本發(fā)明涉及光學(xué)測距裝置的產(chǎn)品檢測領(lǐng)域，尤其是涉及一種檢測方法。

背景技術(shù)：

目前，在研發(fā)過程中，對光電產(chǎn)品的光學(xué)特性、電學(xué)特性及其工作具體性能參數(shù)的檢測是必不可少的程序。在對光電產(chǎn)品光學(xué)特性的檢測中，特別是對透鏡裝置的檢測，在現(xiàn)有的技術(shù)中，通常使用的檢測方式為根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)鏡片的尺寸進(jìn)行比較。但是，通過這種方式僅僅能檢測出透鏡的尺寸偏差，并不能檢測出透鏡在應(yīng)用到整體部件中的性能，比如通過透鏡測出的性能參數(shù)是否在既定的光電裝置光學(xué)性能要求范圍內(nèi)。

測量偏心的方法是通過讓樣品旋轉(zhuǎn)，通過平行光入射（透射或反射）樣品的焦平面（或曲率中心）上十字叉絲的跳動來判斷偏心大小。用以測量偏心的透鏡檢測裝置有透鏡定中心儀、焦距儀等，主要是通過非接觸式的方式以透射式或透反式兩種方式進(jìn)行誤差的定量測量。

上述兩種方式用于測量和判定透鏡的各項參數(shù)誤差的操作均較為復(fù)雜，對于整體的透鏡的性能是否適用于測量裝置還需要進(jìn)一步的加權(quán)計算，加大了測量結(jié)果的誤差。同理，對于測距裝置的電路板、光源、接收模塊往往采用專門的電路進(jìn)行測量，然后經(jīng)過不同的計算得出相應(yīng)的參數(shù)誤差，采用的測量工具較多，采取的測量方式較多，增大了測量成本，加大了測量的誤差。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

為了解決上述問題，本發(fā)明提供一種能夠通過測出的性能參數(shù)判斷待測對象是否在既定的光電測距裝置對光學(xué)性能的要求范圍內(nèi)的檢測裝置，采用如下技術(shù)方案實現(xiàn)：

一種檢測裝置，包括反射結(jié)構(gòu)和光學(xué)測距裝置，所述光學(xué)測距裝置安放有至少一個可拆卸待測測試元件，所述反射結(jié)構(gòu)和光學(xué)測距裝置的間距可調(diào)，所述光學(xué)測距裝置在每個設(shè)定的測試點位測量其與反射結(jié)構(gòu)的間距并輸出測量距離或測量光強，通過在每一個測試點位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)的真實距離和測量距離的比對或真實距離和測量光強的比對，以確定光學(xué)測距裝置上的待測測試元件是否合格。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述光學(xué)測距裝置包括光源、電路板、用于會聚發(fā)射光束的發(fā)射光學(xué)組件、用于會聚反射光束的接收光學(xué)組件和接收模塊，所述電路板驅(qū)動光源發(fā)出光束，所述光束入射到反射結(jié)構(gòu)，所述接收模塊接收反射結(jié)構(gòu)反射后的光束，所述光源、電路板、發(fā)射光學(xué)組件、接收光學(xué)組件和接收模塊中的至少一個或幾個可拆卸設(shè)置于光學(xué)測距裝置中。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，還包括驅(qū)動裝置和控制系統(tǒng)，所述控制系統(tǒng)通過驅(qū)動裝置驅(qū)動所述光學(xué)測距裝置或反射結(jié)構(gòu)逐一經(jīng)過測試點位。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述測試點位由控制系統(tǒng)根據(jù)驅(qū)動裝置的運行參數(shù)計算并確定；

或者，所述測試點位由真實距離標(biāo)定裝置測量并標(biāo)定后將相應(yīng)的信號傳輸至控制系統(tǒng)。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述驅(qū)動裝置包括驅(qū)動器和步進(jìn)電機，所述步進(jìn)電機通過齒輪齒條結(jié)構(gòu)或絲桿螺母結(jié)構(gòu)與反射結(jié)構(gòu)或光學(xué)測距裝置相連接；

