本發(fā)明涉及集成電路，具體而言，涉及一種集成電路中斷驗(yàn)證方法、裝置、電子設(shè)備以及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、中斷系統(tǒng)作為硬件與軟件交互的重要橋梁，其功能在于在硬件檢測(cè)到需要軟件及時(shí)響應(yīng)的狀況時(shí)，如檢測(cè)到異常情況或某些指令需由軟件處理時(shí)，通過中斷機(jī)制將相關(guān)信息報(bào)告給軟件。軟件隨后根據(jù)中斷狀態(tài)執(zhí)行相應(yīng)的處理邏輯，確保中斷機(jī)制的正確性對(duì)于整個(gè)集成電路的穩(wěn)定運(yùn)行至關(guān)重要。

2、現(xiàn)有的中斷驗(yàn)證方法往往依賴人工介入或手動(dòng)操作，對(duì)于中斷使能、中斷掩碼、中斷狀態(tài)管理、以及中斷清除等寄存器的操作驗(yàn)證過程繁瑣且復(fù)雜，若采用手工編寫測(cè)試用例，極易引入錯(cuò)誤，影響中斷驗(yàn)證結(jié)果的準(zhǔn)確性和效率。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的在于提供一種集成電路中斷驗(yàn)證方法、裝置、電子設(shè)備以及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，以解決中斷驗(yàn)證的效率以及準(zhǔn)確性較低的問題。

2、第一方面，本發(fā)明提供一種集成電路中斷驗(yàn)證方法，所述方法包括：

3、獲得待驗(yàn)證集成電路的中斷源信息；所述中斷源信息包括每個(gè)中斷源對(duì)應(yīng)的配置信息；

4、對(duì)每個(gè)所述中斷源對(duì)應(yīng)的配置信息進(jìn)行解析，生成接口文件以及測(cè)試用例；所述接口文件包括每個(gè)所述中斷源對(duì)應(yīng)的接口信息；

5、根據(jù)所述接口文件中的接口信息對(duì)所述待驗(yàn)證集成電路進(jìn)行中斷觸發(fā)驗(yàn)證，以驗(yàn)證所述待驗(yàn)證集成電路是否正確產(chǎn)生每個(gè)所述中斷源；

6、根據(jù)所述接口文件中的接口信息以及所述測(cè)試用例對(duì)所述待驗(yàn)證集成電路的每個(gè)所述中斷源進(jìn)行中斷功能驗(yàn)證。

7、在可選的實(shí)施方式中，所述根據(jù)所述接口文件中的接口信息對(duì)所述待驗(yàn)證集成電路進(jìn)行中斷觸發(fā)驗(yàn)證，包括：

8、從多個(gè)預(yù)設(shè)激勵(lì)報(bào)文中隨機(jī)選取目標(biāo)激勵(lì)報(bào)文；所述目標(biāo)激勵(lì)報(bào)文為觸發(fā)目標(biāo)中斷源的激勵(lì)報(bào)文；

9、根據(jù)所述目標(biāo)中斷源對(duì)應(yīng)的接口信息向所述待驗(yàn)證集成電路發(fā)送所述目標(biāo)激勵(lì)報(bào)文，并接收所述待驗(yàn)證集成電路根據(jù)所述目標(biāo)激勵(lì)報(bào)文生成的實(shí)際中斷源；

10、獲取所述待驗(yàn)證集成電路的仿真模型根據(jù)所述目標(biāo)激勵(lì)報(bào)文生成的期望中斷源；

11、將所述期望中斷源與所述實(shí)際中斷源進(jìn)行對(duì)比，判斷所述待驗(yàn)證集成電路是否正確響應(yīng)所述目標(biāo)中斷源。

12、在可選的實(shí)施方式中，所述測(cè)試用例包括測(cè)試列表以及測(cè)試流程，所述根據(jù)所述接口文件中的接口信息以及所述測(cè)試用例對(duì)所述待驗(yàn)證集成電路的每個(gè)所述中斷源進(jìn)行中斷功能驗(yàn)證，包括：

13、根據(jù)當(dāng)前測(cè)試中斷源對(duì)應(yīng)的測(cè)試流程對(duì)所述當(dāng)前測(cè)試中斷源進(jìn)行測(cè)試，獲得所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的測(cè)試結(jié)果；所述測(cè)試結(jié)果表征所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的中斷功能是否正常；

