本技術(shù)涉及器件測試，尤其涉及一種測試裝置和測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

1、體聲波(bulk?acoustic?wave，baw)濾波器由薄膜體聲波諧振器(film?bulkacoustic?resonator，fbar)經(jīng)過鍍膜、黃光、蝕刻等工藝步驟最終切割封裝成形，檢驗baw濾波器是否合格，需進(jìn)行參數(shù)測試，檢測芯片的各參數(shù)性能是否符合要求。

2、然而，利用目前的測試裝置進(jìn)行測試尚不能滿足使用需求，亟需對測試裝置進(jìn)行改進(jìn)。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、有鑒于此，本實用新型提供一種測試裝置和測試系統(tǒng)。

2、為達(dá)到上述目的，本實用新型的技術(shù)方案是這樣實現(xiàn)的：

3、第一方面，本實用新型提供一種測試裝置，所述測試裝置包括：安裝于電路板上的測試底座，所述測試底座靠近所述電路板的一側(cè)上設(shè)有凹槽，所述凹槽用于容納導(dǎo)電膠條；所述凹槽中設(shè)有定位孔，所述定位孔貫穿所述測試底座至另一側(cè)，用于定位待測試元件；其中，所述導(dǎo)電膠條夾設(shè)于所述測試底座的凹槽和所述電路板之間，所述待測試元件通過所述定位孔和所述導(dǎo)電膠條接觸，所述待測試元件通過所述導(dǎo)電膠條和所述電路板電連接；設(shè)于所述測試底座上的至少一個移動部件，所述移動部件用于在所述凹槽中移動所述導(dǎo)電膠條，使得所述待測試元件通過所述定位孔和所述導(dǎo)電膠條的不同區(qū)域接觸。

4、在一些實施例中，所述凹槽具有沿第一方向的第一長度和沿第二方向的第一寬度；所述凹槽沿所述第一方向延伸且貫穿所述測試底座；其中，所述第一方向和所述第二方向相交。

5、在一些實施例中，所述導(dǎo)電膠條具有沿所述第二方向的第二寬度；其中，所述第一寬度和所述第二寬度相同；所述移動部件用于移動所述導(dǎo)電膠條，使得所述導(dǎo)電膠條的位置由所述定位孔暴露出所述導(dǎo)電膠條的第一區(qū)域移動至所述定位孔暴露出所述導(dǎo)電膠條的第二區(qū)域；其中，所述第一區(qū)域指向所述第二區(qū)域的方向為所述第一方向。

6、在一些實施例中，所述導(dǎo)電膠條具有沿所述第一方向的第二長度和沿所述第二方向的第二寬度；其中，所述第一長度和所述第二長度相同，所述第一寬度大于所述第二寬度；所述移動部件用于移動所述導(dǎo)電膠條，使得所述導(dǎo)電膠條的位置由所述定位孔暴露出所述導(dǎo)電膠條的第一區(qū)域移動至所述定位孔暴露出所述導(dǎo)電膠條的第三區(qū)域；其中，所述第一區(qū)域指向所述第三區(qū)域的方向為所述第二方向。

7、在一些實施例中，所述測試裝置還包括：設(shè)于所述導(dǎo)電膠條和所述電路板之間的墊片環(huán)。

8、在一些實施例中，所述測試底座上還設(shè)有至少一個通孔，通過緊固件貫穿所述通孔將所述測試底座和所述電路板固定連接。

9、在一些實施例中，所述移動部件包括滾動齒輪。

10、第二方面，本實用新型提供一種測試系統(tǒng)，所述測試系統(tǒng)包括：如本實用新型第一方面中所述的測試裝置；測試機臺，包括支承臺以及位于所述支承臺上的測試座，所述測試裝置安裝于所述測試座上；網(wǎng)絡(luò)分析儀，所述網(wǎng)絡(luò)分析儀通過電路板和導(dǎo)電膠條電連接至待測試元件，以對所述待測試元件進(jìn)行測試；控制顯示臺，所述控制顯示臺和所述測試機臺連接。

