技術(shù)總結(jié)
本實(shí)用新型公開(kāi)一種用于微電機(jī)轉(zhuǎn)子的輔助測(cè)試裝置，其包括：具有容納孔的測(cè)試臺(tái)，該測(cè)試臺(tái)下側(cè)面設(shè)有驅(qū)動(dòng)電機(jī)，該驅(qū)動(dòng)電機(jī)的電機(jī)軸位于容納孔之中；設(shè)置在該容納孔中的底座軸承；下末端套接在底座軸承上的轉(zhuǎn)接座，該轉(zhuǎn)接座的上末端延伸并外露出測(cè)試臺(tái)，且該轉(zhuǎn)接座具有貫通上末端及下末端的中軸孔，電機(jī)軸設(shè)置在中軸孔的下末端；設(shè)置在轉(zhuǎn)接座上末端的磁鋼圈，且微電機(jī)轉(zhuǎn)子的轉(zhuǎn)子軸的下末端穿過(guò)磁鋼圈并設(shè)置在中軸孔的上末端，而微電機(jī)轉(zhuǎn)子的空心杯線(xiàn)圈套設(shè)在磁鋼圈及轉(zhuǎn)接座上末端的外側(cè)面。本實(shí)用新型便于測(cè)試微電機(jī)轉(zhuǎn)子，提升了測(cè)試效率，且不會(huì)對(duì)轉(zhuǎn)子及電機(jī)的性能產(chǎn)生不良影響，具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、工作可靠的優(yōu)點(diǎn)。

技術(shù)研發(fā)人員：田巍巍;譚學(xué)偉
受保護(hù)的技術(shù)使用者：宜昌博遠(yuǎn)電子有限公司
文檔號(hào)碼：201621194896
技術(shù)研發(fā)日：2016.11.04
技術(shù)公布日：2017.04.26