本發明屬于電學檢測技術領域，特別是涉及一種多工位自動檢測一體化設備。

背景技術：

隨著手機、PAD、智能儀表等信息產品的飛速發展，產品厚度要求越來越輕薄、重量要求越來越輕，相應的其內部的待檢測基板越來越多、金手指寬度及Pitch越來越小。根據市場客戶的需求，FPC產品上金手指的Pitch僅為0.14mm，而金手指之間的間隙僅為0.07mm。若直接用線性探針進行測試，則會壓傷產品，因此只能用轉接基板來做中間連接橋梁，即線路金手指與金手指貼合。電路板(包括柔性電路板)在出廠前，需要進行一系列諸如頻率測試、MIC校驗、CAM等測試；而在高效的社會競爭環境中，自動化程度決定了其產品的質量、多樣性以及市場競爭力。現有技術中，柔性電路基板的全面測試需要使用多臺檢測設備按照檢測工序進行檢測，單發的壓合治具，要經過多臺治具測試，還需要中轉上料與下料，效率低下，且費時費力。

因此，有必要提供一種新的多工位自動檢測一體化設備來解決上述問題。

技術實現要素：

本發明的主要目的在于提供一種多工位自動檢測一體化設備，采用四工位結構，將電路板所有的測試集成在其中兩個檢測工位上，大大提高了檢測效率。

本發明通過如下技術方案實現上述目的：一種多工位自動檢測一體化設備，其包括機柜、固定在所述機柜上的旋轉輸送模組、固定在所述旋轉輸送模組上并隨其進行旋轉運動的若干下治具裝置、圍繞所述旋轉輸送模組設置的上料工位、第一檢測工位、第二檢測工位以及下料工位，所述機柜上位于所述第一檢測工位的上方固定有第一壓合檢測裝置、位于所述第二檢測工位的上方固定有第二壓合檢測裝置以及位于所述上料工位上方固定有CCD位置采集裝置。

進一步的，所述機柜上位于所述下料工位旁設置有下料模組，所述下料模組旁設置有下料輸送模組。

進一步的，所述旋轉輸送模組為四分盤結構，其包括第一安裝面、固定在所述第一安裝面上且位于其上方的第二安裝面以及驅動所述第一安裝面旋轉的第一驅動模組。

進一步的，所述第二安裝面上等角度設置有四個開口，所述第一安裝面上對應于每個所述開口位置固定有一個所述下治具裝置。

進一步的，所述機柜上設置有輸送氣體的電氣滑環，所述電氣滑環上端固定有滑環驅動板，所述滑環驅動板的上端固定在所述第一驅動模組的旋轉端并帶動所述電氣滑環隨著所述旋轉輸送模組一起旋轉。

進一步的，所述下治具裝置包括微調裝置、受所述微調裝置驅動進行位置微調的下治具板以及承載待檢測基板的定位承載板。

進一步的，所述微調裝置包括固定導向塊、套在所述固定導向塊上的螺母滑塊以及驅動所述螺母滑塊在所述固定導向塊上滑動的第二驅動模組，所述下治具板設置在所述螺母滑塊上。

進一步的，所述第一壓合檢測裝置包括第一上治具板以及驅動所述第一上治具板上下運動的第一氣缸，所述第二壓合檢測裝置包括第二上治具板以及驅動所述第二上治具板上下運動的第二氣缸。

進一步的，所述下料模組包括旋轉支板、固定在所述旋轉支板上的吸盤以及驅動所述旋轉支板進行旋轉的第三驅動模組。

進一步的，所述機柜上部設置有PLC觸控屏、位于所述PLC觸控屏旁的CCD顯示屏、在所述上料工位處的兩側設置有安全光柵、頂部設置有頻率計以及萬用表。

與現有技術相比，本發明一種多工位自動檢測一體化設備的有益效果在于：通過將需要進行多項性能測試的產品的檢測裝置集成到一臺設備上，采用四工位結構，利用四分盤實現產品的旋轉運輸，并將其中兩個工位設計成檢測工位，根據各項檢測的時間長短合理分配兩個檢測工位中的檢測項目，保證整體的測試節拍達到最低，大大提高了檢測效率；另外，對產品上料后進行位置的自動微調，保證產品與治具能夠精準對接，進而保障了后續檢測結果的準確性；四分盤中部采用電纜、氣路可旋轉的氣電滑環結構，防止了旋轉過程中電纜纏繞造成的事故隱患，且避免了氣路管路雜亂的現象。

【附圖說明】

圖1為本發明實施例的整體外觀結構示意圖；

圖2為本發明實施例的機柜內部的結構示意圖；

圖3為本發明實施例中旋轉輸送模組和下治具裝置的結構示意圖；

圖4為本發明實施例中旋轉輸送模組的局部結構示意圖；

圖5為本發明實施例中下治具裝置的結構示意圖；

圖6為本發明實施例中微調裝置的結構示意圖；

圖7為本發明實施例中第一壓合檢測裝置與第二壓合檢測裝置的結構示意圖；

圖8為本發明實施例中下料模組與下料輸送模組的結構示意圖；

圖中數字表示：

100多工位自動檢測一體化設備；

1機柜；2旋轉輸送模組，21第一安裝面，22第二安裝面，23第一驅動模組，24電氣滑環，25滑環驅動板；3下治具裝置，31微調裝置，311固定導向塊，312螺母滑塊，313第二驅動模組，32下治具板，33定位承載板；4第一壓合檢測裝置，41第一上治具板，42第一氣缸；5第二壓合檢測裝置，51第二上治具板，52第二氣缸；6CCD位置采集裝置；7上料工位；8第一檢測工位；9第二檢測工位；10下料工位；11下料模組，111旋轉支板，112吸盤，113第三驅動模組；12下料輸送模組，121良品輸送線，122不良品輸送線，123收集盒；13PC主機；14鍵盤放置柜；15PLC觸控屏；16CCD顯示屏；17取料吸附負壓表；18安全光柵；19頻率計；20萬用表。

