本發明涉及食物處理領域，特別是涉及一種用于加熱裝置的控制方法及加熱裝置。

背景技術：

1、食物在冷凍的過程中，食物的品質得到了保持，然而冷凍的食物在加工或食用前需要解凍。為了便于用戶解凍食物，通常通過電磁波加熱裝置來解凍食物。

2、通過電磁波加熱裝置來解凍食物，不僅速度快、效率高，而且食物的營養成分損失低，特別是具有阻抗匹配模塊的加熱裝置。然而，阻抗匹配模塊為了保證調節精度的同時增加對食物的適配范圍，往往設置較多的匹配支路，導致阻抗匹配花費過多的時間，影響對食物的加熱效率和加熱效果。

技術實現思路

1、本發明第一方面的一個目的是要克服現有技術中的至少一個技術缺陷，提供一種用于加熱裝置的控制方法。

2、本發明第一方面的一個進一步的目的是要縮短用于阻抗匹配的時間。

3、本發明第一方面的另一個進一步的目的是要簡化控制程序。

4、本發明第二方面的一個目的是要提供一種應用該控制方法的加熱裝置。

5、根據本發明的第一方面，提供了一種用于加熱裝置的控制方法，所述加熱裝置包括用于放置待處理物的腔體、產生用于加熱所述待處理物的電磁波信號的電磁波發生模塊、和通過調節自身阻抗來調節所述電磁波發生模塊的負載阻抗的匹配模塊，所述匹配模塊包括第一匹配單元，所述第一匹配單元包括可獨立通斷的多個匹配支路，其中，所述控制方法包括：

6、編號獲取步驟：獲取預先配置的所述第一匹配單元的編號集合，所述編號集合包括所述多個匹配支路的通斷組合的組合編號，所述組合編號與所述第一匹配單元的阻抗值相對應；

7、基準確定步驟：在所述編號集合中確定出第一測試組，所述第一測試組包括阻抗值相差預設的第一差值的多個組合編號，按照所述第一測試組控制對應匹配支路的通斷并獲取所述第一測試組中每個組合編號對應的反射參數，根據所述反射參數在所述第一測試組中確定第一匹配基準；

8、最優測試步驟：基于所述第一匹配基準確定出第二測試組，所述第二測試組包括阻抗值相差預設的第二差值的所述第一匹配基準和多個組合編號，按照所述第二測試組控制對應匹配支路的通斷并獲取所述第二測試組中每個組合編號對應的反射參數，根據所述反射參數在所述第二測試組中確定第二匹配基準或最優組合編號；其中，

9、所述第二差值小于所述第一差值。

10、本發明的控制方法通過對第一匹配單元的通斷組合進行編號，并通過先后確定一個或多個匹配基準縮小測試范圍獲得最優組合編號，不僅通過組合編號本身便可進行阻抗值的比較計算，簡化了控制程序，而且相比于現有技術中需要逐個確定通斷組合的反射參數才能比較出最優通斷組合的控制方法，可極大地縮短用于確定最優通斷組合的時間，減少阻抗匹配對加熱效果的影響，提高加熱效率并減少能耗。

11、可選地，所述匹配模塊還包括第二匹配單元，所述第二匹配單元包括可獨立通斷的多個匹配支路；且

12、在所述基準確定步驟和所述最優測試步驟的獲取所述第一匹配單元的組合編號對應的反射參數的過程中，基于一個組合編號遍歷所述第二匹配單元的通斷組合，并將所述第二匹配單元的通斷組合中最優的反射參數記錄為該組合編號的反射參數。

13、本發明的控制方法在反射參數的測試過程中，先固定測試組的一個組合編號，再逐一測試該組合編號對應的第二匹配單元的每個通斷組合的反射參數，并將每個組合編號通過第二匹配單元可實現的最優反射參數作為該組合編號的反射參數，便于匹配基準和最優組合編號的確定，減少了同一時間的數據存儲量，進一步簡化了控制程序并提高了測試效率。

14、可選地，在所述基準確定步驟和所述最優測試步驟中，記錄每個組合編號更優的反射參數及相應的第二匹配單元配置，直至確定出該組合編號最優的反射參數及第二匹配單元配置。

15、本發明的控制方法在反射參數的測試過程中，僅記錄每個組合編號更優的反射參數及相應的第二匹配單元配置，便于后續按照匹配模塊最優的配置對待處理物進行正式加熱，進一步地簡化了控制程序，降低了對配套硬件存儲和計算性能的要求，進而降低了生產成本。