或者，所述驅(qū)動裝置包括驅(qū)動器和直線電機，所述直線電機的輸出軸直接連接反射結(jié)構(gòu)或光學(xué)測距裝置。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述絲桿螺母結(jié)構(gòu)包括設(shè)置在所述反射結(jié)構(gòu)或光學(xué)測距裝置下方的螺母座，以及螺接在所述螺母座內(nèi)且與螺母座相適配的絲桿，所述絲桿的固定端與步進(jìn)電機的傳動軸相連接，所述絲桿的另一端穿設(shè)在支撐座上。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述絲桿的固定端和支撐座分別對應(yīng)設(shè)置有限位開關(guān)，所述限位開關(guān)在其與對應(yīng)絲桿端部的實測距離小于等于設(shè)定安全距離值時，向控制系統(tǒng)發(fā)出信號，收到信號后所述控制系統(tǒng)指令驅(qū)動裝置停止移動。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述檢測裝置還包括與反射結(jié)構(gòu)或光學(xué)測距裝置的設(shè)定測試路徑相平行的直線光軸導(dǎo)軌，與驅(qū)動裝置相連接的反射結(jié)構(gòu)或光學(xué)測距裝置套設(shè)在直線光軸導(dǎo)軌上，且所述反射結(jié)構(gòu)或光學(xué)測距裝置只可沿與直線光軸導(dǎo)軌相平行的設(shè)定測試路徑移動。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述接收模塊包括感光芯片和/或計時芯片；所述光源為led光源或者激光光源。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，光源為兩個或四個，兩個或四個所述光源分別對稱設(shè)置在接收模塊的兩側(cè)。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述檢測裝置還包括外殼底座，所述外殼底座上設(shè)置有用于安裝光源、發(fā)射光學(xué)組件、接收光學(xué)組件、電路板和接收模塊的安裝槽，所述外殼底座上方還設(shè)置有用于定位發(fā)射光學(xué)組件和接收光學(xué)組件的定位透鏡上蓋，以及用于定位電路板的定位電路板上蓋。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，還包括沿豎直方向上下移動并在設(shè)定高度定位的升降臺，所述光學(xué)測距裝置或者反射結(jié)構(gòu)設(shè)置在所述升降臺上。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，還包括將所述反射結(jié)構(gòu)和光學(xué)測距裝置封裝起來的殼體，所述殼體上開設(shè)有用于更換待測測試元件的側(cè)開門。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述殼體由透明材料制成。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述發(fā)射光學(xué)組件包括設(shè)置在發(fā)射光路上的發(fā)射透鏡，每條發(fā)射光路上對應(yīng)設(shè)置有一個發(fā)射透鏡。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述接收光學(xué)組件包括沿接收光路自外而內(nèi)依次設(shè)置的接收外透鏡和接收內(nèi)透鏡。

本發(fā)明還提供了一種檢測方法，將待測測試元件對應(yīng)安裝在光學(xué)測距裝置上，通過驅(qū)動結(jié)構(gòu)驅(qū)動反射結(jié)構(gòu)或光學(xué)測距裝置連續(xù)運動并逐一經(jīng)過設(shè)定的測試點位，所述光學(xué)測距裝置在每個測試點位測量并輸出測量距離，對每個測試點位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)的測量距離和真實距離比對，判斷待測測試元件是否合格；

或者，對每個測試點位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)的測量光強和真實距離比對，判斷待測測試元件是否合格。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，采用比值法對每個測試點位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)的測量距離an和真實距離an或者測量光強in和真實距離an進(jìn)行比對：

每個測試點位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)的測量距離an和真實距離an的比值pn的數(shù)值范圍在（k1，k2）之間時，待測測試元件合格；

或者，每個測試點位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)的測量光強in和真實距離an的比值qn的數(shù)值范圍在（k3，k4）之間時，待測測試元件合格；