【具體實施方式】

實施例：

請參照圖1-圖8，本實施例為多工位自動檢測一體化設備100，其包括機柜1、固定在機柜1上的旋轉輸送模組2、固定在旋轉輸送模組2上并隨其進行旋轉運動的若干下治具裝置3、圍繞旋轉輸送模組2設置的上料工位7、第一檢測工位8、第二檢測工位9以及下料工位10。機柜1上位于第一檢測工位8的上方固定有第一壓合檢測裝置4、位于第二檢測工位9的上方固定有第二壓合檢測裝置5以及位于上料工位7上方固定有CCD位置采集裝置6。機柜1上位于下料工位10旁設置有下料模組11，位于下料模組11旁設置有下料輸送模組12。

旋轉輸送模組2為四分盤結構，其包括第一安裝面21、固定在第一安裝面21上且位于其上方的第二安裝面22以及驅動第一安裝面21旋轉的第一驅動模組23。第二安裝面22上等角度設置有四個開口，第一安裝面21上對應于每個所述開口位置固定有一個下治具裝置3。機柜1上設置有輸送氣體的電氣滑環24，電氣滑環24上端固定有滑環驅動板25，滑環驅動板25的上端固定在第一驅動模組23的旋轉端，并帶動電氣滑環24隨著旋轉輸送模組2一起旋轉。

下治具裝置3包括微調裝置31、受微調裝置31驅動進行位置微調的下治具板32以及承載待檢測基板的定位承載板33。微調裝置31包括固定導向塊311、套在固定導向塊311上的螺母滑塊312以及驅動螺母滑塊312在固定導向塊311上滑動的第二驅動模組313。下治具板32設置在螺母滑塊312上。第二驅動模組313是通過電子元件控制的，可自動調節下治具板32在一個自由度方向上的位置。從而調節與待檢測產品對接區域的精準對接。

第一壓合檢測裝置4包括第一上治具板41以及驅動第一上治具板41上下運動的第一氣缸42。第一上治具板41位于第一檢測工位8位置處下治具板32與定位承載板33的上方。

第二壓合檢測裝置5包括第二上治具板51以及驅動第二上治具板51上下運動的第二氣缸52。第二上治具板51位于第二檢測工位9位置處下治具板32與定位承載板33的上方。

下料模組11包括旋轉支板111、固定在旋轉支板111上的吸盤112以及驅動旋轉支板111進行旋轉的第三驅動模組113。

下料輸送模組12包括良品輸送線121與不良品輸送線122。良品輸送線121與不良品輸送線122的末端均設置有產品收集盒123。

機柜1旁設置有PC主機13，機柜1上位于上料工位7處設置有鍵盤放置柜14，鍵盤放置柜14中設置有鍵盤。機柜1上部設置有PLC觸控屏15以及位于PLC觸控屏15旁的CCD顯示屏16，PLC觸控屏15與CCD顯示屏16之間設置有取料吸附負壓表17，機柜1在上料工位7處的兩側設置有安全光柵18，防止旋轉輸送模組2在旋轉過程中，操作人員的手伸入旋轉區域造成安全事故。機柜1頂部設置有頻率計19以及萬用表20。PC主機13與頻率計19以及萬用表20電氣連接。PLC觸控屏15、PC主機13與下治具裝置3、第一壓合檢測裝置4以及第二壓合檢測裝置5電氣連接。CCD顯示屏16與CCD位置采集裝置6電氣連接。

本實施例多工位自動檢測一體化設備100的工作原理為：

1)首先操作員在上料工位7處將待檢測基板放在定位承載板33上，CCD位置采集裝置6對待檢測基板的位置進行拍照，并將信息傳送給電控部分，控制微調裝置31對下治具板32進行微調，使得下治具板32中的連接部位與待檢測基板精準對接；

2)旋轉輸送模組2帶動下治具裝置3進行一定角度的旋轉，到達第一檢測工位8位置，第一壓合檢測裝置4中的第一上治具板41下壓，對產品進行一部分的性能檢測，如ICT測試、OSC測試等；

3)第一檢測工位檢測完畢后，旋轉輸送模組2帶動下治具裝置3旋轉到第二檢測工位9位置，第二壓合檢測裝置5中的第二上治具板51下壓，對產品進行剩下的性能檢測，如MIC測試、S/N測試、ID測試以及DCI測試等；

4)測試結束后，下料模組11根據檢測結果將產品吸附到相應的下料輸送線上。

本實施例多工位自動檢測一體化設備100的有益效果在于：通過將需要進行多項性能測試的產品的檢測裝置集成到一臺設備上，采用四工位結構，利用四分盤實現產品的旋轉運輸，并將其中兩個工位設計成檢測工位，根據各項檢測的時間長短合理分配兩個檢測工位中的檢測項目，保證整體的測試節拍達到最低，大大提高了檢測效率；另外，對產品上料后進行位置的自動微調，保證產品與治具能夠精準對接，進而保障了后續檢測結果的準確性；四分盤中部采用電纜、氣路可旋轉的氣電滑環結構，防止了旋轉過程中電纜纏繞造成的事故隱患，且避免了氣路管路雜亂的現象。

以上所述的僅是本發明的一些實施方式。對于本領域的普通技術人員來說，在不脫離本發明創造構思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本發明的保護范圍。