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缺相檢測(cè)方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)及空調(diào)外機(jī)與流程

文檔序號(hào):41769898發(fā)布日期:2025-04-29 18:40閱讀:4來(lái)源:國(guó)知局
缺相檢測(cè)方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)及空調(diào)外機(jī)與流程

本公開(kāi)涉及檢測(cè),尤其涉及一種缺相檢測(cè)方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)及空調(diào)外機(jī)。


背景技術(shù):

1、目前,電機(jī)與變頻器之間存在某一相沒(méi)有連接或者接觸不良,則三相電機(jī)在啟動(dòng)過(guò)程中很容易出現(xiàn)故障,甚至損壞,以空調(diào)器所用的直流變頻壓縮機(jī)進(jìn)行舉例說(shuō)明,直流變頻壓縮機(jī)與變頻器之間存在某一相沒(méi)接或者接觸不良,那么在壓縮機(jī)啟動(dòng)時(shí),壓縮機(jī)會(huì)因?yàn)槿毕喽鴮?dǎo)致控制失步,出現(xiàn)過(guò)流,如不及時(shí)保護(hù),會(huì)導(dǎo)致壓縮機(jī)轉(zhuǎn)子磁鋼退磁,造成壓縮機(jī)損壞。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、為克服相關(guān)技術(shù)中存在的問(wèn)題,本公開(kāi)提供一種缺相檢測(cè)方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)及空調(diào)外機(jī)。

2、根據(jù)本公開(kāi)實(shí)施例的第一方面,提供一種缺相檢測(cè)方法,所述方法包括:

3、獲取目標(biāo)電機(jī)的輸入電壓;

4、在所述輸入電壓的矢量角度為第一預(yù)設(shè)電壓矢量角度的情況下,獲取目標(biāo)繞組的測(cè)試電流值;所述目標(biāo)繞組為所述第一預(yù)設(shè)電壓矢量角度的對(duì)應(yīng)繞組;

5、在所述目標(biāo)繞組的測(cè)試電流值小于或者等于第一預(yù)設(shè)電流閾值的情況下,確定所述目標(biāo)電機(jī)存在多相缺相故障。

6、可選地,所述方法還包括:

7、在所述測(cè)試電流值大于所述第一預(yù)設(shè)電流閾值,且第一目標(biāo)測(cè)試電流差值小于第二預(yù)設(shè)電流閾值的情況下,確定所述目標(biāo)電機(jī)存在第一目標(biāo)繞組缺相故障,所述第一目標(biāo)測(cè)試電流差值為所述目標(biāo)繞組對(duì)應(yīng)的測(cè)試電流值與第二目標(biāo)繞組對(duì)應(yīng)的測(cè)試電流值的差值,所述第二預(yù)設(shè)電流閾值小于所述第一預(yù)設(shè)電流閾值。

8、可選地,所述方法還包括:

9、在所述輸入電壓的矢量角度為第二預(yù)設(shè)電壓矢量角度的情況下,獲取第一目標(biāo)繞組的測(cè)試電流值;

10、在第一目標(biāo)繞組的測(cè)試電流值小于或者等于第一預(yù)設(shè)電流閾值的情況下,執(zhí)行在所述輸入電壓的矢量角度為第一預(yù)設(shè)電壓矢量角度的情況下,獲取目標(biāo)電機(jī)的多個(gè)繞組的測(cè)試電流值;并在目標(biāo)繞組的測(cè)試電流值小于或者等于第一預(yù)設(shè)電流閾值的情況下,確定所述目標(biāo)電機(jī)存在多相缺相故障的步驟。

11、可選地,所述方法還包括:

12、在第一目標(biāo)繞組的測(cè)試電流值大于第一預(yù)設(shè)電流閾值,且第二目標(biāo)測(cè)試電流差值小于第二預(yù)設(shè)電流閾值的情況下,確定所述目標(biāo)電機(jī)存在第二目標(biāo)繞組缺相故障,所述第二目標(biāo)測(cè)試電流差值為所述目標(biāo)繞組對(duì)應(yīng)的測(cè)試電流值與第一目標(biāo)繞組對(duì)應(yīng)的測(cè)試電流值的差值;

