本發明涉及食物處理領域，特別是涉及一種加熱裝置及用于加熱裝置的控制方法。

背景技術：

1、食物在冷凍的過程中，食物的品質得到了保持，然而冷凍的食物在加工或食用前需要解凍。為了便于用戶解凍食物，通常通過電磁波加熱裝置來解凍食物。

2、通過電磁波加熱裝置來解凍食物，不僅速度快、效率高，而且食物的營養成分損失低。然而，加熱裝置在加工裝配過程中不可避免地存在一些誤差、使用過程中可能發生器件損耗或容器變更，導致匹配模塊不能精準地完成阻抗匹配，甚至不能覆蓋整個加熱過程食物的阻抗變化，嚴重影響用戶體驗。

技術實現思路

1、本發明第一方面的一個目的是要克服現有技術中的至少一個技術缺陷，提供一種電磁波加熱裝置。

2、本發明第一方面的一個進一步的目的是要保證加熱裝置長期使用的加熱效果。

3、本發明第二方面的一個目的是要提供一種用于加熱裝置的控制方法。

4、本發明第二方面的一個進一步的目的是要簡化控制程序。

5、根據本發明的第一方面，提供了一種加熱裝置，包括：

6、腔體，用于放置待處理物；

7、電磁波發生模塊，配置為產生電磁波信號，用于加熱所述待處理物；以及

8、匹配模塊，配置為可通過調節自身阻抗來調節所述電磁波發生模塊的負載阻抗；其中，所述匹配模塊包括：

9、第一匹配單元，包括可獨立通斷的至少一個匹配支路；和

10、第一校準單元，包括可獨立通斷的至少一個校準支路，設置為與所述第一匹配單元并聯；其中，

11、所述第一校準單元在加熱所述待處理物的過程中固定不變。

12、本發明的加熱裝置設置有與匹配單元并聯的校準單元，僅用于整體調整匹配單元的可調范圍，不通過調節自身阻抗直接參與阻抗匹配，在保證加熱裝置長期使用的加熱效果、降低故障率的同時，無需對與阻抗匹配相關的控制方法進行適配性的改進，降低了研發成本。

13、可選地，所述第一匹配單元一端串聯在所述電磁波發生模塊與所述腔體之間，另一端接地。

14、本發明的加熱裝置使校準單元與串聯接地的匹配單元并聯，即在加熱裝置僅設置有一個校準單元的情況下，優選將該校準單元并聯在串聯接地的匹配單元，在降低生產成本的同時，提高校準單元調整匹配單元匹配范圍的能力，使加熱裝置穩定、高效運行。

15、可選地，所述匹配模塊還包括：

16、第二匹配單元，一端與所述電磁波發生模塊串聯，另一端串聯在所述第一匹配單元與所述腔體之間。

17、本發明的加熱裝置采用的具有特定串并聯關系的匹配模塊電路，不僅電路簡單可靠，而且能夠更加靈活、精確地調節電磁波發生模塊的負載阻抗，進一步地增大了匹配電路的可調范圍，保證了對待處理物的加熱效果。

18、可選地，所述第二匹配單元包括可獨立通斷的至少一個匹配支路、以及與所述至少一個匹配支路并聯的至少一個固定支路，所述固定支路的阻抗值固定不變。

19、本發明的加熱裝置在電磁波發生模塊與腔體之間串聯有阻抗值固定的固定支路、以及可獨立通斷的匹配支路，進一步增大了匹配電路的可調范圍，并提高了匹配模塊的安全性。

20、可選地，所述匹配支路包括一個定值電容和一個開關；且

21、所述第一匹配單元的匹配支路的數量為多個，多個所述匹配支路的定值電容的電容值不同，且每個定值電容的電容值是其他一個定值電容的電容值的2倍或1/2倍。

22、本發明的加熱裝置的匹配單元的每個定值電容的電容值是其他一個定值電容的電容值的2倍或1/2倍，使得按照阻抗值大小排序的第一匹配單元的組合編號的相鄰兩個編號的差值均相同，提高了對待處理物的匹配精度，減輕了加熱不同食物的效果差異。

