算機可讀存儲介質(zhì),當(dāng)存儲介質(zhì)中的指令由電子設(shè)備的處理器執(zhí)行時,使得電子設(shè)備能夠執(zhí)行實現(xiàn)如第一方面提供的一種精密薄膜電容器制造加工方法。

39、本發(fā)明中提供的一個或多個技術(shù)方案,至少具有如下技術(shù)效果或優(yōu)點:

40、本發(fā)明提供了一種精密薄膜電容器制造加工方法,包括:基于等離子放電,對基膜的蒸鍍面進行等離子處理,得到金屬化膜;確定金屬化膜的寬度以及金屬串?dāng)?shù)量,以及在金屬化膜的寬度和金屬串?dāng)?shù)量下對應(yīng)的邊鍍層寬度偏差以及對應(yīng)的中鍍層寬度偏差,并進行蒸鍍,得到覆蓋金屬層的金屬化膜;按照預(yù)設(shè)切割方式,對金屬化膜進行切割,其中,預(yù)設(shè)切割方式包括直切、單邊波浪切割以及雙邊波浪切割;按照預(yù)設(shè)步驟對金屬化膜處理,得到精密薄膜電容器,其中,預(yù)設(shè)步驟包括:卷繞、熱壓、噴金、焊接以及封裝。基于本發(fā)明提供的方法所制作的電容可以具備較好的耐溫性,以及電容的噪音較低。



技術(shù)特征:

1.一種精密薄膜電容器制造加工方法,其特征在于,所述方法包括:

2.如權(quán)利要求1所述的一種精密薄膜電容器制造加工方法,其特征在于,確定所述金屬化膜的寬度以及金屬串?dāng)?shù)量,以及在所述金屬化膜的寬度和金屬串?dāng)?shù)量下對應(yīng)的邊鍍層寬度偏差以及對應(yīng)的中鍍層寬度偏差,包括:

3.如權(quán)利要求1所述的一種精密薄膜電容器制造加工方法,其特征在于,按照預(yù)設(shè)切割方式,對所述金屬化膜進行切割,包括:

4.如權(quán)利要求1所述的一種精密薄膜電容器制造加工方法,其特征在于,在卷繞步驟中,包括:

5.如權(quán)利要求1所述的一種精密薄膜電容器制造加工方法,其特征在于,在熱壓步驟中,包括:

6.如權(quán)利要求1所述的一種精密薄膜電容器制造加工方法,其特征在于,在噴金步驟中,包括:

7.如權(quán)利要求1所述的一種精密薄膜電容器制造加工方法,其特征在于,在焊接步驟中,包括:

8.一種精密薄膜電容器制造加工裝置,其特征在于,所述裝置包括:

9.一種電子設(shè)備,其特征在于,包括:

10.一種非臨時性計算機可讀存儲介質(zhì),其特征在于,當(dāng)所述存儲介質(zhì)中的指令由電子設(shè)備的處理器執(zhí)行時,使得電子設(shè)備能夠執(zhí)行實現(xiàn)如權(quán)利要求1至7中任一項所述的一種精密薄膜電容器制造加工方法。


技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種精密薄膜電容器制造加工方法、裝置、設(shè)備以及介質(zhì),包括:基于等離子放電,對基膜的蒸鍍面進行等離子處理;確定金屬化膜的寬度以及金屬串?dāng)?shù)量,以及在金屬化膜的寬度和金屬串?dāng)?shù)量下對應(yīng)的邊鍍層寬度偏差以及對應(yīng)的中鍍層寬度偏差,并進行蒸鍍,得到覆蓋金屬層的金屬化膜;按照預(yù)設(shè)切割方式,對金屬化膜進行切割,其中,預(yù)設(shè)切割方式包括直切、單邊波浪切割以及雙邊波浪切割;按照預(yù)設(shè)步驟對金屬化膜處理,得到精密薄膜電容器,其中,預(yù)設(shè)步驟包括:卷繞、熱壓、噴金、焊接以及封裝。本發(fā)明屬于電容制造領(lǐng)域。基于本發(fā)明提供的方法制造的電容可以具備良好的耐高溫以及噪音低的優(yōu)勢。

技術(shù)研發(fā)人員:徐清全,李學(xué)權(quán)
受保護的技術(shù)使用者:四川中星電子有限責(zé)任公司
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2025/4/24
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