11、在一些實施例中，所述測試機臺還包括：高度粗調(diào)部件，所述高度粗調(diào)部件沿垂直于所述支承臺的平面方向具有相對設(shè)置的第一端和第二端，所述高度粗調(diào)部件的第一端和所述支承臺固定連接；第一旋轉(zhuǎn)橫桿，所述第一旋轉(zhuǎn)橫桿沿平行于所述支承臺的平面方向設(shè)置且所述第一旋轉(zhuǎn)橫桿沿延伸方向具有相對設(shè)置的第一端和第二端，所述第一旋轉(zhuǎn)橫桿的第一端和所述高度粗調(diào)部件的第二端連接；吸附部件，所述吸附部件和所述第一旋轉(zhuǎn)橫桿的第二端連接且用于吸取所述待測試元件，所述吸附部件與所述測試裝置對準(zhǔn)；其中，所述高度粗調(diào)部件用于帶動所述吸附部件沿垂直于所述支承臺的平面方向進(jìn)行移動，所述第一旋轉(zhuǎn)橫桿用于帶動所述吸附部件沿平行于所述支承臺的平面方向移動。

12、在一些實施例中，所述測試機臺還包括：高度精調(diào)部件，所述高度精調(diào)部件連接所述第一旋轉(zhuǎn)橫桿的第二端和所述吸附部件，所述高度精調(diào)部件用于帶動所述吸附部件下壓所述待測試元件，使得所述待測試元件、所述導(dǎo)電膠條和所述電路板電連接。

13、在一些實施例中，所述測試機臺還包括：第二旋轉(zhuǎn)橫桿，所述第二旋轉(zhuǎn)橫桿沿平行于所述支承臺的平面方向設(shè)置且和所述高度粗調(diào)部件連接；噴灑部件，所述噴灑部件和所述第二旋轉(zhuǎn)橫桿連接且用于向所述導(dǎo)電膠條噴灑清洗液。

14、本實用新型實施例提供一種測試裝置和測試系統(tǒng)。本實用新型中，測試裝置包括安裝于電路板上的測試底座，測試底座上的凹槽可以用于容納導(dǎo)電膠條，測試底座上的定位孔可以用于定位待測試元件，導(dǎo)電膠條夾設(shè)于測試底座和電路板之間，待測試元件通過定位孔和導(dǎo)電膠條接觸，待測試元件通過導(dǎo)電膠條和電路板電連接；測試底座上還設(shè)有移動部件，移動部件用于在凹槽中移動導(dǎo)電膠條，使得待測試元件通過定位孔和導(dǎo)電膠條的不同區(qū)域接觸。如此，可以快速地改變導(dǎo)電膠條和待測試元件接觸的區(qū)域，從而延長導(dǎo)電膠條的使用壽命，減少更換導(dǎo)電膠條的次數(shù)進(jìn)而節(jié)省操作時間且提高測試效率。

技術(shù)特征：

1.一種測試裝置，其特征在于，所述測試裝置包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述凹槽具有沿第一方向的第一長度和沿第二方向的第一寬度；所述凹槽沿所述第一方向延伸且貫穿所述測試底座；其中，所述第一方向和所述第二方向相交。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征在于，所述導(dǎo)電膠條具有沿所述第二方向的第二寬度；其中，所述第一寬度和所述第二寬度相同；

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試裝置，其特征在于，所述導(dǎo)電膠條具有沿所述第一方向的第二長度和沿所述第二方向的第二寬度；其中，所述第一長度和所述第二長度相同，所述第一寬度大于所述第二寬度；

5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試底座上還設(shè)有至少一個通孔，通過緊固件貫穿所述通孔將所述測試底座和所述電路板固定連接。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述移動部件包括滾動齒輪。

8.一種測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試系統(tǒng)包括：

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試機臺還包括：

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試機臺還包括：

11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試機臺還包括：

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)提供一種測試裝置和測試系統(tǒng)。所述測試裝置包括：安裝于電路板上的測試底座，所述測試底座靠近所述電路板的一側(cè)上設(shè)有凹槽，所述凹槽用于容納導(dǎo)電膠條；所述凹槽中設(shè)有定位孔，所述定位孔貫穿所述測試底座至另一側(cè)，用于定位待測試元件；其中，所述導(dǎo)電膠條夾設(shè)于所述測試底座的凹槽和所述電路板之間，所述待測試元件通過所述定位孔和所述導(dǎo)電膠條接觸，所述待測試元件通過所述導(dǎo)電膠條和所述電路板電連接；設(shè)于所述測試底座上的至少一個移動部件，所述移動部件用于在所述凹槽中移動所述導(dǎo)電膠條，使得所述待測試元件通過所述定位孔和所述導(dǎo)電膠條的不同區(qū)域接觸。

技術(shù)研發(fā)人員：袁永亮
受保護(hù)的技術(shù)使用者：武漢光鉅微電子有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240522
技術(shù)公布日：2025/4/28