23、根據本發明的第二方面，提供了一種用于加熱裝置的控制方法，所述加熱裝置為根據以上任一所述的加熱裝置；其中，所述控制方法包括：

24、校準測試步驟：依次確定所述第一校準單元的每一通斷組合對應的所述第一匹配單元的最優通斷組合；

25、差值比較步驟：計算每一所述最優通斷組合與預設的標準通斷組合的阻抗差值，并比較出最小阻抗差值；

26、匹配校準步驟：在所述最小阻抗差值小于預設的差值閾值的情況下，在下一次運行所述校準測試步驟前的阻抗匹配中固定該最小阻抗差值對應的校準單元的通斷組合。

27、本發明的控制方法通過計算第一匹配單元的每一最優通斷組合與預設標準通斷組合的阻抗差值選擇固定的校準單元的通斷組合，使加熱裝置接近于設計的理想狀態，實現最佳的加熱效果。

28、可選地，所述的控制方法，還包括：

29、在所述校準測試步驟的每一所述最優通斷組合的阻抗值均大于預設的校準阻抗閾值的情況下，執行所述差值比較步驟。

30、本發明的控制方法根據最優通斷組合本身的阻抗值對當前加熱裝置的誤差是否屬于處于可校準范圍進行初判，避免了控制程序過分的重復繁雜，在保證校準效果的同時，減少了校準所需時間。

31、可選地，所述的控制方法，還包括：

32、在所述校準測試步驟的任一所述最優通斷組合的阻抗值小于預設的故障阻抗閾值的情況下，終止運行所述校準測試步驟。

33、本發明的控制方法在發現存在最優通斷組合的阻抗值小于預設故障阻抗閾值時，判定當前加熱裝置的誤差較大，利用校準單元仍不能很好的改善該問題，提前終止校準測試步驟，減少了用戶的等待時間和不必要的能源損耗。

34、可選地，所述的控制方法，還包括：

35、在所述校準測試步驟的確定出首個最優通斷組合的阻抗值小于等于預設的校準阻抗閾值且大于等于預設的故障阻抗閾值的情況下，跳過所述差值比較步驟，固定該最優通斷組合對應的校準單元的通斷組合。

36、本發明的控制方法在確定出首個最優通斷組合的阻抗值處于校準阻抗閾值與故障阻抗閾值之間時，直接固定對應的校準單元的通斷組合，在保證校準效果的同時，簡化了控制程序，提高了用戶體驗。

37、可選地，所述第一匹配單元的匹配支路的數量為多個，其中，所述控制方法還包括：

38、編號獲取步驟：獲取預先配置的所述第一匹配單元的編號集合，所述編號集合包括所述至少一個匹配支路的通斷組合的組合編號，所述組合編號與所述第一匹配單元的阻抗值相對應；其中，所述校準測試步驟中確定每個所述最優通斷組合包括：

39、基準確定步驟：在所述編號集合中確定出第一測試組，所述第一測試組包括阻抗值相差預設的第一差值的多個組合編號，按照所述第一測試組控制對應匹配支路的通斷并獲取所述第一測試組中每個組合編號對應的反射參數，根據所述反射參數在所述第一測試組中確定第一匹配基準；

40、最優測試步驟：基于所述第一匹配基準確定出第二測試組，所述第二測試組包括阻抗值相差預設的第二差值的所述第一匹配基準和多個組合編號，按照所述第二測試組控制對應匹配支路的通斷并獲取所述第二測試組中每個組合編號對應的反射參數，根據所述反射參數在所述第二測試組中確定第二匹配基準或最優組合編號；其中，

41、所述第二差值小于所述第一差值；且

42、在所述差值比較步驟中，所述阻抗差值為最優組合編號與預設的標準通斷組合對應的標準組合編號的差值。

43、本發明的控制方法通過對第一匹配單元的通斷組合進行編號，并通過先后確定一個或多個匹配基準縮小測試范圍獲得最優組合編號，不僅通過組合編號本身便可進行阻抗值的比較計算，簡化了控制程序，而且相比于現有技術中需要逐個確定通斷組合的反射參數才能比較出最優通斷組合的控制方法，可極大地縮短用于確定最優通斷組合的時間，減少了能源損耗。

44、根據下文結合附圖對本發明具體實施例的詳細描述，本領域技術人員將會更加明了本發明的上述以及其他目的、優點和特征。