14、若所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的測(cè)試結(jié)果為通過，則根據(jù)所述測(cè)試列表對(duì)下一中斷源進(jìn)行測(cè)試。

15、在可選的實(shí)施方式中，所述根據(jù)當(dāng)前測(cè)試中斷源對(duì)應(yīng)的測(cè)試流程對(duì)所述待驗(yàn)證集成電路進(jìn)行測(cè)試，獲得所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的測(cè)試結(jié)果，包括：

16、配置當(dāng)前測(cè)試中斷源的中斷掩碼功能關(guān)閉、中斷使能功能打開，并根據(jù)所述當(dāng)前測(cè)試中斷源對(duì)應(yīng)的接口信息觸發(fā)所述當(dāng)前測(cè)試中斷源；

17、根據(jù)所述待驗(yàn)證集成電路當(dāng)前是否產(chǎn)生所述當(dāng)前測(cè)試中斷源對(duì)應(yīng)的中斷信號(hào)、中斷原始狀態(tài)以及中斷掩碼狀態(tài)，判斷所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的中斷掩碼功能是否正常；

18、若所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的中斷掩碼功能正常，則清除所述當(dāng)前測(cè)試中斷源；

19、在清除所述當(dāng)前測(cè)試中斷源后，根據(jù)所述中斷信號(hào)、所述中斷原始狀態(tài)以及所述中斷掩碼狀態(tài)是否被清除，判斷所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的中斷清除功能是否正常；

20、若所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的中斷清除功能正常，則配置所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的中斷使能功能關(guān)閉，并根據(jù)所述當(dāng)前測(cè)試中斷源對(duì)應(yīng)的接口信息觸發(fā)所述當(dāng)前測(cè)試中斷源；

21、根據(jù)所述待驗(yàn)證集成電路當(dāng)前是否產(chǎn)生所述中斷信號(hào)、所述中斷原始狀態(tài)以及所述中斷掩碼狀態(tài)，判斷所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的中斷使能功能是否正常；

22、若所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的中斷使能功能的使能功能正常，則所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的測(cè)試結(jié)果為通過；

23、若所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的中斷使能功能、中斷清除功能或者中斷使能功能不正常，則所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的測(cè)試結(jié)果為未通過。

24、在可選的實(shí)施方式中，所述根據(jù)所述待驗(yàn)證集成電路當(dāng)前是否產(chǎn)生所述當(dāng)前測(cè)試中斷源對(duì)應(yīng)的中斷信號(hào)、中斷原始狀態(tài)以及中斷掩碼狀態(tài)，判斷所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的中斷掩碼功能是否正常，包括：

25、若所述待驗(yàn)證集成電路當(dāng)前產(chǎn)生所述中斷信號(hào)，或者未產(chǎn)生所述中斷原始狀態(tài)，或者產(chǎn)生所述中斷掩碼狀態(tài)，則所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的中斷掩碼功能不正常；

26、若所述待驗(yàn)證集成電路當(dāng)前未產(chǎn)生所述中斷信號(hào)、產(chǎn)生所述中斷原始狀態(tài)且未產(chǎn)生所述中斷掩碼狀態(tài)，則配置所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的中斷掩碼功能打開；

27、在所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的中斷掩碼功能打開后，若所述待驗(yàn)證集成電路當(dāng)前未產(chǎn)生所述中斷信號(hào)，或者未產(chǎn)生所述中斷原始狀態(tài)，或者產(chǎn)生所述中斷掩碼狀態(tài)，則所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的中斷掩碼功能不正常；

28、若所述待驗(yàn)證集成電路當(dāng)前產(chǎn)生所述中斷信號(hào)、產(chǎn)生所述中斷原始狀態(tài)且未產(chǎn)生所述中斷掩碼狀態(tài)，則所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的中斷掩碼功能正常。

29、在可選的實(shí)施方式中，所述在清除所述當(dāng)前測(cè)試中斷源后，根據(jù)所述中斷信號(hào)、所述中斷原始狀態(tài)以及所述中斷掩碼狀態(tài)是否被清除，判斷所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的中斷清除功能是否正常，包括：

