技術總結
本發(fā)明涉及一種基于化學修飾改性和同位素標記的多肽氨基酸序列從頭測序方法。利用N端和C端標記后的多肽分子質量以及保留時間的相關性，將不同標記的相同多肽的二級質譜圖進行關聯(lián)。利用不同標記樣品中多肽在質譜碎裂過程中形成的N端和C端碎片離子對，對多肽氨基酸序列進行從頭測序。本發(fā)明通過對多肽使用帶有正電荷的試劑進行修飾改性，有利于多肽在質譜中碎裂時形成豐富的碎片離子；同時，通過使用含有不同輕重同位素的試劑進行標記，多肽在質譜中碎裂時形成成對存在的碎片離子，易于分辨，從而降低干擾信號的影響，提高碎片離子選擇特異性以及從頭測序的速度；利用N端和C端碎片離子的互補性，提高多肽測序準確度和效率。

技術研發(fā)人員：張麗華;單亦初;張珅;陳玲凡;張玉奎
受保護的技術使用者：中國科學院大連化學物理研究所
文檔號碼：201510726791
技術研發(fā)日：2015.10.30
技術公布日：2017.05.10