本發明涉及芯片測試，特別是涉及一種流水線型芯片測試設備。

背景技術：

1、隨著科學技術的進步，在芯片的性能方面，相關行業提出了很高的要求，很大程度上促進了芯片的發展，而芯片的可靠性在實際應用過程中具有至關重要的作用，在現行對芯片需求大增的前提下，供貨商除了確保最終測試合格外，還必須能夠迅速大量出貨；

2、現有就是通過自動化測試設備進行快速測試，現有的設備就是通過測試臺和機械移載裝置配合，將芯片逐一放置在測試臺側面進行檢測，經觀察現場使用還存在以下問題：

3、1、現有的芯片測試就是通過芯片針腳插入測試臺側面，而現有芯片通過輸送線輸送，在其側面位置不固定，雖然設置有視覺檢測儀輔助判斷位置，但還是存在芯片與測試臺卡接不到位的情況發生；

4、2、現有的芯片在生產中，由于工藝問題可能出現薄厚不一的情況，過薄的芯片后續無法正常使用，而現有的測試裝置不能對其進行檢測，需要后續繼續進行挑揀；

5、3、現有的芯片測試只能根據室溫進行配合測試臺檢測，無法有效進行模擬高溫或者低溫情況下的芯片使用狀態，為此，我們提出一種流水線型芯片測試設備。

技術實現思路

1、為了克服上述現有技術所存在的技術問題，本發明提供一種流水線型芯片測試設備。

2、為解決上述技術問題，本發明提供如下技術方案：包括機柜，機柜的上側一角位置設置有控制臺和顯示器，機柜的上側設置有兩組帶式輸送機，一組帶式輸送機的側面設置有篩選機，兩組帶式輸送機之間設置有測試機構，帶式輸送機的側面設置有三軸移載，三軸移載的側面設置有吸料組；

3、測試機構包括安裝臺，安裝臺的側面開設有開腔，開腔的底壁固定安裝有測試板，安裝臺的內部設置有壓塊，壓塊的側面設置有固定架，固定架的側面設置有擋塊，安裝臺內部設置有校準模塊和溫控模塊；

4、校準模塊包括活動腔、內腔和滑腔，活動腔的內部活動安裝有第一齒軸，內腔的內部活動安裝有同步板，滑腔的內部活動安裝有校準塊；

5、溫控模塊包括配合腔、第一導風腔和第二導風腔，第一導風腔的側面設置有連接管，配合腔的內部活動安裝有配合塊，配合塊的側面開設有連通槽，配合塊的下側設置有第二齒軸。

6、進一步的，所述機柜的上側分別設置有收納盒和廢料盒，帶式輸送機上側設置有引導板，引導板的側面固定安裝有連接塊，連接塊的內部活動設置有螺栓組且螺栓組固定安裝在帶式輸送機支架側面。

7、進一步的，所述安裝臺設置在兩組帶式輸送機之間且安裝臺下側設置有圓柱支撐固定在機柜上側，開腔開設在安裝臺的上側中間位置，開腔的側壁開設有連接腔，壓塊活動安裝在連接腔的內部，固定架設置在安裝臺的側面，擋塊設置在引導板上側位置，擋塊通過螺栓擠壓固定在固定架側面。

8、進一步的，所述壓塊的側面固定安裝有約束桿，壓塊和固定架側面之間固定連接有支撐筒且支撐筒活動套接在約束桿側面位置，安裝臺的下側通過連接件固定安裝有第一電推桿且第一電推桿輸出端固定安裝在固定架側面。

9、進一步的，所述活動腔開設在安裝臺的側面且其設置在測試板下方位置，內腔開設在活動腔的頂壁且其設置在測試板下方位置，第一齒軸延伸至內腔內部，同步板固定安裝在第一齒軸上側位置，同步板的側面等距開設有四組引導槽。

10、進一步的，所述滑腔開設在內腔的頂壁且其貫穿安裝臺至開腔內部，滑腔對應開腔四側壁面位置，校準塊設置在引導槽上方位置，校準塊的下側固定安裝有引導塊且引導塊活動安裝在引導槽內部。

11、進一步的，所述配合腔開設在活動腔的頂壁，第一導風腔開設在配合腔的內壁，第二導風腔開設在配合腔的內壁且其貫穿安裝臺至開腔內部位置。

12、進一步的，所述連接管固定安裝在控制臺的側面且其分別貫穿安裝臺至第一導風腔內部，連通槽開設在配合塊的側面對應第一導風腔和第二導風腔位置，第二齒軸固定安裝在配合塊的下側且其延伸出配合腔至活動腔內部位置。

13、與現有技術相比，本發明能達到的有益效果是：

14、1、本發明通過設置三軸移載、吸料組、測試機構和帶式輸送機及其周邊部件，可實現芯片的自動化流水線測試操作，且測試時可保證芯片與測試板的穩定卡接，保證測試的效果，測試前通過機械結構對芯片進行初步限制定位，使芯片與測試板卡接時位置不會偏移，無需設置視覺檢測儀，也減少了設備制造成本。

15、2、本發明通過設置擋塊及其周邊部件，擋塊可配合引導板對芯片進行約束限位，同時擋塊可進行位置調節，將厚度不合格的芯片直接在輸送時進行剔除，避免后續分揀的復雜工作，且多組擋塊逐一對芯片進行限位即可完成芯片輸送時的逐一定位上料測試操作。