13、在第一目標(biāo)繞組的測(cè)試電流值大于第一預(yù)設(shè)電流閾值,且第三目標(biāo)測(cè)試電流差值小于第二預(yù)設(shè)電流閾值的情況下,確定所述目標(biāo)電機(jī)存在目標(biāo)繞組缺相故障,所述第三目標(biāo)測(cè)試電流差值為所述第一目標(biāo)繞組對(duì)應(yīng)的測(cè)試電流值與第二目標(biāo)繞組對(duì)應(yīng)的測(cè)試電流值的差值。

14、可選地,所述獲取目標(biāo)繞組的測(cè)試電流值包括:

15、在預(yù)設(shè)統(tǒng)計(jì)周期內(nèi)依據(jù)預(yù)設(shè)采樣頻率采集所述目標(biāo)繞組的測(cè)試電流值。

16、可選地,所述方法還包括:

17、在確定所述目標(biāo)電機(jī)不存在缺相故障的情況下,對(duì)所述目標(biāo)電機(jī)的轉(zhuǎn)子進(jìn)行定位。

18、根據(jù)本公開(kāi)實(shí)施例的第二方面,提供一種缺相檢測(cè)裝置,包括:

19、第一獲取模塊,被配置為獲取目標(biāo)電機(jī)的輸入電壓;

20、第二獲取模塊,被配置為在所述輸入電壓的矢量角度為第一預(yù)設(shè)電壓矢量角度的情況下,獲取目標(biāo)繞組的測(cè)試電流值;所述目標(biāo)繞組為所述第一預(yù)設(shè)電壓矢量角度的對(duì)應(yīng)繞組;

21、確定模塊,被配置為在所述目標(biāo)繞組的測(cè)試電流值小于或者等于第一預(yù)設(shè)電流閾值的情況下,確定所述目標(biāo)電機(jī)存在多相缺相故障。

22、可選地,所述確定模塊還被配置為在所述測(cè)試電流值大于所述第一預(yù)設(shè)電流閾值,且第一目標(biāo)測(cè)試電流差值小于第二預(yù)設(shè)電流閾值的情況下,確定所述目標(biāo)電機(jī)存在第一目標(biāo)繞組缺相故障,所述第一目標(biāo)測(cè)試電流差值為所述目標(biāo)繞組對(duì)應(yīng)的測(cè)試電流值與第二目標(biāo)繞組對(duì)應(yīng)的測(cè)試電流值的差值,所述第二預(yù)設(shè)電流閾值小于所述第一預(yù)設(shè)電流閾值。

23、可選地,所述裝置還包括:

24、第三獲取模塊,被配置為在所述輸入電壓的矢量角度為第二預(yù)設(shè)電壓矢量角度的情況下,獲取第一目標(biāo)繞組的測(cè)試電流值;

25、執(zhí)行模塊,被配置為在第一目標(biāo)繞組的測(cè)試電流值小于或者等于第一預(yù)設(shè)電流閾值的情況下,執(zhí)行在所述輸入電壓的矢量角度為第一預(yù)設(shè)電壓矢量角度的情況下,獲取目標(biāo)電機(jī)的多個(gè)繞組的測(cè)試電流值;并在目標(biāo)繞組的測(cè)試電流值小于或者等于第一預(yù)設(shè)電流閾值的情況下,確定所述目標(biāo)電機(jī)存在多相缺相故障的步驟。

26、可選地,所述裝置還包括:

27、第一缺相模塊,被配置為在第一目標(biāo)繞組的測(cè)試電流值大于第一預(yù)設(shè)電流閾值,且第二目標(biāo)測(cè)試電流差值小于第二預(yù)設(shè)電流閾值的情況下,確定所述目標(biāo)電機(jī)存在第二目標(biāo)繞組缺相故障,所述第二目標(biāo)測(cè)試電流差值為所述目標(biāo)繞組對(duì)應(yīng)的測(cè)試電流值與第一目標(biāo)繞組對(duì)應(yīng)的測(cè)試電流值的差值;