其中，所述n為大于等于1的自然數(shù)，所述k1、k2、k3和k4為常數(shù)，且k2大于k1，k4大于k3。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述pn中n的取值為m，則從p1到pm這m個數(shù)值中最多有n-1個在（k1，k2）之外，則pn所對應(yīng)的待測測試元件為合格；

或者，所述qn中n的取值為m，則從q1到qm這m個數(shù)值中最多有n-1個在（k3，k4）之外，則qn所對應(yīng)的待測測試元件為合格；

m為大于1的自然數(shù)，n為大于等于1的自然數(shù)，且m大于n-1。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述pn中n的取值為80，則p1到p80這80個數(shù)值中最多有5個在設(shè)定的（k1，k2）之外，滿足前述條件的待測測試元件為合格；

或者，所述qn中n的取值為80，則q1到q80這80個數(shù)值中最多有5個在設(shè)定的（k3，k4）之外，滿足前述條件的待測測試元件為合格。

本發(fā)明針對待測對象產(chǎn)品在實際使用的環(huán)境，創(chuàng)造一個小型系統(tǒng)，針對某一個或者某幾個測試元件的組合進(jìn)行綜合的數(shù)據(jù)測量，利用了光學(xué)測距裝置的光學(xué)測速快速高效的特性，比對快速準(zhǔn)確，適用多種測試元件，一機多用，節(jié)省檢測設(shè)備的占用空間。在本發(fā)明中由實驗多次測量標(biāo)定的檢測標(biāo)準(zhǔn)以及誤差作為判斷的標(biāo)準(zhǔn)，判斷透鏡是否合格，同時可檢測出透鏡的一致性，因而增強了對透鏡的甄別，并有效的建立了透鏡的數(shù)據(jù)庫，增強了透鏡測試的可追溯性。

附圖說明

圖1為本發(fā)明檢測裝置的光路圖。

圖2為本發(fā)明檢測裝置的整體裝配示意圖。

圖3為本發(fā)明檢測裝置的外殼底座的結(jié)構(gòu)示意圖。

1-發(fā)射透鏡；2-反射結(jié)構(gòu)；3-接收外透鏡；4-接收內(nèi)透鏡；5-支承座；6-限位開關(guān)；7-外殼底座；8-螺母座；9-絲杠；10-直線光軸導(dǎo)軌；11-固定端；12-聯(lián)軸器；13-步進(jìn)電機；14-控制系統(tǒng)；15-驅(qū)動器；16-殼體；17-升降臺；18-定位透鏡上蓋；19-定位電路板上蓋；20-電路板。

具體實施方式

實施例1

本發(fā)明提供了一種檢測裝置，如圖2所示，包括：包括反射結(jié)構(gòu)2和光學(xué)測距裝置，所述光學(xué)測距裝置安放有至少一個可拆卸待測測試元件，所述反射結(jié)構(gòu)2和光學(xué)測距裝置的間距可調(diào)，所述光學(xué)測距裝置在每個設(shè)定的測試點位測量其與反射結(jié)構(gòu)2的間距并輸出測量距離或測量光強，通過在每一個測試點位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)2的真實距離和測量距離的比對或真實距離和測量光強的比對，以確定光學(xué)測距裝置上的待測測試元件是否合格。

通過安放有至少一個可拆卸待測測試元件的所述光學(xué)測距裝置和作為光學(xué)測距裝置的測量目標(biāo)的反射結(jié)構(gòu)2的結(jié)構(gòu)設(shè)置，創(chuàng)造一個完整的測試系統(tǒng)，針對某一個或者某幾個測試元件的組合進(jìn)行綜合的數(shù)據(jù)測量，利用了光學(xué)測距裝置的光學(xué)測速快速高效的特性，比對快速準(zhǔn)確，適用多種待測測試元件的檢測，一機多用，節(jié)省檢測設(shè)備的占用空間。具體應(yīng)用中，所述光學(xué)測距裝置可以是采用tof時間法的脈沖光學(xué)測距裝置或者相位法光學(xué)測距裝置，還可以是采用三角法的光學(xué)測距裝置。

