技術(shù)特征：

1.一種機(jī)載光電平臺(tái)慣性測(cè)量單元標(biāo)定方法，所述機(jī)載光電平臺(tái)包括光電穩(wěn)定平臺(tái)、設(shè)置在光電穩(wěn)定平臺(tái)上的方位軸系、俯仰軸系和俯仰框架，所述方位軸系與所述俯仰軸系分別由兩個(gè)半軸組成，各自存在回轉(zhuǎn)軸線，回轉(zhuǎn)軸線在空間位置上存在相交與垂直關(guān)系，其特征在于，所述方法包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的機(jī)載光電平臺(tái)慣性測(cè)量單元標(biāo)定方法，其特征在于，所述s1包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的機(jī)載光電平臺(tái)慣性測(cè)量單元標(biāo)定方法，其特征在于，所述s1還包括對(duì)軸系位置相交度與機(jī)載光電平臺(tái)方位俯仰軸系位置相交度指標(biāo)進(jìn)行對(duì)比，若不滿足指標(biāo)要求，則調(diào)整俯仰軸系兩側(cè)半軸軸系位置后重復(fù)s1.3-s1.5。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的機(jī)載光電平臺(tái)慣性測(cè)量單元標(biāo)定方法，其特征在于，所述s2包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的機(jī)載光電平臺(tái)慣性測(cè)量單元標(biāo)定方法，其特征在于，所述s3包括：在第一光電自準(zhǔn)直光管和第二光電自準(zhǔn)直光管相交處放置五棱鏡，五棱鏡入射面與第一光電自準(zhǔn)直光管準(zhǔn)直，光束通過五棱鏡出射后通過第二光電自準(zhǔn)直光管觀測(cè)，此時(shí)自準(zhǔn)像偏差值即為軸系垂直度偏差。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的機(jī)載光電平臺(tái)慣性測(cè)量單元標(biāo)定方法，其特征在于，所述s3還包括通過調(diào)整方位軸系位置調(diào)整軸系垂直度偏差。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的機(jī)載光電平臺(tái)慣性測(cè)量單元標(biāo)定方法，其特征在于，所述s4包括：

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的機(jī)載光電平臺(tái)慣性測(cè)量單元標(biāo)定方法，其特征在于，所述s5包括：

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N機(jī)載光電平臺(tái)慣性測(cè)量單元標(biāo)定方法，屬于精密光機(jī)裝調(diào)技術(shù)領(lǐng)域，所述方法包括：S1：對(duì)機(jī)載平臺(tái)方位俯仰軸系位置相交度進(jìn)行檢測(cè)及調(diào)校；S2：對(duì)機(jī)載平臺(tái)方位俯仰軸系回轉(zhuǎn)軸進(jìn)行標(biāo)定及精度檢測(cè)；S3：對(duì)機(jī)載平臺(tái)方位俯仰軸系垂直度進(jìn)行檢測(cè)及調(diào)校；S4：對(duì)光電平臺(tái)光軸與軸系正交性檢測(cè)及調(diào)校；S5：對(duì)慣性測(cè)量單元坐標(biāo)系偏差進(jìn)行標(biāo)定。本發(fā)明所提供方法通過上述一系列的光機(jī)調(diào)校步驟，同時(shí)完成了機(jī)載平臺(tái)的軸系精密調(diào)整及慣性測(cè)量單元的偏差標(biāo)定，實(shí)現(xiàn)了機(jī)載光電平臺(tái)軸系與光軸的正交坐標(biāo)系調(diào)整與定位，測(cè)試出慣性測(cè)量單元與此正交坐標(biāo)系的偏差值，進(jìn)而反饋給數(shù)據(jù)處理分系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)幾何空間相關(guān)解算。

技術(shù)研發(fā)人員：鄭成超,張孝南,劉剛
受保護(hù)的技術(shù)使用者：中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司洛陽(yáng)電光設(shè)備研究所
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/3/20