本技術涉及磁體元件表磁測試的，尤其涉及一種用于檢測環形磁體元件表磁的設備。

背景技術：

1、磁體元件是可以產生磁場的物體，為一磁偶極子，能夠吸引鐵磁性物質如鐵、鎳、鈷等金屬。磁體元件具有同極吸異極相斥的特性，這是我們通常見到的磁體元件具有的性質，然而，在磁鐵初步加工成型時，磁體元件并不具有磁性，要想應用于工業生產，還需要對單個磁體元件進行充磁，為了保證產品質量，人們需要對完成充磁的磁體元件進行檢測，以挑出沒有充磁或磁性不合格的磁體元件。表磁是日常最容易直接測量得到的參數，在磁體尺寸一定時，人們往往會通過比較表磁來判斷和對比磁體的性能。對于一些尺寸特別大或特別小、形狀特殊的磁體，不適合常規測量，這時測表磁就顯得很重要了。

2、一種環形磁體元件兩端的高度小于兩側高度，且該環形磁體元件的一側內凹設置，該環形磁體元件的測量區域不是平整的，而在設備檢測該環形磁體元件時，探頭與該環形磁體元件需始終保持測量距離的一致，但現有技術中不便于根據該環形磁體元件的高度持續調整探頭測量距離。

技術實現思路

1、本申請實施例通過提供一種用于檢測環形磁體元件表磁的設備，通過激光傳感器測量激光發射點與磁體元件之間的距離，根據測量高度要求軟件自動補正霍爾探頭高度，以使得始終保持霍爾探頭與磁體元件之間的測量距離一致。

2、為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：一種用于檢測環形磁體元件表磁的設備，包括計算機、測試儀，計算機與測試儀通過數據線連接，測試儀包括多軸傳動機構、測試機構、測試平臺、擺放平臺，所以多軸傳動機構、測試機構以及擺放平臺均設于測試平臺的上方，測試機構包括激光傳感器、霍爾探頭、安裝基座，激光傳感器以及霍爾探頭與安裝基座的一端連接，安裝基座的另一端與多軸傳動機構連接，磁體元件置于擺放平臺的上端，霍爾探頭、激光傳感器設于磁體元件的上方。

3、與現有技術相比，本實用新型的優點在于：

4、磁體元件的測量區域不是平整的，根據磁體元件的形狀結構數據軟件計算出霍爾探頭的初始高度和測量軌跡，根據測量高度要求軟件通過多軸傳動機構帶動安裝基座從而帶動霍爾探頭移動掃描的同時由激光傳感器向磁體元件發射激光，測量激光發射點與磁體元件之間的距離，隨著磁體元件測量面高低變換，激光發射點與磁體元件之間的距離也隨之變化，霍爾探頭的高度也發生變化，由多軸傳動機構自動補正霍爾探頭的高度，以使得始終保持霍爾探頭與磁體元件之間的測量距離一致，并通過磁性傳感器對磁體元件進行檢測。

5、作為一種改進，多軸傳動機構包括三組傳動結構，三組傳動結構分別設于x軸方向、y軸方向、z軸方向，傳動結構包括殼體、第一電機、絲桿、絲母、安裝座，絲桿設于殼體的內部且與殼體旋轉連接，第一電機設于殼體的一側并與絲桿的一端連接，絲桿與絲母螺紋連接，絲母的一端與安裝座連接，x軸方向的傳動結構設于擺放平臺與測試平臺之間，測試平臺一端的上方設有安裝架，y軸方向的傳動結構的后端與安裝架連接，y軸方向的傳動結構的前端與z軸方向的傳動結構的后端連接，z軸方向的傳動結構的前端與安裝基座連接，設有三種方向的傳動結構便于安裝基座帶動霍爾探頭對磁體元件的表磁進行充分測試，采用絲桿傳動機構工作中摩擦阻力小、靈敏度高、啟動時無顫動、低速時無爬行現象，因此可精密地控制微量進給。

6、作為一種改進，測試機構還包括安裝塊、第二電機、轉動塊，安裝塊的后端與安裝基座的前端連接，第二電機設于安裝塊的上方，轉動塊設于安裝塊的下方，第二電機驅動轉動塊轉動，轉動塊的下端與霍爾探頭連接，由于測量軌跡是一個封閉環形，霍爾探頭移動進行測試時，根據軟件計算的數據配合程序需控制霍爾探頭邊移動邊轉動角度，設有第二電機驅動轉動塊轉動，由于轉動塊與霍爾探頭連接，從而帶動霍爾探頭發生轉動。

7、作為一種改進，擺放平臺的上端設有凸臺，凸臺設有第一凹槽，第一凹槽的形狀與磁體元件的形狀相適配，磁體元件的下端設于第一凹槽的內部，將磁體元件的下端放置在第二凹槽的內部，從而對磁體元件進行限位，使得磁體元件在前后移動時不產生徑向移動。