28、第二缺相模塊,被配置為在第一目標(biāo)繞組的測(cè)試電流值大于第一預(yù)設(shè)電流閾值,且第三目標(biāo)測(cè)試電流差值小于第二預(yù)設(shè)電流閾值的情況下,確定所述目標(biāo)電機(jī)存在目標(biāo)繞組缺相故障,所述第三目標(biāo)測(cè)試電流差值為所述第一目標(biāo)繞組對(duì)應(yīng)的測(cè)試電流值與第二目標(biāo)繞組對(duì)應(yīng)的測(cè)試電流值的差值。

29、可選地,第一獲取模塊,被配置為在預(yù)設(shè)統(tǒng)計(jì)周期內(nèi)依據(jù)預(yù)設(shè)采樣頻率采集所述目標(biāo)繞組的測(cè)試電流值。

30、可選地,所述裝置還包括:

31、定位模塊,被配置為在確定所述目標(biāo)電機(jī)不存在缺相故障的情況下,對(duì)所述目標(biāo)電機(jī)的轉(zhuǎn)子進(jìn)行定位。

32、根據(jù)本公開(kāi)實(shí)施例的第三方面,提供一種缺相檢測(cè)裝置,包括:處理器;用于存儲(chǔ)處理器可執(zhí)行指令的存儲(chǔ)器;其中,所述處理器被配置為執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)本公開(kāi)第一方面所提供的缺相檢測(cè)方法的步驟。

33、根據(jù)本公開(kāi)實(shí)施例的第四方面,提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序指令,該程序指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)本公開(kāi)第一方面所提供的缺相檢測(cè)方法的步驟。

34、根據(jù)本公開(kāi)實(shí)施例的第五面,提供一種空調(diào)外機(jī),包括本公開(kāi)第三方面所提供的缺相檢測(cè)裝置。

35、本公開(kāi)的實(shí)施例提供的技術(shù)方案可以包括以下有益效果:

36、通過(guò)獲取目標(biāo)電機(jī)的輸入電壓;在所述輸入電壓的矢量角度為第一預(yù)設(shè)電壓矢量角度的情況下,獲取目標(biāo)繞組的測(cè)試電流值;所述目標(biāo)繞組為所述第一預(yù)設(shè)電壓矢量角度的對(duì)應(yīng)繞組;在目標(biāo)繞組的測(cè)試電流值小于或者等于第一預(yù)設(shè)電流閾值的情況下,確定所述目標(biāo)電機(jī)存在多相缺相故障。這樣可以在目標(biāo)電機(jī)的輸入電壓為第一預(yù)設(shè)電壓矢量角度的情況下,能夠在目標(biāo)電機(jī)運(yùn)行之前,通過(guò)多個(gè)繞組的測(cè)試電流值確定目標(biāo)電機(jī)存在多相缺相故障,可以對(duì)所述目標(biāo)電機(jī)的多相電路同時(shí)進(jìn)行檢測(cè),提高缺相檢測(cè)的檢測(cè)效率。

37、應(yīng)當(dāng)理解的是,以上的一般描述和后文的細(xì)節(jié)描述僅是示例性和解釋性的,并不能限制本公開(kāi)。



技術(shù)特征:

1.一種缺相檢測(cè)方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取目標(biāo)繞組的測(cè)試電流值包括:

6.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:

7.一種缺相檢測(cè)裝置,其特征在于,包括:

8.一種缺相檢測(cè)裝置,其特征在于,包括:

9.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序指令,其特征在于,該程序指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1-6中任一項(xiàng)所述方法的步驟。

10.一種空調(diào)外機(jī),其特征在于,包括權(quán)利要求8所示的缺相檢測(cè)裝置。


技術(shù)總結(jié)
本公開(kāi)涉及一種缺相檢測(cè)方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)及空調(diào)外機(jī),所述方法包括獲取目標(biāo)電機(jī)的輸入電壓;在所述輸入電壓的矢量角度為第一預(yù)設(shè)電壓矢量角度的情況下,獲取目標(biāo)繞組的測(cè)試電流值;在目標(biāo)繞組的測(cè)試電流值小于或者等于第一預(yù)設(shè)電流閾值的情況下,確定所述目標(biāo)電機(jī)存在多相缺相故障。

技術(shù)研發(fā)人員:樂(lè)禹銘
受保護(hù)的技術(shù)使用者:小米科技(武漢)有限公司
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2025/4/28
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