優(yōu)選的，如圖1所示，所述光學(xué)測距裝置包括光源、電路板20、用于會聚發(fā)射光束的發(fā)射光學(xué)組件、用于會聚反射光束的接收光學(xué)組件和接收模塊，所述接收模塊包括感光芯片和/或計時芯片。所述電路板20驅(qū)動光源發(fā)出光束，所述光束入射到反射結(jié)構(gòu)2并反射，所述接收模塊接收反射結(jié)構(gòu)2反射后的光束，所述光源、電路板20、發(fā)射光學(xué)組件、接收光學(xué)組件和接收模塊中的至少一個或幾個可拆卸設(shè)置于光學(xué)測距裝置中。

為了進(jìn)一步實現(xiàn)自動化控制和運行，所述檢測裝置還包括驅(qū)動裝置和控制系統(tǒng)14，所述控制系統(tǒng)14通過驅(qū)動裝置驅(qū)動所述反射結(jié)構(gòu)2逐一經(jīng)過測試點位，所述驅(qū)動裝置的運行參數(shù)由所述控制系統(tǒng)14設(shè)定并根據(jù)具體的測試要求進(jìn)行修改。所述測試點位由測試人員根據(jù)測試需要具體設(shè)定，在測試的過程中測試點位的確定由控制系統(tǒng)14根據(jù)驅(qū)動裝置的運行參數(shù)計算并確定。

所述驅(qū)動裝置有多種選擇，例如，所述驅(qū)動裝置包括驅(qū)動器15和直線電機，所述直線電機的輸出軸直接連接反射結(jié)構(gòu)2。或者，所述驅(qū)動裝置包括驅(qū)動器15和步進(jìn)電機13。

作為優(yōu)選項的，所述驅(qū)動裝置包括驅(qū)動器15和步進(jìn)電機13，所述反射結(jié)構(gòu)2可以直接在步進(jìn)電機13直接驅(qū)動下沿設(shè)定測試路徑運行，所述反射結(jié)構(gòu)2的真實距離可以通過記錄步進(jìn)電機13的轉(zhuǎn)速和轉(zhuǎn)動圈數(shù)得出。所述步進(jìn)電機13通過齒輪齒條結(jié)構(gòu)或絲桿螺母結(jié)構(gòu)與反射結(jié)構(gòu)2相連接；所述絲桿螺母結(jié)構(gòu)或齒輪齒條結(jié)構(gòu)均用于推動反射結(jié)構(gòu)2相對于光學(xué)測距裝置移動。

為了保證反射結(jié)構(gòu)2移動呈直線且保持連貫，所述絲桿螺母結(jié)構(gòu)包括設(shè)置在所述反射結(jié)構(gòu)2下方的螺母座8，以及螺接在所述螺母座8內(nèi)且與螺母座8相適配的絲桿9，所述絲桿9的固定端11與步進(jìn)電機13的傳動軸相連接，所述絲桿9的另一端穿設(shè)在支撐座5上。優(yōu)選的，所述絲桿9的固定端11通過聯(lián)軸器12與步進(jìn)電機13的傳動軸相連接。所述控制系統(tǒng)14通過步進(jìn)電機13和驅(qū)動器15控制絲桿9轉(zhuǎn)動以帶動反射結(jié)構(gòu)2運行，每一個測試點位對應(yīng)一個絲桿9轉(zhuǎn)動的圈數(shù)數(shù)值，當(dāng)絲桿9帶動反射結(jié)構(gòu)2轉(zhuǎn)至設(shè)定的圈數(shù)數(shù)值時，控制系統(tǒng)14記錄測試點位真實距離an。螺母座8和絲桿9相配合的結(jié)構(gòu)，提高了反射結(jié)構(gòu)2沿測試路徑運行的穩(wěn)定性，同時，通過記錄絲桿9的轉(zhuǎn)動圈數(shù)來記錄反射結(jié)構(gòu)2的真實距離其更為準(zhǔn)確，干擾更小。

