本技術(shù)涉及電子元件測試領(lǐng)域，更具體地說，涉及一種分立式霍爾器件的電性能測試裝置。

背景技術(shù)：

1、分立式霍爾器件是根據(jù)霍爾效應(yīng)進(jìn)行磁場檢測的一種傳感器，其可將變化的磁場轉(zhuǎn)化為輸出電壓的變化，目前已廣泛應(yīng)用于接近開關(guān)、位置測量、轉(zhuǎn)速測量和電流測量等。

2、分立式霍爾器件的質(zhì)量直接關(guān)系到其檢測精度，為保證檢測精度，通常需要在分立式霍爾器件被應(yīng)用到設(shè)備前對其進(jìn)行電性能檢測。現(xiàn)有用于對分立式霍爾器件進(jìn)行電性能檢測的裝置大多存在檢測結(jié)果偏差較大的問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題在于，針對上述用于對分立式霍爾器件進(jìn)行電性能檢測的裝置存在檢測結(jié)果偏差較大的問題，提供一種分立式霍爾器件的電性能測試裝置。

2、本實(shí)用新型解決上述技術(shù)問題的技術(shù)方案是，提供一種分立式霍爾器件的電性能測試裝置，包括：

3、測試平臺，包括底板和滑道板，所述底板上設(shè)置有滑道，所述滑道板裝設(shè)于所述滑道內(nèi)并在所述滑道引導(dǎo)下滑動，且所述滑道板上具有用于固定測試座的安裝位；

4、磁環(huán)組件，包括開口磁環(huán)和繞組，所述繞組繞設(shè)于所述開口磁環(huán)上，并用于在所述開口磁環(huán)內(nèi)產(chǎn)生磁場；所述開口磁環(huán)包括檢測口，所述開口磁環(huán)以檢測口位于所述滑道上方的方式固定在所述底板上，且裝設(shè)于所述安裝位上測試座中的待測試分立式霍爾器件跟隨所述滑道板被推動到所述檢測口內(nèi)。

5、作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述測試裝置包括測試座，所述測試座包括用于插接待測試分立式霍爾器件的第一連接器，且所述第一連接器包括多個(gè)插接孔，且多個(gè)所述插接孔分別與所述待測試分立式霍爾器件的多個(gè)引腳相對應(yīng)。

6、作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述測試座包括印刷線路板和用于連接外部檢測設(shè)備的第二連接器，所述印刷線路板內(nèi)具有導(dǎo)電線路，所述第一連接器和第二連接器分別焊接于所述印刷線路板上并分別與所述導(dǎo)電線路電連接。

7、作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述開口磁環(huán)包括兩個(gè)相互平行的端面，所述檢測口位于兩個(gè)所述端面之間，且所述待測試分立式霍爾器件跟隨所述滑道板被推動到所述檢測口內(nèi)時(shí)，所述待測試分立式霍爾器件的工作面與所述開口磁環(huán)的端面相平行。

8、作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述開口磁環(huán)的端面的面積不小于所述待測試分立式霍爾器件的工作面的面積的50倍。

9、作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述端面為矩形，且所述端面的尺寸不小于3×3mm；兩個(gè)所述端面之間的距離不小于10mm。

10、作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述測試裝置包括磁環(huán)固定架，所述開口磁環(huán)通過磁環(huán)固定架固定在所述底板的邊緣，且所述開口磁環(huán)上檢測口所在的部分位于所述底板上方、所述繞組所在的部分突出于底板的邊緣。

11、作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述底板上具有條狀通孔，并由所述條狀通孔構(gòu)成所述滑道。

12、作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述底板上具有滑道下板和滑道上板，所述滑道下板固定于所述底板的下表面并突出于條狀通孔下方的兩側(cè)邊緣，所述滑道上板固定于所述底板的上表面并突出于所述條狀通孔上方的兩側(cè)邊緣；所述滑道板裝設(shè)于所述條狀通孔內(nèi)，并通過所述滑道下板和滑道上板限位。

13、作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述滑道板上具有滑道把手，所述滑道把手突出于所述滑道上板的頂面，且所述滑道板通過所述滑道把手推動在所述滑道內(nèi)滑動。