16、可選地，在所述最優測試步驟之后還包括：

17、正式加熱步驟：按照所述最優組合編號和對應的第二匹配單元配置控制對應匹配支路的通斷；其中，

18、所述正式加熱步驟的加熱功率大于所述基準確定步驟和所述最優測試步驟的測試功率。

19、本發明的控制方法在確定最優組合編號后，使匹配模塊按照最優組合編號及相應的第二匹配單元配置通斷并對待處理物進行大功率加熱，進一步地減少了阻抗匹配對加熱效果的影響，提高了加熱效率。

20、可選地，在所述正式加熱步驟之后還包括：

21、匹配測試步驟：基于當前的所述匹配模塊的配置獲取對應的反射參數；

22、重新匹配步驟：在所述反射參數劣于預設的匹配閾值時或所述匹配測試步驟的連續時間大于預設的匹配時間閾值時，在所述編號集合的阻抗值小于所述最優組合編號或前一匹配組合編號的范圍內重新確定新的匹配組合編號，所述匹配組合編號為反射參數最優或反射參數優于所述匹配閾值。

23、本發明的控制方法通過在加熱過程中根據反射參數重新確定匹配組合編號，并將測試限定在阻抗值小于最優組合編號或前一匹配組合編號的范圍內，保證了待處理物對電磁波的吸收率，縮短了重新匹配的所需時間，進一步地提高了加熱效率。

24、可選地，所述第二匹配單元串聯在所述電磁波發生模塊與所述腔體之間，所述第一匹配單元一端串聯在所述第二匹配單元與所述腔體之間、另一端接地。

25、本發明采用的具有特定串并聯關系的匹配模塊電路，不僅電路簡單可靠，能夠靈活、精確地調節電磁波發生模塊的負載阻抗，而且與前述最優組合編號確定方法配合，可在具有較高的測試效率的同時，獲得較準確的最優組合編號，進而保證了整個加熱過程對待處理物的加熱效果。

26、可選地，所述第一匹配單元的匹配支路的數量大于所述第二匹配單元的匹配支路的數量。

27、本發明的控制方法通過對匹配支路數量更多的匹配單元進行匹配基準測試縮小測試范圍，對匹配支路數量更少的匹配單元進行遍歷測試，在整體上提高了最優組合編號的測試效率，并降低了最優組合編號的確定誤差。

28、可選地，每個所述匹配支路包括一個定值電容和一個開關；且

29、所述多個匹配支路的定值電容的電容值不同，且每個定值電容的電容值是其他一個定值電容的電容值的2倍或1/2倍。

30、本發明的控制方法所基于的第一匹配單元的每個定值電容的電容值是其他一個定值電容的電容值的2倍或1/2倍，使得按照阻抗值大小排序的第一匹配單元的組合編號的相鄰兩個編號的差值均相同，不僅提高了對待處理物的匹配精度，減輕了加熱不同食物的效果差異，還減少了設計預設的第一差值和第二差值的具體數值的限制，使控制程序更加簡潔。

31、可選地，在所述最優測試步驟之后還包括：

32、參數初定步驟：根據所述最優組合編號確定所述待處理物的重量和/或加熱所述待處理物的控制參數。

33、本發明的控制方法根據最優組合編號確定待處理物的重量和/或加熱控制參數，無需用戶手動輸入或增加額外的檢測待處理物的初始屬性的元器件輔助確定，降低了生產成本，避免了過多檢測數據的誤差疊加，能夠實現對待處理物的精準加熱，減少過冷過熱現象的發生。

34、根據本發明的第二方面，提供了一種加熱裝置，包括：

35、腔體，用于放置待處理物；

36、電磁波發生模塊，配置為產生電磁波信號，用于加熱所述待處理物；

37、匹配模塊，配置為可通過調節自身阻抗來調節所述電磁波發生模塊的負載阻抗；以及

38、控制器，配置為用于執行權利要求以上任一所述的控制方法。

39、本發明的加熱裝置通過對第一匹配單元的通斷組合進行編號，并通過先后確定一個或多個匹配基準縮小測試范圍獲得最優組合編號，不僅通過組合編號本身便可進行阻抗值的比較計算，簡化了控制程序，而且相比于現有技術中需要逐個確定通斷組合的反射參數才能比較出最優通斷組合的加熱裝置，可極大地縮短用于確定最優通斷組合的時間，減少阻抗匹配對加熱效果的影響，提高加熱效率并減少能耗。

40、根據下文結合附圖對本發明具體實施例的詳細描述，本領域技術人員將會更加明了本發明的上述以及其他目的、優點和特征。