技術特征：

1.一種準直度對位檢測結構，其特征在于，用于檢測一組工件上沿豎直方向分布的零部件的表面缺陷，以及在工件上的位置、尺寸是否相同，所述準直度對位檢測結構包括：

2.根據權利要求1所述的準直度對位檢測結構，其特征在于，所述檢測機構(1)包括：

3.根據權利要求2所述的準直度對位檢測結構，其特征在于，所述調距組件(5)包括：

4.根據權利要求2所述的準直度對位檢測結構，其特征在于，所述折射組件(7)包括：

5.根據權利要求4所述的準直度對位檢測結構，其特征在于，所述第一取像光源(6)包括位于所述連板(71)頂部的第一探照燈(61)，所述第一探照燈(61)上貫穿設置有與所述第一通道(711)連通的第一導光通道(611)；

6.根據權利要求5所述的準直度對位檢測結構，其特征在于，所述第二取像光源(8)包括位于所述連板(71)底部的第二探照燈(81)，所述第二探照燈(81)上貫穿設置有與所述第一通道(711)連通的第二導光通道(811)；

7.根據權利要求6所述的準直度對位檢測結構，其特征在于，所述第一探照燈(61)與靠近的零部件的距離大于所述第二探照燈(81)與靠近的零部件的距離。

8.根據權利要求7所述的準直度對位檢測結構，其特征在于，所述第一探照燈(61)和所述第二探照燈(81)均為碗口型探照燈，且所述第二探照燈(81)的高度尺寸大于所述第一探照燈(61)的高度尺寸。

技術總結
本申請公開了一種準直度對位檢測結構，涉及對位檢測設備技術領域，其包括檢測機構；成像處理機構，所述成像處理機構包括沿豎直方向依次設置的第一取像光源、折射組件和第二取像光源；其中，所述折射組件被配置在所述檢測機構的取像路徑上，被所述第一取像光源和/或所述第二取像光源照射的零部件能夠通過所述折射組件被所述檢測機構取像、檢測和比對；靠近所述第一取像光源的零部件通過所述折射組件到達所述檢測機構的成像距離，和靠近所述第二取像光源的零部件通過所述折射組件到達所述檢測機構的成像距離相等。本申請能夠減少檢測機體的應用數量，只需要一組檢測機體就能夠同時對多組零部件進行取像、拍攝和檢測、比對。

技術研發人員：夏輝,魏永興,周賢良,劉亞鑫
受保護的技術使用者：蘇州嘉勵自動化科技有限公司
技術研發日：
技術公布日：2025/4/28