8、作為一種改進，安裝塊與轉動塊之間設有觸碰傳感器，當霍爾探頭下移觸碰到凸臺后，觸碰傳感器將信息傳輸至計算機，計算機控制z軸方向的傳動結構的第一電機轉動、繼而驅動安裝基座上移設定距離，設有觸碰傳感器，霍爾探頭下移觸碰到凸臺后會進行上移，防止霍爾探頭持續下移造成損傷；設定上移距離，霍爾探頭回彈的距離是固定不變的，霍爾探頭封裝的距離也是固定的，這樣可以得出霍爾探頭與凸臺之間的距離。

9、作為一種改進，測試機構還包括調平旋鈕、旋轉螺釘，激光傳感器設于安裝塊的下端，安裝塊的后端設有第一凸塊，調平旋鈕穿過安裝基座的后端與第一凸塊的上端相抵，安裝塊的后端通過旋轉螺釘與安裝基座的前端緊固，通過內六角扳手擰動調平旋鈕，使得調平旋鈕上移或下移，改變第三凸塊與安裝基座的垂直距離，以使得凸臺與霍爾探頭以及激光傳感器保持垂直，完成調平后，通過旋轉螺釘將安裝塊的后端與安裝基座的前端緊固。

10、作為一種改進，安裝基座的后端設有固定環，固定環的內部設有螺紋孔，調平旋鈕與螺紋孔螺紋連接，通過緊固螺釘穿過固定環與調平旋鈕相抵從而進行緊固，調平旋鈕與螺紋孔螺紋連接，便于調平旋鈕進行較為精準的調平；通過緊固螺釘穿過固定環與調平旋鈕相抵從而將調平旋鈕進行進一步的緊固。

11、作為一種改進，傳動結構還包括限位板，安裝座設有限位槽，限位板穿過限位槽的內部與殼體連接，在絲母在絲桿上移動時，安裝座隨之移動，設有限位板，可防止安裝座在移動過程中脫出。

12、作為一種改進，殼體的內壁設有導槽，絲母兩側設有與導槽相適配的導條，便于絲母在第一殼體的內部進行滑動時起到導向的作用。

13、作為一種改進，x軸方向的傳動結構的兩側設有導軌，導軌與x軸方向的傳動結構平行設置，擺放平臺的下端設有第一滑塊，導軌的上端設有第二凸塊，第一滑塊的下端設有第二凹槽，第二凸塊的形狀與第二凹槽的形狀相適配，x軸方向的傳動結構的兩側設有導軌，當擺放平臺前后移動時，第二凸塊與第二凹槽相抵，保證了擺放平臺移動過程中的平面度和穩定性。

技術特征：

1.一種用于檢測環形磁體元件表磁的設備，包括計算機(1)、測試儀(2)，所述計算機(1)與測試儀(2)通過數據線連接，其特征在于：所述測試儀(2)包括多軸傳動機構(2.1)、測試機構(2.2)、測試平臺(2.3)、擺放平臺(2.4)，所以多軸傳動機構(2.1)、測試機構(2.2)以及擺放平臺(2.4)均設于測試平臺(2.3)的上方，所述測試機構(2.2)包括激光傳感器(2.2.1)、霍爾探頭(2.2.2)、安裝基座(2.2.3)，所述激光傳感器(2.2.1)以及霍爾探頭(2.2.2)與安裝基座(2.2.3)的一端連接，所述安裝基座(2.2.3)的另一端與多軸傳動機構(2.1)連接，所述磁體元件(3)置于擺放平臺(2.4)的上端，所述霍爾探頭(2.2.2)、激光傳感器(2.2.1)設于磁體元件(3)的上方。

2.根據權利要求1所述的一種用于檢測環形磁體元件表磁的設備，其特征在于：所述多軸傳動機構(2.1)包括三組傳動結構(2.1.1)，三組所述傳動結構(2.1.1)分別設于x軸方向、y軸方向、z軸方向，所述傳動結構(2.1.1)包括殼體(2.1.1.1)、第一電機(2.1.1.2)、絲桿(2.1.1.3)、絲母(2.1.1.4)、安裝座(2.1.1.5)，所述絲桿(2.1.1.3)設于殼體(2.1.1.1)的內部且與殼體(2.1.1.1)旋轉連接，所述第一電機(2.1.1.2)設于殼體(2.1.1.1)的一側并與絲桿(2.1.1.3)的一端連接，所述絲桿(2.1.1.3)與絲母(2.1.1.4)螺紋連接，所述絲母(2.1.1.4)的一端與安裝座(2.1.1.5)連接，x軸方向的傳動結構(2.1.1)設于擺放平臺(2.4)與測試平臺(2.3)之間，所述測試平臺(2.3)一端的上方設有安裝架(2.5)，y軸方向的傳動結構(2.1.1)的后端與安裝架(2.5)連接，y軸方向的傳動結構(2.1.1)的前端與z軸方向的傳動結構(2.1.1)的后端連接，z軸方向的傳動結構(2.1.1)的前端與安裝基座(2.2.3)連接。