為了防止反射結(jié)構(gòu)2和光學(xué)測距裝置的間距超過設(shè)定測量最大范圍或者絲桿9脫出螺母座8，所述絲桿9的固定端11和支撐座5分別對應(yīng)設(shè)置有限位開關(guān)6，所述限位開關(guān)6在其與對應(yīng)絲桿9端部的實測距離小于等于設(shè)定安全距離值時，向控制系統(tǒng)14發(fā)出信號，收到信號后所述控制系統(tǒng)14指令驅(qū)動裝置停止移動。

所述限位開關(guān)6為行程開關(guān)或霍爾接近開關(guān)。優(yōu)選的，所述限位開關(guān)6為npn常開型的霍爾接近開關(guān)，其檢測距離為1cm。在霍爾接近開關(guān)的探頭探測到距其1cm內(nèi)有磁鐵時，所述霍爾接近開關(guān)向與其相連接的控制系統(tǒng)14發(fā)出信號，所述控制系統(tǒng)14指令驅(qū)動結(jié)構(gòu)停止移動；進(jìn)一步的，所述檢測裝置還包括警示燈，所述警示燈連接霍爾接近開關(guān)或控制板，在霍爾接近開關(guān)的探頭探測到距其1cm內(nèi)有磁鐵時，所述警示燈亮，以提醒測試者進(jìn)行下一個測試步驟或下一次測試，優(yōu)選的，所述警示燈為led警示燈。

所述檢測裝置還包括與反射結(jié)構(gòu)2或光學(xué)測距裝置的設(shè)定測試路徑相平行的直線光軸導(dǎo)軌10，與驅(qū)動裝置相連接的反射結(jié)構(gòu)2套設(shè)在直線光軸導(dǎo)軌10上，且所述反射結(jié)構(gòu)2或光學(xué)測距裝置只可沿與直線光軸導(dǎo)軌10相平行的設(shè)定測試路徑移動。所述反射結(jié)構(gòu)2可以通過與直線光軸導(dǎo)軌10相適配的套環(huán)與直線光軸導(dǎo)軌10相套接，以保證測試路徑始終與直線光軸導(dǎo)軌10相平行。

所述光源為led光源或者激光光源，所述光源的數(shù)量不限，可以是一個，兩個或多個。優(yōu)選的，所述光源為兩個或四個，兩個或四個所述光源分別對稱設(shè)置在接收模塊的兩側(cè)。

所述發(fā)射光學(xué)組件和/或所述接收光學(xué)組件為透鏡或透鏡組件。所述透鏡組件包括多個透鏡的排列組合，或者單個、多個透鏡與功能膜片的組合。所述發(fā)射光學(xué)組件包括設(shè)置在發(fā)射光路上的發(fā)射透鏡1，每條發(fā)射光路上對應(yīng)設(shè)置有一個發(fā)射透鏡1。所述接收光學(xué)組件包括沿接收光路自外而內(nèi)依次設(shè)置的接收外透鏡3和接收內(nèi)透鏡4。

至少對應(yīng)每個測試點位處，兩個對稱設(shè)置在接收光學(xué)組件兩側(cè)的led燈在電路板20驅(qū)動下發(fā)出光束，如圖1所示，所述光束通過對應(yīng)的發(fā)射透鏡1后射向反射結(jié)構(gòu)2，經(jīng)反射結(jié)構(gòu)2反射后依次經(jīng)過接收外透鏡3和接收內(nèi)透鏡4進(jìn)入接收模塊。