16、3、本發明通過設置校準模塊，即可在芯片放置在開腔內部時，第一電推桿拉動固定架觸發其中校準塊對芯片四側進行擠壓限位，配合壓塊對芯片下壓，使芯片可穩定與測試板完成卡接固定，進一步的對芯片完成定位操作，保證芯片測試的效率最佳。

17、4、本發明通過設置溫控模塊，即可在芯片測試時，根據需求對開腔內部溫度進行調節，模擬高溫和低溫狀態下的芯片測試，且多組測試板可通過溫控模塊進行單獨的溫度干涉，進行溫度小范圍調節操作，保證溫度測試模擬時的溫度多元化。

18、5、本發明通過單組第一電推桿即可對校準模塊和溫控模塊各部件進行驅動觸發操作，使得驅動件設置數量減少，優化了設備制作的成本和程序寫入的復雜程度。

19、6、本發明通過設置支撐塊及其周邊部件，使齒桿可在聯動架側面呈彈性狀態，使得齒桿與第一齒軸、第二齒軸脫離后，后續可更好的進行相嚙合操作，齒桿接觸第一齒軸、第二齒軸側面時會產生一定的避讓，保證嚙合對接穩定。

技術特征：

1.一種流水線型芯片測試設備，包括機柜（1），機柜（1）的上側一角位置設置有控制臺（11）和顯示器（12），機柜（1）的上側設置有兩組帶式輸送機（3），一組帶式輸送機（3）的側面設置有篩選機，兩組帶式輸送機（3）之間設置有測試機構（4），帶式輸送機（3）側面設置有三軸移載（2），三軸移載（2）的側面設置有吸料組（21）；

2.根據權利要求1所述的一種流水線型芯片測試設備，其特征在于：所述機柜（1）的上側分別設置有收納盒（31）和廢料盒（32），帶式輸送機（3）上側設置有引導板（33），引導板（33）的側面固定安裝有連接塊（34），連接塊（34）的內部活動設置有螺栓組（35）且螺栓組（35）固定安裝在帶式輸送機（3）支架側面。

3.根據權利要求2所述的一種流水線型芯片測試設備，其特征在于：所述安裝臺（41）設置在兩組帶式輸送機（3）之間且安裝臺（41）下側設置有圓柱支撐固定在機柜（1）上側，開腔（42）開設在安裝臺（41）的上側中間位置，開腔（42）的側壁開設有連接腔（43），壓塊（431）活動安裝在連接腔（43）的內部，固定架（44）設置在安裝臺（41）的側面，擋塊（441）設置在引導板（33）上側位置，擋塊（441）通過螺栓擠壓固定在固定架（44）側面。

4.根據權利要求3所述的一種流水線型芯片測試設備，其特征在于：所述壓塊（431）的側面固定安裝有約束桿（432），壓塊（431）和固定架（44）側面之間固定連接有支撐筒（433）且支撐筒（433）活動套接在約束桿（432）側面位置，安裝臺（41）的下側通過連接件固定安裝有第一電推桿（45）且第一電推桿（45）輸出端固定安裝在固定架（44）側面。

5.根據權利要求4所述的一種流水線型芯片測試設備，其特征在于：所述活動腔（51）開設在安裝臺（41）的側面且其設置在測試板（421）下方位置，內腔（52）開設在活動腔（51）的頂壁且其設置在測試板（421）下方位置，第一齒軸（53）延伸至內腔（52）內部，同步板（54）固定安裝在第一齒軸（53）上側位置，同步板（54）的側面等距開設有四組引導槽（541）。

6.根據權利要求5所述的一種流水線型芯片測試設備，其特征在于：所述滑腔（55）開設在內腔（52）的頂壁且其貫穿安裝臺（41）至開腔（42）內部，滑腔（55）對應開腔（42）四側壁面位置，校準塊（551）設置在引導槽（541）上方位置，校準塊（551）的下側固定安裝有引導塊（552）且引導塊（552）活動安裝在引導槽（541）內部。

7.根據權利要求6所述的一種流水線型芯片測試設備，其特征在于：所述配合腔（61）開設在活動腔（51）的頂壁，第一導風腔（62）開設在配合腔（61）的內壁，第二導風腔（63）開設在配合腔（61）的內壁且其貫穿安裝臺（41）至開腔（42）內部位置。

8.根據權利要求7所述的一種流水線型芯片測試設備，其特征在于：所述連接管（64）固定安裝在控制臺（11）的側面且其分別貫穿安裝臺（41）至第一導風腔（62）內部，連通槽（66）開設在配合塊（65）的側面對應第一導風腔（62）和第二導風腔（63）位置，第二齒軸（67）固定安裝在配合塊（65）的下側且其延伸出配合腔（61）至活動腔（51）內部位置。

技術總結
本發明涉及芯片測試技術領域，特別是涉及一種流水線型芯片測試設備，包括機柜，機柜的上側一角位置設置有控制臺和顯示器，機柜的上側設置有兩組帶式輸送機，一組帶式輸送機的側面設置有篩選機，兩組帶式輸送機之間設置有測試機構，帶式輸送機的側面設置有三軸移載，三軸移載的側面設置有吸料組。本發明通過設置三軸移載、吸料組、測試機構和帶式輸送機及其周邊部件，可實現芯片的自動化流水線測試操作，且測試時可保證芯片與測試板的穩定卡接，保證測試的效果，測試前通過機械結構對芯片進行初步限制定位，使芯片與測試板卡接時位置不會偏移，無需設置視覺檢測儀，也減少了設備制造成本。

技術研發人員：何清喜
受保護的技術使用者：常州云茂智能科技有限公司
技術研發日：
技術公布日：2025/4/28