14、本實(shí)用新型具有以下有益效果：通過在底板設(shè)置滑道，并在滑道內(nèi)的滑道板設(shè)置用于固定測試座的安裝位，使得待測試分立式霍爾器件在滑道的引導(dǎo)下進(jìn)入開口磁環(huán)的檢測口，從而使得待測試分立式霍爾器件在檢測口的位置和姿態(tài)相對固定，提高檢測結(jié)果的一致性和穩(wěn)定性。

技術(shù)特征：

1.一種分立式霍爾器件的電性能測試裝置，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分立式霍爾器件的電性能測試裝置，其特征在于，所述測試裝置包括測試座，所述測試座包括用于插接待測試分立式霍爾器件的第一連接器，所述第一連接器包括多個(gè)插接孔，且多個(gè)所述插接孔分別與所述待測試分立式霍爾器件的多個(gè)引腳相對應(yīng)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的分立式霍爾器件的電性能測試裝置，其特征在于，所述測試座包括印刷線路板和用于連接外部檢測設(shè)備的第二連接器，所述印刷線路板內(nèi)具有導(dǎo)電線路，所述第一連接器和第二連接器分別焊接于所述印刷線路板上并分別與所述導(dǎo)電線路電連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的分立式霍爾器件的電性能測試裝置，其特征在于，所述開口磁環(huán)包括兩個(gè)相互平行的端面，所述檢測口位于兩個(gè)所述端面之間，且所述待測試分立式霍爾器件跟隨所述滑道板被推動到所述檢測口內(nèi)時(shí)，所述待測試分立式霍爾器件的工作面與所述開口磁環(huán)的端面相平行。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的分立式霍爾器件的電性能測試裝置，其特征在于，所述開口磁環(huán)的端面的面積不小于所述待測試分立式霍爾器件的工作面的面積的50倍。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的分立式霍爾器件的電性能測試裝置，其特征在于，所述端面為矩形，且所述端面的尺寸不小于3×3mm；兩個(gè)所述端面之間的距離不小于10mm。

7.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的分立式霍爾器件的電性能測試裝置，其特征在于，所述測試裝置包括磁環(huán)固定架，所述開口磁環(huán)通過磁環(huán)固定架固定在所述底板的邊緣，且所述開口磁環(huán)上檢測口所在的部分位于所述底板上方、所述繞組所在的部分突出于底板的邊緣。

8.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的分立式霍爾器件的電性能測試裝置，其特征在于，所述底板上具有條狀通孔，并由所述條狀通孔構(gòu)成所述滑道。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的分立式霍爾器件的電性能測試裝置，其特征在于，所述底板上具有滑道下板和滑道上板，所述滑道下板固定于所述底板的下表面并突出于條狀通孔下方的兩側(cè)邊緣，所述滑道上板固定于所述底板的上表面并突出于所述條狀通孔上方的兩側(cè)邊緣；所述滑道板裝設(shè)于所述條狀通孔內(nèi)，并通過所述滑道下板和滑道上板限位。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的分立式霍爾器件的電性能測試裝置，其特征在于，所述滑道板上具有滑道把手，所述滑道把手突出于所述滑道上板的頂面，且所述滑道板通過所述滑道把手推動在所述滑道內(nèi)滑動。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)提供了一種分立式霍爾器件的電性能測試裝置，包括：測試平臺，包括底板和滑道板，所述底板上設(shè)置有滑道，所述滑道板裝設(shè)于所述滑道內(nèi)并在所述滑道引導(dǎo)下滑動，且所述滑道板上具有用于固定測試座的安裝位；磁環(huán)組件，包括開口磁環(huán)和繞組，所述繞組繞設(shè)于所述開口磁環(huán)上，并用于在所述開口磁環(huán)內(nèi)產(chǎn)生磁場；所述開口磁環(huán)包括檢測口，所述開口磁環(huán)以檢測口位于所述滑道上方的方式固定在所述底板上，且裝設(shè)于所述安裝位上測試座中的待測試分立式霍爾器件跟隨所述滑道板被推動到所述檢測口內(nèi)。本技術(shù)可使得待測試分立式霍爾器件在檢測口的位置和姿態(tài)相對固定，提高檢測結(jié)果的一致性和穩(wěn)定性。

技術(shù)研發(fā)人員：唐德
受保護(hù)的技術(shù)使用者：深圳圣斯?fàn)栯娮蛹夹g(shù)有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240702
技術(shù)公布日：2025/4/28