優(yōu)選的，所述驅(qū)動器15為兩相步進(jìn)電機驅(qū)動器，型號為：vicsr2，所述步進(jìn)電機13型號為stp-42d2138-02，所述絲桿9為滾珠絲桿。所述控制系統(tǒng)14線連接兩相步進(jìn)電機驅(qū)動器進(jìn)行供電，直線光軸導(dǎo)軌10線連接驅(qū)動器15的控制端，直線光軸導(dǎo)軌10的另外一個端口連接光學(xué)測距裝置。兩相步進(jìn)電機驅(qū)動器的四個端口與步進(jìn)電機13相連，步進(jìn)電機13通過聯(lián)軸器12帶動滾珠絲桿，當(dāng)步進(jìn)電機13驅(qū)動滾珠絲桿運動時，滾珠絲杠帶動著反射結(jié)構(gòu)2在水平方向上移動，所述光學(xué)測距裝置可以一直測試，由控制系統(tǒng)14提取每一個測試點位對應(yīng)的真實距離和測試距離或測試光強；或者也可以由控制系統(tǒng)14在每一個測試點位指令光學(xué)測距裝置測距，在測試點位之間指令光學(xué)測距裝置停止測距。

具體實施時，所述控制系統(tǒng)14也可以通過驅(qū)動裝置驅(qū)動所述光學(xué)測距裝置逐一經(jīng)過測試點位，整體技術(shù)方案與上述技術(shù)內(nèi)容相類同，不再贅述。

實施例2

與實施例1不同的是，如圖3所示，所述檢測裝置還包括外殼底座7，所述外殼底座7上設(shè)置有用于安裝光源、發(fā)射光學(xué)組件、接收光學(xué)組件、電路板20和接收模塊的安裝槽，所述外殼底座7上方還設(shè)置有用于定位發(fā)射光學(xué)組件和接收光學(xué)組件的定位透鏡上蓋18，以及用于定位電路板20的定位電路板上蓋19。所述具有安裝槽的外殼底座7的結(jié)構(gòu)設(shè)置實現(xiàn)了檢測裝置的集成化，使得更換測試元件更為快速方便。

為了便于調(diào)整光學(xué)測距裝置和反射結(jié)構(gòu)2的相對高度，所述檢測裝置還包括可沿豎直方向上下移動并在設(shè)定高度定位的升降臺17，所述光學(xué)測距裝置或者反射結(jié)構(gòu)2設(shè)置在所述升降臺17上。

為了進(jìn)一步降低外部環(huán)境的干擾，所述檢測裝置還包括將所述反射結(jié)構(gòu)2和光學(xué)測距裝置封裝起來的殼體16，所述殼體16上開設(shè)有用于更換待測測試元件的側(cè)開門。所述殼體16的設(shè)置，減少了實驗時外部的碰觸和干擾。

優(yōu)選的，所述殼體16由透明材料制成。可以清楚直觀的觀察檢測裝置的結(jié)構(gòu)及測試過程。

實施例3

與實施例1-2不同的是，所述檢測裝置還包括真實距離標(biāo)定裝置，所述真實距離標(biāo)定裝置用于校準(zhǔn)所述驅(qū)動裝置所標(biāo)出的真實距離的誤差。所述真實距離標(biāo)定裝置可以是直尺、光電門等測距裝置。

或者，所述真實距離標(biāo)定裝置實時測量出所述反射結(jié)構(gòu)2與所述光學(xué)測距裝置的間距并至少將每一個測試點位的真實測距信息傳輸至控制系統(tǒng)14，由控制系統(tǒng)14控制光學(xué)測距裝置至少在測試點位進(jìn)行其與反射結(jié)構(gòu)2的間距的測量。

優(yōu)選的，所述真實距離標(biāo)定裝置是光電門，所述光電門連接控制系統(tǒng)14。當(dāng)然，所述真實距離標(biāo)定裝置包含但不限于直尺和光電門，可擴展到測量領(lǐng)域的任何測量工具。

實施例4

本發(fā)明還提供了一種檢測方法，將待測測試元件對應(yīng)安裝在光學(xué)測距裝置上，通過驅(qū)動結(jié)構(gòu)驅(qū)動反射結(jié)構(gòu)2或光學(xué)測距裝置連續(xù)運動并逐一經(jīng)過設(shè)定的測試點位，所述光學(xué)測距裝置在每個測試點位測量并輸出測量距離an，對每個測試點位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)2的測量距離an和真實距離an比對，判斷待測測試元件是否合格。對每個測試點位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)2的測量距離an和真實距離an比對有多種比對方法，可以是函數(shù)法，比值法，差值法等。