3.根據權利要求1所述的一種用于檢測環形磁體元件表磁的設備，其特征在于：所述測試機構(2.2)還包括安裝塊(2.2.4)、第二電機(2.2.5)、轉動塊(2.2.6)，所述安裝塊(2.2.4)的后端與安裝基座(2.2.3)的前端連接，所述第二電機(2.2.5)設于安裝塊(2.2.4)的上方，所述轉動塊(2.2.6)設于安裝塊(2.2.4)的下方，所述第二電機(2.2.5)驅動轉動塊(2.2.6)轉動，所述轉動塊(2.2.6)的下端與霍爾探頭(2.2.2)連接。

4.根據權利要求3所述的一種用于檢測環形磁體元件表磁的設備，其特征在于：所述擺放平臺(2.4)的上端設有凸臺(2.4.1)，所述凸臺(2.4.1)設有第一凹槽(2.4.1.1)，所述第一凹槽(2.4.1.1)的形狀與磁體元件(3)的形狀相適配，所述磁體元件(3)的下端設于第一凹槽(2.4.1.1)的內部。

5.根據權利要求4所述的一種用于檢測環形磁體元件表磁的設備，其特征在于：所述安裝塊(2.2.4)與轉動塊(2.2.6)之間設有觸碰傳感器(2.2.7)，當所述霍爾探頭(2.2.2)下移觸碰到凸臺(2.4.1)后，所述觸碰傳感器(2.2.7)將信息傳輸至計算機(1)，所述計算機(1)控制z軸方向的傳動結構(2.1.1)的第一電機(2.1.1.2)轉動、繼而驅動安裝基座(2.2.3)上移設定距離。

6.根據權利要求3所述的一種用于檢測環形磁體元件表磁的設備，其特征在于：所述測試機構(2.2)還包括調平旋鈕(2.2.8)、旋轉螺釘(2.2.9)，所述激光傳感器(2.2.1)設于安裝塊(2.2.4)的下端，所述安裝塊(2.2.4)的后端設有第一凸塊(2.2.4.1)，所述調平旋鈕(2.2.8)穿過安裝基座(2.2.3)的后端與第一凸塊(2.2.4.1)的上端相抵，所述安裝塊(2.2.4)的后端通過旋轉螺釘(2.2.9)與安裝基座(2.2.3)的前端緊固。

7.根據權利要求6所述的一種用于檢測環形磁體元件表磁的設備，其特征在于：所述安裝基座(2.2.3)的后端設有固定環(2.2.3.1)，所述固定環(2.2.3.1)的內部設有螺紋孔，所述調平旋鈕(2.2.8)與螺紋孔螺紋連接，通過緊固螺釘穿過所述固定環(2.2.3.1)與調平旋鈕(2.2.8)相抵從而進行緊固。

8.根據權利要求2所述的一種用于檢測環形磁體元件表磁的設備，其特征在于：所述傳動結構(2.1.1)還包括限位板(2.1.1.6)，所述安裝座(2.1.1.5)設有限位槽(2.1.1.5.1)，所述限位板(2.1.1.6)穿過限位槽(2.1.1.5.1)的內部與殼體(2.1.1.1)連接。

9.根據權利要求2所述的一種用于檢測環形磁體元件表磁的設備，其特征在于：所述殼體(2.1.1.1)的內壁設有導槽(2.1.1.1.1)，所述絲母(2.1.1.4)兩側設有與導槽(2.1.1.1.1)相適配的導條(2.1.1.4.1)。

10.根據權利要求2所述的一種用于檢測環形磁體元件表磁的設備，其特征在于：x軸方向的所述傳動結構(2.1.1)的兩側設有導軌(2.6)，所述導軌(2.6)與x軸方向的傳動結構(2.1.1)平行設置，所述擺放平臺(2.4)的下端設有第一滑塊(2.4.2)，所述導軌(2.6)的上端設有第二凸塊(2.6.1)，所述第一滑塊(2.4.2)的下端設有第二凹槽(2.4.2.1)，所述第二凸塊(2.6.1)的形狀與第二凹槽(2.4.2.1)的形狀相適配。

技術總結
本技術公開了一種用于檢測環形磁體元件表磁的設備，包括計算機、測試儀，計算機與測試儀通過數據線連接，測試儀包括多軸傳動機構、測試機構、測試平臺、擺放平臺，所以多軸傳動機構、測試機構以及擺放平臺均設于測試平臺的上方，測試機構包括激光傳感器、霍爾探頭、安裝基座，激光傳感器以及霍爾探頭與安裝基座的一端連接，安裝基座的另一端與多軸傳動機構連接，磁體元件置于擺放平臺的上端，霍爾探頭、激光傳感器設于磁體元件的上方。本技術通過激光傳感器測量激光發射點與磁體元件之間的距離，根據測量高度要求軟件自動補正霍爾探頭高度，以使得始終保持霍爾探頭與磁體元件之間的測量距離一致。

技術研發人員：李正瑜,殷顯林,馮執政,屈得慶
受保護的技術使用者：寧波名眾自動化科技有限公司
技術研發日：20240416
技術公布日：2025/3/20