30、在清除所述當(dāng)前測(cè)試中斷源后，若所述中斷信號(hào)、所述中斷原始狀態(tài)以及所述中斷掩碼狀態(tài)中的至少一個(gè)未被清除，則所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的中斷清除功能不正常；

31、若所述中斷信號(hào)、所述中斷原始狀態(tài)以及所述中斷掩碼狀態(tài)均被清除，則所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的中斷清除功能正常。

32、在可選的實(shí)施方式中，所述根據(jù)所述待驗(yàn)證集成電路當(dāng)前是否產(chǎn)生所述中斷信號(hào)、所述中斷原始狀態(tài)以及所述中斷掩碼狀態(tài)，判斷所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的中斷使能功能是否正常，包括：

33、若所述待驗(yàn)證集成電路當(dāng)前產(chǎn)生所述中斷信號(hào)，或者產(chǎn)生所述中斷原始狀態(tài)，或者產(chǎn)生所述中斷掩碼狀態(tài)，則所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的中斷使能功能不正常；

34、若所述待驗(yàn)證集成電路當(dāng)前未產(chǎn)生所述中斷信號(hào)、未產(chǎn)生所述中斷原始狀態(tài)且未產(chǎn)生所述中斷掩碼狀態(tài)，則所述當(dāng)前測(cè)試中斷源的中斷使能功能正常。

35、第二方面，本發(fā)明提供一種中斷驗(yàn)證裝置，所述裝置包括：

36、中斷源信息獲得模塊，用于獲得待驗(yàn)證集成電路的中斷源信息；所述中斷源信息包括每個(gè)中斷源對(duì)應(yīng)的配置信息；

37、配置信息解析模塊，用于對(duì)每個(gè)所述中斷源對(duì)應(yīng)的配置信息進(jìn)行解析，生成接口文件以及測(cè)試用例；所述接口文件包括每個(gè)所述中斷源對(duì)應(yīng)的接口信息；

38、中斷觸發(fā)驗(yàn)證模塊，用于根據(jù)所述接口文件中的接口信息對(duì)所述待驗(yàn)證集成電路進(jìn)行中斷觸發(fā)驗(yàn)證，以驗(yàn)證所述待驗(yàn)證集成電路是否正確產(chǎn)生每個(gè)所述中斷源；

39、中斷功能驗(yàn)證模塊，用于根據(jù)所述接口文件中的接口信息以及所述測(cè)試用例對(duì)所述待驗(yàn)證集成電路的每個(gè)所述中斷源進(jìn)行中斷功能驗(yàn)證。

40、第三方面，本發(fā)明提供一種電子設(shè)備，包括處理器和存儲(chǔ)器，所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有能夠被所述處理器執(zhí)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器可執(zhí)行的計(jì)算機(jī)程序以實(shí)現(xiàn)前述實(shí)施方式任一所述的集成電路中斷驗(yàn)證方法。

41、第四方面，本發(fā)明提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如前述實(shí)施方式中任一項(xiàng)所述的集成電路中斷驗(yàn)證方法。

42、本發(fā)明實(shí)施例提供的集成電路中斷驗(yàn)證方法、裝置、電子設(shè)備以及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，該方法包括：獲得待驗(yàn)證集成電路的中斷源信息，中斷源信息包括每個(gè)中斷源對(duì)應(yīng)的配置信息，對(duì)每個(gè)中斷源對(duì)應(yīng)的配置信息進(jìn)行解析，生成接口文件以及測(cè)試用例，接口文件包括每個(gè)中斷源對(duì)應(yīng)的接口信息，根據(jù)接口文件中的接口信息對(duì)待驗(yàn)證集成電路進(jìn)行中斷觸發(fā)驗(yàn)證，以驗(yàn)證待驗(yàn)證集成電路是否正確產(chǎn)生每個(gè)中斷源，根據(jù)接口文件中的接口信息以及測(cè)試用例對(duì)待驗(yàn)證集成電路的每個(gè)中斷源進(jìn)行中斷功能驗(yàn)證。通過根據(jù)每個(gè)中斷源對(duì)應(yīng)的配置信息進(jìn)行解析生成的接口文件和測(cè)試用例自動(dòng)進(jìn)行中斷驗(yàn)證，避免人工介入中斷驗(yàn)證從而提高中斷驗(yàn)證的效率以及準(zhǔn)確性。