優(yōu)選的，采用比值法對每個測試點位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)2的測量距離an和真實距離an進(jìn)行比對：每個測試點位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)2的測量距離an和真實距離an的比值pn的數(shù)值范圍在（k1，k2）之間時，待測測試元件合格。其中，所述n為大于等于1的自然數(shù)，所述k1和k2為常數(shù)，且k2大于k1。

優(yōu)選的，為了盡可能的排除偶然因素的影響，采用aql抽樣方式，提高了檢測的科學(xué)性和合理性，所述pn中n的取值為m，則從p1到pm這m個數(shù)值中最多有n-1個在（k1，k2）之外，則pn所對應(yīng)的待測測試元件為合格；

m為大于1的自然數(shù)，n為大于等于1的自然數(shù)，且m大于n-1。當(dāng)p1到pm這m個數(shù)值中至少有n個在設(shè)定的（k1，k2）之外，則滿足前述條件的pn所對應(yīng)的待測元件為不合格。不合格的待測元件需要返回供應(yīng)商處進(jìn)行相應(yīng)的修改或調(diào)換。

具體實施時，以所述pn中n的取值為80為例，則p1到p80這80個數(shù)值中最多有5個在設(shè)定的（k1，k2）之外，滿足前述條件的待測測試元件為合格；則p1到p80這80個數(shù)值中至少有6個在設(shè)定的（k1，k2）之外，滿足前述條件的待測測試元件為不合格。

實施例5

與實施例4不同的是，所述光學(xué)測距裝置具有感光芯片，所述光學(xué)測距裝置在每個測試點位測量并輸出測量光強in，對每個測試點位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)2的測量光強in和真實距離an比對，判斷待測測試元件是否合格。對每個測試點位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)2的測量光強in和真實距離an比對有多重比對方法，可以是函數(shù)法，比值法，差值法等。

優(yōu)選的，采用比值法對每個測試點位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)2的測量光強in和真實距離an進(jìn)行比對：

每個測試點位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)2的測量光強in和真實距離an判的比值qn的數(shù)值范圍在（k3，k4）之間時，待測測試元件合格。其中，所述n為大于等于1的自然數(shù)，所述k3和k4為常數(shù)，k4大于k3。

優(yōu)選的，為了盡可能的排除偶然因素的影響，采用aql抽樣方式，提高了檢測的科學(xué)性和合理性，所述qn中n的取值為m，則從q1到qm這m個數(shù)值中最多有n-1個在設(shè)定的（k3，k4）之外，則qn所對應(yīng)的待測測試元件為合格；m為大于1的自然數(shù)，n為大于等于1的自然數(shù)，且m大于n-1。

具體實施時，所述qn中n的取值為80，則q1到q80這80個數(shù)值中最多有5個在設(shè)定的（k3，k4）之外，滿足前述條件的待測測試元件為合格。

本發(fā)明利用控制變量法、比較法，根據(jù)實際需要設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)值與誤差，測試待測對象在實際環(huán)境中的效果，透鏡本身所作用的探頭是在相對移動的環(huán)境下進(jìn)行測量，本發(fā)明創(chuàng)造設(shè)計出這樣一個完整的系統(tǒng)，其中包括機械結(jié)構(gòu)部分以及電子程序部分。目前，透鏡檢測技術(shù)均為對于透鏡自身的檢測，本發(fā)明的靈敏度很高，可檢測出透鏡在整個過程中的異常問題，包括透鏡的裝反、污漬、劃痕。本發(fā)明作為一個可以獨立運作的產(chǎn)品，檢測裝置還可以開發(fā)拓展出其他的功能，比如對整個光學(xué)測距裝置或是對光學(xué)電路板的檢測。

以上所述的僅是本發(fā)明的優(yōu)選的實施方式。應(yīng)當(dāng)指出的是，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的情況下，還可以作出若干改進(jìn)和變型，這也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。